「a Scan」に関連した英語例文の一覧と使い方(34ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a circuit board whose area of circuit pattern of boundary scan test is reduced.例文帳に追加

バウンダリスキャンテストの回路パターンの面積を縮小した回路基板を提供することである。 - 特許庁

By inclining a scanning gantry, inclined scan for which an X-ray beam is inclined from an xy plane is performed.例文帳に追加

走査ガントリを傾斜させることにより、X線ビームをxy平面から傾けた傾斜スキャンを行う。 - 特許庁

To prescribe a voltage measuring operation in using both region scan driving and phase development driving.例文帳に追加

領域走査駆動と相展開駆動とを併用したときの電圧測定動作を規定する。 - 特許庁

To provide a scan driver control system which suppresses electric power consumption and prevents the thermal destruction of an element.例文帳に追加

消費電力を抑制し素子の熱破壊を防止したスキャンドライバー制御システムを提供する。 - 特許庁

The scanning device is configured to scan the patterned beam onto a target area of the substrate.例文帳に追加

走査デバイスは、パターン付きビームが基板の目標領域をスキャンするように構成されている。 - 特許庁

The scan chain configures a feedback loop by returning the output to the input of the leading latch circuit.例文帳に追加

このスキャンチェーンは、出力を先頭のラッチ回路の入力に戻してフィードバックループを構成する。 - 特許庁

To further reduce X-ray exposure dose when performing a monitoring scan in contrast imaging.例文帳に追加

造影剤撮影における、モニタリングスキャン実行時のＸ線被爆量をさらに低減すること。 - 特許庁

Next, the method performs a collation step of collating the output value from the scan chain 20 with the expected value thereof.例文帳に追加

次に、スキャンチェーン２０からの出力値をその期待値と照合する照合工程を行う。 - 特許庁

To provide a handy scanner which performs scan operation without hindrance for performing efficient reading.例文帳に追加

スキャン操作が支障なく行え、効率的な読取りが可能なハンディスキャナ装置を提供する。 - 特許庁

The pixel data 203 are stored at pixel positions denoted by the scan signal 204 in a memory.例文帳に追加

画素データ２０３は、メモリに対してスキャン信号２０４で示される画素位置に格納される。 - 特許庁

Uh, I think with your low blood count and your pain, we should keep you in for observation and a c.t. scan, all right?例文帳に追加

痛みと低血球から考えると ctスキャンが必要ね それでしばらく様子を見ましょう - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Uh, I think with your low blood count and your pain, we should keep you in for observation and a c.t. scan, all right?例文帳に追加

痛みと低血球から考えると CTスキャンが必要ね それでしばらく様子を見ましょう - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

After a scan of each scanline, the electron beam is turned off and is positioned at the beginning of the next scanline. 例文帳に追加

各走査線のスキャンが終わると, 電子ビームがオフにされ, 次の走査線の先頭に位置される - 研究社 英和コンピューター用語辞典

a type of radionuclide scan used to find carcinoid and other types of tumors. 例文帳に追加

放射性核種スキャンの一種で、カルチノイドを始めとする数種の腫瘍の検出に用いられる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

A print sheet P is fed (sub-scan feeding) while being held by upstream side sheet feed rollers 25a and 25b.例文帳に追加

印刷用紙Ｐが上流側紙送りローラ２５ａ，２５ｂに保持され、送られる（副走査送り）。 - 特許庁

A target is present on the substrate, and the measurement is executed during scan movement of the substrate.例文帳に追加

ターゲットが基板上に存在しており、基板の走査移動の間に測定が実行される。 - 特許庁

An exemplary magnetic resonance imaging apparatus includes a scan performing unit and an image processing unit.例文帳に追加

実施形態に係る磁気共鳴イメージング装置は、スキャン実行部と、画像処理部とを備える。 - 特許庁

To provide a driving circuit for liquid crystal display panel, which is capable of bidirectional scan driving.例文帳に追加

両方向に走査駆動することのできる液晶表示パネルの駆動回路を提供する。 - 特許庁

The controller 11 confirms normal output of the scan signal based on a pattern corresponding to the combination of scan signals generated for the scan signal generating circuit 13, and the judgement results from the pass/ fail judging circuit 14.例文帳に追加

コントローラ１１はスキャン信号発生回路１３に発生させたスキャン信号の組み合わせに対応付けられているパターンと、パス／フェイル判定回路１４の判定結果とに基づいてスキャン信号が正常に出力されているか否かを確認する。 - 特許庁

The scan driving part calculates scanning angles corresponding to the distances so that a plurality of points which are located at predetermined distances from the scan center are scanned on the basis of the distance between the installation position of the light wave radar device and an observation space, and scan the path of the transmitting light.例文帳に追加

走査駆動部は、光波レーダ装置の設置位置と観測空間との距離に基づいて、走査中心から所定値離れた複数の点を走査するように、距離に応じた走査角を算出して送信光の光路を走査する。 - 特許庁

The upper side of the scan unit is held by an upper member of an intermediate frame in such a manner that the lower side of the scan unit faces the lower member of the intermediate frame with an air layer therebetween and then the scan unit is cooled by an air flow flowing in the air layer.例文帳に追加

スキャンユニットの下側と前記中間フレームの下側部材が空気層を介して相対するようスキャンユニットの上側を中間フレームの上側部材で保持し、空気層を流れる空気流でスキャンユニットの冷却が行われるようにした。 - 特許庁

Then the sequential scan image varied in image size is thinned out according to the format of the interlaced scan image for output and then while the image size is varied, the proper interlaced scan image which is free of a decrease in resolution and aliasing is obtained as an output.例文帳に追加

その画像サイズの変更された順次走査画像を、出力用飛越し走査画像のフォーマットに合わせて間引くことで、画像サイズが変更されながら、解像度低下やエリアッシングがない適正な飛越し走査画像が出力として得られる。 - 特許庁

After the baseline scan B ends, a contrast medium arrival detection scan C for detecting whether or not the contrast medium has arrived at the area is executed, and if it is decided that the contrast medium has arrived at the area, it is determined that an actual scan D will be started.例文帳に追加

ベースラインスキャンＢが終了した後、領域に造影剤が到達したか否かを検出するための造影剤到達検出スキャンＣが実行され、断面に造影剤が到達したと判断されたら、本スキャンＤを開始すると決定する。 - 特許庁

Step scan is performed on a face to be inspected in multiple stages, and a phase corresponding to a shape measurement area of an interference stripe acquired by image pickup means and a wavelength of light measured by a wavelength measurement unit are respectively measured for the every step scan.例文帳に追加

被検面を多段階にステップ走査し、ステップ走査ごとに、撮像手段にて取得した干渉縞の形状測定領域に対応する位相、及び波長測定器にて前記光の波長、をそれぞれ計測する。 - 特許庁

A write scanner 4 applies a control signal to a scan line WS to turn on a sampling transistor Tr1, and ceases the control signal applied to the scan line WS after starting sampling a signal potential to turn off the sampling transistor Tr1.例文帳に追加

ライトスキャナ４は、走査線ＷＳに制御信号を印加してサンプリングトランジスタＴｒ１をオンし信号電位のサンプリングを開始した後走査線ＷＳに印加した制御信号を解除してサンプリングトランジスタＴｒ１をオフする。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit connects an input and output terminal 1A to the scan passes 3_1-3_m and a combination circuit 2 via a selector 5A, and connects an output side of the scan passes 3_1-3_m to an input and output terminal 1B via a selector 6A and a tristate buffer 7A.例文帳に追加

入出力端子１Ａを、セレクタ５Ａを介してスキャンパス３_1 〜３_m と組み合わせ回路２に接続し、このスキャンパス３_1 〜３_m の出力側を、セレクタ６Ａと３ステートバッファ７Ａを介して入出力端子１Ｂに接続する。 - 特許庁

To resolve the problem that a lack of write of a video signal Vsig to pixels occurs due to reduction of a write time of horizontal scan when a driving method of causing a scan pulse Vgate to fall after dropping it to an intermediate potential Vo once is adopted.例文帳に追加

走査パルスＶｇａｔｅを一度中間電位Ｖｏに落としてから立ち下げる駆動法を採ることにより、水平走査の書き込み時間が短くなるため、画素への映像信号Ｖｓｉｇの書き込み不足が発生する。 - 特許庁

To provide an image processor, an information processor, a control method of the processors, and a program by which a use management can be appropriately and efficiently attained in an environment which can use a raster scan function and a vector scan function.例文帳に追加

ラスタスキャン機能とベクトルスキャン機能を利用可能な環境において、その使用管理を適切にかつ効率的に実現することができる画像処理装置、情報処理装置及びそれらの制御方法、プログラムを提供する。 - 特許庁

Another side is a fixed scan area, a beam current of a side cup (76 at a P1 side) of this side is measured and a mechanical Y scan speed is varied in accordance with the measurement, thereby ensuring longitudinal (Y) direction dosage uniformity.例文帳に追加

別の片側は一定のスキャンエリアであり、こちら側のサイドカップ（Ｐ１側の７６）のビーム電流を測定し、その測定値に応じてメカニカルＹスキャン速度を変化させることにより、縦（Ｙ）方向ドーズ量均一性を確保する。 - 特許庁

To make a defective portion easily narrowed, when setting various potential states to execute IDDQ inspection, using a scan chain, in a CMOS integrated circuit provided with a scan test function and constituted of a plurality of logic blocks.例文帳に追加

スキャンテスト機能を備え複数の論理ブロックから構成されたＣＭＯＳ集積回路において、スキャンチェーンを用いて内部の様々な電位状態を設定してＩＤＤＱ検査を実施する際に、不良箇所の絞り込みを容易にする。 - 特許庁

When an EL element 1 is made to emit light, a constant level of voltage is applied to both of a positive field and a negative field of a scan- side driver IC2, under voltage supply by scan voltage supply circuits 5, 6 and a signal voltage supply circuit 7.例文帳に追加

ＥＬ素子１を発光させる場合、走査電圧供給回路５、６及び信号電圧供給回路７による電圧供給のもと、走査側ドライバＩＣ２には正フィールド、負フィールド共に一定レベルの電圧が印加される。 - 特許庁

A scan line halftone pattern writing section 74 receives a parameter such as a value of a coordinate Y for plotting an image, reads the halftone pattern corresponding to the coordinate Y for plotting the image from the main memory 54, and then sequentially writes the halftone pattern to a scan line halftone pattern memory section 76.例文帳に追加

スキャンラインハーフトンパターン書込部７４は，描画のＹ座標値などのパラメータを受け取り，メインメモリ５４から描画するＹ座標に対応するハーフトンパターンを読み込み、スキャンラインハーフトンパターン記憶部７６へ順次書き込む。 - 特許庁

With respect to a pixel 201 of a liquid crystal panel 200 included in a projection display device 10, the width of a non-aperture portion in a direction parallel with scan lines is longer than that of an aperture 205 in the direction parallel with scan lines.例文帳に追加

投写型表示装置１０に含まれる液晶パネル２００の画素２０１において、走査線に平行な方向における非開口部２０４の幅は、走査線に平行な方向における開口部２０５の幅より大きい。 - 特許庁

To provide an intelligent water ring scan apparatus and a method therefor, a video encoding/decoding apparatus using the water ring scan apparatus and a method therefor, and to provide a computer-readable recording medium in which a program for implementing the methods is stored.例文帳に追加

知能型波紋スキャン装置及びその方法とそれを利用した画像符号化/復号化装置及びその方法と前記方法を実現させるためのプログラムを記録したコンピュータで読み出すことのできる記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope having a scan image observation function for always passing a main beam through the center of an annular dark-field scan image detector even when scanning is carried out by a tilted electron beam on a sample.例文帳に追加

電子ビームを試料上で傾斜させて走査した場合でも、主ビームが常に円環状の暗視野走査像検出器の中心を通るようにすることができる走査像観察機能を有した透過型電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a macro test circuit that can reduce test cost by reducing a test pattern length, shortening a test time and effectively using scan flip-flop circuits in a SCAN test including a high function macro.例文帳に追加

高機能マクロを含むＳＣＡＮテストにおいて、テストパターン長を削減し且つテスト時間を短縮し、然もスキャンフリップフロップ回路を有効に利用し、その結果としてテストコストを下げることが可能なマクロテスト回路を提供すること。 - 特許庁

A utility engine 120 is connected to the database 130 for constituting a utility buffer 160 from a field, for operation, and the buffer is constituted for a desired scan chain, comprising a field corresponding to the status resistor from the scan chain.例文帳に追加

ユーティリティエンジン120は、フィールドからユーティリティハ゛ッファ160を構成するためにデータベース130に動作可能に接続されており、バッファは、所望のスキャンチェーン用に構成され、スキャンチェーンからのステータスレジスタに対応するフィールドを有している。 - 特許庁

The plasma display apparatus comprises a plasma display panel comprising a scan electrode, a sustain electrode, a first address electrode, and a second address electrode, a scan driver supplying a pulse to the scan electrode between a reset period and an address period, and a data driver supplying a data pulse to the first address electrode and the second address electrode at the points of time different from each other.例文帳に追加

本発明は、スキャン電極、サステイン電極、第１のアドレス電極、及び第２のアドレス電極を含むプラズマディスプレイパネルと、リセット期間とアドレス期間において、パルスを前記スキャン電極に供給するスキャン駆動部と、前記第１のアドレス電極と前記第２のアドレス電極とに互いに異なる時点でデータパルスを供給するデータ駆動部とを備えることを特徴とする。 - 特許庁

The method includes the steps of applying a first ramp-down pulse having a first tilt to scan electrodes in the first half of a set-down period included in a reset period, applying a base potential to the scan electrodes in the meddle phase of the set-down period, and applying a second ramp-down pulse having a second tilt to the scan electrodes in the second half of the set-down period.例文帳に追加

リセット期間に含まれるセットダウン期間の前半部に第１勾配の第１降下ランプパルスをスキャン電極に供給する段階と、セットダウン期間の中半部に基底電位をスキャン電極に供給する段階と、セットダウン期間の後半部に第２勾配の第２降下ランプパルスをスキャン電極に供給する段階と、を含む。 - 特許庁

A signal A of H level is inputted to a scan test pin 11 to switch an internal circuit 12 to a scan test mode, an OR circuit 13 is operated to cut off a stationary current path of a cell 14 via an inner pin 14a, and a test pattern for scan tests is applied to the internal circuit 12 to execute IDDQ tests, thereby raising the failure detectivity.例文帳に追加

スキャンテストピン１１に‘Ｈ’レベルの信号Ａを入力して内部回路１２をスキャンテストモードに切り換えるとともに、オア回路１３により内部ピン１４ａを経由してセル１４の定常電流パスをオフ状態にし、スキャンテスト用のテストパターンを内部回路１２に印加してＩＤＤＱテストを行なうことにより故障検出率を高める。 - 特許庁

The droplet discharge device that discharges droplets to a plurality of section areas arrayed in a vertical scanning direction at constant intervals while repeatedly making a main scan and a vertical scan discharges the droplets in invariably the same discharge pattern in all main scans while a movement quantity of a droplet discharge head in a vertical scan is set to an integral multiple of arrangement intervals of the section areas.例文帳に追加

主走査と副走査を繰り返しながら、副走査方向に一定間隔で配列された複数の区画領域に液滴を吐出する液滴吐出装置において、液滴吐出ヘッドの副走査の移動量を区画領域の配置間隔の整数倍とし、全ての主走査において常に同じ吐出パターンで液滴を吐出する。 - 特許庁

This method is such that in one embodiment, a specific data is given to an input (33) of a scan chain (32) that is not used for testing.例文帳に追加

一つの実施例では、テストに使用されないスキャンチェーン（３２）の入力（３３）に一定データが与えられる。 - 特許庁

In the electro-optical device, dot inversion drive is performed by a scan line driving circuit and a data line driving circuit.例文帳に追加

また、この電気光学装置は、走査線駆動回路およびデータ線駆動回路によりドット反転駆動される。 - 特許庁

To stabilize the output of light beam emitted from a light source and to scan a scanning area with the light beam.例文帳に追加

光源から射出される光ビームの出力を安定させて光ビームを被走査面上に走査させる。 - 特許庁

To provide a method of correcting an unsensed time and radiation contamination in transmission scan of a nucear camera system.例文帳に追加

核カメラ・システムにおける不感時間および透過スキャンの放射汚染を補正する方法を提供すること。 - 特許庁