「make test」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To make an efficient learning plan by evaluating test results according to the question-setting frequencies and learning efficiency of respective questions.例文帳に追加

試験結果を各問題の出題頻度および学習効率に基づいて評価し、効率的な学習計画を立てることができるようにする。 - 特許庁

To make it possible to evaluate wear and tear, and performance degradation of a test disk by judging whether the performance of the test disk for testing a disk device for recording and reproducing information data on/from an optical disk is good, and also to evaluate performance degradation of a test disk evaluation device itself.例文帳に追加

光ディスクに情報データを記録再生するディスク装置の性能をテストするテストディスクの性能の良否を判定してテストディスクの消耗、性能劣化を評価することができるとともに、テストディスク評価装置自体の性能劣化を評価することができるようにする。 - 特許庁

A space which is added to the row driver by the test circuit is very slight, and since the test circuit will not make the function of the row driver complicated, probability of failures induced in the test circuit is suppressed to be low, and the technique can be applied to high-sensitivity tests at a low cost.例文帳に追加

試験回路により行ドライバに追加されるスペースはごくわずかであり且つ試験回路が行ドライバの機能を大幅に複雑にすることもないため、試験回路で誘起される故障の確率を低く抑えた上、低コストで高度な試験に適用することができる。 - 特許庁

To make test work in remodelling at site smooth by conducting a test for an elevator remodelled at site at night and operating the elevator in its original condition in the daytime in a night time coming-in-and-out inhibition building whose number is rapidly increasing.例文帳に追加

急増する夜間出入り禁止ビルにおいて、夜間に現地改造を行ったエレベーターのテストを行い、昼間は元の状態でエレベーターを運転する事ができ、現地改造におけるテスト作業のスムーズ化を図る。 - 特許庁

Then the access server 6 receives a test result from the test device 7, instructs a support department to make fault repair and informs the personal computer 2b of the customer about the end of repair after receiving the fault repair end notice from the support department.例文帳に追加

次に、試験装置７からの試験結果を受け、サポート部門へ故障修理の指示を行い、サポート部門からの故障修理終了通知を受けて顧客のパーソナルコンピュータ２ｂへ修理終了を通知する。 - 特許庁

To provide a testing machine which can be adjusted so as to make an amplitude of a measurement signal set to a set value even when the response of a whole system including a test piece changes because of a change in the rigidity of the test piece.例文帳に追加

供試体の剛性の変化等により供試体を含むシステム全体の応答性が変化した場合であっても、測定信号の振幅を設定値となるように調整することが可能な試験機を提供する。 - 特許庁

According to this constitution, it is possible, for instance, to inject the test current so that the reactive leakage current may increase, to make the test current reach a prescribed current value and thereby to check that the insulation monitoring device I does not perform an alarming operation.例文帳に追加

これにより、例えば、無効漏れ電流が増加するように試験電流を注入し、所定の電流値に到達させて、絶縁監視装置Ｉが警報動作しないことを確認することができる。 - 特許庁

To make a toggle ratio 100% in all of circuits constituting a semiconductor device while minimizing an increase in circuit cost by reducing the number of test patterns used in an IDDQ test of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のＩＤＤＱ試験において、使用するテストパターン数を減少させ、回路コストの増加を最小限に抑えながら、半導体装置を構成する全ての回路のトグル率を１００％とする。 - 特許庁

Also, when the control section generates the screen data, it enlarges or reduces the test pattern to change the size so that the size of the test pattern to be displayed on each the changeover screen has a ratio of 10% to the size of the display screen and sets the driving level of a background region to make the background region of the test pattern have the intensity level corresponding to the test pattern.例文帳に追加

また、画面データを生成する際には、各切替画面において表示するテストパターンのサイズが表示画面のサイズに対して１０％の比率となるように、テストパターンを拡大又は縮小してサイズ変更するとともに、テストパターンの背景領域がそのテストパターンに対応する輝度レベルとなるように背景領域の駆動レベルを設定する。 - 特許庁

To make the improvement of inspection accuracy and the shortening of test time which is compatible in a visual inspection apparatus of a line sensing type, which inspects printed-circuit boards or the like.例文帳に追加

プリント基板等を検査するラインセンスタイプの外観検査装置において、検査精度の改善と試験時間の短縮の両立が切望されている。 - 特許庁

To change the size of an aperture hole of an aperture member, in a microscope device which intensifies the contrast of a test piece to make observation.例文帳に追加

本発明は、試料のコントラストを高めて観察する顕微鏡装置に関し、絞り部材の絞り開口の大きさを変更することを目的とする。 - 特許庁

Preferably, the signals TSIG1 to TSIG4 are inputted directly from address terminals only when a test is conducted to make it easier to perform control and shorten the time.例文帳に追加

好ましくは、信号ＴＳＩＧ１〜ＴＳＩＧ４をテスト時のみアドレス端子から直接入力することで制御と時間短縮がさらに容易となる。 - 特許庁

To make a contactless test of a flat panel display when determining whether each process is being carried out normally during a fabricating process of the flat panel display.例文帳に追加

平面表示装置の製造工程中、各製造工程が正常に進行したかを検査する際、被検体と接することなく検査できるようにする。 - 特許庁

The contrasts of the contrast areas 12-1 to 12-4 are adjusted so as to make how the respective test patterns look like almost coincide with the pixel values of the backgrounds fixed.例文帳に追加

そして、バックグランドの画素値を固定したまま、各テストパタンの見え方がほぼ一致するように、コントラスト領域１２−１〜１２−４のコントラストを調整する。 - 特許庁

Further, the first metal wiring layer 7 is not provided with a metal electrode pad for the wafer test as in prior arts, it is possible to make the chip area smaller.例文帳に追加

さらに、第１メタル配線層７に従来技術のようにはウェハテスト用の金属電極パッドを設けていないのでチップ面積を小さくできる。 - 特許庁

To prevent test parity from being increased by a simple elimination error position estimating method and to make processable data error in a relatively short time when data errors are corrected.例文帳に追加

簡単な消失エラー位置推定方法で検査パリティが多くならず、データエラー訂正時に処理時間が比較的短時間で処理できるようにすること。 - 特許庁

A rubber cap 3 mounting the thumbscrew 4 fixing the U-shaped metal fitting 2 to the hose band 1 by the rivet 5 is assembled, to make a test plug for exclusive use of a vinyl pipe.例文帳に追加

ホースバンド１にコの字型金具２をリベット５で固定の蝶ネジ４を取付けたゴムキャップ３を組付けビニール管専用のテストプラグを作る。 - 特許庁

In the case of testing the airtightness of the electronic endoscope 10, a tester is connected to one of the two ventilation connectors 16 to make a test.例文帳に追加

電子内視鏡１０の気密性の検査を行う場合には、２つの通気コネクタ１６のうちのいずれかにテスターを接続して検査を行えばよい。 - 特許庁

To make substantially constant a time from test start of a trip operation upto an output of a trip signal even when a set value of a trip scale is changed.例文帳に追加

トリップ動作の試験開始からトリップ信号が出力するまでの時間を、トリップ目盛の設定値を変更した場合でもほぼ一定にさせることにある。 - 特許庁

A graphical user interface is provided to make the data related to the standard test method or equipment and the evaluation method or equipment identifiable.例文帳に追加

グラフィカルユーザインターフェースは、基準方法または機器および評価方法または機器に関連付けられたデータを識別可能にするために提供される。 - 特許庁

To provide a numerical controller for machine tool which can speedily and surely make effective plural control functions needed for operation such as test machining.例文帳に追加

テスト加工などの作業に必要な複数の制御機能を迅速且つ確実に有効にすることができる工作機械の数値制御装置を提供する。 - 特許庁

Note: No matter how small of a change you make, always test your code before committing it to your code repository or releasing it. 例文帳に追加

注意変更内容がどんなに些細なものであっても、それをリポジトリにコミットしたりリリースしたりする前に必ずテストを行うようにしましょう。 - PEAR

To make a watching person efficiently and accurately monitor the operation of an EUT (equipment under test) without entering a radio wave dark room.例文帳に追加

監視者が電波暗室内に立ち入ることなくＥＵＴの動作の監視を効率的かつ正確に行い得る放射性ノイズイミュニティ評価システムを提供する。 - 特許庁

An electronic voting terminal is provided with a lock device for using a prescribed key to be unlocked and further inputting a prescribed password to make the printer 20 perform test printing.例文帳に追加

所定のキーを用いて開錠し、さらに所定のパスワードを入力することによりプリンタ２０がテスト印字を行なえるようにするロック装置を備える。 - 特許庁

To provide a refrigerant visual test device and a transparent resin body manufacturing method for refrigerant visual test capable of more accurately reproducing the flow of refrigerant in a refrigerant expanding portion of a heat pump type refrigerant circuit to make it visible in comparison with a conventional one.例文帳に追加

ヒートポンプ式冷媒回路の冷媒膨張部における冷媒の流れを従来より正確に再現して視認可能な冷媒視認試験装置及び冷媒視認試験用の透明樹脂製ボディ製造方法を提供する。 - 特許庁

To make the normal shift to a test mode compatible with the prevention of overshooting and undershooting of an input signal in the normal mode in a semiconductor memory device having a normal mode and a test mode as the operation modes.例文帳に追加

通常モードおよびテストモードを動作モードとして有する半導体記憶装置において、通常モード時の入力信号のオーバーシュートおよびアンダーシュートを防ぐことと、テストモードへの正常な移行との両立可能を図る。 - 特許庁

A test piece 42 is attached to a belt 48 of a nonmagnetic material arranged along the discharge chute 20, and the belt 48 is arranged to make the test piece 42 pass through the metal detector 24 and run by a motor 50.例文帳に追加

排出シュート２０に沿って配置された非磁性体のベルト４８にテストピース４２が取り付けられ、ベルト４８は、テストピース４２が金属検出器２４を通過するように配置され、かつモータ５０によって走行させられる - 特許庁

To provide a semiconductor device and a wafer burn-in method, wherein wafer burn-in test having reliability can be executed with alignment precision to some degree, in the case that the number of terminals which make contact in batch in the state of wafer is increased, and the cost for test is low.例文帳に追加

ウェハ状態で一括して接触する端子数が多くなっても、ある程度の位置合わせ精度で信頼性のあるウェハバーンイン試験が実施でき、安価なテストコストで済む半導体装置及びウェハバーンイン方法を提供する。 - 特許庁

A quality processing section 33 reads a predetermined statistic out of the simulation parameter storage section 32 based upon a separately indicated test mode, and performs processing for quality deterioration on a test medium based upon the statistic to make the quality worse in a pseudo manner.例文帳に追加

品質加工部３３は、別途に指示される試験モードに基づいて所定の統計量を模擬パラメータ記憶部３２から読み出し、この統計量に基づいて試験メディアに品質劣化の加工を施して品質を擬似的に劣化させる。 - 特許庁

To make a test of a system LSI efficient and to shorten development period of the system LSI by enabling a production test of the entire system LSI constituted on a logical integrated circuit such as an FPGA as for a development support system of the system LSI.例文帳に追加

システムＬＳＩの開発支援システムにおいて、ＦＰＧＡ等の論理集積回路上に構築したシステムＬＳＩ全体の実機テストができるようにして、システムＬＳＩのテストを効率化し、システムＬＳＩの開発期間の短縮化を図る。 - 特許庁

To provide a Solfege learning system, a Solfege learning providing server and a program which make a user terminal connected to a network execute a test based on learning data having generated Solfege subjects to be learned and automatically evaluate the test result.例文帳に追加

ネットワーク接続された利用者端末に学習されるソルフェージュの科目の生成した学習データに基づくテストを実施させ、当該テストの結果を自動評価するソルフェージュ学習システム、ソルフェージュ学習提供サーバ、及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To make surely performable the change-over of an electric circuit and the control characteristic or a controller accompanying the change-over of the configuration of a hydraulic circuit in a hydraulic material test system.例文帳に追加

油圧式材料試験システムにおける油圧回路の構成の切換に伴い、電気回路の切換並びにコントローラの制御特性の切換が確実に行われるようにする。 - 特許庁

To make a manufacture test of a chip possible even without catching an arrival timing of a device output signal sufficiently accurate for checking a response of a hit level as occasion demands.例文帳に追加

チップの製造試験において、ビットレベルの応答を適時にチェックするのに十分正確なデバイス出力信号の到来タイミングがつかめなくても試験を可能にする。 - 特許庁

Further, the DSS console is provided with an LED lighting detection means for detecting the lighting of the LEDs corresponding to the red and green LEDs to eliminate the need for a test operator to make visual confirmation.例文帳に追加

また、この赤及び緑のＬＥＤに対応してＬＥＤの点灯を検出するＬＥＤ点灯検出手段を設けることで、試験者の視認を不要にする。 - 特許庁

In this browsing method, when a user seeing browsing data sent from a center unit make a request operation such as code entry, test data specifying Internet contents are sent to the center unit (P1).例文帳に追加

センター装置から送られた閲覧データをみてユーザがコード入力等のリクエスト操作を行なうと、センター装置にインターネットコンテンツを特定するテキストデータが送られる（Ｐ１）。 - 特許庁

(ii) When employing market risk measurement technique, does the institution make the selection after weighing its calculation results against the outcomes obtained through the use of other techniques by using test data? 例文帳に追加

（ⅱ）市場リスク計測手法を採用するに当たっては、テスト・データにより他の計測手法で算出した結果と比較・検討した上で、採用を決定しているか。 - 金融庁

The POTS/data filter and the splitter device can make a telephone call from the test set by POTS without interrupting the transmission of the digital data signal on the copper wire.例文帳に追加

ＰＯＴＳ／データフィルタ及びスプリッタ装置は、銅線上のデジタルデータ信号の送信を干渉することなく、試験セットからＰＯＴＳで電話をかけることが可能となる。 - 特許庁

To easily make clear a mutual relation among a printed circuit board, a test jig and a tester pin number to facilitate trouble analysis for the printed circuit board.例文帳に追加

プリント回路基板と、テスト治具と、テスタピン番号の相互関係を容易に明確にすることによりプリント回路基板の故障解析を容易に行うことを目的とする。 - 特許庁

To adjust a positional relation between an aperture member and a modulator to gain superior contrast, in a microscope device which intensifies the contrast of a test piece to make observation.例文帳に追加

本発明は、試料のコントラストを高めて観察する顕微鏡装置に関し、絞り部材とモジュレータとの位置関係を調整し良好なコントラストを得ることを目的とする。 - 特許庁

To make it possible to carry out a delay test for detecting delay failure of an ingoing path to a memory and an outgoing path from the memory in an LSI with built-in memory.例文帳に追加

メモリが内蔵されたＬＳＩにおいて、メモリの入力への経路またはメモリの出力からの経路のディレイ故障を検出するディレイテストを実施できるようにする。 - 特許庁

To allow pogo pins accurately and surely make contact with a probe card by permitting an interval, when connecting a test head of an IC tester to a wafer prober to be constant.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣテスタのテストヘッドとウェハプローバを接続する際の間隔を一定にし、ポゴピンをプローブカードに確実かつ正確に接触させることである。 - 特許庁

A filling material capture dam 11 is formed on a protective film 4 of an active element of a circuit which can make a test of electrical characteristics and a function, whereby filling material capture slits 12 are provided in the dam 12 to contrive to make it possible to efficiently capture filling materials 8.例文帳に追加

電気特性及び機能のテストができる回路の能動素子の保護膜４上に、充填材捕獲ダム１１を形成することにより充填材捕獲スリット１２を設けて、充填材８を効率よく捕獲できるようにした。 - 特許庁

To make optionally designable the start address numbers of test pattern programs to be merged and also to efficiently process the redundant part of a merged pattern program caused by the designation of the start address numbers in a program processor for an IC test.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣテストのためのプログラム処理装置において、マージされるテストパタンプログラムの開始アドレス番号を任意に指定可能とすると共に、開始アドレス番号の指定によって生じる併合パタンプログラムの冗長部分を効率よく処理することである。 - 特許庁

To make a transition to a test mode easily, quickly and reliably by previously forming two electrodes for testing, which are short-circuited to each other in the test mode of a wiring board, and contriving the configuration of the two electrodes for testing.例文帳に追加

配線基板のテストモードで互いに短絡される２つのテスト用電極をあらかじめ基板本体に形成しておくと共に、２つのテスト用電極の構成に工夫を講じることによって、テストモードへの移行を容易かつ迅速に、しかも確実に行う。 - 特許庁

A package opening 9 is provided so as to make all or some of test terminals 2 formed on the semiconductor device chip 10 exposed or a contact electrically connected to a test chip terminal is provided.例文帳に追加

半導体装置のチップ１０上に形成されたテスト用端子２の全部又は一部の上にテスト用端子を露出させるためのパッケージ開口部９が存在するようにしておくか、もしくはテスト用チップ端子に導通させたコンタクト部分を存在するようにしておく。 - 特許庁