「operation microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

Micromanipulators 13, 14 driven along three axes X, Y and Z disposed on a microscope 12 are controlled to be driven in the respective directions of X, Y and Z axes by the operation of a mouse 24, whereby a user is enabled to operate the micromanipulators 13, 14 by one hand, and carry out the micro-operation more simply than the operation of the mouse 24.例文帳に追加

顕微鏡１２に配設されたＸＹＺの三軸に駆動可能なマイクロマニピュレータ１３，１４をマウス２４の操作によって各ＸＹＺ軸方向に駆動制御することによって、利用者は片手でマイクロマニピュレータ１３，１４の操作を行うことができるとともに、マウス２４の操作性より簡易に微小操作を実施することが可能になる。 - 特許庁

To provide an electron microscope in which control of a button and a slider or the like realizing demand of an operator from a complicated operation screen is shown to the operator in a visually comprehensive state, and in which the most effective operation can be instructed to the operator by analyzing an operation state at that time point in the case a problem occurs during observation.例文帳に追加

本発明の目的は、複雑な操作画面からオペレータの要求を実現するボタンやスライダ等のコントロールをオペレータに視覚的にわかり易く示すと共に、観察中に問題が発生した場合には、その時点の操作状態を解析し、最も有効な操作をオペレータに指示することのできる電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide a microscope for operation which facilitates the interlocking of variable power between an operator and an assistant, does not entail the upsizing of the microscope, enables the stereoscopic view of the assistant, makes the assistant's observation field the same as the operator's observation field and enables the assistant' s observation position with respect to the operators observation position in lateral positions and opposite positions.例文帳に追加

術者と助手の変倍の連動が容易で且つ顕微鏡の大型化を招くことがなく、また、助手の立体視が可能で且つ助手の観察野が術者の観察野と同一であり、更には、術者の観察位置に対する助手の観察位置が側方位置および対向位置で可能な手術用顕微鏡の提供を目的としている。 - 特許庁

In an embodiment, a high resolution image acquisition unit 453 gives operation instructions for a microscope device 2, and acquires a plurality of specimen area block images picked up for each part of a specimen area.例文帳に追加

本発明のある実施の形態において、高解像画像取得処理部４５３は、顕微鏡装置２に対する動作指示を行い、標本領域を部分毎に撮像した複数の標本領域区画画像を取得する。 - 特許庁

To provide a microscope for a surgical operation constituted so that the lens and the like of an eye to be inspected can be clearly observed by effectively eliminating the virtual image of an illumination light source caused by light reflected on the cornea of the eye to be inspected.例文帳に追加

本発明は、被検眼の角膜反射光による照明光源の虚像を有効に除去して被検眼の水晶体等を明瞭に観察することが可能な手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To improve the reproducibility of a position relation on a light source, a foreign matter and an opening part, to eliminate the need of a complicated operation for using an optical microscope and to highly precisely evaluate PRNU.例文帳に追加

光電変換素子を用いたラインセンサーにおいて、光源、異物、開口部の位置関係の再現性が良く、光学顕微鏡を使うような煩雑な操作が不要で、精度良くＰＲＮＵを評価することができるようにする。 - 特許庁

To provide a microscope for surgical operation capable of making an inputting means of an electric driving part of a first observation means and an inputting means of an electric driving part of a second observation means the same and improving operability of both means.例文帳に追加

第１の観察手段の電動駆動部の入力手段と、第２の観察手段の電動駆動部の入力手段とを同一にし、両者の操作性を向上させる手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an AF device capable of automatically setting AF control information for an objective lens required for AF operation control, a microscope device with the same, and a medium for storing a control program for the AF device.例文帳に追加

ＡＦ動作制御に必要な対物レンズのＡＦ制御情報を自動で設定可能なＡＦ装置と、これを有する顕微鏡装置、及びＡＦ装置の制御プログラムを記憶する媒体を提供すること。 - 特許庁

The operation variable of a light source (2) generating multiple photon excitation and/or the system variable of a confocal scanning microscope is suited to the characteristics of a fluorescent material as to the optimum fluorescent photon collection quantity.例文帳に追加

最適蛍光光子収量に関して、多光子励起を生ずる光源（２）の動作変数および／または共焦点走査型顕微鏡のシステム変数が蛍光材料の特性に適合していることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which can switch in a simple operation a low vacuum secondary electron detection to other detections like a reflector electron detection without exposing a test piece chamber to an atmosphere.例文帳に追加

試料チャンバを大気開放することなく、低真空二次電子検出とそのほかの例えば反射電子検出等との切り換えを簡便な操作で以て行うことができる走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The operation microscope 100 has an observation light path 109 that passes through a microscopic imaging optical system including a microscopic main objective lens system 101 and a magnification system 108 with variable magnification.例文帳に追加

本発明は、顕微鏡主対物レンズ系１０１および拡大率を可変な拡大システム１０８を含む顕微鏡結像光学系を通る観察光路１０９を備える、手術用顕微鏡１００に関するものである。 - 特許庁

To provide a polarizing unit by which switching between observation using polarized light and the one without using the polarized light can be performed by one operation and which is economically constituted, and a microscope to which the polarizing unit is attached.例文帳に追加

偏光を使用する観察と偏光を使用しない観察との切り換えを一つの動作ででき、かつ経済的に構成できる偏光ユニットおよびこれが取り付けられる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To obtain a fluorescence microscope in which a plurality of objectives can be mounted and interference between the objective and a stage accompanied with switching operation for the objective is avoided even when the space of a spot where the objective is installed is restricted.例文帳に追加

対物レンズを設置する箇所のスペースが制限されている場合であっても、複数の対物レンズを搭載することができ且つ対物レンズの切り替え操作に伴う対物レンズとステージとの干渉を回避する。 - 特許庁

The illuminating optical system has a first lens group and a second lens group for forming an image of the field iris 124 on an object's region 108 via a microscopic main objective lens 101 of the operation microscope 100.例文帳に追加

照明光学系は、視野絞り１２４を手術用顕微鏡１００の顕微鏡主対物レンズ１０１を介して物体領域１０８へ結像する役目をする第１のレンズ群と第２のレンズ群を有している。 - 特許庁

This microscope for operation comprises a moving means 16 for turning a first arm constituent body 7 around turning shafts 14a, 14b of a connection part to a first rotating shaft part 9 and moving a second arm constituent body 8 vertically.例文帳に追加

第１のアーム構成体７を第１の回転軸部９との連結部の回動軸１４ａ，１４ｂを中心に回動させ、第２のアーム構成体８を上下方向に平行移動させる移動手段１６を設けたものである。 - 特許庁

To provide an objective lens for an electron microscope system requiring a relatively small space, and for minimizing a magnetic field outside the objective lens, and to provide an improved inspection system used for simultaneously executing image formation and operation of an inspection object.例文帳に追加

必要とされる空間がより少なく、対物レンズ外部の磁界が最小限である電子顕微鏡システムのための対物レンズ、被検物体の像形成および操作を同時に行うための改良検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system that facilitates soak injecting/removing operation and prevents air bubbles from being mixed in the soak, when the type of objective lens is changed according to the presence or type of a soak during insertion/detachment of the objective lens into/from an optical path.例文帳に追加

対物レンズの光路への挿脱時に、浸液の有無／種類に応じた対物レンズの種別に変化がある場合、浸液の注入／除去作業がしやすく、かつ浸液への気泡混入を防止する顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide an automatic focusing optical device which does not occupy a space between an objective lens and a second objective lens and permits a quick focusing operation for a specimen, and to provide an inverted microscope having the automatic focusing optical device.例文帳に追加

対物レンズと第２対物レンズとの間をオートフォーカス光学装置が占有することなく、かつ標本に対する俊敏な合焦動作を可能にするオートフォーカス光学装置と、これを有する倒立顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

A DIC motor 118 moves the Nomarski prism 117 in a direction orthogonal to the optical axis of the optical system of the optical microscope in accordance with acquirement of designation by the operation part 3, to adjust the retardation in differential interference observation.例文帳に追加

ＤＩＣモータ１１８は、操作部３による該指示の取得に応じ、光学顕微鏡の光学系の光軸に直交する方向にノマルスキープリズム１１７を移動させて、微分干渉観察におけるリタデーションの調整を行う。 - 特許庁

To offer an auxiliary illuminating arrangement for a slit lamp in which the entire image of the eye of a patient including an image of slit light is fetched from an imaging device by a video capture means without causing the patient to sense almost no dazzle and preventing operation of a slit lamp microscope.例文帳に追加

患者に眩しさを殆ど感じさせず、かつ細隙灯顕微鏡の操作を妨げることなく、ビデオキャプチャー手段によって、撮像装置からスリット光の像を含む患者の眼の全体の画像が取り込まれるようにする。 - 特許庁

A control part 121 has a storage part for storing parameters for at least two or more samples 102, where each parameter controls the operation of a microscope apparatus and is allowed to correspond to each sample 102 to be observed.例文帳に追加

制御部１２１は、顕微鏡装置の動作を制御するパラメータであって観察対象のサンプル１０２毎に対応付けられている当該パラメータを、少なくとも２つ以上のサンプル１０２について記憶しておく記憶部を有している。 - 特許庁

To provide a tapping mode atomic force microscope (AFM) allowing measurement of a delicate sample or a flexible material, and capable of reducing impact force between a probe and the sample acting during collision; and its operation method.例文帳に追加

繊細な試料や柔軟な素材の計測を可能にする、衝突の間に作用するプローブと試料の間の衝撃力を低減する実施可能なタッピングモード原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）及びその操作方法を提供する。 - 特許庁

An SEM control means 41 of a scanning electron microscope device body 10 is set at a maintenance mode via a computer 50 processing an operation function about an observation operation processed with a normal SEM control means 41, or an output function about an observation operation via a data telecommunication line 80 from a maintenance computer 60 of a development base, a service center or the like of the manufacturer.例文帳に追加

メーカの開発拠点・サービスセンタのメンテナンスコンピュータ６０から、データ通信回線８０を介して、通常のＳＥＭ制御手段４１との間で実行する観察作業に関わる操作機能や観察作業に関わる出力機能を実行するコンピュータ５０を経由して、走査電子顕微鏡装置本体１０のＳＥＭ制御手段４１をメンテナンスモードに設定する。 - 特許庁

To provide a local polarizing microscope analysis/spectral separation method and an apparatus for the method by composite evanescent wave dark field excitation capable of performing the microspectroscopy of optical isomerism, rotary dependency, circular polarization excitation fluorescence, magnetooptical characteristics, spin dependency, and the like in a minute substance, and to provide a substance operation method and a substance operation apparatus applying the method and the apparatus.例文帳に追加

微小物質の光学異性、回転依存性、円偏光励起蛍光、磁気光学特性、スピン依存性などを顕微分光できる合成エバネッセント波暗視野励起による局所偏光顕微鏡分析・分光方法および装置とこれを応用した物質操作方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manipulator system enabling an operator to perform the attaching operation of a capillary or the like without moving even if a microscope to which a manipulator is attached and a controller are installed remotely, and configured to prevent microscopic observation from being adversely influenced by vibration caused by manipulator operation by the operator.例文帳に追加

マニピュレータを取り付けた顕微鏡とコントローラとが離れて設置されている場合でもキャピラリ等の装着作業を操作者が移動することなく行うことが可能であり、かつ、操作者のマニピュレータ操作に起因する振動が顕微鏡観察に悪影響を及ぼさないようにしたマニピュレータシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a position analyzing method which enhances the frame rate of an image reader and prevents the calculation precision of a position from decreasing when the position of fluorescent particles or the like smaller than a diffraction limit is calculated using the image data acquired by an optical microscope using an image data acquired by an optical microscope using the image reader for reading an image using a plurality of line sensors or area sensors subjected to binning operation.例文帳に追加

ビニング動作する複数のラインセンサ、あるいは、エリアセンサを用いて画像を読み取る画像読取装置を用いて、光学顕微鏡により取得された画像情報を使用して、回折限界より小さな蛍光粒子等の位置を計算する際に、画像読取装置のフレームレートを向上させ、さらに位置の計算精度を低下させることのない解析方法を提供する。 - 特許庁

This scanning type probe microscope is provided with a cantilever 21 having a probe 20 opposed to a sample 12, a measuring part (optical lever type optical microscope and feedback servo control loop) for measuring interatomic force or the like generated between the probe and the sample when the probe scans a surface of the sample, and a moving mechanism for varying relatively positions of the probe and the sample to conduct a scanning operation.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、試料１２に対向する探針２０を有するカンチレバー２１、探針が試料の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる原子間力等を測定する測定部（光てこ式光学顕微鏡やフィードバックサーボ制御ループ）、探針と試料の位置を相対的に変化させ走査動作を行わせる移動機構を備える。 - 特許庁

This microscope is equipped with an input device 34 for designating a limited tracking domain where a probe 11 is moved following moving atoms, and a control operation device 33 for controlling switches 31, 32 for switching on/off an output signal from feedback circuits 23, 24.例文帳に追加

探針１１が移動原子に追随して移動する限界の追跡領域を指定する入力装置３４と、フィードバック回路２３と２４からの出力信号をＯＮ／ＯＦＦするスイッチ３１と３２を制御する制御演算装置３３を備える。 - 特許庁

To provide a microscope for operation capable of being driven substantially in an XY plane relative to a plane to be observed even when the mirror body is in any condition by constituting a visual field moving means capable of being driven around two tilted axes.例文帳に追加

２つの傾斜軸まわりに駆動可能な視野移動手段を構成することで、鏡体がどういった観察状態にあっても、観察面に対して略ＸＹ平面に駆動可能となる手術用顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

To provide a microscope for surgical operation which makes display of an index to a microscopic observation image only when an operator is needed and is capable of preventing the unnecessary index from hindering the microscopic observation image.例文帳に追加

本発明は、術者の必要なときのみ顕微鏡観察像への指標の表示を行ない、不必要な指標が顕微鏡観察像の妨げとなることを防止することができる手術用顕微鏡を提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

A mechanical stage 3 is equipped with a clamp 9 holding a sample 13 and a moving mechanism 24 which holds the clamp 9 and moves the clamp 9 to a fixed stage 2 of a microscope by operating an operation handle 22 while the clamp 9 is in the held state.例文帳に追加

メカニカルステージ３は、標本１３を保持するクレンメル９と、クレンメル９を保持すると共に、クレンメル９の保持状態で操作ハンドル２２への操作によって顕微鏡の固定ステージ２に対してクレンメル９を移動させる移動機構２４とを備える。 - 特許庁

To provide a laser scanning type microscope capable of moving only the focused position of an observation laser beam while keeping a state where an operation laser beam is focused on the same position on a sample, and a microscopic observation method.例文帳に追加

標本内の同じ位置に操作用レーザ光を合焦させた状態を維持しながら観察用レーザ光の合焦位置のみを移動させることのできるレーザ走査型顕微鏡および顕微鏡観察方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a movable diaphragm position control method and a device of an electron microscope enabled in carrying out intuitive operation in the case of moving a diaphragm.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡の可動絞り位置制御方法及び装置に関し、絞りを移動させる場合に直感的な操作を行なうことができるようにした電子顕微鏡の可動絞り位置制御方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a microscope for ophthalmology which corresponds to perfect coaxial illumination and illumination with an angle range, and can easily perform modification operation of observation condition in a short time by enabling a change in correlated color temperature.例文帳に追加

本発明は、完全同軸照明や角度付照明に対応し、且つ、相関色温度を変更可能なことより、観察条件の変更操作を容易且つ短時間に行うことができる眼科用顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

A control section 10 obtains microscopic information on each constituting unit constituting a microscope main body 6, transmits the microscopic information and receives control information, to control the operation of each constituting unit based on the received control information.例文帳に追加

制御部１０は、顕微鏡本体６を構成する各構成ユニットに関する顕微鏡情報の取得、該顕微鏡情報の送信、及び、制御情報の受信を行い、受信した制御情報に基づいて各構成ユニットの動作を制御する。 - 特許庁

To provide a microscope using at least one or more motor-driving parts, and capable of preventing the motor-driving part from driving because an observer inadvertently depressing an operation part without using an expensive PC system or a liquid crystal display part or the like.例文帳に追加

少なくとも１つ以上の電動駆動部を用いた顕微鏡において、高価なＰＣシステムや液晶などの表示部を用いず、観察者が誤って操作部を押すことで電動部が駆動してしまうことが無い顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The optical device having a light source, in particular a laser light source and a cut-off device (1) for the light beam (2) from the light source, in particular a laser scanning microscope, has a means (3) of monitoring the operation state of the cutoff device (1) in the cut-off device (1).例文帳に追加

光源、とりわけレーザ光源、及び該光源の光線（２）に対する遮断装置（１）を有する光学装置、とりわけレーザスキャニング顕微鏡は、該遮断装置（１）の作動状態を監視するための手段（３）が、該遮断装置（１）に配されている。 - 特許庁

To provide an electron microscope allowing anyone to easily set a beam shower mode with optimum conditions and return each parameter to an original analysis mode or observation mode correctly in a short time after a beam shower operation finishes.例文帳に追加

ビームシャワーモードの設定を誰もが最適な条件で簡単に行なうことができ、また、ビームシャワー動作が終了した後には、電子顕微鏡の各パラメータを元の分析や観察のモードに短時間に正確に戻すことができる電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide an inspection microscope or the like that does not make an objective lens collide with a glass substrate, even in focusing by a manual operation when inspection is performed using a sample or the like for evaluation thicker than a substrate to be usually inspected.例文帳に追加

通常検査する基板等よりも厚い、例えば評価用サンプル等を用いて検査を行なう際の手動による操作でのフォーカス合わせにおいても、対物レンズをガラス基板に衝突させることがない検査顕微鏡等を提供すること。 - 特許庁

To discover a new equibration system of a type to obstruct the undesirable equibration operation by bearing power by performing the equibration operation when the accessories of the microscope are changed without using intricate or costly force sensors or stroke sensors and as immediately as possible and rapidly in such a manner that a surgery interruption is averted without preliminarily carrying out the operation to measure physical quantities (for example, force, deformation, etc.).例文帳に追加

複雑なまたは高価な力センサまたはストロークセンサを使用せず、顕微鏡のアクセサリを変更した場合には直ちに、物理量（例えば、力、変形など）の測定操作を事前に行うことなく、手術中断が回避されるようできる限り直ちに且つ迅速に平衡化操作を行い、支持力による望ましくない平衡化操作が阻止される形式の新規の平衡化システムを見出すこと。 - 特許庁

To provide a microscope in which at least one or more electric drive parts are used, which displays current position information, statuses and error states of the electric drive parts and has the necessary minimum number of inexpensive display parts, operation switches in order to decrease an operation burden to a worker without using expensive liquid crystals, etc.例文帳に追加

少なくとも１つ以上の電動駆動部を用いた顕微鏡において、上記顕微鏡電動駆動部の現在位置情報・ステータス・エラー状態を表示し、高価な液晶などの高価な表示部を用いない安価な表示部と、作業者への操作負担を軽減させるため、必要最小限数の表示部、操作スイッチを備えた顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

Resultantly, the state of a sample 11 can be easily checked only by taking an eye off the eye contact part of the microscope and turning the eye line downward as shown in 20A of the Fig.1 and the observation of sample images, check of sample state and manipulator operation etc. can be smoothly performed.例文帳に追加

その結果、２０Ａのように顕微鏡の接眼部から眼を離して視線を下方に落とすだけで試料１１の状態を容易に確認することができ、試料像の観察と試料状態の確認やマニュピレータ操作等をスムーズに行うことができる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of optimally and accurately removing static electricity in a short time and measuring and inspecting samples by stable operation without having to interrupt the approximation of a probe even if the samples are charged in an inline automatic inspection process of wafers etc.例文帳に追加

ウェハ等のインライン自動検査工程でたとえ試料が帯電していたとしても、短時間で最適にかつ正確に除電し、探針の接近を中断することなく、安定した動作で測定・検査を行える走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This scanning probe microscope is equipped with a cantilever 21 having a probe 20, measuring parts 24, 32 for measuring physical quantities generated between the probe and the sample 12, and moving mechanisms 14, 15, 29 for allowing to perform scanning operation by changing relatively positions of the probe and the sample.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、探針２０を有するカンチレバー２１と、探針と試料１２の間で生じる物理量を測定する測定部（２４，３２）と、探針と試料の位置を相対的に変化させ走査動作を行わせる移動機構（１４，１５，２９）とを備える。 - 特許庁

To provide a system such that when a shape of a shot during exposure is distorted as a circuit pattern becomes finer, a decrease in throughput during wafer inspection with an electron microscope and a decrease in automation rate are recognized, and a position correcting operation for the shot distortion is carried out.例文帳に追加

回路パターンの微細化に伴い、露光の際のショットの形状の歪みがある場合には、電子顕微鏡によるウェーハ検査時のスループットの低下や自動化率の低下が認められ、ショット歪みに対する位置補正動作を実行する方式を提供する。 - 特許庁