「diffraction analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The RHx compound (R represents one metal element in rare earth elements, H is hydrogen and (x) is 2 or around 2) has an FCC (face-centered cubic) structure and a crystalline structure showing high diffraction intensity on the (311) plane than the diffraction intensity on the (111) plane by X-ray diffraction pattern analysis.例文帳に追加

本発明のＲＨｘ（Ｒは希土類元素のうちのいずれか一の金属元素。Ｈは水素元素。ｘは２又はその近傍。）化合物は、ＦＣＣ構造を有し、かつ、Ｘ線回折パターン結果において（１１１）面の回折強度よりも（３１１）面の回折強度のほうが大きい結晶構造を有することを特徴とするものである。 - 特許庁

In addition, it is expected that the present invention will provide a reliable and reproducible method for quantitative measurement of a very small amount of active oxygen produced therefrom through the X-ray diffraction analysis.例文帳に追加

また、本発明は、その時に発生する微量の活性酸素をＸ線回折分析で定量して、信頼性及び再現性ある活性酸素発生量の測定技術を提供する。 - 特許庁

The exposed surfaces are irradiated with an electron beam by a TEM (Transmission Electron Microscope) to acquire a TEM image and an electron-beam diffraction image of the ferroelectric film, and element composition analysis etc., is carried out (step S2).例文帳に追加

その露出させた面に対し、ＴＥＭにより電子線を照射して、その強誘電体膜のＴＥＭ像や電子線回折像の取得、元素組成分析等を行う（ステップＳ２）。 - 特許庁

To attain highly accurate thermal analysis measurement by making ambient environment of a sample for measurement and a standard sample the same on the premise of configuration for performing X-ray diffraction measurement by a transmission method.例文帳に追加

透過法によるＸ線回折測定ができる構造を前提として、被測定試料と標準試料の周囲環境を同じにして高精度な熱分析測定を実現する。 - 特許庁

To provide a point diffraction interferometer enabling development of relatively high-intensity radiation, utilization of an interferometer analysis, and also use of an extended source emitting spatially-incoherent radiation.例文帳に追加

比較的高強度の放射線の達成を可能にし、干渉計分析を利用可能にし、また空間的に非干渉性の放射線を放出する分散光源の使用も可能にする。 - 特許庁

After performing spectral diffraction of light in a spectral diffraction part, a captured angle of received light is changed per wavelength, and the captured angle is enlarged for light of a wavelength having a small light quantity, and the captured angle is reduced for light of a wavelength to be used in analysis accompanied by the scattered light.例文帳に追加

分光部で光を分光した後，波長ごとに受光する光の取り込み角度を変え，光量の少ない波長の光は取り込み角度を大きくし，光量が大きく，散乱光を伴う分析に使用する波長の光は取り込み角度を小さくする。 - 特許庁

The Ti-Al-based alloy target obtained by this method comprises 45 to 65 atomic% Al, and has at least two or more phases of Ti_3Al, TiAl, TiAl_2 and TiAl_3 upon analysis by X-ray diffraction, and in which metal Ti and metal Al as simple substances are not left upon EPMA (Electron Probe Micro Analysis).例文帳に追加

これにより得られたＴｉ−Ａｌ系合金ターゲットは、Ａｌを４５〜６５原子％含有し、Ｘ線回折で分析したときにＴｉ_３Ａｌ，ＴｉＡｌ，ＴｉＡｌ_２，ＴｉＡｌ_３の少なくとも２種以上の相を含み、ＥＰＭＡ分析をしたときに単体の金属Ｔｉ及び金属Ａｌが残存していない。 - 特許庁

To provide a structure analysis method for accurately analyzing the structure and composition of a carbon material to be measured based on the X-ray diffraction data of the carbon material to be measured by utilizing a statistical method.例文帳に追加

統計的手法を利用し、被測定炭素材のＸ線回折データに基づいて、高い精度で被測定炭素材の構造および組成分析が可能な構造解析法を提供する。 - 特許庁

To display obtained spectra by converting into the values of the first-order rays with automatically setting the conditions for measuring the higher-order rays, in a state analysis using characteristic X-rays of higher-order diffraction.例文帳に追加

高次回折の特性Ｘ線を用いる状態分析において、高次線の測定を行う条件を自動的に設定し、得られたスペクトルを１次線の値に換算して表示できるようにする。 - 特許庁

In order to provide the polarization analysis system which does not require a mechanical drive section, a system is proposed which is constituted of a diffraction grating, having designed optical anisotropy and a measuring element for detecting diffracted light.例文帳に追加

機械駆動部を要しない偏光解析システムを提供するために、設計された光学的異方性を有する回折格子と回折光を検出する計測素子からなるシステムを提案する。 - 特許庁

The polymorphism forms of benzyl (S,S)-2-(2- acetylsulfanylmethyl-3-benzo[1,3]dioxol-5-ylpropionylamino)propionate (fasidotril) are characterized by specific powder X-ray diffraction spectra and differential scanning thermal analysis spectra.例文帳に追加

特定の粉末Ｘ線回析スペクトルと示差走査熱分析スペクトルとで特徴付けられるベンジル（Ｓ，Ｓ）−２−（２−アセチルスルファニルメチル−３−ベンゾ[１，３]ジオキソル−５−イルプロピオニルアミノ）プロピオネート（ファシドトリル）の多形型。 - 特許庁

A considerable amount of work has been conducted on the analysis of crystal structures using point or ring electron diffraction patterns, based mainly on the kinematical theory (with some dynamical corrections). 例文帳に追加

かなりの(量の)研究が、(ある動力学的補正を伴った)主に運動学的理論に基づき、「点状の」または「環状の」電子回折図形を使って、結晶構造の解析について行われた。 - 科学技術論文動詞集

Hydrogen is brought into contact with the carbon fiber interlaminar reaction product, which contains a carbon structure wherein a diffraction peak position (2θ) due to wide angle X-ray diffraction analysis appears at 9-14° and obtained by electrochemically treating carbon fibers in an acidic solution, is brought into contact with hydrogen to be occluded by the carbon fiber interlaminar reaction product.例文帳に追加

炭素繊維を酸性溶液中にて電気化学処理してなる、広角Ｘ線回折分析による回折ピーク位置（２θ）が９°〜１４°に現れる炭素構造を含有する炭素繊維層間反応生成物に、水素を接触させて炭素繊維層間反応生成物に水素を吸蔵させる。 - 特許庁

The tissue structure has the structural characteristic in which the crystal structure substantially exclusive of a graphite structure does not substantially exist, the diffraction lines belonging to the metal Si and Si compound by the pattern analysis using an X-ray diffraction method are not detected and the granular structure is not identifiable by the observation of a transmission type electronmicroscope(TEM).例文帳に追加

その組織構造は、実質的に黒鉛構造以外の結晶構造が存在せず、Ｘ線回折法によるパターン解析により金属Ｓｉ及びＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM) の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁

The method for producing the metal oxide-containing titanium oxide compound comprises the steps of: mixing a raw material of titanium oxide, which has ≤1.40° half-value width of a diffraction peak of the (101) plane when measured by X-ray diffraction analysis, with an oxide of a metal other than titanium; and firing the obtained mixture at 300-600°C.例文帳に追加

Ｘ線回折分析による（１０１）面の回折ピークの半値幅が１．４０°以下である原料酸化チタンと、チタン以外の金属の酸化物とを混合し、得られた混合物を３００℃〜６００℃で焼成することを特徴とする金属酸化物含有酸化チタン化合物の製造方法である。 - 特許庁

The sputtering target is made from Ru or an Ru alloy, and the content ratio of a crystal orientation on a face (002) in an integrated intensity value measured on the surface of the target with an X-ray diffraction analysis is set to be 0.05 or larger.例文帳に追加

ＲｕまたはＲｕ合金からなるスパッタリングターゲットであって、ターゲット表面においてＸ線回折法で測定された積分強度値における（００２）面の結晶方位含有比を０．０５以上とする。 - 特許庁

The parallel radiation (12) emitted from the sample (4) in a known apparatus for X-ray analysis (e.g.; diffraction) is analyzed corresponding to a wavelength and matched with a focus 20 by a parabolic multilayered mirror 14.例文帳に追加

公知のＸ線分析（例えば、回折用）の装置における試料（４）から発する並行放射線（１２）は波長に応じて分析され、方物面多層鏡１４によって焦点２０に焦点が合わされる。 - 特許庁

A crystalline structure observed in the surface side of the electrophotographic photoreceptor by X-ray diffraction analysis exhibits a ≤0.8 ratio of the reflection intensity in a 101 direction of crystal plane to the peak reflection intensity in a 110 direction of crystal plane.例文帳に追加

電子写真用感光体表面がわからみた結晶構造のＸ線回折で得られる面方位１１０の反射強度のピーク値に対する、面方位１０１の反射強度の比率が０．８以下とする - 特許庁

To provide a structure analysis method of a trace element capable of suppressing measurement inhibition of a fluorescent X-ray signal caused by generation of a strong diffraction X-ray at a specific angle from a sample, when performing structure analysis of the trace element included in a single crystal sample by utilizing a fluorescent XAFS method.例文帳に追加

蛍光ＸＡＦＳ法を利用して、単結晶の試料に含まれる微量元素の構造解析を行うのに際し、試料から特定角度に強い回折Ｘ線が生じることに伴い、蛍光Ｘ線信号の測定が阻害されることを抑制できる微量元素の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

In an electrochemical element containing at least a first current collector, a first active material layer, a solid electrolyte layer, a second active material layer and a second current collector, the solid electrolyte layer includes lithium phosphate crystals, and full width value the at half maximum of a diffraction signal peak by an X-ray diffraction analysis is 1.7° or less.例文帳に追加

少なくとも第一集電体と、第一活物質層と、固体電解質層と、第二活物質層と、第二集電体とを積層した電気化学素子において、前記固体電解質層はリン酸リチウム結晶体を含み、前記リン酸リチウム結晶体のＸ線回折分析による回折信号ピークの半値全幅値は１．７°以下である。 - 特許庁

Supposing that the (111) face detection peak intensity is (a) and that the (200) face detection peak intensity is b when crystal structures analysis of platinum is executed by an X-ray diffraction method, the platinum electrode films 7, 8 have the ratio (b/a) of 0.01-0.1.例文帳に追加

白金電極膜７、８は、白金をＸ線回折法によって結晶構造解析した際の、（１１１）面検出ピーク強度をａとし（２００）面検出ピーク強度をｂとすると、その比率（ｂ／ａ）が０．０１〜０．１である。 - 特許庁

To provide a new method for analyzing the structure of a protein, by which any protein can be divided into soluble fractions and then subjected to purification, crystallization, and three-dimensional structure analysis by X-ray diffraction under uniform conditions.例文帳に追加

いかなる蛋白質であっても、可溶性画分に生産した後、均一な条件化で、精製、結晶化、及び、Ｘ線回折による３次元構造の解析を行うことができる新たな蛋白質の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

To improve the wavelength resolution of a characteristic X-ray used for analysis and the ratio of characteristic X-ray to background by using only a valid diffraction area of a dispersive crystal in an X-ray spectrometer using the curved dispersive crystal.例文帳に追加

湾曲分光結晶を用いるＸ線分光器において、分光結晶の有効回折領域のみを使用するようにして、分析に用いる特性Ｘ線の波長分解能、特性Ｘ線対バックグランド比の向上を図る。 - 特許庁

A stress distribution for calculating the strength H of the stress singular field near the contact end is determined by a molecular dynamic analysis, nano-indentation as an experimental technique, an X-ray stress measuring method, or a neutron diffraction stress measuring method.例文帳に追加

また、接触端近傍の応力特異場の強さＨを算出するための応力分布を、分子動力学解析、又は実験的手法としてナノインデンテーション、Ｘ線応力測定法、中性子回折応力測定法により求めた。 - 特許庁

In this catalyst for manufacturing acrylic acid, the ratio of peak intensity measured by X-ray diffraction analysis at d=4.38 Å (d4.38) to peak intensity at d=4.00 Å (d4.00) is less than 0.07.例文帳に追加

触媒のＸ線回折分析によって測定したｄ＝４．３８オングストロームにおけるピーク強度（ｄ４．３８）とｄ＝４．００オングストロームにおけるピーク強度（ｄ４．００）との比（ｄ４．３８／ｄ４．００）が０．０７未満であるアクリル酸製造用触媒。 - 特許庁

To perform accurate qualitative analysis by accurately performing the comparison of the measured data of the intensity of diffracted X-rays and standard data even in such a case that a measuring condition of the measured data and the standard data is different, especially, a diffusion slit is different in the X-ray diffraction device.例文帳に追加

Ｘ線回折装置において、回折Ｘ線強度の測定データと標準データの測定条件、特に、発散スリットが異なる場合でも、測定データと標準データの比較を正確に行い正確な定性分布を行う。 - 特許庁

A method for analysis includes: a step of directing a converging beam 30 of X-rays 26 toward a surface of a sample 22 having an epitaxial layer formed thereon; and a step of sensing the X-rays that are diffracted from the sample while resolving the sensed X-rays as a function of angle so as to generate a diffraction spectrum including a diffraction peak and fringe spectrum due to the epitaxial layer.例文帳に追加

Ｘ線２６の集束するビーム３０を、エピタキシャル層がその上に形成されたサンプル２２の表面に配向するステップと、１つの回折ピークとエピタキシャル層に起因する周辺スペクトルを有する回折スペクトルを生成するため、サンプルから回折されたＸ線を検知し、同時に、検知されたＸ線を角度の関数として解析するステップと、からなる分析方法。 - 特許庁

To provide a structural analysis method of a crystal for easily deciding whether spread shape of a peak to be measured is measured, by reflecting the nonuniform distribution of the composition within the crystal, when evaluating the structure of the crystal through X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折により結晶構造評価を行う際、測定されるピークの拡がり形状が、結晶中の組成が不均一に分布していることを反映して決まっているか否かを、簡便に判定できる、結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a structural analysis method of a crystal for easily deciding whether the spread shape of a peak to be measured is determined, by reflecting the nonuniform distribution of the composition in the crystal, when evaluating the structure of the crystal by X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折により結晶構造評価を行う際、測定されるピークの拡がり形状が、結晶中の組成が不均一に分布していることを反映して決まっているか否かを、簡便に判定できる、結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

A β type crystal and a γ type crystal of 4-amino-5-chloro-2-ethoxy-N-[[4-(4-fluorobenzyl)-2-morpholinyl]methyl]benzamide-citrate which are characterized by a powder x-ray diffraction pattern and/or a differential scanning calorimetric analysis thermogram, and are stable at the room temperature are disclosed.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折パターン及び／又は示差走査熱量分析サーモグラムで特徴付けられ、室温で安定な、４−アミノ−５−クロロ−２−エトキシ−Ｎ−［［４−（４−フルオロベンジル）−２−モルホリニル］メチル］ベンズアミド・クエン酸のβ型結晶及びγ型結晶。 - 特許庁

After setting the sample, a diffracted X-ray obtained by diffracting an X-ray from an X-ray tube 1 by the sample 6 is detected to execute X-ray diffraction analysis, by moving synchronously and rotatavely the X-ray tube 1 and a detector 3 around the rotation center 5.例文帳に追加

試料のセッティング後、Ｘ線管１と検出器３を回転中心５の回りに同期して回転駆動することによって、Ｘ線管１からのＸ線が試料６によって回折された回折Ｘ線を検出してＸ線回折分析が行われる。 - 特許庁

To provide an apparatus which can fully, promptly and precisely analyze using an inexpensive and simple structure by preventing diffraction rays, which become interfering rays, from being generated on the side of the X-ray source in an apparatus for X-ray fluorescence analysis analyzing samples having crystal structures.例文帳に追加

結晶構造を有する試料を分析する蛍光Ｘ線分析装置において、妨害線となる回折線をＸ線源側で発生しないようにすることにより、十分迅速で正確な分析ができ、安価で簡単な構造の装置を提供する。 - 特許庁

The method for inspection includes a step of irradiating an observation object of a rear surface of a sample 7 with an infrared laser beam 12 emitted from a laser beam source 1 and incident upon a diffraction lens 4 as a Bessel beam 13, detecting its reflected light 14 by a photodetector 11, and performing analysis.例文帳に追加

レーザ光源１から発せられた赤外レーザ光１２は、回折レンズ４に入射してベッセルビーム１３となり試料７の裏面の観察対象に照射され、その反射光１４は光検出器１１により検出されて、解析が行われる。 - 特許庁

By a powder X-ray diffraction analysis, FeYO_3 and/or AlYO_3 are identified as the perovskite type oxide, and at least a species selected from among Y_3Al_5O_12, Al_2Fe_3Y_3O_12, and Al_3Fe_2Y_3O_12 is identified.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折分析により、上記ペロブスカイト型酸化物として、ＦｅＹＯ_３及び／又はＡｌＹＯ_３が同定され、上記ガーネット型酸化物として、Ｙ_３Ａｌ_５Ｏ_１２、Ａｌ_２Ｆｅ_３Ｙ_３Ｏ_１２及びＡｌ_３Ｆｅ_２Ｙ_３Ｏ_１２から選ばれる少なくとも１種が同定される。 - 特許庁

The carbon electrode material for a redox flow battery using an aqueous electrolyte has pseudo graphite crystal structure in which the stacked structure ratio based on the peak intensity of <002> diffraction as determined by X-ray analysis is 0.50-0.90, and the amount of surface acidic functional groups as determined by XPS surface analysis is 0.2-1.2% of the number of carbon atoms on the whole surface.例文帳に追加

水溶液系電解液を使用するレドックスフロー電池用の炭素電極材であって、Ｘ線広角解析より求めた＜００２＞回折のピーク強度に基づく積層構造比が０．５０〜０．９０である擬黒鉛結晶構造を有し、ＸＰＳ表面分析より求めた表面酸性官能基量が全表面炭素原子数の０．２〜１．２％であることを特徴とする。 - 特許庁

A biaxially oriented polyester film comprises a polyester (A) and a polyether imide (B) and has a single glass transition temperature, wherein the diffraction peak of the crystal face in the main chain direction of the biaxially oriented polyester has a half-width in the range of 55-85 degrees in the circumference direction when the film is rotated about its normal line in crystal orientation analysis by diffractometry of wide angle X-ray diffraction.例文帳に追加

ポリエステル（Ａ）とポリエーテルイミド（Ｂ）とを含んでなる単一のガラス転移温度を有する二軸配向ポリエステルフィルムであって、広角Ｘ線回折のディフラクトメータ法による結晶配向解析で該フィルムをその法線を軸として回転した時に得られる該二軸配向ポリエステル主鎖方向の結晶面の回折ピークの円周方向の半値幅が５５〜８５度の範囲であることを特徴とする二軸配向ポリエステルフィルム。 - 特許庁

The inorganic particles for the dental material have an average particle diameter of 1 to 10 μm, a specific surface area of 50 to 350 m^2/g, a fine pore volume of 0.05 to 0.5 ml/g and a refractive index of l.47 to 1.60, and is amorphous by an X-ray diffraction analysis.例文帳に追加

この歯科材料用無機粒子は、平均粒子径が１〜１０μｍの範囲にあり、比表面積が５０〜３５０ｍ^2 ／ｇの範囲にあり、細孔容積が０. ０５〜０. ５ｍｌ／ｇの範囲にあり、Ｘ線回折による結晶性が無定型であり、屈折率が１. ４７〜１. ６０の範囲にある。 - 特許庁

The invention relates to an ε-type crystal of N-benzyl-N-ethyl-2-(7-methyl-8-oxo-2-phenyl-7, 8-dihydro-9H-purin-9-yl) acetamide identified by powder X-ray diffraction pattern and/or differential scan calorimetric analysis thermogram, and having an excellent heat stability, etc.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折パターンおよび／または示差走査熱量分析サーモグラムで特定され、優れた熱安定性などの性質を有する、Ｎ−ベンジル−Ｎ−エチル−２−（７−メチル−８−オキソ−２−フェニル−７,８−ジヒドロ−９Ｈ−プリン−９−イル）アセトアミドのε型結晶。 - 特許庁

To attain a method and program for measuring/analyzing X-ray diffraction capable of performing sufficiently accurate profile analysis by fitting of a specific satellite peak based on known information and measured data, and to two-dimensionally display a match state globally with a good view without losing generality.例文帳に追加

既知情報及び実測データに基づく特定サテライトピークのフィッティングにより、十分な精度のプロファイル解析が行えるＸ線回折測定解析方法及びプログラムを実現し、また、一致状態を一般性を失うことなく大局的に見通しよく２次元表示する。 - 特許庁

According to such a configuration, this method which is different from X-ray diffraction method or X-ray transmission method that accompanies hazards and thermal analysis method that requires cutting of a material, and the presence of the crystallization or internal flaw of the metal glass can be evaluated safely, accurately and simply by a single method.例文帳に追加

かかる構成により、従来の危険を伴うＸ線回折法及びＸ線透過法や、材料の切り出しが必要な熱分析法と異なり、金属ガラス中の結晶化や内部欠陥の有無を、単一の方法で、安全に、且つ精度よく簡単に評価することができる。 - 特許庁

The sliding member has a plated Cr film thereon containing (222) oriented crystals 1 of which the (222) face specified by X-ray diffraction analysis directs at the surface side, in an amount of 60 to 80% by an abundance ratio; and having a thereby thinned Cr oxide film 3 on the surface.例文帳に追加

摺動部材のＣｒめっき層の、Ｘ線回折分析により特定される（２２２）面が表面側を向いた（２２２）配向結晶１の存在率を６０％以上８０％以下とし、該Ｃｒめっき層表面に形成されるＣｒ酸化皮膜３の厚さを薄くする。 - 特許庁

This invention relates to an electrode catalyst for fuel cell in which platinum alloy particles containing platinum and a transition metal are carried on a carbon material, and the peak originating from Pt(111) in an X-ray diffraction analysis using CuKα beam belongs to a lattice plane of 40.3-40.8° in 2θ.例文帳に追加

白金と遷移金属とを含む白金合金粒子が炭素材料に担持されてなる燃料電池用電極触媒であって、ＣｕＫα線を用いたＸ線回折分析によるＰｔ（１１１）に由来するピークが２θにして４０．３〜４０．８°の格子面に帰属される、燃料電池用電極触媒である。 - 特許庁

The composite particle is composed of smaller particles and larger particles, wherein the smaller particles are supported on the larger particles, and the smaller particles are titanium oxide-silica composite fine particles having 0.02-0.5 μm of average particle size calculated from the BET specific surface area, and the larger particles have 2-200 μm of average particle size measured by laser diffraction/scattering type particle size analysis.例文帳に追加

小粒子がＢＥＴ比表面積換算粒径で０．０２μｍ〜０．５μｍの平均粒径を持つ酸化チタン−シリカ複合微粒子であり、この小粒子がレーザー回折／散乱式粒度分析法によって測定される平均粒径２〜２００μｍの大粒子に担持されていることを特徴とする複合粒子。 - 特許庁

Disclosed is a composite material comprising Pt, Au and Cu, and at least comprising an intermetallic compound of Au and Cu and a Pt simple substance, and, in the range of 2θ=36 to 44° of X ray diffraction analysis, the peak intensity of the whole intermetallic compound is 0.8 to 40 times the peak intensity of the Pt simple substance.例文帳に追加

Ｐｔ、Ａｕ及びＣｕを有する複合材料であって、ＡｕとＣｕとの金属間化合物、及び、Ｐｔ単体を少なくとも有し、Ｘ線回折分析の２θ=３６〜４４°の範囲において、前記金属間化合物全体のピーク強度が、前記Ｐｔ単体のピークの強度の０．８〜４０倍であること。 - 特許庁

The optical analysis device for an object to be detected is adapted to guide the excited light from one end of to the light transmitter, and spectrally divide the fluorescence due to the excitation of a material to be detected, by the excited light propagating in the light transmitter from the excited light by a diffraction grating provided at the other end of the light transmitter.例文帳に追加

光伝搬体の一端から励起光が導光され、光伝搬体中を伝搬する励起光により、被検出物質が励起されて生じる蛍光と励起光とを、光伝搬体の他端に設けられた回折格子により分光することを特徴とする被検出対象の光学分析装置である。 - 特許庁