「Scan operation」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a recorded-information reproducing apparatus which can perform a scan operation, which prevents the eyes of a user from being tired when the user performs the scan operation so as to know a music number or the like and which is low-cost.例文帳に追加

スキャン操作が行える記録情報再生装置に関し、ユーザがスキャン操作を行って曲番等を知ろうとする場合に、ユーザの目が疲れないようにすると共に、装置を安価に提供する。 - 特許庁

The control circuit 114 operates a sub-scan feeding-rate of the recording medium 102, and the sub-scan feed is controlled by sending the control signal to a sub-scan motor driver 120 from the result of the operation.例文帳に追加

制御回路１１４はマーカーの読取信号から、記録媒体１０２の副走査送り量を演算し、この演算結果に基づいて副走査モータードライバー１２０へ制御信号を送って副走査送りを制御する。 - 特許庁

The system has a scan head 500 containing an energy applicator, a mechanical arm 200 for carrying the weight of the scan head, and a therapy controller 250, such as, a computer for controlling the operation of the scan head 500.例文帳に追加

このシステムは、エネルギーアプリケーターを含む走査ヘッド５００、このスキャンヘッドの重量を保持するための機械的アーム２００、この走査ヘッド５００の作動を制御するためのコンピューターのような処置コントローラー２５０を有する。 - 特許庁

The semiconductor device comprises a circuit 102 to be tested having a scan chain composed of a flip-flop; and a mode control circuit 103 for switching from the normal operation of the scan chain to the shift mode of the scan test at arbitrary clock timing.例文帳に追加

フリップフロップにより構成されたスキャンチェーンを有するテスト対象回路１０２と、任意のクロックタイミングでスキャンチェーンのノーマル動作からスキャンテストのシフトモードに切り替えるモード制御回路１０３とを備えている。 - 特許庁

To provide an information processing apparatus which incorporates a TV tuner, capable of automatically carrying out channel scan without the need for a user to perform an operation for channel scan, when the channel scan is needed.例文帳に追加

ＴＶチューナを内蔵する情報処理装置において、チャネルスキャンが必要なときには、ユーザがそのための操作をすることなく、自動的にチャネルスキャンを実行することができる情報処理装を提供する。 - 特許庁

Of SCAN test circuits implementing scan test in semiconductor integrated circuits, the SCAN test circuit is characterized by generating scan cell enable signal of a plurality of timings from a scan enable external input signal and controlling formation of a launch clock and a capture clock for detecting delay failure from real operation speed based on the scan cell enable signal of the plurality of timings.例文帳に追加

半導体集積回路におけるスキャンテストを行うＳＣＡＮテスト回路であって、スキャンイネーブル外部入力信号から複数タイミングのスキャンセルイネーブル信号を生成し、上記複数タイミングのスキャンセルイネーブル信号により、実動作速度による遅延故障検出のためのラウンチクロック及びキャプチャクロックの生成が制御されることを特徴とするＳＣＡＮテスト回路を開示する。 - 特許庁

Thereby, operation of a circuit portion comprising logic gates G1-G6 is stopped to reduce the power consumption in time of the scan shift operation.例文帳に追加

これにより、論理ゲートＧ１〜Ｇ６からなる回路部分の動作を停止させて、スキャンシフト動作時における消費電力を削減する。 - 特許庁

A clock skew value, which sets the shift operation of the clocked scan FF, is set at a plurality of values which are not indentical.例文帳に追加

クロックドスキャンFFのシフト動作を設定するクロックのスキュー値を同一でない複数の値に設定する。 - 特許庁

To reduce a user's parameter setting operation in a scan and transmission mode by referring to the past transmission history.例文帳に追加

過去の送信履歴を参照することで、スキャン送信時のユーザのパラメータ設定作業を軽減する。 - 特許庁

An additional row is read during the operation of the 'actual' scan lines in the X-ray detector 110.例文帳に追加

Ｘ線検出器１１０の「実際の」スキャンラインの操作の間に追加行を読み出すことができる。 - 特許庁

To provide a beam radiation device capable of attaining a smooth and stable scan operation in a simple constitution.例文帳に追加

簡素な構成にて、円滑且つ安定したスキャン動作を実現できるビーム照射装置を提供する。 - 特許庁

To select one of an operation of reducing power consumption and an operation to output slow master data during normal operation of a latch circuit including a scan function.例文帳に追加

スキャン機能を有するラッチ回路の通常動作時に、電力消費を抑える動作と遅いマスタデータを出力する動作のいずれか一方を選択可能にする。 - 特許庁

In one embodiment, at least one of picture slice thickness, scan rotation time, collimation mode, table speed, scan mode and filtering mode is determined as the operation parameter.例文帳に追加

一態様では、前記操作パラメータとして、画像スライス厚、走査回転時間、コリメーション・モード、テーブル速度、走査モード及びフィルタリング・モードのうち少なくとも１つを決定する。 - 特許庁

A registration order in a table determining a scan order is changed with a user's operation received during performing the scan processing of a frequency channel as a trigger.例文帳に追加

周波数チャンネルのスキャン処理を行っている場合に受けたユーザの操作をトリガーとして、スキャン順序を定めているテーブルにおける登録順序を変更する。 - 特許庁

The time of masking the scan path can be specified in the constitution and by masking only at a specific time during shift operation of the scan paths, only the specified flip-flop values are masked.例文帳に追加

また、スキャンパスをマスクする時刻を指定できる構成とし、スキャンパスのシフト動作中の特定時刻でのみマスクを行うことで、指定したフリップフロップの値のみをマスクする。 - 特許庁

More concretely, the wireless LAN terminal 10 extends the scan pause time from an initial value by some increments every time the scan operation is repeated by a prescribed number of times n.例文帳に追加

より具体的には、無線ＬＡＮ端末装置１０は、スキャン動作が一定回数ｎだけ繰り返される毎に、スキャン休止時間を初期値からある増分だけ長くしていく。 - 特許庁

To provide a scan operation display device and its method, and an image formation device with the scan operation display device for improving scan and copy quality, by preventing the external light projected to the display unit and/or passing through a light display unit, from being received on a scanning region.例文帳に追加

表示部に投射された光及び／又は表示部を通った外部の光がスキャン領域に差し込まないようにすることでスキャン及びコピーの品質向上に寄与する、スキャン動作表示装置及び方法、並びにこれを備える画像形成装置を提供する。 - 特許庁

When a motion picture viewer is activated, an operation mode selecting means 22 comprising a scan selecting means 18 and an operation mode detecting means sends an operation mode selecting signal to an operation mode switching means 20.例文帳に追加

動画ビューアが起動したときに、スキン選択手段１８と動作モード検出手段からなる動作モード選択手段２２が動作モード選択信号を動作モード切り替え手段２０に送る。 - 特許庁

In this scan test circuit device, an initialization reset means performs in a scan mode, initialization reset in the integrated circuit constituted of a combination circuit 11 and scan test circuits S1 to Sn+m, and D-FF-1 to D-FF-n+m, based on an initialization reset signal CL synchronized with a scan clock pulse CK for performing operation of a scan test.例文帳に追加

本発明のスキャンテスト回路装置では、初期化リセット手段は、スキャンテストの動作を行うスキャンクロックパルスＣＫと同期する初期化リセット信号ＣＬに基づいて、組み合わせ回路１１と、スキャンテスト回路Ｓ１〜Ｓｎ＋ｍおよびＤ−ＦＦ−１〜Ｄ−ＦＦ−ｎ＋ｍにより構成される集積回路内の初期化リセットをスキャンモードにより行う。 - 特許庁

At the time of operating key input, the operation of the second scan circuit 3 is stopped so that the detection sensor A can be scanned by the first scan circuit 2, and at the time of operating fingerwriting input, the second scan circuit 3 is also turned into an operating state, and the detection sensors A and B can be scanned by the first scan circuit 2 and the second scan circuit 3.例文帳に追加

そして、キー入力を行うときは第２のスキャン回路３の動作を停止させて第１のスキャン回路２により検知用センサＡに対するスキャンを行い、指書き入力を行うときは第２のスキャン回路３も動作状態にして、第１のスキャン回路２と第２のスキャン回路３により検知用センサＡ，Ｂに対するスキャンを行う。 - 特許庁

The control unit 16 is equipped with a rapid traverse controller 24 which makes the laser scan head 18 perform the rapid traverse operation by controlling the operation of the movable supporting mechanism 22 at the time of non-machining when the laser scan head 18 does not emit the laser beam.例文帳に追加

制御装置１６は、レーザスキャンヘッド１８がレーザ光を出射しない非加工時に、可動支持機構２２の動作を制御して、レーザスキャンヘッド１８を早送り動作させる早送り動作制御部２４を備える。 - 特許庁

The UI-generating section 12 reads out the data of a prestored scan operating picture, because the type of the "scan" operation described in the instruction is the "scan" which is the preprovided function of a multi-function machine 10.例文帳に追加

ＵＩ生成部１２は、指示書に記述された“ｓｃａｎ”オペレーションに対しては、ｔｙｐｅが複合機１０に予め備えられた機能である“ｓｃａｎ”であることから、予め記憶されたスキャン操作画面のデータを読み出す。 - 特許庁

To reduce the input operation load of a user in setting operation restriction to the file of a scan image scanned by an image reading device.例文帳に追加

画像読取装置でスキャンしたスキャン画像のファイルに対し操作制限の設定を行う際の、ユーザの入力操作負担を軽減する。 - 特許庁

This operation is repeated to the final flip-flop and the final flip-flop is connected to the scan-out terminal of the chip.例文帳に追加

この操作を最後のフリップ・フロップまで繰り返し、最後のフリップ・フロップをチップのスキャンアウト端子に接続する。 - 特許庁

To improve a fault detection rate by improving the controllability of a logic circuit having a poor controllability at a scan mode operation.例文帳に追加

スキャンモード時に制御性が悪かった論理回路の制御性を良くし、故障検出率を向上させる。 - 特許庁

Image files are also transmitted to a local file storage device of the client computer using a scan-to-file operation.例文帳に追加

画像ファイルもスキャンからファイルへのオペレーションを用いるクライアント・コンピュータのローカル・ファイル保存装置に伝送される。 - 特許庁

Timing to turn on the fixing device is monitored and after the fixing device is turned on, the back scan or DF operation is performed (1).例文帳に追加

１．定着器のＯＮするタイミングを監視して定着器がＯＮした後にバックスキャンやＤＦ動作を行う。 - 特許庁

To improve efficiency of a scan test by diverting a control signal used for controlling an operation of each circuit module.例文帳に追加

各回路モジュールの動作を制御する制御信号を流用することで、スキャンテストの効率化を図ること。 - 特許庁

To prevent erroneous operation due to clock skew and the like and provide a small layout area by shortly connecting the scan chain.例文帳に追加

クロックスキュー等による誤動作を防止し、かつスキャンチェーンを短く接続して小レイアウト面積を実現する。 - 特許庁

To provide a flip-flop capable of realizing a scan function and a flip-flop operation, using few components.例文帳に追加

少ない素子数で、スキャン機能と高速のフリップフロップ動作とを実現することが可能なフリップフロップを提供する。 - 特許庁

Besides, an image mode to be displayed on the multi-scan monitor 30 is set so as to perform an operation to start displaying the image.例文帳に追加

また、マルチスキャンモニタ３０に表示する画像モードを設定し、画像の表示を開始するよう動作する。 - 特許庁

A device is manufactured through a method in which a step-and- scan type aligner is utilized, wherein the misalignment of a reticule from a reticule stage is detected (deviation measuring timing) is carried out in a step operation (U-turn timing), which is carried out for the following exposure operation after a scan exposure operation is carried out.例文帳に追加

ステップアンドスキャン方式の露光装置およびこれを用いたデバイス製造方法において、スキャン露光終了後、次の露光を行うためのステップ動作中（Ｕターンタイミング）にレチクルおよびレチクルステージ間の位置ずれを検出する（ずれ計測タイミング）。 - 特許庁

To provide a display apparatus capable of performing a threshold voltage correcting operation and a signal potential writing operation stably at a high speed even when a scan period is shortened.例文帳に追加

走査期間が短縮化された場合でも、閾電圧補正動作と信号電位書込動作を安定且つ高速で実行可能な表示装置を提供する。 - 特許庁

When a rotating speed setting operation of the scan motor is performed with a key operation part (YES in #1), a printer with a scanner starts control in a motor speed setting mode (#2).例文帳に追加

スキャナ付プリンタは、キー操作部によるスキャンモータの回転速度設定操作がなされると（＃１でＹＥＳ）、モータ速度設定モードでの制御を開始する（＃２）。 - 特許庁

This eliminates the operation of unnecessary scan back alignment at the inspection of products prior to delivery from a factory, with reduction in an operation waiting time.例文帳に追加

これにより、工場出荷前の製品チェック時において不要なスキャンバックアライメントの動作を省くことができるため、作業待ち時間をなくすことができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device for selectively executing a fast random cycle writing operation and a boundary scan testing operation without increasing a circuit area.例文帳に追加

回路面積を大きくすることなく、高速なランダムサイクルのライト動作とバウンダリスキャンテスト動作とを選択的に実行する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The input stage of the function block 2 is provided with a scan circuit 20, for inspection of the connection part by scan operation, thus, no complex text pattern is required for easy inspection.例文帳に追加

機能ブロック２の入力段にスキャン回路２０を設け、スキャン動作で接続部分を検査することが可能になるため、複雑なテストパターンが不必要になり容易に検査ができる。 - 特許庁

The panel driving method comprises performing an addressing operation in scan lines only when at least one or more subfield data to be turned on exist in the scan lines in at least one or more subfields.例文帳に追加

少なくとも１つ以上のサブフィールドで、走査ライン内でターンオンされるサブフィールドデータが少なくとも１つ以上存在する場合にだけ、前記走査ライン内のアドレス動作を行う。 - 特許庁

In the apparatus, the widths of the scan pulses are adjusted by the locations of the scan lines, and then the high-speed driving is implemented and the operation in the sustain section is ensured to increase luminance thereby.例文帳に追加

これによれば、スキャンラインの位置によってスキャンパルス幅が調節されることで、高速駆動が可能でサステイン区間での動作が確実となり輝度を増加させることができる。 - 特許庁

At a scan test time, a clock control part 10 supplies independently controlled clocks CK42 and CK43 to the scan chains 42 and 43, whereby the scan chains 42 and 43 operate independently of each other at any operation of shift-in, capture and shift-out.例文帳に追加

スキャンテスト時に、クロック制御部１０は両スキャンチェーン４２，４３にそれぞれ独立に制御されたクロックＣＫ４２，ＣＫ４３を供給し、シフトイン、キャプチャ、シフトアウトのいずれの動作においても、両スキャンチェーン４２，４３が互いに独立に動作する。 - 特許庁

In the scan flip-flop circuit, a 2-to-1 selector 13 executes a first selection operation of selecting one of the ground level received by "0" input and "1" input and the scan-in signal SIN based on a scan enable signal SEN received by a control input.例文帳に追加

２ｔｏ１セレクタ１３は、制御入力に受けるスキャンイネーブル信号ＳＥＮに基づき、“０”入力及び“１”入力に受ける接地レベル及びスキャンイン信号ＳＩＮのうち一方を選択する第１の選択動作を実行する。 - 特許庁

An operation channel of a radio access point during communicating at present is set as a reference channel, a place in a specific range regarding the reference channel as a center is prescribed as a scan object range, a scan channel is extracted by a channel step determined from a youngest number in the scan object range, and a scan is conducted only to the extracted channel.例文帳に追加

現在通信中の無線アクセスポイントの動作チャンネルを基準チャンネルとして設定し、基準チャンネルを中心に特定範囲内をスキャン対象範囲として定め、スキャン対象範囲内で一番若い番号から決められたチャンネルステップでスキャンチャンネルを抽出し、抽出したチャンネルに対してのみスキャンを行う。 - 特許庁

Thus, a scan path for operation verification of the entire system LSI is constructed by inputting the definition information on the scan path to a register and a memory to be required for the operation verification of the system LSI, and the production test of the entire system LSI is performed via the scan paths (#13).例文帳に追加

このため、システムＬＳＩの動作検証に必要とされるレジスタやメモリに対するスキャン・パスの定義情報を入力することにより、システムＬＳＩ全体の動作検証用のスキャン・パスを構築することができ、これらのスキャン・パスを介してシステムＬＳＩ全体の実機テストを行うことができる（＃１３）。 - 特許庁

Time occupied by the shift operation is shortened to make it possible to shorten the time required for the scan test.例文帳に追加

本発明によれば、シフト動作が占める時間が縮小され、スキャンテストに要する時間の短縮を図ることができる。 - 特許庁

To suppress the power consumption caused by the peak currents in the overlapping back scan operation of a fixing device, a DF and a reader part.例文帳に追加

定着器，ＤＦ，リーダ部のバックスキャン動作が重なってピーク電流が重なることによる消費電力を抑える。 - 特許庁