「optical mapping」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

OPTICAL CERAMIC, OPTICAL ELEMENT PREPARED FROM THE OPTICAL CERAMIC, AND MAPPING OPTICS例文帳に追加

光学セラミック、同セラミックから作製される光学素子及び写像光学装置 - 特許庁

To provide an improved device for mapping an optical element.例文帳に追加

光要素をマッピングするための改善された装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for mapping and de-mapping in an optical transport network.例文帳に追加

本発明の実施形態では、光トランスポート・ネットワークにおけるマッピング／デマッピング方法および装置を提供する。 - 特許庁

The optical system 41 is designed, so that the distortion aberration generated in the secondary optical system (electronic mapping optical system) 9 sets off the distortion aberrations generated in the photo mapping optical system 14.例文帳に追加

二次光学系（電子写像光学系）９で発生する歪曲収差と、光写像光学系１４で発生する歪曲収差が打ち消しあうように光写像光学系１４を設計する。 - 特許庁

The mapping optical system includes three lens systems 41 to 43 and an aperture 44.例文帳に追加

写像光学系は、３つのレンズ系４１〜４３と、アパーチャ４４とを備えている。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM MAPPING PROJECTION OPTICAL SYSTEM AND ADJUSTMENT METHOD THEREOF例文帳に追加

荷電粒子線写像投影光学系の調整方法及び荷電粒子線写像投影光学系 - 特許庁

In this mapping projection optical device, a preceding stage first electrode 11, an intermediate electrode 13 and a subsequent stage second electrode 15 are grounded.例文帳に追加

前段第１電極１１、中間電極１３、後段第２電極１５は接地されている。 - 特許庁

To perform a precise defect inspection by eliminating the influence of a fluctuation in scale factor of a mapping projection optical system and also in scan sensitivity of a multi-beam optical system.例文帳に追加

写像投影光学系の拡大率の変動やマルチビーム光学系の走査感度の変動の影響を解消して精度のよい欠陥検査を行うこと。 - 特許庁

Then the resource management device transmits mapping information as to an optical path between the input port and the reserved output port to an optical switch control device.例文帳に追加

リソース管理機構は、次いで、入力ポートと予約された出力ポートの間の光路についてのマッピング情報を、光スイッチ制御機構へ伝送する。 - 特許庁

In the method of optical process correction, mapping does not necessarily provide a one-to-one correspondence between reticle fragments and target layout fragments.例文帳に追加

マッピングは、レチクル・フラグメントとターゲット・レイアウト・フラグメントの間に１対１の対応関係を形成するとは限らない。 - 特許庁

To provide a mapping analysis device capable of obtaining an optical observation image having the same visual field as that of a mapping without displacement, irrespective of a visual field of an observation image acquisition means, without consuming any extra time.例文帳に追加

余分な時間をかけずに、観察像取得手段の視野に関係なく、マッピングの観察範囲と同じ視野の光学的観察像が、位置ズレも伴わずに得られるマッピング分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a mapping type electron microscope composed by relaxing restriction of a condition of a projection electron optical system to design of an illumination electron optical system to increase the degree of freedom of design of the illumination electron optical system.例文帳に追加

投影電子光学系の条件が照明電子光学系の設計の制約となることを緩和し、照明電子光学系の設計の自由度を増した写像型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE MAPPING/PROJECTING OPTICAL SYSTEM, CHARGED PARTICLE RAY DEFECT INSPECTING DEVICE COMPRISING IT, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURED BY THE SAME例文帳に追加

荷電粒子写像投影光学系、該光学系を備える荷電粒子線欠陥検査装置及び該装置により製造された半導体デバイス - 特許庁

The light generated by photoelectrical conversion is passed through a photo mapping optical system 12, and an image is projected on a time delay integrating type imaging device camera 13.例文帳に追加

光電変換により発生した光は、光写像光学系１２を通過して、時間遅延積分型の撮像素子カメラ１３に画像が投影される。 - 特許庁

The Log-Polar mapping of a vein image can provide image scaling, translation, rotation, and inclination correction with respect to the camera optical axis.例文帳に追加

静脈画像をＬｏｇ−Ｐｏｌａｒ変換することによって，画像の拡大縮小、平行移動、回転、カメラ光軸に対する傾斜の補正を可能にする。 - 特許庁

To provide an electrostatic lens excellent in aberration even in a wide field of view and enabling to achieve high magnification and to provide a mapping projection optical device used therewith.例文帳に追加

視野が広い場合でも収差が良好で、かつ高倍率が達成できる静電レンズ、及びそれを使用した写像投影光学装置を提供する。 - 特許庁

Transmitted image clearness which is measured by a mapping measuring instrument using an optical comb of 0.5mm width is 70-100% and haze is 20-50%.例文帳に追加

また、０．５ｍｍ幅の光学櫛を用いた写像性測定器で測定した透過像鮮明度が７０〜１００％であり、ヘーズが２０〜５０％である。 - 特許庁

In the optical diffusion film having at least one layer of an optical diffusion layer containing a translucent resin and translucent fine particles on a transparent substrate, the optical diffusion film is characterized by having the optical diffusion layer with ≥40% haze value and with 30-99% mapping performance.例文帳に追加

透明基材上に、透光性樹脂と透光性微粒子を含有する光拡散層を少なくとも１層有する光拡散フィルムにおいて、該光拡散層がヘイズ値４０％以上であり、かつ写像性が３０％乃至９９％であることを特徴とする光拡散フィルム。 - 特許庁

In this mapping type electron microscope, an illuminating mirror cylinder 11 is disposed to have an angle of θ1 relative to an optical axis and an illuminating mirror cylinder 12 is disposed to have an angle of θ2 relative to the optical axis, these cylinders 11 and 12 emit electron beams to the center of a Wien filter 13.例文帳に追加

照明鏡筒１１は光軸とθ１の角度、照明鏡筒１２は光軸とθ２の角度をなして設けられ、ウィーンフィルター１３の中心に向けて電子ビームを放出している。 - 特許庁

To provide a method and circuit for transferring a clock and a frame which transfers an input SONET (Synchronous Optical Network)/SDH (Synchronous Digital Hierarchy) signal on a system clock by mapping the SONET/SDH signal on an OTN (Optical Transport Network) frame without using an OTN clock.例文帳に追加

入力されたＳＯＮＥＴ／ＳＤＨ信号をＯＴＮクロックを使わずにＯＴＮフレームにマッピングし、システムクロックに乗せ換えることができるクロックとフレームの乗せ換え方法及び回路を提供する。 - 特許庁

The optical path length differences are thus set and then a chaos dynamical system does not hold for the intensity of light outputted by the optical interferometers 41 to 44, so that the addition theorem does not stand up and no chaos mapping is present.例文帳に追加

このように光路長差を設定すると、光干渉計４１〜４４が出力する光の強度に関してカオス力学系が成立しなくなり、加法定理が成立せず、カオス写像も存在しなくなる。 - 特許庁

To provide a charged particle beam mapping and projection apparatus for always providing a good mapped and projected image even if the magnification of a charged mapping and projection optical system is changed greatly before use or the number of formed images ahead of an imaging surface is changed before use.例文帳に追加

荷電粒子写像投影光学系の倍率を大きく変化させて使用したり、撮像面までの結像回数を変えて使用するような場合でも、常に良好な写像投影画像が得られる荷電粒子線写像投影装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface state observation device capable of observing a surface state with high resolution even in the case where distortional aberration resides in a mapping optical system and its method.例文帳に追加

主として、写像光学系に歪曲収差が残存する場合であっても高分解能で観察することができる表面状態観察装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The processing effects such as chemical composition analysis, chemical species concentration, depth profile, measurement and mapping of homogeneous characteristics, purity, and reactivity can be monitored by an optical spectroscopic method.例文帳に追加

例えば、化学的組成分析、化学種濃度、深さ輪郭、均質特性測定及びマッピング、純度、並びに反応性のような処理効果が、光学的分光分析法によって監視され得る。 - 特許庁

Waveform information (modulation data D) representing a desired signal waveform is mapped in the direction of wavelength using an amplitude modulation unit 14 into an optical pulse signal expanded in the time direction of using an optical distributed expansion unit 13, and the optical pulse signal wavelength-modulated by the mapping is compressed in the time direction using an optical distributed compression unit 18.例文帳に追加

光学的分散伸張部１３を用いて時間方向に伸張した光パルス信号に対し、当該所望とする信号波形を表す波形情報（変調データＤ）を振幅変調部１４を用いて波長方向にマッピングし、このマッピングによる波長変調後の光パルス信号を光学的分散圧縮部１８を用いて時間方向に圧縮する。 - 特許庁

To easily extend the number of storage ports and to easily manage memories in a buffer control circuit to be used in the case of mapping GFP (generic framing procedure) frames to SONET (synchronous optical network) frames.例文帳に追加

ＧＦＰフレームをＳＯＮＥＴフレームにマッピングする際に用いられるバッファ制御回路において、収容ポート数の拡張が容易にできるようにするとともに、メモリ管理が容易にできるようにする。 - 特許庁

To provide a mapping type electron microscope in where a projection imaging optical system is provided with a zooming transfer lens system for improving the geometrical aberrations in low-magnification imaging and space-charge effect in the zooming range.例文帳に追加

投影結像光学系にズーム型トランスファー・レンズ系を用いて、低倍結像の幾何収差とズーム範囲での空間電荷効果とを改善する写像型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

Hereby, the main control system 37 controls asynchronous quantity of timing at which the picture pickup element 35 converts the optical image to the electric signal and moving speed of the (xy) stage 40 in accordance with positional slipping quantity generated in accordance with the distortional aberration of the mapping optical system 20.例文帳に追加

ここで、主制御系３７は、写像光学系２０の歪曲収差に応じて生ずる位置ずれ量に応じて、上記撮像素子３５が光学像を電気信号に変換するタイミングとｘｙステージ４０の移動速度との非同期量を制御する。 - 特許庁

A PAM duo-binary optical receiver is designed to detect a power level of the received optical signal (encoded by using the pulse amplitude modulation technique for encoding a plurality of bits, and a duo-binary encoding technique), for mapping the detected power level into a plurality of bits, and to restore transmission information.例文帳に追加

開示するＰＡＭデュオバイナリ光受信器は、受信光信号（複数のビットを符号化するためにパルス振幅変調技法とデュオバイナリ符号化技法を使用して符号化されている）のパワー・レベルを検出し、検出パワー・レベルを複数のビットにマッピングして、送信情報に戻す。 - 特許庁

The user selects an optical sound as the operation confirmation sound for a computer system, such as ATM which the user is to use and the computer system performs mapping of operation confirmation sound patterns and the user password (or the number of bank account).例文帳に追加

ユーザが利用するＡＴＭ等のコンピュータシステムに、予め操作確認音として任意の音を選び、コンピュータシステムによって、操作確認音のパターンとユーザのパスワード（又は口座番号等）とをマッピングする。 - 特許庁

To provide a method of analyzing a spin polarization in an optical column of a mapping electron microscope or in a beam outgoing port back part of an electron spectrometer, and to provide a suitable system in which the above method is performed.例文帳に追加

写像する電子顕微鏡の光学コラム内、または電子分光計のビーム出射口後部において、スピン偏極を分析するための方法と、その方法を実施するための適切なシステムを提供する。 - 特許庁

To provide the mapping image of a structure without having to require complex labor, even when each structure on a sample is not clear in an optical microscopic observation image and there is no foreknowledge, with respect to the existence of the structure or the constituent molecule of the structure.例文帳に追加

光学的な顕微観察画像で試料上の各組織が明瞭でなく、組織の有無や組織を構成する分子等についての予見がない場合でも、煩雑な手間を要することなく、組織のマッピング画像を提示する。 - 特許庁

When the channel capacity in the unit has a room, the signal monitor 40 revises the mapping contents of a SONET(synchronous optical network) frame to increase the capacity and monitors a LOP(Loss Of Pointer) sent back from a communication unit at the receiver side.例文帳に追加

装置内の回線容量に余裕がある場合には、信号監視装置４０は、ＳＯＮＥＴフレームのマッピング内容を変更して容量を増加させた後、受信側の通信装置から送り返されてくるＬＯＰを監視する。 - 特許庁

The surface inspecting mechanism includes a UV ray source 30, an optical system guiding electromagnetic waves oblique to the sample surface, a mapping optical system 40 guiding electrons emitted from the sample surface to a direction perpendicular to the sample surface, a detector 50, and an image forming/signal processing circuit 60.例文帳に追加

表面検査機構は、紫外線発生源３０と、電磁波を試料表面に斜め方向から導く光学系と、試料表面から放出された電子を試料表面に直交する方向に導く写像光学系４０と、検出器５０と、画像形成／信号処理回路６０とを備えている。 - 特許庁

These electrons serve as two-dimensional electron signals and are magnified and projected by a secondary optical system 9 to form an image on an MCP sensor 10, which is converted into light by a fluorescent screen 11, passed through a photo mapping optical system 14, and irradiated on a TDI type CCD camera 13, in which a TDI array CCD is mounted.例文帳に追加

この発生電子は、二次元の電子信号として、二次光学系９により拡大投影され、ＭＣＰ検出器１０上に結像され、蛍光面１１で光に変換され、光写像光学系１４を通過して、前記ＴＤＩアレイＣＣＤを搭載したＴＤＩ方式ＣＣＤカメラ１３に照射される。 - 特許庁

To reduce the size of map information in the map information for mapping the time stamp information and a recording position on a disk relating to an audio object recorded in an optical disk by a fixed bit rate system or a variable bit rate system.例文帳に追加

固定ビットレート方式又は可変ビットレート方式で光ディスクに記録されたオーディオオブジェクトに関してそのタイムスタンプ情報とディスク上の記録位置とをマッピングするマップ情報において、マップ情報のサイズを縮小することを目的とする。 - 特許庁

A video module program 1200 includes a face detection part 1208 for extracting face areas from video images stored in a hard disk 1110, an optical flow calculation part 1206 for calculating information for specifying movements on the images inside the detected and extracted faces according to optical flows, and a MIDI mapping part 1214 for generating MIDI signals corresponding to motion vectors acquired from the optical flows.例文帳に追加

映像モジュールプログラム１２００は、ハードディスク１１１０に格納された動画像から顔領域を抽出する顔検出部１２０８と、オプティカルフローに基づいて、検出され抽出された顔の内部の画像上の動きを特定するための情報の計算を行なうオプティカルフロー算出部１２０６と、オプティカルフローから得られる動きベクトルに対応してＭＩＤＩ信号を生成するＭＩＤＩマッピング部１２１４とを含む。 - 特許庁

The mapping type electron microscope includes an illuminating system which irradiates a primary electron beam onto a sample, and the projection imaging optical system 24 which guides a secondary beam irradiated from the sample to a detection system, and the projection imaging optical system 24 is provided with the transfer lens system 24b, having a first zooming lens 6a and a second zooming lens 6b.例文帳に追加

試料を照射する１次電子ビームを放出する照射系と、試料から放出された２次電子ビームを検出系へ導く投影結像光学系２４とを備える写像型電子顕微鏡の投影結像光学系２４は、第１のズームレンズ６ａと第２のズームレンズ６ｂとを有するトランスファー・レンズ系２４ｂを備える。 - 特許庁

To provide an antiglare film to be provided to the outermost surface of a liquid crystal display device (LCD) or the like from the viewpoint of surface protection, the antiglare film being good in all optical performances of antidazzle property, white turbidity preventing property, a degree of mapping (image clarity) and antidazzle property.例文帳に追加

液晶表示装置（ＬＣＤ）等において、表面保護の点から最表面に設けられる防眩フィルムについて、防眩性、白濁防止性、写像性（画像鮮明度）、およびギラツキ防止性の全ての光学性能が、良好である防眩フィルムを提供する。 - 特許庁

A method and a device for determining a position to detect a charged particle by comparing a dyed optical microscopic image with an element mapping image formed based on a X-ray detected by irradiation of a charged particle beam are provided.例文帳に追加

本発明では、上記目的を達成するために、染色された光学顕微鏡像と、荷電粒子線の照射によって検出されるＸ線に基づいて形成される元素マッピング像を比較することによって、荷電粒子検出のための位置を決定する方法、及び装置を提供する。 - 特許庁

The optical modulator comprises: first optical modulation means for modulating input light from a main input port, and outputting simultaneously first and second light signals, which have the same constellation figures and different data mapping each other, from different ports; second optical modulation means for further modulating the first light signal and outputting a third light signal; and optical coupling means for coupling the second and third light signals and outputting the signals to a main output port.例文帳に追加

上記課題を解決するために、本発明の光変調器は、メイン入力ポートからの入力光を変調し、互いにコンスタレーション図形が等しくデータマッピングが異なる第１及び第２の光信号を同時に異なるポートから出力する第１の光変調手段と、前記第１の光信号をさらに変調し、第３の光信号を出力する第２の光変調手段と、前記第２及び前記第３の光信号を結合させ、メイン出力ポートへ出力する光結合手段とを備えることを特徴とする。 - 特許庁

A defect inspection device is provided with a first irradiating means S for irradiating a sample 9 by emitting primary electron beams, mapping optical mechanisms 11 to 13 or imaging secondary electrons emitted from the surface of the sample 9 irradiated with the secondary electron beams, a detector D for detecting the secondary electrons, and an image treatment mechanism 18 for treating signals from the detector D.例文帳に追加

欠陥検査装置は、一次電子線を放出して試料９を照射するための第１の照射手段Ｓと、一次電子線で照射された試料９の表面から放出された二次電子を結像させるための写像光学機構１１〜１３と、二次電子を検出するための検出器Ｄと、検出器Ｄからの信号を処理する画像処理機構１８とを具備する。 - 特許庁