「angle of diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

The carbon material is insoluble in organic solvents and has peak height ratio H(B)/H(A) of 0.2 to 0.9, wherein H(A) represents height of the most intensive peak at the diffraction angle 2θ of 12°-16° and H(B) represents height of peak at the diffraction angle 2θ of 22°.例文帳に追加

有機溶媒に不溶であり、かつ、ＣｕＫα線を使用したＸ線回折測定結果における回折角２θが１２〜１６゜の間の最も強いピークの高さをＨ（Ａ）、回折角２θが２２°のピークの高さをＨ（Ｂ）としたときのピーク高さ比Ｈ（Ｂ）／Ｈ（Ａ）が０．２以上０．９以下にある炭素材料。 - 特許庁

(Step 1) A X-ray diffraction pattern of a titanium surface is measured in an condition that an X-ray incident angle is maintained at a low angle of two degree or less, which is in an initial state before maintaining it in an atmospheric environment.例文帳に追加

（ステップ１）Ｘ線入射角度を２度以下の低角度に保った条件で大気環境中保持前である初期状態のチタン表面のＸ線回折図形の測定を行う。 - 特許庁

This thin film of the wax composition consists of a composition containing the wax and has >1.0 value of a ratio (Ib/Ia) of diffraction intensity Ia in the normal direction of surface of the thin film of the wax composition in X-ray diffraction peaks developed by accompanying with the orientation of the crystallized wax to diffraction intensity Ib in a direction making right angle to the normal direction.例文帳に追加

本発明のワックス組成物薄膜は、ワックスを含有する組成物からなり、結晶化した前記ワックスの配向に伴い発現するＸ線回折ピークの前記ワックス組成物薄膜表面の法線方向の回折強度Ia及び該法線方向と９０度をなす方向における回折強度Ibの比Ib/Iaが１．０より大きい値である。 - 特許庁

The optical sheet which has the blazed diffraction grating arranged on a surface of a substrate comprises the blazed diffraction grating characterized in that the tilt angle of the blazed diffraction grating at which the spatial frequency is considered to be equal is not uniform, but partially different.例文帳に追加

基板表面上にブレーズド型回折格子が形成され配置された光学シートにおいて、空間周波数が同一と見なせるブレーズド型回折格子の傾斜角が均一でなく、部分的に異なることを特徴とするブレーズド型回折格子からなる光学シートである。 - 特許庁

The angle of diffraction θ22 varies depending on the position of an incident X-ray 21 which is incident on a spectral crystal, if the spectral crystal is a curved polychromatic crystal.例文帳に追加

分光結晶を湾曲型ポリクロ結晶とすると分光結晶へ入射する入射Ｘ線２１の位置によって回折角（θ）２２は異なる。 - 特許庁

Among the (111) crystal planes observed by X-ray diffraction of the surface layer, the proportion occupied by those having orientation angle of 67.5° or larger is 80% or more.例文帳に追加

表層のＸ線回折により観察される（１１１）結晶面のうち、配向角度が６７．５°以上であるものの占める割合が８０％以上である。 - 特許庁

Since phase contrast at the time of light diffraction can be made small by enlarging the incident angle of the lighting optical system, the scattered light from the substrate can be reduced.例文帳に追加

照明光学系の入射角度を大きくすることにより、光が回折する際の位相差を小さくできるので、基板からの散乱光を低減できる。 - 特許庁

Crystal A: the crystal of the optically active 4-amino-3-(4-chlorophenyl)butanoic acid having diffraction peaks in 8.7 to 9.4° range, 12.2 to 12.8° range and 24.8 to 25.4° range diffraction angle 2θ in a powder X-ray diffraction measurement at a Cu-Kα wavelength.例文帳に追加

Ａ晶： Ｃｕ−Ｋα波長の粉末Ｘ線回折測定において、回折角２θが８．７°〜９．４°の範囲内、１２．２°〜１２．８°の範囲内および２４．８°〜２５．４°の範囲内に回折ピークを有する光学活性４−アミノ−３−（４−クロロフェニル）ブタン酸の結晶。 - 特許庁

Crystal B: the crystal of the optically active 4-amino-3-(4-chlorophenyl)butanoic acid having diffraction peaks in 20.8 to 21.4° range, 26.7 to 27.3° range and 29.7 to 30.3° range diffraction angle 2θ in the powder X-ray diffraction measurement at the Cu-Kα wavelength.例文帳に追加

Ｂ晶： Ｃｕ−Ｋα波長の粉末Ｘ線回折測定において、回折角２θが２０．８°〜２１．４°の範囲内、２６．７°〜２７．３°の範囲内および２９．７°〜３０．３°の範囲内に回折ピークを有する光学活性４−アミノ−３−（４−クロロフェニル）ブタン酸の結晶。 - 特許庁

(2) When a half-value width of a diffraction peak b in which a diffraction angle 2θ in powder X-ray diffraction measurement using CuKα_1 rays exists around 43.5° is FWHMb, an X-ray half-width value ratio XFab value stipulated in a formula (1) below is to be 1 or less.例文帳に追加

（ロ）ＣｕＫα_１線を使用した粉末Ｘ線回折測定における回折角２θが４３．５°付近に存在する回折ピークｂの半価幅をＦＷＨＭｂとした時に、下記式（１）で規定されるＸ線半価幅比ＸＦａｂ値が１以下である。 - 特許庁

A line sensor 6 detects the component of a P-polarization beam to the surface of the substrate 1 to be inspected in reflection light, scattered light, and diffraction light in the optical axis, where a light reception angle β1 is an acute angle and a difference angle from the beam is less than 30°.例文帳に追加

ラインセンサ６は、受光角β１が鋭角で、かつ、前記ビームとの差角が３０°以内となる光軸にて、反射光、散乱光、および回折光中の被検査基板１の表面に対してＰ偏光の成分を検出する。 - 特許庁

In the diffractive optical element, having a blazed diffraction grating, inclined parts 11, 12 which deflects incident light into the longitudinal face of the diffraction grating and has an altered inclined angle of the grating are formed on at least one side of a groove part and a tip part of the blazed diffraction grating.例文帳に追加

ブレーズド形状の回折格子を有する回折光学素子において、前記ブレーズド形状の回折格子の溝部及び先端部の少なくとも一方には、前記回折格子の縦面への入射光を偏向する、格子の傾斜角度が変更された傾斜部１１，１２が形成された構成とする。 - 特許庁

The spectral element is constituted of movable electrodes for tilt driving the diffraction grating and multiple layers of fixed electrodes oposing to the movable electrodes, provided at the side of the diffraction grating of lamination corresponding to set the tilt angle.例文帳に追加

分光素子は、回折格子を傾斜駆動するための可動電極と、可動電極に対峙して回折格子の脇部に積層して設けられ、設定する各傾斜角に対応して可動電極と対峙する複数層の固定電極とで構成する。 - 特許庁

A method for analyzing a structure of a crystal comprises the steps of measuring a profile of two or more hkl reflections at a disposition of a symmetrical reflection with respect to a diffraction angle θ, and forming a measuring profile in which the profile of the hkl reflection is measured at a difference Δθ of the angle θ from a reference peak as an abscissa axis.例文帳に追加

２つ以上のhkl反射のプロファイルを回折角θに対して対称反射配置で測定し、hkl反射のプロファイルを基準ピークからの回折角θの差分Δθを横軸とする測定プロファイルを作成する。 - 特許庁

Positions 10A, 10B of incidence of a plurality of beams onto a scale 10 or points of diffraction on a scale grating 12B are separated from the diameters of the beams on the scale grating, and the angle of incidence θof each beam onto the scale and the angle of emission ϕ of diffracted light are made approximately equal.例文帳に追加

複数の光線のスケール１０への入射位置１０Ａ、１０Ｂ又はスケール格子１２Ｂ上の回折点を、スケール格子上での光線径より離すと共に、各光線のスケールへの入射角度θと回折光の出射角度φをほぼ同一とする。 - 特許庁

Therefore, thinning and miniaturizing the optical pickup apparatus can be performed, while angle adjustment of the diffraction grating also can be performed easily.例文帳に追加

これにより、光ピックアップ装置の薄型化および小型化が可能になるとともに、回折格子の角度調整も容易に行なうことができる。 - 特許庁

The direction of the return light passed through the objective lens 117 for the BD is bent by a certain angle by the polarizing diffraction element 121.例文帳に追加

ＢＤ用対物レンズ１１７を経由した反射光は、偏光性回折素子１２１によって進行方向が一定角度だけ曲げられる。 - 特許庁

The direction of the return light passing through the objective lens 116 for the BD is bent for a certain angle by the polarizing diffraction element 113.例文帳に追加

ＢＤ用対物レンズ１１６を経由した反射光は、偏光性回折素子１１３によって進行方向が一定角度だけ曲げられる。 - 特許庁

Even when the image display device is used, an amount of shift of laser beam emission spectrum and temperature variation of a hologram diffraction angle can be synchronized.例文帳に追加

本発明によれば、画像表示装置を使用している最中においても、レーザ光の発光スペクトルシフト量とホログラム回折角の温度変化との同期が可能となる。 - 特許庁

The cap layer 16 is of a polycrystalline structure in which a half width of an X-ray diffraction rocking curve on a (004) plane is within an angle range of 4,000-12,000 seconds.例文帳に追加

キャップ層１６は、（００４）面におけるＸ線回折ロッキングカーブの半値幅が４０００秒〜１２０００秒の角度範囲内に含まれる多結晶構造とする。 - 特許庁

A surface 24A of a test specimen 24 is irradiated with X-ray and a strain of the test specimen 24 is measured from a diffraction angle 2θ of the diffracted X-ray transmitting through the test specimen 24.例文帳に追加

試験片２４の表面２４ＡにＸ線を照射し、試験片２４を透過した回折Ｘ線の回折角２θから試験片２４のひずみを測定する。 - 特許庁

By providing a mechanism for measuring the surface height of the test piece during irradiation with electromagnetic waves, a mechanism for moving a test piece height position to the initial position, and a mechanism for measuring the diffraction angle of diffraction electromagnetic waves to correct the position irradiated with electromagnetic waves to the same position as the surface of the test piece, measurement errors due to changes in the surface position are avoided and the diffraction angle becomes possible to be accurately measured.例文帳に追加

電磁波照射中に試験片の表面高さを測定する機構と、試験片高さ位置を最初と同じ位置に移動する機構、回折電磁波の回折角を測定する機構を備え、電磁波照射位置を試験片表面の同一位置となるように補正できることから、表面位置変化による測定誤差を回避し、正確な回折角測定が可能となる。 - 特許庁

A method for analyzing the structure of a porous material allows small angle electron beam scattering to form a small angle electron beam scattering image 15 through image formation of a small angle electron beam scattering portion emerging at the central part of the electron beam diffraction image of the porous material.例文帳に追加

本発明の多孔質材料の構造解析方法は、小角電子線散乱により多孔質材料の電子線回折像の中央部に現れる小角電子線散乱部分を結像させることで小角電子線散乱像１５を形成することを特徴とする。 - 特許庁

If the direction normal to the surface of the stage for holding the object is defined as Z-axis, and the angle formed by a normal to the surface of the diffraction optical element and the Z-axis is defined as α, the diffraction optical element is so arranged as to satisfy the equation 0°<α<45°.例文帳に追加

そして、物体を保持するステージの面の法線方向をＺ軸とし、回折光学素子の面の法線とＺ軸とのなす角をαとする時、回折光学素子は下記の式を満足するように配置させた。 - 特許庁

When S-polarized light waves of a 2nd laser beam LB2 are made incident on diffraction gratings 7a and 8a of an optical member 6 at an angle which satisfies the Bragg condition, the S-polarized light waves are respectively subjected to primary diffraction, and emitted in an X2 direction as shown in a Figure.例文帳に追加

第２のレーザビームＬＤ２のＳ偏光波をブラッグ条件を満たす角度で光学部材６の回折格子７ａ，８ａに入射させると、それぞれ１次回折させられて図示Ｘ２方向に射出される。 - 特許庁

The grating pattern 2 of the diffraction type condensing film 1 includes a first surface forming an angle α with respect to a normal, a second surface forming an angle β with respect to the normal, and a third surface forming an angle δ with respect to the second surface to form a second apex and resulting from inclining the second surface by an angle γ.例文帳に追加

回折型集光フィルム１の備える格子パターン２は、法線と角αをなす第一の面と、法線と角βをなす第二の面と、前記第二の面と角δをなして第二の頂部を形成する、前記第二の面が角γだけ傾いた第三の面と、を備えている。 - 特許庁

The alkaline storage battery 1 is constructed so that at least a part of the crystal structure of the anode active material is changed by charge and discharge, and the anode active material is controlled so as to indicate a new diffraction peak at 8.4-10.4° of a diffraction angle 2θ, by X-ray diffraction using a CuKα ray.例文帳に追加

アルカリ蓄電池１は、充放電により正極活物質の結晶構造の少なくとも一部が変化し、正極活物質がＣｕＫα線によるＸ線回折で回折角２θの８．４〜１０．４度の位置に新たな回折ピークを示すようになることを抑制するように構成されている。 - 特許庁

To provide an optical system capable of suppressing variation of a diffraction angle of a laser beam regardless of the distance between a diffraction element and a laser element even when the wavelength of the laser beam is varied by temperature change of the laser element, to provide an optical apparatus, an optical pickup and an optical disk device.例文帳に追加

レーザ素子の温度変化によりレーザ光の波長が変動した場合にも、回折素子とレーザ素子との距離にかかわらず、レーザ光の回折角度が変動するのを抑制することが可能な光学系、光学装置、光ピックアップおよび光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

The interference exposure is performed so that the crossing angle of laser beams in two of light flux, with which each area is irradiated, can be different, the diffraction gratings of mutually different diffraction grating pitches are formed in each of areas and a plurality of kinds of semiconductor lasers having different wavelengths are produced from one semiconductor wafer.例文帳に追加

各領域に照射する２光束のレーザ光の交差角度をいずれも異なるようにして干渉露光を行い、各領域に回折格子ピッチが相互に異なる回折格子を形成し、波長の異なる半導体レーザを１枚の半導体基板から複数種類製造する。 - 特許庁

Particularly, in order to reduce the aberration (coma-aberration) proportionate to the third power of the distance from the center of the chirp type diffraction grating 14, the incident angle is made larger than the emitting angle and the emitting distance is made larger than the incident distance.例文帳に追加

特に、チャープ型回折格子１４の中心からの距離の３乗に比例する収差（コマ収差）を低減するために、入射角度を出射角度よりも大きくし、入射距離よりも出射距離を長くする。 - 特許庁

Alternatively, the two beams produced by the beam splitter are reflected off respective surfaces of the prism toward an output surface of the prism so that the incidence angle at the output surface may be approximately equal to the beam splitter diffraction angle.例文帳に追加

代案として、ビームスプリッタで生成された２つのビームは、出力表面での入射角がビームスプリッタの回折角にほぼ等しくなるように、プリズムの出力表面に向けてプリズムの個々の表面で反射される。 - 特許庁

The lighting device includes: a light source device which emits coherent light; a diffraction optical element which shapes the coherent light into a beam of light having predetermined luminance distribution; a collimating lens which changes the beam of light emitted from the diffraction optical element into parallel beams of light; and an optical element which is arranged between the diffraction optical element and the collimating lens, and increases a divergence angle of the beam of light emitted from the diffraction optical element.例文帳に追加

コヒーレント光を射出する光源装置と、前記コヒーレント光を所定の輝度分布を有する光束に整形する回折光学素子と、回折光学素子から出射した光束を平行光束とするための平行化レンズと、回折光学素子と平行化レンズの間に配置された、回折光学素子から出射した光束の発散角度を大きくする光学素子とを備える。 - 特許庁

In this optical disk device, a plurality of diffraction regions are prepared in a diffractive optical element, with a different diffractive characteristic provided for each of these diffraction regions, and with a diffraction element structured for converging light beams on nearly the same region, and then the incidence angle of the light beam to an optical disk is changed on the basis of the output of a photodetecting means.例文帳に追加

本発明の光ディスク装置では、回折光学素子に、複数の回折領域を設け、前記回折領域の各々に、異なる回折特性を持たせ、光ビームを略同一領域に集光する回折素子を構成し、光検出手段の出力に基づいて、光ディスクへの光ビームの入射角を変化させる。 - 特許庁

In such a case, the depth T of the grooves of a grating is so set as to be below the depth of the grooves corresponding to the maximum diffraction efficiency determined by λ/(2×Δn) and therefore, the dependence of the diffraction efficiency on an incident angle can be reduced.例文帳に追加

この場合に、偏光ホログラムでは、格子の溝の深さＴが、λ／（２×Δｎ）で求められる最大の回折効率に対応する溝の深さ未満となるように設定されているため、回折効率の入射角度依存性を低減することができる。 - 特許庁

In this method, an angle space of a light source in a parabolic focus is optically converted into a linear space, and use of a single diffraction element and an area camera is facilitated such that the angle spectrum of the light source is simultaneously measured.例文帳に追加

実施形態においては、放物線焦点における光源の角度空間を線形空間へと光学的に変換し、光源の角度スペクトルを同時に測定するように単一の回折要素およびエリアカメラの使用を容易にする。 - 特許庁

Since the quantity of transmission light of return luminous flux is adjusted in accordance with incident angle dependency of diffraction efficiency by the filter, return luminous flux in which an error due to incident angle dependency is reduced is received in the optical detector.例文帳に追加

フィルタにより回折効率の入射角依存性に対応して戻り光束の透過光量が調整されるため、光検出器では、入射角依存性による誤差が低減された戻り光束が受光されることとなる。 - 特許庁

The -1st diffracted light beams L22, L32 which are respectively refracted on the second patterns 5, 6 of the diffraction optical element are made incident to the boundary surface of the main surface 2 with an angle smaller than the critical angle of total reflection and are taken outside the substrate 1.例文帳に追加

第２の回折光学素子パタン５，６のそれぞれで回折した−１次回折光Ｌ22，Ｌ32は、全反射の臨界角より小さな角度となって主面２の境界面に入射し、基板１の外部に取り出される。 - 特許庁

The incident angle θ of the X rays R_1 entering a sample S is changed at a predetermined angular velocity at the time measurement and the detected angle 2θ of the diffraction line due to the X-ray detector 10 is changed in the direction reverse to a θ-direction at an angular velocity twice the incident angle θ of X rays.例文帳に追加

試料Ｓへ入射するＸ線Ｒ_１の入射角度θは測定に際して所定角速度で変化し、Ｘ線検出器１０による回折線検出角度２θはＸ線入射角θの２倍の角速度でθ方向と逆方向に変化する。 - 特許庁

To inexpensively manufacture a more accurate, high-performance light function element by controlling such shape factor as the blaze angle of a high-order diffraction grating and phase shift.例文帳に追加

加工しやすい高次の回折格子を用いても放射モード損の少ない低しきい値ＤＦＢレーザなどの光機能素子を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide an optical modulator which is given a prescribed phase change regardless of input light wavelength and is constant in diffraction angle even if a frequency shift quantity is changed.例文帳に追加

所定の位相変化は入力光波長に無関係に与えられ、周波数シフト量を変えても回折角が一定な光変調器を提供する。 - 特許庁

To provide a compactible wavelength selection switch in which angle dispersion of a diffraction grating is made large without making a MEMS mirror small.例文帳に追加

回折格子の角度分散を大きくし、ＭＥＭＳミラーを小型化することなく小型化できる波長選択スイッチを提供することを目的とする。 - 特許庁

In the region B, the inclined angle is selected to result in the maximum diffraction efficiency of the first-order diffracted light for the principal rays incident perpendicular to the grating plane face.例文帳に追加

領域Ｂは格子面に垂直に入射する主光線に対して１次回折光の回折効率が最大になるよう上記傾斜角を選ぶ。 - 特許庁

The processing device performs interpolation processing for pixel data (step S415) after correcting time information on pixel data based on the inclination angle θ of the diffraction image (step S413).例文帳に追加

処理装置は、回折像の傾斜角θに応じて、画素データの時間情報を補正した（ステップＳ４１３）後、画素データの補間処理を行う（ステップＳ４１５）。 - 特許庁

A spectral diffraction means 28 that is tilted by a predetermined angle to match the monitoring range of the fire sensor is positioned in front of the light source 15 along the direction in which the light is emitted.例文帳に追加

一方、光源１５の光の照射方向の前方に、当該炎感知器の監視範囲に合わせて所定角度に傾斜させた分光手段２８を配置する。 - 特許庁

It is preferable that when incident light to the film transmits the film, part of the incident light generates grating diffraction at an angle of 0.01 to 1° with respect to the incident light.例文帳に追加

このフィルムは、フィルムへの入射光の透過において、入射光の一部が、入射光から０．０１〜１°の角度で格子状回折を生じるのが好ましい。 - 特許庁