「make test」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide functions such as an automatic creation of an excellent GUI, test tool and dummy functions in the development of C, C++, Pro*c on a UNIX machine, to make it possible to efficiently develop software of UNIX C, C++, Pro*c.例文帳に追加

ＵＮＩＸマシン上のＣ、Ｃ＋＋、Ｐｒｏ^＊ｃの開発に関して、優しいＧＵＩ、テストツール、仮関数等の自動作成等機能を提供し、もっと効率がよくＵＮＩＸ Ｃ、Ｃ＋＋、Ｐｒｏ^＊ｃのソフト開発が行えます。 - 特許庁

To make application of a high voltage caused by an accumulated charge preventable easily and surely in a testing device, when applied, for example, to a semiconductor testing device used for a test of various characteristics of an integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、例えば集積回路の各種特性の試験に供する半導体試験装置に適用して、蓄積電荷による高電圧の印加を簡易かつ確実に防止することができるようにする。 - 特許庁

When the flame signal involves any aperiodic signal, frequency selection devices 6, 17, 18, 19 makes the flame signal amplifier valid, while when the same involves a periodic signal or a test signal the devices make the same amplifier invalid.例文帳に追加

周波数選択装置６、１７、１８、１９により火炎信号に非周期的な信号が存在する場合には、火炎信号増幅器を有効に、また周期的な信号があるいはテスト信号が存在する場合には、無効にする。 - 特許庁

To make evaluatable the durability by applying the loads of compression stress and tensile stress in three axial directions at the same time to perform a strength and acceleration test.例文帳に追加

三軸方向に圧縮応力及び引張応力の負荷を同時にかけて、強度及び促進試験を行い、耐久性の評価ができるコンクリート等の耐久性評価試験装置及びその耐久性評価方法を提供する。 - 特許庁

As the LC4 is illuminated by the back light comprised of the light emitting diodes LED1 and LED2 and light guiding plate 40, it is possible to make clearly readable the display of test results, etc., on the LCD4 even under insufficient illumination.例文帳に追加

而して、発光ダイオードＬＥＤ１，ＬＥＤ２と導光板４０からなるバックライトでＬＣＤ４を照明しているので、不十分な照明下でもＬＣＤ４による検査結果等の表示が明瞭に判読可能となる。 - 特許庁

To obtain a TEG(test element group) pattern for evaluating plasma damage which can eliminate the defective blowing out of all fuses and, at the same time, can make all gates to be able to be measured under the same condition without giving any damage to the gates.例文帳に追加

本発明は、すべてのヒューズの切断不備を解消するとともに、測定前のゲートにはほとんどダメージを与えることをなくしてすべて同一の条件下で測定ができるようになるプラズマダメージ評価用ＴＥＧパターンを得る。 - 特許庁

To make a defective portion easily narrowed, when setting various potential states to execute IDDQ inspection, using a scan chain, in a CMOS integrated circuit provided with a scan test function and constituted of a plurality of logic blocks.例文帳に追加

スキャンテスト機能を備え複数の論理ブロックから構成されたＣＭＯＳ集積回路において、スキャンチェーンを用いて内部の様々な電位状態を設定してＩＤＤＱ検査を実施する際に、不良箇所の絞り込みを容易にする。 - 特許庁

After that, the test object is added only to the measuring chip 6 to similarly make measurement, and then the difference in sensitivity is used to calibrate measurement result of the reference unit 5', compensating measurement result of the measuring unit 5, based on the calibrated measurement result.例文帳に追加

その後測定チップ６のみに被検体を添加し、同様に測定を行い、リファレンスユニット５’の測定結果を前述の感度差を用いて校正し該校正された測定結果により、測定ユニット５の測定結果を補正する。 - 特許庁

To make a plurality of tests mutually different in the setting of meas uring conditions (especially measuring points) performable, without changing measuring equipments, in an electromagnetic wave measuring test for measuring an electromagnetic wave emitted from a substance to be tested in an anechoic chamber.例文帳に追加

電波暗室内で被試験体から放射される電磁波を測定する電磁波測定試験において、測定条件（特に測定点）の設定の異なる複数の試験を、測定装置を入れ替えることなく行えるようにする。 - 特許庁

To make it possible to perform test recording simply based on medium information recorded in an optical disk, compute optimum recording conditions from compatibility of an optical pickup and an optical disk, and raise performance in recording information data on an optical disk.例文帳に追加

光ディスクに記録された媒体情報に基づいてテスト記録を簡素化して行い、光ピックアップと光ディスクとの相性から最適な記録条件を算出して、情報データの光ディスクへの記録性能を向上させることができるようにする。 - 特許庁

When conducting a leak test of the container filled with fluid, measuring electrodes (3a, 3b) are used to make impedance measurement (7) outside the container (1) for obtaining highly reliable information also on the container wall in contact with filler.例文帳に追加

液体で満たされた容器を漏れ試験するときに、充填物と接触している容器壁に関しても漏れ状態に関する信頼性の高い情報を得るために、測定電極（３ａ，３ｂ）を用いて容器（１）の外部でインピーダンス測定（７）が行われる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can test together with a replica circuit and a chip main body even when a voltage generating circuit is not mounted on the same chip, and can make real speed measurement of a chip in a wafer state.例文帳に追加

電圧発生回路を同一チッブ上に搭載していない場合であってもレプリカ回路とチップ本体を合わせた試験を行うことができ、また、ウエハー状態でチップの実速度測定を行うことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

The driving command value determining rule of the control device is corrected so as to make an actual relationship, which is a relationship between the plurality of the test driving command values and the actual rolling angle corresponding amount, equal to a predetermined standard relationship (S11, S34, S46).例文帳に追加

複数ずつのテスト用駆動指令値と実ローリング角対応量との関係である実関係が、予め設定されている標準関係と等しくなるように、制御装置の駆動指令値決定規則を補正する（Ｓ１１，Ｓ３４，Ｓ４６）。 - 特許庁

To facilitate the alterations of the beginning addresses of an initializing part, an interrupt table and an address space table in a test program region, the beginning addresses of an access region, an instruction generating region and correct answer information and the scope of an area, and to make it possible to deal with the execution time.例文帳に追加

テストプログラム域における初期処理部、割込みテーブル、アドレス空間テーブルの先頭アドレスやアクセス域、命令生成域、正解情報の先頭アドレスと領域範囲の変更を容易とし、また、実行時間への対応を可能とすること。 - 特許庁

Since it is possible to make the contact pins 11 contact the lead terminals 1a and execute test only by opening the small-diameter contact-pin through holes 4 in the tray lid 3, contamination of the semiconductor devices 1 and bending of leads, when housed are suppressed.例文帳に追加

小径の接触ピン貫通孔４をトレイ蓋３に開設するだけで接触ピン１１をリード端子１ａに接触させてテストを行なうことができるので、半導体装置１の汚染及び収納時のリードの湾曲が抑制される。 - 特許庁

A first capillary tube passage, constituted so as to make a liquid pass across the first end part depression and the analyzing part and a second capillary tube passage constituted so as to pass the liquid across the second end part depression and the analyzing part are provided to the test piece.例文帳に追加

この試験片には、第一の端部凹みと分析部分との間に液体を導通させるようになした第一の毛細管通路と、第二の端部凹みと分析部分との間に液体を導通させるようになした第二の毛細管通路とがある。 - 特許庁

To provide drift correction method and apparatus in FIB (Focused Ion Beam) automatic processing, which can make accurate correction for rotation even if the rotation happens in an irradiation position of a test piece.例文帳に追加

本発明はＦＩＢ自動加工時のドリフト補正方法及び装置に関し、試料照射位置に回転が生じた場合でもこの回転の補正を正確に行なうことができるＦＩＢ自動加工時のドリフト補正方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To resolve the cause of increase in inspection cost, because of the long time taken to make a plurality of stationary states for failure detection of products, even though a stationary power supply current test is effective for detecting open failures and closed-circuit failures and complements undetected stuck failures.例文帳に追加

静止電源電流テストは開放故障、短絡故障の検出や未検出縮退故障を補完するのに有効であるが、製品の故障検出のために、複数の静止状態を作り出すには時間がかかり、検査コストを引き上げる原因となる。 - 特許庁

Then the line sensor is moved as shown by the arrow Y (step 122) to make a second scan (step 124), a test pattern read signal is analyzed to calculate the quantity of a position shift from the first scan (step 126), and the line sensor is finely adjusted and moved as shown by the arrow X (step 128).例文帳に追加

続いて、ラインセンサを矢印Ｙ方向に移動し（ステップ１２２）、第２のスキャンを行い（ステップ１２４）、テストパターン読取信号を解析し、前第１のスキャンとの位置ズレ量を算出し（ステップ１２６）、ラインセンサを矢印Ｘ方向に微調整移動する（ステップ１２８）。 - 特許庁

When a test operation is performed, the memory divides the n-bit data output pins into eight groups to make the groups correspond to respective area in the memory, when a failure memory cell is relieved, failure relieving operation is performed for each memory area corresponding to data output pins of the eight groups.例文帳に追加

メモリはテスト動作時にｎビットデータ出力ピンを８個のグループに分割して内部のメモリ領域に対応させ、欠陥メモリセルを欠陥救済する場合、８個のグループのデータ出力ピンに対応するメモリ領域別に欠陥救済動作を行う。 - 特許庁

Time B when a process to make electric power supplied to an assist motor zero is executed is estimated based on time delay characteristics of actual exhaust gas energy measured and created beforehand by engine test right before actual supercharge pressure reaches a target supercharge pressure (time A).例文帳に追加

実過給圧が目標過給圧に到達する直前（時刻Ａ）で、予めエンジン試験で測定して作成した実排気エネルギーの時間的な遅れ特性に基づいて、アシストモータへの供給電力をゼロにする処理を実行する時刻Ｂを予測する。 - 特許庁

To make an immunoassay analyzer for analyzing electrochemically an immunoassay, and a chip electrode and a test chip used for the immunoassay analyzer suitable for a POCT (point of care testing), and to keep running costs thereof low.例文帳に追加

本発明は、イムノアッセイを電気化学的に分析するイムノアッセイ分析装置、並びに、そのイムノアッセイ分析装置に用いるチップ電極および検査チップに関し、ＰＯＣＴ（ｐｏｉｎｔ ｏｆ ｃａｒｅ ｔｅｓｔｉｎｇ）に適するとともに、ランニングコストを安価に抑える。 - 特許庁

To make only a nozzle head having a defective nozzle perform a suction recovery action by printing a test pattern even for a droplet discharge head whose nozzle pitch is unequal.例文帳に追加

ノズルピッチが不等ピッチである液滴吐出ヘッドであっても、テストパターンを印刷することにより、不良ノズルを有するノズルヘッドだけを吸引回復動作できるようにした液滴吐出装置におけるテストパターン印刷方法とメンテナンス方法及び液滴吐出装置の提供を課題とする。 - 特許庁

The testing device allows the operational amplifier 18 to operate and perform a test to make the current flowing fixed in value, in the testing object transistor 14 so that the current quantity flowing in a resistor 24 becomes fixed, by applying a desired voltage from DAC 16 to a positive input end of the operational amplifier 18.例文帳に追加

ＤＡＣ１６から所望の電圧をオペアンプ１８の正入力端に印加することで、抵抗２４に流れる電流量が一定になるように、オペアンプの１８が動作して、試験対象トランジスタ１４に流れる電流を一定値とする試験が行われる。 - 特許庁

To make a crack hard to occur in solder balls arranged at four corners below a semiconductor substrate even if a temperature cycle test is conducted in a mounting method of a semiconductor device for mounting the semiconductor device having a plurality of the solder balls arranged in a matrix shape below the semiconductor substrate on a circuit board.例文帳に追加

半導体基板下にマトリクス状に配置された複数の半田ボールを有する半導体装置を回路基板上に実装する半導体装置の実装方法において、温度サイクル試験を行なっても、半導体基板下の４隅に配置された半田ボールにクラックが発生しにくいようにする。 - 特許庁

This test coupon 21 for measuring characteristic impedance including a zigzag wiring part 31 wired in a zigzag manner to make wiring intervals constant and a linear wiring part 32 wired linearly is formed in a second region 12 different from a product wiring region 11 on this printed board 1.例文帳に追加

プリント基板１上の製品配線領域１１とは異なる第２領域１２に、配線間隔が一定となるようにジグザグに配線されるジグザグ配線部３１と、直線に配線される直線配線部３２とを含む特性インピーダンス測定用テストクーポン２１が設けられる。 - 特許庁

In addition, the standard state mass is the mass obtained by preliminary drying (to make the sample a constant weight under an environment of 10 to 25% relative humidity and at a temperature not exceeding 50°C), and then leaving it in a test chamber in a standard state (temperature: 20±2°C, relative humidity: 65±4%) to become a constant weight.例文帳に追加

なお、標準状態の質量は、予備乾燥（試料を相対湿度１０〜２５％、温度５０℃を超えない環境で恒量にすること）した後、標準状態（温度２０±２℃、相対湿度６５±４％）の試験室に放置し、恒量になった状態の質量である。 - 特許庁

To provide an IC socket in which the socket main body can be fixed and retained firmly and accurately positioned without any backlash to a test board and a printed-circuit board, and in which loading characteristics are improved by making the head part of a positioning pin as conical, hemispherical or spherical to make a mechanism vertically movable.例文帳に追加

位置決めピンの頭部を円錐形や半球状または球形状として上下方向に可動する機構とすることによって、ソケット本体をテストボードやプリント板に何等がたつき無く、しっかりと正確に位置決めして固持でき、装着性が向上される。 - 特許庁

This test contact 1 has bend parts 12 each formed so as to make a 50° angle at a position 5 mm from an end of a contact 11 made of one plate-shaped material and auxiliary plates 14 each provided on a horizontal part 13 forming a horizontal surface on the root side of each bend part 12.例文帳に追加

テストコンタクト１は、一枚の板状からなるコンタクト１１の先端から５ｍｍの位置に５０度の角度となるように屈曲部１２が形成され、この屈曲部１２より根元側の水平面を形成する水平部１３に補助板１４を設けたものである。 - 特許庁

Further, the user combines an optical channel selector, a digital communication analyzer and an optical spectrum analyzer to conduct parametric test by changing a plurality of testing objects, while combining tree couplers to synchronously make multiport transmission of measured signals on a standard sample for the testing objects, and then measuring bit error rate.例文帳に追加

更に、光チャネルセレクタとデジタル通信アナライザおよび光スペクトラムアナライザを組み合わせ、テストされる複数の製品を切り替えてパラメトリック検査し、またツリーカプラを組み合わせ、標準サンプルの測定信号をテストされる製品に同期的にマルチポート送信し、更にビットエラーレートを測定する。 - 特許庁

In the multilayer welding, a thermal history parameter is determined, a heat input amount of one path welding is defined as an effective input heat amount to make a value thereof same, and the reproduced heat cycle test is executed using the effective input heat amount to control the quality for the steel sheet and the execution condition for the steel sheet in the multilayer welding.例文帳に追加

多層溶接の場合は熱履歴パラメーターを定め、その値が同じになるように１パス溶接の入熱量を実効入熱量と定義し、その実効入熱量の値を用いて再現熱サイクル試験を実施して鋼材の品質管理や多層溶接の施工条件を管理する。 - 特許庁

To make light a tester body instead of a conventional, large-scale tester, to accommodate the tester in a compact, strong package, to carry and install the tester easily, to perform unmanned test operation independently without receiving any power supply, and to automatically transmit data by radio for achieving remote monitoring.例文帳に追加

従来の大掛かりな装置でなく、装置本体が軽量かつ、コンパクトで頑丈なパッケージに収められており、持ち運びや、設置に容易であり、しかも、電力供給を受けずに無人独自で試験運転ができ、データも自動的に無線転送して遠隔監視を可能にする。 - 特許庁

A probe for a current-carrying test (16) includes a probe body which has plate-like connection sections (22a) whose end surfaces make connection surfaces to the probe substrate, and foot sections (42) which extend in a plate thickness direction from at least one-side lateral surfaces of the connection sections and have end surfaces to be the connection surfaces to the probe substrate.例文帳に追加

通電試験用プローブ（１６）は、板状の接続部（２２ａ）を有し該接続部の端面がプローブ基板への接続面となるプローブ本体と、前記接続部の少なくとも一方の側面から板厚方向へ伸び、前記プローブ基板への接続面となる端面を有するフット部（４２）とを含む。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for optically testing weatherability which relate to the method and the apparatus employing liquid hydrogen peroxide, make the work simple and easy by carrying out all test steps without taking out a sample therefrom, make drained water harmless, generate oxygen by catalyzing the liquid hydrogen peroxide, eliminate the need for a unit such as an oxygen gas cylinder and its cost by utilizing the oxygen and can carry out recycling resource.例文帳に追加

過酸化水素水を用いる耐候光試験装置及び方法に関するものであって、（イ）試料を取り出さずに全工程の試験ができて作業が簡便で、（ロ）排水を無害な水にすること、及び（ハ）過酸化水素水に触媒を作用させることにより酸素を発生させ、その酸素を利用することで酸素ボンベ等の装置やコストを不要とし、資源の再利用ができる耐候光試験装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

To make air flow without generating deviation not to generate voltex in the upstream in the vicinity of a tested jet engine in an engine room, when the outside air of high flow velocity is taken in from an intake noise-suppressing chamber to conduct a test run.例文帳に追加

ジェットエンジンテストセルにおいて、流速の速い外部空気を吸気消音室より取り入れて試験運転を行うに際し、エンジン室内における供試ジェットエンジン近傍上流側において渦が発生しないように空気が偏りなく流れるようにした吸気消音室用遮風体を提供すること。 - 特許庁

To enable a person having no chemical expert knowledge to prepare a testing reagent for the purity of oxygen used for investigating the presence of an acidic substance or an alkaline substance in medical oxygen, to dispense with the preparation of the testing reagent at every purity test and to make it unnecessary to require a long time in the preparation of the testing reagent.例文帳に追加

医療用酸素中の酸性物質またはアルカリ性物質の含有の有無を調べる酸素純度のための試験用試薬を調製する際、化学の専門知識を有する人でなくとも行うことができ、純度試験の都度試験用試薬を準備する必要をなくし、その調製に長時間を要しないようにする - 特許庁

A control circuit CTL makes at least one of the plurality of switches turned on according to an input address in a test mode, in order to make a current flow across the 2nd and 3rd power source lines via a bit line, corresponding to the memory cell indicated by the input address, a latch circuit and the transfer transistors in the memory cell.例文帳に追加

制御回路ＣＴＬは、テストモード時に、入力アドレスが示すメモリセルに対応するビット線とそのメモリセル内のラッチ回路および転送トランジスタとを介して第２および第３電源線間に電流を流すために、入力アドレスに応じて複数のスイッチの少なくともいずれかをオンさせる。 - 特許庁

To make it possible to increase the testing efficiency by simultaneously making a plurality of testings in one time contact doing no damage to terminal pads in a semiconductor integrated circuit in order to test the wafer status in the circuit wherein the pin numbers required by the testing items are notably differentiated.例文帳に追加

試験項目により必要とされるピン数が大きく異なる半導体集積回路をウェハ状態で試験するに際し、半導体集積回路の端子パッドを痛めることなく、１回の接触で同時に複数の試験を行い、試験効率をあげることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法の提供。 - 特許庁

Then, the voltage is applied to the voltage application position arranged identically to Process S2 to make flow current into the test piece, and potential difference actual measurement data is obtained by measuring the difference in potentials for the plurality of combinations with the cracks of the potential difference measurement position placed therebetween for the potential difference measurement position arranged identically to Process S2 (Process S4).例文帳に追加

その後、工程Ｓ２と同一に配置された電圧印加位置に電圧を印加して試験体に電流を流し、工程Ｓ２と同一に配置された電位差測定位置に対して、その電位差測定位置のき裂を挟んだ複数の組み合わせについての電位の差を測定して電位差実測データを求める（工程Ｓ４）。 - 特許庁

Namely, a frequency when an amplitude level reaches to a peak is detected as an actual measurement resonance frequency by varying the frequency of a test wave given to the antenna resonance circuit 81 by an oscillation circuit 85, a capacitor capacity of the antenna resonance circuit 81 is changed so as to make the actual measurement resonance frequency approaching to a reference frequency fp.例文帳に追加

即ち、発振回路８５がアンテナ共振回路８１に付与する試験波の周波数を変化させて、振幅レベルがピークに至ったときの周波数を実測共振周波数を検出し、その実測共振周波数を基準周波数ｆｐに近づけるようにアンテナ共振回路８１のコンデンサ容量を変更する。 - 特許庁

Thus, heat of the engine 2 itself is used to elevate the temperature of the radiation heating cover 11 to a high temperature, the engine 2 is heated by the radiation heat, and heat for shortage is obtained by the auxiliary heating heater 12, whereby the heater 12 is protected by the cover 11 and the aerodynamic state is simulated simply and at a low cost to make a combustion test.例文帳に追加

これにより、エンジン２自体の熱を利用して輻射用加熱カバー１１を高温にし、その輻射熱でエンジン２を加熱するようにし、不足する熱を補助加熱用のヒータ１２で得ることで、ヒータ１２をカバー１１で保護し、簡便かつ低コストで空力加熱状態を模擬して燃焼試験ができるようにしている。 - 特許庁

Article 34-16 The Minister of Health, Labour and Welfare shall entrust candidates of review member for the results of a mutagenicity test, etc., from those who have highly expert knowledge as regards the investigation of toxicity of chemical substances, and prepare and make public their name list. 例文帳に追加

第三十四条の十六　厚生労働大臣は、化学物質の有害性の調査について高度の専門的知識を有する者のうちから、変異原性試験等結果検討委員候補者を委嘱して変異原性試験等結果検討委員候補者名簿を作成し、これを公表するものとする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To make a niobium solid-state electrolytic capacitor small and stable by suppressing a leakage current in a high-temperature load test, in a method of manufacturing the niobium solid-state electrolytic capacitor fabricated by forming a chemical conversion-treated film, a solid-state electrolyte layer, and a cathode extraction layer in this order on the surface of an anode body made of niobium or an alloy mainly formed of niobium.例文帳に追加

ニオブ又はニオブを主成分とする合金からなる陽極体表面に、化成皮膜、固体電解質層、陰極引出層を順次形成するニオブ固体電解コンデンサの製造方法において、 高温負荷試験中における漏れ電流の増大を抑制して、小さく且つ安定なものとする。 - 特許庁

To improve the operability in the case of measuring by taking out the sampler monitoring material to transfer the same to the general-purpose test tube glass column monitoring, and to make it possible to monitoring the integrated radiation doses by repeatedly using the monitoring material, at the time of monitoring the iodine in the atomic facility etc.例文帳に追加

原子力施設等においてヨウ素をモニタリングする際、モニタリング用サンプラモニタリング材を取り出し、汎用の放射線測定器のガラスカラムに移して測定する場合の取扱性の向上と繰り返し利用による積算放射線量のモニタリングを可能にさせることを技術的な課題とするものである。 - 特許庁

The probe card is a probe card used to make a probe test on a semiconductor wafer in a high-temperature environment and is provided with the probe card board 10; a heat-dissipating reinforcing plate 17, installed on the surface side of the board; and a plurality of heat-dissipating through-holes in the reinforcing plate.例文帳に追加

本発明に係るプローブカードは、高温環境下で半導体ウエハ１３にプローブ試験を行うためのプローブカードであって、プローブカード基板１０と、このプローブカード基板の上面側に設けられた放熱補強板１７と、この放熱補強板に設けられた複数の放熱用のスルーホール２１と、を具備する。 - 特許庁