「operation microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an objective mirror replacing device capable of replacing an objective mirror simply as much as possible, and at the same time, bringing a free space which is large as much as possible in the periphery of the objective mirror and an inspection sample placed on an operation position, and to provide a microscope including the objective mirror replacing device.例文帳に追加

できるだけ簡単な対物鏡交換を可能にし、一方で操作位置に置かれた対物鏡と検査標本の周囲に出来るだけ大きな自由空間をもたらす、対物鏡交換装置及び当該対物鏡交換装置を備えた顕微鏡を具体化することである。 - 特許庁

To provide a magnetic field lens used for an electron gun of an electron beam device, particularly a probe-forming system (spot beam type electron beam aligner, electron microscope, etc.) which is suitable to an ultrahigh vacuum atmosphere, and can perform wabbling operation.例文帳に追加

電子ビーム装置、特に大電流で小直径なビームが必要とされるプローブフォーミングシステム（スポットビーム型電子線露光装置、分析用電子顕微鏡など）の電子銃に使用する磁場レンズに関し、超高真空雰囲気に適合し、かつワブリング動作が可能な磁場レンズを提供する。 - 特許庁

Since the microscope main body 6 is equipped with an object optical system 18, a zoom optical system 20 and an ocular optical system 25, the main operator D1 looks a pair of optical image K having binocular disparity in the observation direction A of the main operator D1 from the ocular optical system 25 to stereoscopically observe the operation part T.例文帳に追加

顕微鏡本体６が対物光学系１８、ズーム光学系２０、接眼光学系２５を備えるため、主術者Ｄ１は接眼光学系２５から主術者Ｄ１の観察方向Ａでの両眼視差を有する一対の光学像Ｋを見て、術部Ｔを立体的に観察できる。 - 特許庁

To provide an objective lens which is constituted, by incorporating respective elements, such as a polarizer, in advance and a quarter-wave plate necessary for extremely low magnification observation, thereby becoming capable of switching observation, from a very low magnification to a high magnification only by revolving operation of a revolver, and to provide a microscope device which includes the lens.例文帳に追加

極低倍の観察に必要な偏光子や１／４波長板などの各素子を予め組み込んで構成することで、レボルバの回転作業のみで、極低倍から高倍までの観察を切り替えることが可能な対物レンズ及びこれを有する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide an NC-AFM capable of stably performing approach and the surface observation of a sample with proper resolving power even with respect to any sample in a non-contact atomic force microscope and the operation program thereof.例文帳に追加

本発明は非接触原子間力顕微鏡及び非接触原子間力顕微鏡の動作プログラム関し、どのような試料においても、適した分解能で安定にアプローチ及び試料表面観察をすることができるＮＣ−ＡＦＭを提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide an inexpensive device with a simple structure and an easy operation capable of enlarging an analyzing area of sample and enhancing a resolving power of ion at an electric field evaporation position to an atom level in an atom probe or a scanning type atom probe in which an electric field ion microscope and an ion detector are combined.例文帳に追加

電界イオン顕微鏡とイオン検出器を組み合わせたアトムプローブあるいは走査型アトムプローブにおいて、試料の分析領域を拡大すると共にイオンの電界蒸発位置の分解能を原子レベルまで向上させ得る、簡素な構造で安価で操作が容易な装置を構成する。 - 特許庁

To obtain an optical microscope apparatus where a plurality of optical devices are selectively arranged on an optical path, and where a plurality of optical devices in accordance with various observation methods are arranged and set by flexible and easy operation while avoiding the complication and the scale increase of the device.例文帳に追加

複数の光学素子を選択的に光路に配置する光学顕微鏡装置において、装置の複雑化及び大型化を避けつつ各種観察法に応じた複数の光学素子の配置設定を柔軟かつ容易な操作により行うことができるようにする。 - 特許庁

To obtain a lens barrel for a joint observer made monoscopic or conditionally stereoscopic, which is installed at the different spot of a microscope, especially on an opposite side, without requiring troublesome assembling operation to take much time or a supplementary adjusting method, and having no fault in a well-known similar solution.例文帳に追加

時間のかかる煩瑣の組込操作または補足の調節方策を要することなく、顕微鏡の異なる箇所に−特に、反対側に−設置でき、公知の類似の解決法の欠点がないモノスコピックのまたは条件付きでステレオスコピックの共同観察用鏡筒を創成する。 - 特許庁

To provide a microscopic image synthesizing device capable of adhering plural images, which are picked up by an image pickup means mounted with a lens for a microscope, without requiring an expensive PC-controlled power stage and forcing a user to perform complicated operation.例文帳に追加

この発明は、高価なＰＣ制御の電動ステージを用いる必要がなく、かつユーザに複雑な操作をしいることなく、顕微鏡用レンズが装着された撮像手段で撮像された複数の画像を貼り合わせることができる顕微鏡画像合成装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The imaging apparatus for the microscope having an interlace system CCD has a mechanical shutter 804, and performs exposure by controlling the operation of the shutter 804 and a shutter in the CCD 801 being an electronic shutter in accordance with a photographing condition.例文帳に追加

インターレース方式のＣＣＤを有する顕微鏡用撮像装置であって、メカシャッター８０４を有し、撮影条件に応じて、メカシャッター８０４と電子シャッターであるＣＣＤ８０１の素子内シャッターの動作を制御して露光を行うようにした顕微鏡用撮像装置である。 - 特許庁

To provide a slice sample preparation method for surely holding a slice sample on a fixing base and a slice sample for this method so as to prevent the sample slice placed on a sample base for a microscope from peeling off from the sample base and being lost during storage, carriage, or operation.例文帳に追加

本発明の課題は、試料台に載置した顕微鏡用の試料切片が、保管したり運搬したり作業中に試料台から剥がれ遺失してしまうことがなく、固定台上に確実に保持される薄片試料を作成する方法と、そのような薄片試料を提供することにある。 - 特許庁

To provide a cylinder piezoeletric element and a scanning probe microscope, with which an error of straightness can be corrected with a simple structure on an expansion and contraction operation in an axial direction, high straightness is realized, measurement precision is improved and a measurement object with a high aspect ratio can securely be measured.例文帳に追加

軸方向の伸縮動作に関して簡単な構成で真直度の誤差を補正することができ、高い真直度を実現し、測定精度を高め、高アスペクト比の測定対象物も確実に測定できる筒型圧電素子および走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The microscope apparatus is provided with the first scanning optical system A for obtaining the scanning image of a specimen and the second scanning optical system B for developing a specific phenomenon in the specific area of the specimen, means 30 for performing laser scanning independently with each of the first scanning optical system and the second scanning optical system and operation recording means 23 for recording the operation of the laser scanning.例文帳に追加

標本の走査画像を得るための第１の走査光学系Ａと、標本の特定の部位に特異現象を発現させるための第２の走査光学系Ｂと、前記第１の走査光学系と前記第２の走査光学系のそれぞれについて、独立してレーザ走査を行う手段３０と、前記レーザ走査の動作を記録する動作記録手段２３と、を備えた。 - 特許庁

To provide a program which enables operation of a new scanning method which is always not associated with the contact of a probe with a sample surface such as that in a non-contact mode or a point contact mode, while maintaining the versatility of a contact mode, in regard to the program for forming an instruction which makes a computer operate the scanning method of a scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の走査方法をコンピュータに実行させる指示を生成するプログラムにおいて、コンタクトモードの汎用性を維持しつつ、非接触モードやポイントコンタクトモードのように、常時探針と試料表面の接触を伴わない新たな走査方法を実施可能とするプログラムを提供する。 - 特許庁

When a multi-axial stage 40 of a scanning electron microscope 10 is rotated horizontally, inclined or moved horizontally, an operation of rotating, inclining or horizontally moving an image for specification is performed by means of a mouse 62 while creating an image for specification from an SEM image obtained from a signal of a secondary electron detector 20 and displaying the image on an image display unit 61.例文帳に追加

走査電子顕微鏡１０の多軸ステージ４０を水平回転、傾斜、水平移動させるに際して、二次電子検出器２０の信号から得られるＳＥＭ像から指定用画像を作成して画像表示装置６１に表示しつつ、マウス６２で指定用画像を回転、傾斜、水平移動させる操作を行う。 - 特許庁

The microscope is constituted to perform focusing operation by storing magnification of an objective 5, calculating the driving speed of a focusing mechanism 8 based on the magnification of the objective 5 and zoom magnification, and driving a stepping motor for focusing 14b for driving the mechanism 8 so as to movably adjust space between the objective 5 and a stage 3.例文帳に追加

対物レンズ５の倍率を記憶して、この対物レンズ５の倍率とズーム倍率とに基づいて焦準機構８の駆動速度を算出して、焦準機構８を駆動する焦準用ステッピングモータ１４ｂを駆動して対物レンズ５とステージ３との間隔を移動調整して焦準操作するように構成した。 - 特許庁

To achieve flexible use by the easiest operation in fewest adjusting steps, in terms of a microscope including a light source and a detector device and configured such that the optical path of illuminating light extends between the light source and a specimen and the optical path 2 of a detecting line extends between the specimen and the detector device.例文帳に追加

光源及び検出器装置を有し、光源と試料との間で照明光線光路が、そして試料と検出器装置との間で検出線光路２が延在する顕微鏡に関するものであり、最も少ない調整手数でもってフレキシブルな利用が最も簡単な操作で可能となるように、構成すること。 - 特許庁

To provide a microscope system for displaying a necessary part of a patient including a stereoscopic component arranged for use in generation of 2D and 3D images displayed to a surgeon in an MR guide operation system which is executed in a bore of a magnet and uses fluorescence for detecting a tumor cell.例文帳に追加

磁石のボア内で行われるとともに、腫瘍細胞を検知するために蛍光を用いるＭＲガイド手術システムにおいて、外科医に表示される２Ｄと３Ｄ画像を生成する際に使用するために配置された立体視部品を含む、患者の必要とされる部分を表示するための顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

In one embodiment, the microscopic observation system 1 is provided with: an observation unit 3 observing a sample using a microscope; an observation system control unit 3 controlling the operation of the observation part 3; and a characteristic data memory unit 7 memorizing characteristic data decided in accordance with the attribute value showing the attribute of the sample per attribute value.例文帳に追加

本発明のある実施の形態において、顕微鏡観察システム１は、顕微鏡を用いて標本を観察する観察部３と、観察部３の動作を制御する観察システム制御部５と、標本の属性を示す属性値に応じて定められた特性データを属性値毎に記憶する特性データ記憶部７とを備える。 - 特許庁

In this measuring microscope apparatus, the interior of a support part 25, as a main body provided on the right side of the column 30, is provided with a signal operation display part 36 for operating a signal from a detecting part for detecting the travel of the XY stage 27 and the Z stage 28 and displaying the operational result.例文帳に追加

そして、この測定顕微鏡装置に於いて、コラム３０の右側に設けられた本体としての支持部３５の内部には、上記ＸＹステージ２７及びＺステージ２８の移動量を検出する検出部からの信号を演算して、この演算結果を表示する信号演算表示部３６を有している。 - 特許庁

The central part of a support device 8 is detachably attached to an outer peripheral part of the lens barrel 5 of an operation microscope supported by suspending from the above by a hook and loop fastener, and protruding four bars 8a-8d are respectively provided on the right and the left of the support device 8 by opening at right angles in the horizontal direction.例文帳に追加

上方から吊り下げ支持された手術用顕微鏡の鏡筒部５の外周部に、支持具８の中央部分を面ファスナーにより着脱自在に取り付けるとともに、支持具８の左右それぞれに水平方向に９０度開いた角度で突出する４本のバー８ａ〜８ｄを設ける。 - 特許庁

A intensive wet blasting operation is applied to a coating film of a CVD coated cutting tool equipped with a TiC_XN_Y layer containing a cemented carbide as base material and having a low tensile stress level of 50-390 Mpa and Al_2O_3 having a high surface smoothness with a mean Ra 0.12 μm or below as measured by the atomic force microscope (AFM) technique.例文帳に追加

超硬合金を母在とし、５０〜３９０Ｍｐａの低引張応力レベルを有するＴｉＣ_ＸＮ_Ｙ層と、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）技術によって測定される平均Ｒａが０．１２μｍ以下の高い表面平滑度を有するＡｌ_２Ｏ_３と備えるＣＶＤ被覆切削工具の被膜に、非常に激しい湿潤吹き付け処理を施す。 - 特許庁

The scanning probe microscope comprises: the cantilever 14 provided with prove 13; the moving mechanisms 11 and 17 for relatively moving the position of the probe to the sample 10; the detection means for detecting the specific physical amount; the measurement means for measuring the surface of the sample; and the measurement control means 60 for controlling the operation of the moving mechanisms and the measurement means.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、探針１３を有するカンチレバー１４と、試料１０に対する探針の位置を相対的に変化させる移動機構１１，１７と、所定物理量を検出する検出手段と、試料表面を測定する測定手段と、移動機構と測定手段の動作を制御する測定制御手段６０を備える。 - 特許庁

In an image processing device 70, a visible light image acquisition control part 771 controls operation of a microscope 10 and acquires a visible light image by imaging visible light observation image of a sample to which HE dyeing has been applied and dyeing (fluorescent label) has been applied with fluorescent dye binding specifically to a cell nucleus.例文帳に追加

本発明のある実施の形態の画像処理装置７０において、可視光画像取得制御部７７１は、顕微鏡１０の動作を制御し、ＨＥ染色が施され、細胞核と特異的に結合する蛍光色素によって染色（蛍光標識）が施された標本の可視光観察像を撮像して可視光画像を取得する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus for surgery wherein there exists no possibility of damaging tissues at an objective sites for medical curing by the apex of an endoscope and even when an operator concentrates on operating a tool for treatment, safety can be confirmed and a lot of instrument are not necessary and a large sample is unnecessary and the range of activity and procedures for surgical operation of the operator are not restricted.例文帳に追加

内視鏡先端で治療対象部位の組織を傷つけることなく、術者が処置具の操作に集中しても安全性の確認ができ、多くの機器を必要とせず、且つ、大きなスペースを不要として術者の活動範囲及び手術操作を制限することのない手術用顕微鏡装置を提供することである。 - 特許庁

A transmission electron microscope comprises a means for calculating an deviation amount in visual field among a plurality of sample permeation images, a means for changing an electric current given in a deflector for deflecting an electron beam or moving a sample to automatically correct the deviations in visual field, and a control means for repeating this operation means to decrease the deviations in the visual field.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡において、複数の試料透過像間の視野ずれの量を計算する手段と、電子線を偏向させる偏向器に与える電流をかえて、または試料を移動させて視野ずれを自動的に補正する手段と、以上の手段の動作を繰り返して視野ずれを減少させる制御手段とを備える。 - 特許庁

The preparation holding hand 5 can be moved and positioned by three driving sources which are independent in forward and backward, horizontal and vertical directions of a substrate 3, and many preparations stored in the prepared slide storage magazine 4 are successively supplied to the microscope and exchanged for another, then, the operation of inspecting/imaging the sample can be continuously and efficiently performed.例文帳に追加

プレパラート保持ハンド５は、基台３の前後方向、左右方向、及び、上下方向に独立した３つの駆動源で移動位置決め可能になっていて、プレパラート収納マガジン４内に収納された多数のプレパラートを順次顕微鏡に供給・交換して、試料の検査・撮像作業を連続して効率良く行うことができる。 - 特許庁

To seal and preserve a thin slice formed from an embedding sample using an adhesive plastic film as a thin slice support material as a permanent specimen capable of being observed by an optical microscope in the state bonded to the adhesive plastic film after subjected to dyeing, dehydrating or permeating operation in the state that the thin slice is bonded to the adhesive plastic film.例文帳に追加

粘着性プラスチックフィルムを薄切片の支持材として用いて、包埋試料から作製した薄切片を、粘着性プラスチックフィルムに貼り付けた状態で、染色、脱水、透徹等の操作を行った後、粘着性プラスチックフィルムに貼り付けた状態で、光学顕微鏡で観察できる永久標本として封入保存する。 - 特許庁

This microscope has coefficient determining means (5) for determining a coefficient according to the arithmetic value of either one of the luminance value or contrast value of the optical information, detected by optical information detecting means (10) and setting means (6) for multiplying the signal from operation means (4) by the coefficient determined by the coefficient determining means and setting the result thereof in a driving means (7).例文帳に追加

光学情報検出手段（１０）により検出された光学情報の輝度値またはコントラスト値の内いずれか１の演算値に基づいて係数を決定する係数決定手段（５）と、操作手段（４）からの信号に係数決定手段により決定された係数を乗じてその結果を駆動手段（７）に設定する設定手段（６）とを備えた顕微鏡装置である。 - 特許庁

The method for manufacturing the concentrated composition containing the α-sulfofatty acid alkyl ester salt comprises concentrating the composition containing the α-sulfofatty acid alkyl ester salt to a water content of 13% or lower by a simple concentration operation so that the phase state of the composition has been converted, after concentrated, into a hexagonal phase state at 70°C as confirmed by observation by a polarization microscope.例文帳に追加

α−スルホ脂肪酸アルキルエステル塩を含有する組成物を簡易濃縮操作により水分量を１３％以下に濃縮するにあたり、濃縮後の組成物の相状態が偏光顕微鏡観察で確認した際に７０℃の温度でヘキサゴナル相状態となっていることを特徴とするα−スルホ脂肪酸アルキルエステル塩含有濃縮組成物の製造方法。 - 特許庁

The method of operating laser scanning microscope comprises: lighting a sample through at least one scanner 2; imaging the sample; measuring temperature at the scanner 2 and/or a scanner driving part; starting a cooling device 6 when limit temperature is reached; advantageously interrupting the imaging operation once the cooling device 6 is switched on; and making a display device perform optical display or acoustic display when the limit temperature is reached.例文帳に追加

本発明によるレーザ走査型顕微鏡の動作方法では、試料は少なくとも１つのスキャナ２を通じて照明され、撮像が行われ、スキャナ２および／またはスキャナ駆動部において温度測定が行われ、限界温度に達すると冷却装置６が始動され、また有利なことに、冷却装置６のスイッチがオンに入ると撮像が中断され、または限界温度に達すると表示装置が光学的表示または音響的表示を行う。 - 特許庁