「operation microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a new simple optical microscope capable of yielding a high-density and high-magnification microscopic image with easy operation and having simple constitution and made inexpensive.例文帳に追加

簡単な操作で高密度且つ高倍率の顕微鏡像を得ることができ、しかも単純構成で安価である、新しい単式光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an ultraviolet ray microscope of which observation image is bright, the alignment of a light source can be confirmed in the middle of the observation of a sample, and the adjustment operation of a light source position is easy.例文帳に追加

観察像が明るく、標本の観察中にも光源のアライメントが確認でき、光源位置の調整作業が容易な紫外線顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The microscope system is provided with a memory unit for memorizing the focal position and a reset detecting unit for detecting specific operation in order to reset content of memory in the memory unit.例文帳に追加

合焦位置を記憶するための記憶部と、記憶部の記憶内容をリセットするために特定の動作を検出するリセット検出部とを備える構成とする。 - 特許庁

To reduce the user's burden relating to operation in selecting the region of the color three-dimensional images obtained from a color confocal microscope as a measurement range of a sample.例文帳に追加

試料の測定範囲としてカラー共焦点顕微鏡から得られたカラー三次元画像の領域を選択する際の操作に係るユーザの負担を軽減させる。 - 特許庁

To provide a phase-contrast microscope in which phase contrast and halo are varied by a simple operation, and a variety of specimens are observed at a most suitable phase contrast.例文帳に追加

簡単な操作で位相差のコントラストとハローを変化させ、さまざまな標本で最も適した位相差観察をすることができる位相差顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The operation microscope 100 has a microscopic main objective lens 101 through which the observation light path for main observation and the observation light path 106 for simultaneous observation pass.例文帳に追加

手術用顕微鏡１００は、主観察のための観察光路と同時観察のための観察光路１０６とが通る顕微鏡主対物レンズ１０１を有している。 - 特許庁

To prove a method for reducing deviations in the optical axis of an alignment microscope, which is generated when the wafer alignment operation of a wafer for low temperature or for high temperature is performed in simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成で、高温又は低温のウエハのウエハアライメント動作を行う場合に発生するアライメント顕微鏡の光軸ずれを低減する方法の提供。 - 特許庁

The host system 2 determines a setting and an operation which are to be reproduced on the basis of the post-changeover wizard screen and the history data recorded in the operation history record unit 4 when the wizards screen to be executed are changed over, and controls the microscope apparatus 1 in accordance with the present setting and present operation.例文帳に追加

ホストシステム２は、実行させるウィザード画面を切り替えた時に、切り替え後のウィザード画面と操作来歴記録部４に記録された来歴データとに基づいて再現させる設定及び操作を決定し、当該設定及び操作に応じて顕微鏡装置１を制御する。 - 特許庁

To solve the problem that a stage device of a conventional microscope is not easy to use since an operation handle moves as a top plate stage where an object to be observed is mounted moves and then the operation handle is searched for without turning an eye away from an ocular when a hand is put away from the operation handle.例文帳に追加

従来の顕微鏡のステージ装置は、観察対象物を載置した上板ステージが移動すると、同時に操作ハンドルもその方向へ移動してまい、操作ハンドルから手を離した場合には、接眼レンズから目を逸らさずに探し出しているため、使い勝手が悪い。 - 特許庁

To provide a microscope system for operation capable of improving operation efficiency and reducing the burden of an operator by confirming a position to be observed in a part to be observed during the observation of a microscope for operation and improving operability for obtaining position information in a detected operating part space in the case of using a plurality of observing devices and treatment devices together.例文帳に追加

本発明は、手術用顕微鏡の観察中に、その観察部位において観察位置の確認が行なえるとともに、複数の観察装置、さらには処置装置を併用する際に、検出された術部空間における位置情報を得る操作性を向上させ、手術効率向上、術者の負担軽減を図ることができる手術用顕微鏡装置を提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

When the instruction acquisition unit 3 acquires an input for instructing to perform the operation, a computer 2 exerts control for the operation target of the scanning type laser microscope body associated in advance with the GUI component indicated by the cursor.例文帳に追加

コンピュータ２は、指示取得部３が該実行指示の入力を取得したときにカーソルが指し示していたＧＵＩ部品に予め対応付けられている走査型レーザ顕微鏡本体１の操作対象を操作する制御を行う。 - 特許庁

To provide a surgical microscope for two-person observation with excellent operability, in which the angle of looking into the surgical microscope for two observers is made variable corresponding to the direction of approaching an operation part without narrowing the work space of surgery by a second observation device.例文帳に追加

二人の観察者の手術用顕微鏡を覗き込む角度を、術部へのアプローチ方向に応じて可変とすることができ、かつ第２観察装置によって手術の作業空間が狭められることがない、作業性の良い二人観察用の手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope for an operation allowing an operator to enlarge and observe the operated part at a free position and in a free posture relative to the operated part without being restricted by the disposition of a microscope body and to obtain a natural telescopic feel with the observed image in a natural direction corresponding to the observation posture of the operator.例文帳に追加

本発明は、顕微鏡本体の配置に制限されることなく、術者が術部に対して自由な位置、姿勢で術部を拡大観察でき、その観察画像が観察姿勢に対応した自然な像の向きで、かつ、自然な立体感を得る手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an imaging device capable of displaying a scale without troublesome operation and easily find actual dimensions in a photographed image of a sample observed by a microscope.例文帳に追加

顕微鏡により観察された標本の撮像画像において、煩雑な操作を行うことなくスケールを表示することができ、実寸法を容易に知ることができる撮像装置を提供する。 - 特許庁

This fluorescence spectroscopic analyzer 100 has a microscope part 110, an excitation light control part 130, a fluorescence detection part 140, a signal processing part 150 and an operation part 160.例文帳に追加

蛍光分光分析装置１００は顕微鏡部１１０と励起光制御部１３０と蛍光検出部１４０と信号処理部１５０と演算部１６０とを有している。 - 特許庁

To provide an organic sample observation device which is equipped with both of the function of a vertical fluorescence image pickup device and the function of a stereoscopic microscope and which can be used by switching both functions by simple operation.例文帳に追加

落射蛍光撮像装置の機能と実体顕微鏡の機能とを併せ持ち、且つ簡単な操作で両機能を切り替えて使用できる生体試料観察装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic inspection apparatus for a microscope, in which only one stage is used, in which the movement distance of the stage is reduced and in which a position error in a preliminary positioning operation and in an actual inspection is reduced.例文帳に追加

ステージを一つにするとともに移動距離を少なくし、予備位置決めの際と実際の検査の際の位置誤差を小さくした自動顕微鏡検査装置を提供する。 - 特許庁

Then, the confocal laser microscope system 100 amplifies the image information 6, in conjunction with the input of an operation instruction 7 that alters the distance between the specimen 5 and the focusing position.例文帳に追加

そして、共焦点レーザ顕微鏡システム１００は、標本５と焦点位置の間の距離を変更する動作指示７の入力に連動して、画像情報６を増幅する。 - 特許庁

To provide a microscope incorporating an automatic focus adjustment device that eliminates the need for a complicated operation in which the front focusing position of an objective lens is set to a desired observing position.例文帳に追加

所望の観察位置に対物レンズの前側焦点位置を設定する作業の煩雑さを改善した自動焦点調節装置を内蔵する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The arithmetic operation part 201 of a controller 102 obtains a representative image representing the image of the sample 106 from one of the plurality of images acquired by the microscope body 101.例文帳に追加

コントローラ１０２の演算部２０１は、顕微鏡本体１０１により取得された該複数の画像のひとつから、試料１０６についての画像を代表する代表画像を得る。 - 特許庁

To obtain an interference microscope image of a multi-stage electron beam biprism by an electromagnetic lens system with the same number as the one-stage electron beam biprism without drop of operation flexibility of the multi-stage electron beam biprism.例文帳に追加

多段電子線バイプリズムの操作自由度を落とすことなく、１段電子線バイプリズムと同数の電磁レンズ系によって、多段電子線バイプリズムの干渉顕微鏡像を得る。 - 特許庁

To solve the problem that labor for shifting an operating tool from one hand to the other is cosiderably required because the operating tool is shifted from one hand to the other with both eyes fixed to the eyepieces of a microscope in microscopic operation in neurosurgery.例文帳に追加

脳神経外科における顕微鏡手術では両眼を顕微鏡の接眼レンズに固定したまま手術道具を持ち替えるため、持ち替える手間がかなりかかる。 - 特許庁

To enable observation and working by charged particle beams while confirming and discriminating the appearance of a sample confirmed by an optical microscope or the like at all time in operation of a charged particle beam device.例文帳に追加

荷電粒子線装置のオペレーションに際して、光学顕微鏡などで確認された試料の外観を常時確認識別しながら、荷電粒子線による観察・加工を可能とすること。 - 特許庁

To obtain a zoom microscope enabling a user to easily confirm a zoom magnification consecutively changed based on zoom variable power operation in real time and served for observation at the same magnification as the previous one.例文帳に追加

ズーム変倍操作に基づき連続的に変化するズーム倍率をリアルタイムで簡便に確認でき、前回と同じ倍率での観察等に供することができるようにする。 - 特許庁

To provide a device enabling operation and observation of a gas under a vacuum or low pressure environment forming an environment for observing the gas, without changing the original design of an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡の本来の設計を変えずに、気体観察の環境を形成する真空または低圧環境下で気体の操作及び観察を可能にする装置を提供する。 - 特許庁

To operate a scanning electron microscope with high precision and high speed by curtailing a process for inspection position setting or an input operation or the like.例文帳に追加

本発明は、検査位置合わせに関する処理、或いは入力作業等を削減することで、高精度かつ高速に走査電子顕微鏡を稼動せしめることを目的とするものである。 - 特許庁

To provide a microscope objective lens for correcting various aberrations over a wide wavelength range from a visible ray region to an infrared ray region, having a high opening number, and for securing a sufficient operation distance.例文帳に追加

可視域から近赤外域までの広い波長範囲で諸収差が補正され、高い開口数を持ち、十分な作動距離が確保された顕微鏡対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide a focus detector by which the good accuracy of focusing can be easily and rapidly obtained even in the focusing operation during differential interference observation and a microscope into which this detector is built.例文帳に追加

微分干渉観察時の合焦動作においても簡単且つ迅速に良好な合焦精度を得ることの出来る焦点検出装置とそれを組込んだ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To enable an electron microscope equipped with a plurality of secondary electron or reflecting electron detectors to carry out control of contrast/brightness of the plurality of detectors in one control operation.例文帳に追加

複数の二次電子若しくは反射電子検出器を持つ電子顕微鏡において、複数の検出器のコントラスト／明るさの制御をひとつの制御操作で行えるようにする。 - 特許庁

A digital microscope 1 comprises a half mirror 13 for providing bright field illumination, a ring lens 16 for providing dark field illumination and a mechanism for changing mixing ratio of bright field illumination and dark field illumination according to the operation at an operation part 26.例文帳に追加

デジタル顕微鏡１は、明視野照明光を供給するハーフミラー１３と、暗視野照明光を供給するリングレンズ１６と、操作部２６での操作に応じて明視野照明光と暗視野照明光の混合割合を変える機構を備える。 - 特許庁

A scanning microscope displays a stage operation panel which is on the same display as the one that displays images, rotating ft in synchronization with a rotational angle of scan rotation at all times, the direction of the marks for XY operation buttons 3-6 in the stage operation panel can be reversed and displayed simultaneously, and synchronizing with that, XY stage reversed the direction of movement respectively.例文帳に追加

画像を表示している画面と同一の画面上にあるステージ操作パネルをスキャンローテーションの回転角度に常に連動して回転して表示し、ステージ操作パネル内のＸＹ操作ボタン3〜6のマークの向きを同時に反転して表示でき、それに連動してＸＹステージが動く方向をそれぞれ反転する。 - 特許庁

To provide a probe position control method which enables more accurate observation or operation by correcting the change of the relative position of a sample and a probe during observation or operation in a scanning type probe microscope (SPM) or an atomic manipulator (operation) by excluding the effect of a heat drift or the like, and a probe position control device.例文帳に追加

熱ドリフト等の影響を排除し、走査型プローブ顕微鏡(SPM)や原子マニピュレータ(操作)装置において、その観察又は操作の間に試料とプローブの相対位置が熱により変化するのを補正して、より正確な観察又は操作を可能にする位置制御方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a medical navigation system eliminating the fear that the position of a surgical microscope becomes undetectable because of an operator's movement during a surgical operation, and permitting a stable surgical operation by preventing the operator's movement from being limited and the surgical operation from being interrupted.例文帳に追加

本発明は、手術中の術者の動きなどによって手術用顕微鏡の位置検出が不能になるおそれがなく、術者の動きが制限されたり、手術が中断されることを防止して安定した手術を行うことができる医療用ナビゲーションシステムを提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

To provide an inspection method for inspecting a semiconductor by which the continuity of circuit elements in a semiconductor device can be inspected by observation by a scanning charged particle microscope such as an electronic microscope without performing such troublesome work as the random access operation of a probe, and to provide a system for obtaining the same.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、プローブのランダムアクセス操作のような厄介な作業をすることなく、電子顕微鏡等の走査型荷電粒子顕微鏡の観察から半導体デバイスにおける回路要素の導通等の検査を可能とする検査手法を提示し、それを実現するシステムを提供することにある。 - 特許庁

To provide a microscope system with which an observation object is easily tracked without causing troublesomeness on display even if operation of a microscope that causes a change of observation environment is performed when observation images obtained by imaging the same observation object by a plurality of observation methods are superposed to be observed.例文帳に追加

本発明では、同一の観察体に対して複数の観察方法で撮像した観察画像を重畳させて観察しているときに、観察環境の変化を生じさせる顕微鏡の動作が行われた場合でも、表示上の煩わしさがなく、容易に観察体の追跡を行うことができる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

The surgical microscope system 1 comprises a surgical microscope 7 for providing the microscopic image of an operation site, a (cofocus) light scanning probe 2 for providing the cofocus optical image for a subject, an observation device 3 for processing an image, and a navigation device 5 for detecting the observation position of the light scanning probe 2.例文帳に追加

手術用顕微鏡装置１は、手術部位の顕微鏡画像を得る手術用顕微鏡７と、被検体に対して共焦点光学像を得るための（共焦点）光走査プローブ２と、画像処理などを行う観測装置３と、前記光走査プローブ２の観察位置を検出するナビゲーション装置５とを有する。 - 特許庁

To provide a microscope for operation by which image information is given an operator according to operating situations, through a single or combined display of image information concerning endoscopic examination, microscope by a navigation device, position of endoscopic examination, or direction of endoscopic examination.例文帳に追加

内視鏡観察画像、ナビゲーション装置による顕微鏡、内視鏡観察位置の画像情報、さらには内視鏡観察方向等の画像情報を各々単独または任意に組み合わせて表示し、術者が手術状況に応じて画像情報が得られる手術用顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method and a system for inspecting a semiconductor by which the continuity etc., of circuit elements in a semiconductor device can be inspected by observation by a scanning charged particle microscope such as the electronic microscope etc., without performing such troublesome work as the random access operation of a probe.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、プローブのランダムアクセス操作のような厄介な作業をすることなく、電子顕微鏡等の走査型荷電粒子顕微鏡の観察から半導体デバイスにおける回路要素の導通等の検査を可能とする検査手法を提示し、それを実現するシステムを提供することにある。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of stable and highly reliable operation in inspections on wafers etc. without operation halts in an inspection apparatus or any damage to a probe even if samples are charged in an inline automatic inspection process of wafers etc.例文帳に追加

ウェハ等のインライン自動検査工程でたとえ試料が帯電していたとしても、当該ウェハ等の検査で、検査装置が動作停止に陥らず、探針が損傷を受けることなく安定かつ信頼性の高い動作が可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus designed so that one part of a light shield body can be opened/closed by a simple operation, and a specimen can be easily replaced while the one part of the light shield is kept open, and the specimen can be easily viewed from above.例文帳に追加

簡易な操作で遮光体の一部を開閉することができ、遮光体の一部を開放した状態で標本の交換と上方からの視認とを容易に行うことができること。 - 特許庁

To provide a surgical microscope, especially for a neurological surgery, whose lighting intensity of a lighting system could be largely changed, and which prevents tissue structure of a patient from being damaged by its improper operation.例文帳に追加

照明装置の照明光強度を大幅に変更可能で、誤作動により患者の組織構造に損傷を与えない手術用顕微鏡、特に神経外科用の手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a stereomicroscope, specially a microscope for surgical operation by which the other picture is displayed within a microscopic observation visual field at a required time and by a required display method without losing the brightness of a microscopic image.例文帳に追加

顕微鏡像の明るさを失わず必要なとき必要な表示方法で他画像を顕微鏡観察視野内に表示することの出来る実体顕微鏡特に手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In an operating room, operating tools, tool stands carrying the tools, and peripheral devices such as a drip, an electrocardiograph and a microscope for operation are existent in addition to the magnetic imaging apparatus for testing and a bed.例文帳に追加

手術室には、検査用の磁気共鳴イメージング装置と寝台の他に手術器具類やそれを搭載する器具台、点滴、心電計、手術用顕微鏡などの周辺機器などが存在する。 - 特許庁

The observing means is constituted of a microscope for operation and a second observing means, and the control means moves the inclining center point of the observing means supporting arm mechanism according to the detected result of the detecting means.例文帳に追加

観察手段は、手術用顕微鏡及び第２の観察手段で構成され、制御手段は、検出手段の検出結果に応じて、観察手段支持アーム機構の傾斜中心点を移動する。 - 特許庁

To provide an operating microscope system which permits a sub operator to enlarge a site of operation for observation with his/her own field of vision even in a position where he/she is beside a main operator or a position where he/she faces the main operator.例文帳に追加

主術者と並んだ位置においても対向した位置においても、副術者が自己の視野で術部を拡大して観察することが可能となる手術顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁