「Scan operation」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

When it is detected by an analog broadcast abolition detection section 6 that an analog broadcast is abolished, the channel scan of a digital broadcast is automatically implemented by a digital broadcast channel scan execution section 7 without user operation, and the user is notified about a result of the channel scan execution.例文帳に追加

アナログ放送廃止検知部６にてアナログ放送が廃止されたことを検知すると、デジタル放送チャンネルスキャン実行部７にてデジタル放送のチャンネルスキャンをユーザの操作なしに自動で実施し、そのチャンネルスキャン実行結果をユーザに通知するようにした。 - 特許庁

For computational efficiency, the adaptive scan order re-arranges the scan order by applying a conditional exchange operation on adjacently ordered coefficient locations via a single traversal of the scan order per update of the statistical analysis information.例文帳に追加

適応スキャン順序付けでは、計算が効率的になるように統計分析情報が更新されるたびにスキャン順序を１回トラバースし、隣接する順番の係数の場所に対して条件付き交換操作を適用することによってスキャン順序を並べ替える。 - 特許庁

In a normal operation, an output of the scan output fixing NAND circuit 106 can be fixed by mode selection, so that the output of the scan output fixing NAND circuit 106 remains unchanged and that the power consumption of the scan FF can be reduced.例文帳に追加

通常動作時、スキャン出力固定用のＮＡＮＤ回路１０６からの出力をモードセレクトにより固定することができるため、スキャン出力固定用のＮＡＮＤ回路１０６の出力は変化せず、スキャンＦＦの消費電力を削減することができる。 - 特許庁

For computational efficiency, the adaptive scan order re-arranges the scan order by applying a conditional exchange operation on adjacently ordered coefficient locations via a single traversal of the scan order per update of the statistical analysis information.例文帳に追加

適応スキャン順序付けでは、計算が効率的になるように統計分析情報が更新されるたびにスキャン順序を１回トラバースし、隣接する順番の係数の場所に対して条件付き交換操作を適用することによってスキャン順序を並べ替える。 - 特許庁

When a USB memory 28 is filled in the middle of the scan-to-memory mode operation, since another USB memory 28 which is connected next is likely to be subjected to the scan-to-memory mode operation under the same reading condition, the process can be handled suitably.例文帳に追加

スキャントゥメモリモードの途中でＵＳＢメモリ２８が一杯になった場合には、続いて接続されたＵＳＢメモリ２８に対しても、同じ読取条件でスキャントゥメモリモードが実行される可能性が高いため、適切な処理を行うことができる。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit is provided with a test mode determining circuit for determining the normal operation mode and test mode, by using a scan enable signal used for the scan test, when inputting a clock from a reset condition to start an operation, and for holding a determination result until rest.例文帳に追加

リセット状態からクロックを入力し動作開始させたときの、スキャンテストに使用するスキャンイネーブル信号を用いて、通常動作モードとテストモードを判定し、判定結果をリセットされるまで保持するテストモード判定回路を備える。 - 特許庁

Meanwhile, in one abnormality scan operation, if an output signal Sc with an abnormality flag raised is received continuously and the same result is obtained in the next two abnormality scan operations, for example, detection operation is performed for 'disturbance light detection'.例文帳に追加

一方、１回の異常スキャン動作内において、異常チェックフラグがたった出力信号ＳＣを連続して受けて、例えば次の２回の異常スキャン動作でも同じ結果が得られたときには、「外乱光検出」の検出動作を行う。 - 特許庁

To solve problems such as low transfer rate due to a daisy chain constitution from a serial bus connection and difficulty in detecting erroneous operation or fault in an operation state due to operation by the clock different from that used for the operation of a processor or an LSI in utilizing a previous boundary scan.例文帳に追加

従来のバウンダリスキャンの利用では、シリアルバス接続によるデイジーチェーン構成としており、転送速度が遅く、プロセッサやＬＳＩの動作とは別クロックで動作するため、稼動状態での誤動作・故障の検出が難しい。 - 特許庁

When the job flow is registered, a touch operation is performed on a display region 92A of "box storage" of a touch panel unit 92, and power supply to an image reading unit 238 is started when a "Scan to Mailbox" screen is displayed.例文帳に追加

ジョブフローが登録されている場合、タッチパネル部９２の「ボックス保存」表示領域９２Ａにタッチ操作し、「Scan to Mailbox」画面が表示される時期に、画像読取部２３８への電力供給が開始される。 - 特許庁

This magnetic resonance imaging apparatus executes a scan operation of repeating a scan at least one time by a same encode pattern at least once using an R-wave generated at a time T_0 as a trigger and collecting data, on all the encode patterns.例文帳に追加

時刻Ｔ_０において発生したR波をトリガとし、同一のエンコードパターンによるスキャンを少なくとも一回繰り返しデータを収集するスキャン動作を、全エンコードパターンについて実行する。 - 特許庁

In response to pressing a play button by a user via an operation part 18, a control part 30 executes pre-scan via a radio module 20 prior to main scan associated with a radio connection request.例文帳に追加

制御部３０は、ユーザが操作部１８を介して再生ボタンを押下することに対応して、無線接続要求に伴う本スキャンに先立って事前スキャンを無線モジュール２０を介して実行する。 - 特許庁

A scanning pulse width operation part 24 compares the maximum Dmax of each scan line 34, and optimizes the scanning select period of each scan line 34 by dividing one-frame period on the basis of the ratio.例文帳に追加

スキャンパルス幅演算部２４は、各走査ライン３４の最大値Ｄｍａｘを比較し、その比に基づいて、１フレーム期間を分割することにより、各走査ライン３４の走査選択期間を最適化する。 - 特許庁

On the basis of read data which are read by exposure scan in a read scan direction using an image reading means, the paging operation starting side terminal on a document surface of the book document is detected.例文帳に追加

画像読み取り手段による読み取り走査方向への露光走査により読み取った読み取りデータに基づいて、ブック原稿の原稿面のページめくり動作開始側端部の検出を行うこととした。 - 特許庁

Consequently, an operation in a specific scan mode can be carried out in the information controller by an operation of a user to simply select a recommended environment on the image reader.例文帳に追加

これにより、ユーザが、画像読取置上で推奨の環境を選択するだけの操作により情報制御装置への特定のスキャンモードの動作を可能にする。 - 特許庁

To prevent a sound generation start and a muffling start in a real time from delaying when an operation state of an operation knob group in a musical sound performing device is detected by a scan.例文帳に追加

楽音演奏装置における操作子群の操作状態を走査によって検出する場合に、リアルタイムでの発音開始や消音開始が遅れないようにする。 - 特許庁

The clock switching circuit 120 supplies, when the object circuit performs the saving operation, a saving recovery clock lower in speed than a system clock used for the general operation to the scan chain 15.例文帳に追加

このクロック切替回路は、対象回路が退避動作を行う場合には、通常動作に使用するシステムクロックより低速な退避回復クロックをスキャンチェーンに供給する - 特許庁

The accurate scan correlative processing result is displayed in response to a changing operation of the display mode from the time just after the memory area is switched.例文帳に追加

表示モードの変更操作に応じて記憶エリアを切り換えた直後から、正確なスキャン相関処理結果を表示できる。 - 特許庁

And, when a channel where audio data are transmitted is received, the channel is selected to stop a scan operation so far.例文帳に追加

そして、オーディオデータが送信されているチャンネルを受信したときに、そのチャンネルを選択して、これまでのスキャン動作を停止する。 - 特許庁

A scan exposure operation is carried out at an accurate exposure position in the following exposure (exposure timing), based on this detection result.例文帳に追加

そして、この検出結果に基づいて、次の露光（露光タイミング）においては、精確な露光位置によるスキャン露光を行う。 - 特許庁

A power operation part 46 obtains power (strength) in each sample point based on Doppler shift data acquired by the Doppler scan.例文帳に追加

パワー演算部４６は、ドプラスキャンによって取得されたドプラ偏移データに基づいて各サンプル点におけるパワー（強度）を求める。 - 特許庁

An AND gate 4 takes a logical product of NOT of a SCANTEST signal for switching between normal operation and a scan test mode and a CLK signal.例文帳に追加

ＡＮＤゲート４は通常動作とスキャンテストとのモードを切り替えるSCANTEST信号の否定とCLK信号との論理積をとる。 - 特許庁

To provide an "audio apparatus" in which either an analog signal or a digital signal can be selected when carrying out a scan operation.例文帳に追加

スキャン動作の実行時に、アナログ信号かディジタル信号かのいずれかを選択できるようにした「オーディオ装置」を提供する。 - 特許庁

The supply power voltage VDD2 of the combination circuit 101 is set to a low voltage or is blocked during shift operation in the scan test.例文帳に追加

スキャンテストのシフト動作中には、組合せ回路１０１の電源電圧ＶＤＤ２を低電圧に設定又は遮断する。 - 特許庁

In the interval of each unit scan operation sub-scanning of a predetermined second feed amount different from the first feed amount is performed.例文帳に追加

そして、各単位スキャン動作の合間に、第１の送り量とは異なる所定の第２の送り量による副走査を行う。 - 特許庁

When operation for requesting the scan data is received from the user corresponding to the notification, a data request is transmitted to the scanner.例文帳に追加

そして、報知に対応して、ユーザからスキャンデータを要求する旨の操作を受けると、データ要求をスキャナに対して送信する。 - 特許庁

To enable extraction and operation of solid and surface modeling parameters from unprocessed three-dimensional scan data by a program.例文帳に追加

未処理３次元スキャンデータから立体及び表面モデリング媒介変数のプログラムによる抽出及び操作ができるようにする。 - 特許庁

At clocked scan flip flop (2), a latch (14) in a diagnosis data path is reused for memorizing an operation signal value during sleep mode.例文帳に追加

クロックドスキャン・フリップフロップ（２）では、スリープモードの間演算信号値を記憶するのに診断データパス内のラッチ（１４）が再使用される。 - 特許庁

To selectively skip a frequency not desired to be tuned, corresponding to setting of a user at the time of auto-scan of auto-tuning operation.例文帳に追加

オートチューニング動作のオートスキャン時に、ユーザの設定に応じて、同調を希望しない周波数を選択的にスキップさせる。 - 特許庁

A scan panel 51 is mounted in parallel with an operation display panel 50, which is provided at a side part of an image forming apparatus body.例文帳に追加

画像形成装置本体の側部に設けられた操作表示パネル５０に並列して読取パネル５１が取り付けられている。 - 特許庁

The flip-flop comprises: a pulse generation part for generating a pulse for synchronizing the operation of the flip-flop; a multiplexer to which data, scan input and a scan enable signal is input and which selects and outputs the data or scan input in response to the scan enable signal; and a latch part for synchronizing the data or scan input output from the multiplexer part with a pulse signal and transmitting it to outside.例文帳に追加

フリップフロップの動作を同期させるためのパルスを生成するためのパルス生成部、データ、スキャン入力及びスキャンイネーブル信号を入力され、スキャンイネーブル信号に応答して、データ及びスキャン入力のうち、何れか一つを選択して出力するマルチプレクサと、マルチプレクサ部から出力されるデータまたはスキャン入力をパルス信号に同期して、外部に伝達するラッチ部とを備えるフリップフロップである。 - 特許庁

A fast clock generating circuit, which generates fast clock signal of half a cycle of clock signal during normal operation and a fast data generation circuit, which generates fast scan data of half a cycle of scan data used for a scan path test are provided, and a scan path test is carried out by fast clock signal generated by a fast clock generation circuit and fast scan data generated in the fast data generation circuit.例文帳に追加

通常動作時のクロック信号の半分の周期の高速クロック信号を生成する高速クロック生成回路と、スキャンパステストに使用するスキャンデータの半分の周期の高速スキャンデータを生成する高速データ生成回路とを設け、高速クロック生成回路で生成した高速クロック信号および高速データ生成回路で生成した高速スキャンデータによってスキャンパステストを行うように構成したものである。 - 特許庁

A control circuit generates a block scan clock signal including a shift clock at the same timing when a control signal shows a scan shift period for inputting and outputting data in the scan chain, and generates a block scan clock signal including pulses at different timing for each of the plurality of circuit blocks when the control signal shows a capture period for testing a logic operation of the combination circuit.例文帳に追加

制御回路は、制御信号がスキャンチェーンにデータを入出力するスキャンシフト期間を示すときに、同じタイミングのシフトクロックを含むブロックスキャンクロック信号を生成し、組み合わせ回路の論理動作をテストするキャプチャ期間を示すときは複数の回路ブロック毎に異なるタイミングのパルスを含むブロックスキャンクロック信号を生成する。 - 特許庁

Next, the method performs a capture operation step of capturing the value of the flip-flop to the other flip-flop through the combinational circuits 10, 11, 12, and a feeding back input shift step of feeding back and inputting an output value from the scan chain 20 to the input side of the scan chain 20 when performing a shift operation in the scan chain 20 alternately and repeatedly.例文帳に追加

次に、フリップフロップの値を組み合わせ回路１０、１１、１２を通して他のフリップフロップにキャプチャーするキャプチャー動作工程と、スキャンチェーン２０におけるシフト動作を行う時に該スキャンチェーン２０からの出力値を該スキャンチェーン２０の入力側へ帰還させて入力する帰還入力シフト工程と、を交互に繰り返し行う。 - 特許庁

To provide a display drive device which performs scan driving of a PDP etc., the display drive device being capable of performing high-speed scan operation, enabling chip sizes to be reduced and the cost of the device to be reduced and causing no problem of coupling.例文帳に追加

ＰＤＰなどを走査駆動する表示駆動装置において、高速のスキャン動作が可能で、チップサイズを小さくすることができ、低コスト化を図ることができるとともに、カップリングの問題がないようにする。 - 特許庁

To suppress the power consumption by considerably reducing the number of delay elements to be inserted to data lines of shift registers in order to secure a hold time in the shift operation of a scan shift register in scan test circuit design.例文帳に追加

スキャンテスト回路設計において、スキャンシフトレジスタのシフト動作におけるホールド時間保証として、シフトレジスタのデータラインに挿入する遅延素子の数を大幅に削減可能として、消費電力を抑える。 - 特許庁

To achieve a test based on an actual operation speed of a single cycle path in a logic circuit in which the single cycle path and a multi-cycle path are mixed when performing a scan test by integrating a scan path into a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路にスキャンパスを組み込んでスキャンテストを行う際に、シングルサイクルパスとマルチサイクルパスが混在している論理回路において、シングルサイクルパスの実動作速度によるテストを可能にすること。 - 特許庁

To provide a scan flip flop, which enables a test device to be designed without user's consideration of the state of reset signal/set signal, in a scan shift operation mode in a test of a semiconductor integrated device.例文帳に追加

半導体集積装置のテストにおいて、ユーザがスキャンシフト動作モードにおけるリセット信号／セット信号の状態を考慮することなくテスト装置を設計することができるスキャンフリップフロップを提供すること。 - 特許庁

A scan line driver circuit 23 performs the following operation in an ON period when a threshold-correction auxiliary transistor Tr3 is set to an on state by applying a switching control pulse to a scan line WSL2.例文帳に追加

走査線駆動回路２３は、走査線ＷＳＬ２に対してスイッチング制御パルスを印加することにより閾値補正補助トランジスタＴｒ３をオン状態に設定するオン期間において、以下の動作を行う。 - 特許庁

The respective pixels arrayed at the display panel 10 are subjected to lighting control by the driving operation of a data driver 12 and a scan driver 16.例文帳に追加

表示パネル１０に配列された各画素１は、データドライバ１２および走査ドライバ１６の駆動動作によって点灯制御される。 - 特許庁

When the detected result of this time is different from the factor of the last time as a result, the start of key scan operation is instructed to a control part 104.例文帳に追加

その結果、今回の検出結果と前回の要因とが異なった場合、制御部104に対してキースキャン動作の開始を指示する。 - 特許庁

To provide a scan type medical probe suitable for evading the degradation (fluctuation) of the color reproducibility of a photographed image accompanying a bending operation.例文帳に追加

屈曲動作に伴う撮影画像の色再現性の劣化（変動）を避けるのに好適な走査型医療用プローブを提供すること。 - 特許庁

The XDS scan master M2 executes (S28) the operation for obtaining the temporal information from the broadcast signal corresponding to the received favorite channel.例文帳に追加

ＸＤＳスキャンマスタＭ２は受信したお好みチャンネルに対応の放送信号からの時間情報の取得動作を実行する（Ｓ２８）。 - 特許庁

At the output terminal SO for the next stage scan flip-flop circuit 1, the output is fixed during normal operation.例文帳に追加

そして，次段のスキャンフリップフロップ回路１向けの出力端子ＳＯにおいては，通常動作時に出力が固定されるようにする。 - 特許庁

An operation means obtains accompanying information including at least one of a scan time according to the cut out range and bed information.例文帳に追加

演算手段は切り出し範囲に対応するスキャン時間及び寝台情報のうちの少なくとも１つを含む付帯情報を求める。 - 特許庁

The flip flop for writing in normal operation, and that used for scan flip flops in the logic test are shared.例文帳に追加

通常動作時における書き込み用フリップフロップと、ロジックテストにおけるスキャンフリップフロップに用いられるフリップフロップとを兼用することができる。 - 特許庁