「probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(72ページ目) - Weblio英語例文検索

To enable measurement by a highly precise scanning probe microscope using a novel cantilever with a measurement hole and provide a method for measuring mutual action of various beams and a sample substance by squeezing it into a very small region.例文帳に追加

新規な測定孔付きカンチレバーを用いて精度の高い走査型プローブ顕微鏡測定を可能にし、種々のビームと試料物質との相互作用を極小領域にまで絞り込んで測定できる方法を実現する。 - 特許庁

To provide a method and device for acquiring a sample electric potential distribution image with a probe capable of catching fine voltage fluctuation of a sample.例文帳に追加

本発明は探針による試料電位分布像の取得方法及び装置に関し、試料の微小電圧変動を捉えることが可能な探針による試料電位分布像の取得方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a method for accelerating hybridization by which the acceleration of the hybridization of a target biopolymer with a probe biopolymer can be carried out and a higher speed, higher sensitivity and higher reproducibility are designed by making magnetic attracting force act using a magnetic substance.例文帳に追加

磁性体を用い、磁気吸引力を作用させてターゲット生体高分子とプローブ生体高分子とのハイブリダイゼーションの高速化を可能にし、高速、高感度、高再現性を図ったハイブリダイゼーション高速化方法を提供する。 - 特許庁

Therefore, a round bar 11 formed of copper alloy for a bearing cage as an evaluation object and an ultrasonic probe 12 are dipped in a water tank 13 as an ultrasonic transmit medium to perform ultrasonic flaw detection using the angle beam method.例文帳に追加

そのため、評価対象軸受保持器用銅合金からなる丸棒１１並びに超音波探触子１２を、超音波伝達媒体である水槽１３中に浸漬して前記斜角探傷法による超音波探傷を行う。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a sheet-like probe capable of realizing a successful state of electric connection with a wafer, even in the case that a pitch of test electrodes on the wafer being an object to be tested is very narrow.例文帳に追加

検査対象であるウエハにおける被検査電極のピッチが極めて小さいものであっても、ウエハに対する良好な電気的接続状態を確実に達成することができるシート状プローブの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its measuring method capable of properly adjusting an explorer approaching position, when measuring a ridged/grooved shape and stroke of a Z-axis fine-movement element when an approaching action is finished, and measuring effectively utilizing the stroke.例文帳に追加

凹凸形状測定時に探針接近位置と接近動作終了時のＺ軸微動素子のストロークを適切に調整し、ストロークを有効に利用して測定できる走査型プローブ顕微鏡およびその測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for compensating generation of a loss without reducing a pulse duration, or for correcting an error when calculating a pulse, or for determining the pulse automatically, and to provide an NMR (Nuclear Magnetic Resonance) probe head and an NMR system.例文帳に追加

パルス持続時間を低減することなく損失の発生を補償するか、パルスの計算の際に誤りを訂正するか、又はパルスの決定を自動的に行う方法、ＮＭＲプローブヘッド及びＮＭＲシステムを提案する。 - 特許庁

To provide a diagnosis assisting device, an optical probe, and an operation method for the diagnosis assisting device, capable of obtaining effective biological information by securely setting a focal position of injection light to an inner surface of a lumen 25 for each objective part.例文帳に追加

対象部位毎に管腔２５の内面に確実に射出光の焦点位置を設定できることで、有効な生体情報を得ることができる診断補助装置、光プローブ、及び該診断補助装置の作動方法を提供する。 - 特許庁

To provide tungsten wire which has high mechanical strength, and exhibits excellent durability when used, e.g. as the structural material of a probe pin for semiconductor inspection, and to provide a production method by which the tungsten wire can efficiently be produced.例文帳に追加

機械的強度が高く、半導体検査用プローブピン等の構成材とした場合に優れた耐久性を発揮することが可能なタングステン線およびそのタングステン線を効率的に製造することが可能な製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface potential measuring method and a surface potential measuring apparatus that quickly obtain an accurate two-dimensional distribution map when evaluating a state on the surface of an insulator or a photoconductor by probe scan.例文帳に追加

本発明は、絶縁体あるいは光導電体の表面状態をプローブ走査で評価する際短時間にかつ正確な２次元分布図が得られる表面電位計測方法及びその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a measurement method of a scanning probe microscope for measuring a shape and optical characteristics of a sample using near field light without reducing a signal-to-noise ratio in a plasmon propagation beam SPM.例文帳に追加

本発明はプラズモン伝播形光ＳＰＭにおいて、信号対雑音比が低下させずに近接場光を用いて試料の形状と光学特性を測定する走査プローブ顕微鏡の測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a position correction method and device capable of accurately aligning a probe with each pad even if the pads are reduced in pitch and size, and a semiconductor integrated circuit testing device having the above device.例文帳に追加

パッドが狭ピッチ化され及び小型化された場合であっても、各パッドに対するプローブの位置合わせを正確に行うことができる位置補正方法及び装置並びに当該装置を備える半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method of inspecting the electrical characteristics of a semiconductor chip preventing the destruction of a probe for inspection even in the case of inferior parallelism and having a means for confirming no trouble in itself.例文帳に追加

平行度が悪い場合でも、検査用プローブが破壊されるのを防ぎ、自らに不具合のないことを確認する手段を備えた半導体チップの電気特性検査装置及び電気特性検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a probe type shape measuring device allowing stable measurement, even when an inclination angle of a measuring face is large, capable of restraining a measuring error from increasing and capable of measuring a shape stably and precisely, and to provide a method therefor.例文帳に追加

測定面の傾斜角が大きい場合でも、安定した測定が可能であり、測定誤差の増加を抑制して、安定かつ高精度に形状測定することができる触針式形状測定装置とその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic particle which is less in the non-specific adsorption of proteins, nucleic acids, and the like, and especially exhibits prominent high sensitivity and low noises in the fields of biochemistry and medicines, to provide a method for producing the same, and to provide a probe-bound particle.例文帳に追加

タンパクや核酸等の非特異吸着が少なく、特に、生化学・医薬品分野で特出する高感度と低ノイズを発現する磁性粒子およびその製造方法ならびにプローブ結合粒子を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a substrate for a magnetic disk, by which the quality of even a substrate for a magnetic disk of a one-sided workpiece can be measured by using the conventional probe-type measuring instrument or an optical/interference system measuring instrument.例文帳に追加

片面加工品の磁気ディスク用基板においても従来の触針式測定機や光学式／干渉系測定機を使用した品質の測定を行うことができる磁気ディスク用基板の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a substrate circuit inspection device and an inspection method that reduce the total inspection cost, by utilizing charged electronic ink to measure a conducting condition of an electrode and defining use of a pin probe on one surface of a substrate.例文帳に追加

帯電された電子インクを利用して電極の通電状態を測定して、ピンプローブの使用を基板の一面に限定することで、全検査費用を節減する基板の回路検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a contact probe unit for integrated circuit and a method for manufacturing of the same capable of allowing an electrode pitch of an integrated circuit film part to easily expand and to make the pitch same as an electrode pitch formed on a pad of an inspected body.例文帳に追加

集積回路フィルム部の電極ピッチを容易に拡張させ、これを被検査体のパッドに形成された電極ピッチと同一にすることができる集積回路接触プローブユニット及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

A method accepts from a medical imaging system a plurality of map points, each map point including respective corresponding coordinates on the surface of the body organ measured by bringing a medical probe into proximity with the surface of the body organ.例文帳に追加

本方法は、医療用画像システムから複数のマップ地点を受容することであって、各マップ地点は、医療用プローブを身体器官の表面に近接させることにより測定された表面上の対応する座標を含む。 - 特許庁

To provide an aptamer-electroconductive particle complex and an aptamer-electroconductive particle-probe complex, capable of controlling properties of indicating proteins by high frequency induction heating, and to provide a method for controlling properties of indicating proteins.例文帳に追加

高周波誘導加熱によって、指示タンパク質の特性を制御することができるアプタマー・導電性粒子複合体、アプタマー・導電性粒子・プローブ複合体、および指示タンパク質の特性を制御する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probing test method of semiconductor chips of which two or more terminals are respectively formed at equal intervals along with two opposing sides, by using one probe card, without requiring two adjoined semiconductor chips to be measured as a set.例文帳に追加

対向する二辺に沿ってそれぞれ複数の端子が等間隔で形成されている半導体チップのプロービングテストを、一枚のプローブカードを用い、隣り合う二つの半導体チップを一組として測定することを前提としないで行う。 - 特許庁

To provide magnetic organic particles effectively used for increasing binding force of DNA probe by increasing a surface area capable of fixing and binding the particles to a solid-phase carrier surface, and to provide a fixing method of the magnetic organic particles and a microarray.例文帳に追加

固相担体表面に粒子を固定して結合可能な表面積を大きくすることでＤＮＡプローブの結合量を増やすのに有用な磁性有機粒子、その磁性有機粒子の固定方法及びマイクロアレイを提供する。 - 特許庁

To provide a machining method that uses a glass probe for secure retention after thin-piece finish machining, and at the same time carries out transport and placement onto mesh for stably creating a sample for TEM observation.例文帳に追加

本発明の課題は、薄片化仕上げ加工の後ガラスプローブを用いて確実に保持すると共にメッシュ上に移送載置してＴＥＭ観察用の試料を安定して作成することができる加工法を提供することである。 - 特許庁

To provide a new vinyl polymer and a new blocking agent easily produced by chemical synthesis and having satisfactory noise reduction effect in immuno-diagnosis and the like, and a method for producing probe-bound particles using the same.例文帳に追加

製造が容易であり、かつ、免疫診断などで十分なノイズ低減効果とシグナル増強効果とを有する新規な化学合成のビニルポリマーおよびブロッキング剤、ならびにこれを用いたプローブ結合粒子の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a laminated piezoelectric device comprising an organic piezoelectric body formed by laminating a plurality of organic piezoelectric sheet materials, and to provide a manufacturing method thereof, an ultrasonic probe equipped with the laminated piezoelectric device, and an ultrasonographic device.例文帳に追加

本発明は、シート状の有機圧電材料を複数積層した有機圧電体を含む積層型圧電素子および該製造方法ならびに該積層型圧電素子を備えた超音波探触子および超音波診断装置を提供する。 - 特許庁

This method for detecting nucleic acid derived from Cryptosporidium parvum comprises the steps of amplifying DNA having a base sequence specifically found in C. parvum, and hybridizing the obtained amplification product with a probe.例文帳に追加

クリプトスポリジウム・パルバムに特異的に見出される塩基配列を含むＤＮＡを増幅する工程、及び、得られた増幅生成物とプローブとをハイブリダイゼーションさせる工程を有するクリプトスポリジウム・パルバムに由来する核酸の検出方法。 - 特許庁

To provide an assembling method of ultrasonic endoscopes facilitating the passing of flexible base plates provided at an extension end of a signal cable of an ultrasonic probe, through the interior of an insertion section flexible tube, despite narrow-diameter ultrasonic endoscopes.例文帳に追加

細径の超音波内視鏡であっても、超音波プローブの信号ケーブルの延出端に設けられたフレキシブル基板が、挿入部可撓管内を容易に通過できるようにした超音波内視鏡の組立方法を提供すること。 - 特許庁

The surface reforming method for the light metal features in that a probe 7 rotating with a high speed is pressed to the surfaces 10, 20 approximately orthogonal to the longitudinal axis direction of the crystal grain of the light metal to reform the metallographic structure.例文帳に追加

軽合金の結晶粒子の長軸方向と略直交する表面１０、２０に高速回転するプローブ７を押し当てて表面部１１の金属組織を改質することを特徴とする軽合金の表面改質方法。 - 特許庁

To provide an ultrasonic measuring method and an ultrasonic measuring device for enabling stable and sensitive measurement when performing the ultrasonic measurement of a hot material via a water medium by using a piezoelectric ultrasonic probe.例文帳に追加

圧電型超音波探触子を用い、水媒体を介して熱間材の超音波計測するにあたって、安定かつ高感度に計測可能とすることの可能な、超音波計測方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method capable of readily boosting yield in manufacture of test pieces, by implementing simply supplying accuracy of probe solution in the manufacture of test pieces for living body related substance detection.例文帳に追加

本発明は、生体関連物質検出用試験片の製造において、プローブ溶液の供給精度を簡単に行い、試験片の製造における歩留まり向上を容易に行うことを可能にする方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a plasma density measuring probe that facilitates determination between surface wave resonance and the resonance excluding the surface wave resonance, and to provide a plasma density measuring device, a plasma processing device, and a plasma density measuring method.例文帳に追加

本発明は、表面波共振と表面波共振以外の共振との判別を容易に行うことができるプラズマ密度測定子、プラズマ密度測定装置、プラズマ処理装置、およびプラズマ密度測定方法を提供する。 - 特許庁

Further, since an immersion testing ultrasonic probe 6 is provided, the thickness when a normal echo is generated is obtained from a CRT monitor 13 of an ultrasonic thickness meter 8, and data obtained from the RFEC method at its position is constituted.例文帳に追加

さらに、水浸法超音波探触子６を設けてあるので、超音波厚み計８のＣＲＴモニタ１３から、正常なエコーが生じているときの厚みをもとめ、その位置でＲＦＥＣ法から得られるデータを構成する。 - 特許庁

To provide an object labeling method effective when imparting a large number and various kinds of labels in response to requirement, even onto a minute object such as a fine particulate base body used in immobilization of a probe molecule used in bioassay, for example.例文帳に追加

例えば、バイオアッセイに用いるプローブ分子の固定化に利用される微細な粒子状の基体等、微小な物体に対しても、必要に応じて多数種の標識を付す際に有効な物体の標識方法の提供。 - 特許庁

To provide the fine machining method which enables desirable machining or the accurate recording of information by eliminating the influence of a sticking body atop of a probe and applying desirable physical operation.例文帳に追加

探針先端の付着物による影響をなくし、所望の物理作用を加えることにより所望の加工を行うことができ、あるいはより正確に情報の記録を行うことのできる微細加工方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a probe card capable of coping with a semiconductor device of the latest packaging system such as a chip-size package or a ball grid array, and manufacturing method thereof.例文帳に追加

半導体集積回路素子の電気的試験を行う際に半導体集積回路素子の被接触部との接触を行うためのプローブカードで、バンプの独立懸架、平面配列、一括形成、およびバーンイン試験への対応を実現すること。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for measuring current, capable of measuring minute current which flows in a measurement sample such as a semiconductor substrate or the like under a probe irradiation such as an electron beam or the like, over a wide frequency band with low noises.例文帳に追加

電子ビーム等のプローブ照射により半導体基板等の測定サンプルに流れる微小電流を、低ノイズでかつ広周波数帯域で測定できる電流測定装置及び電流測定方法を提供する。 - 特許庁

In this bearing preload adjusting method for a duplex bearing with a spacer, Barkhausen noise measuring sensor probe 1 is closely stuck to an outer ring spacer 7 to measure Barkhausen noise so that the bearing preload is controlled to a set appropriate preload.例文帳に追加

間座付き組合わせ軸受の軸受予圧調整方法において、バルクハウゼンノイズ測定センサーローブ１を外輪間座７に密着させ、バルクハウゼンノイズを測定することにより設定された適切な予圧に管理できるものである。 - 特許庁

The method for analyzing the base sequence of the nucleic acid comprises binding a nucleic acid, labeled with a second fluorescent substance causing the FRET with the first fluorescent substance, to one of the probe regions, and measuring the fluorescent intensity at different wavelengths.例文帳に追加

第一蛍光物質との間でＦＲＥＴを生じる第二蛍光物質で標識した核酸をいずれかのプローブ領域に結合させ、波長の異なる蛍光強度を測定して核酸の塩基配列を解析する方法。 - 特許庁

To provide a reliable friction stir welding method by specifying and setting both the moving direction and the rotational direction of a rotor and a probe as necessary, and performing the friction stir welding.例文帳に追加

本発明は、回転子及びプローブの移動方向と回転方向を必要に応じ両者共に特定して設定し、摩擦撹拌接合を施工することにより信頼性の高い摩擦撹拌接合方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method for measuring the insulating resistance of an electrostatic countermeasure part, which can simultaneously carry out a contact check of a probe and a measurement of the insulating resistance of the electrostatic countermeasure part, by using a simple facility configuration.例文帳に追加

本発明は、簡単な設備構成により、プローブのコンタクトチェックと静電気対策部品の絶縁抵抗測定を同時に実施できる静電気対策部品の絶縁抵抗測定方法を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

There are provided the ceramic member which is a sintered compact containing at least forsterite and boron nitride as the principal components and in which the boron nitride is unidirectionally oriented, a probe holder formed from the ceramic member, and a method for producing the ceramic member.例文帳に追加

少なくともフォルステライト及び窒化ホウ素を主成分として含み、窒化ホウ素が一方向に配向している焼結体であるセラミックス部材、セラミックス部材を用いて形成されるプローブホルダ、及びセラミックス部材の製造方法。 - 特許庁

To provide evaluating equipment and an evaluating method which can evaluate accurately and simply electric characteristic of a semiconductor wafer without causing errors, by precisely bringing a probe into contact with an electrode with an adequate amount of contact.例文帳に追加

プローブを電極に適切な接触量で精度良く接触させて、半導体ウエーハの電気特性を誤差を生じずに正確かつ簡便に評価することができる半導体ウエーハの評価装置及び評価方法を提供する。 - 特許庁

In this near infrared analysis method of the ground fish meat, the ground fish meat to be measured is frozen, and a raw spectrum is subjected to WSC processing by using a fiber probe at a temperature below -5°C in the frozen state of the ground fish meat, and its secondary differential processing spectrum is subjected to PLS regression analysis.例文帳に追加

測定すべきすり身を冷凍し、すり身を凍結状態のまま、−５℃以下の温度で、ファイバープローブを使用し、生スペクトルをMSC処理し、その二次微分処理スペクトルをPLS回帰分析することすり身の近赤外分析方法。 - 特許庁

To provide a method for detecting object protein utilizing a solid phase holding a newly composed peptide probe on the surface, obtainable in high reproducibility and high bonding force equivalent to an antibody molecule even in short chain peptide.例文帳に追加

短鎖のペプチドであっても、抗体分子と匹敵する程、高い再現性で、大きな結合力が得られる、新規な構成のペプチド・プローブをその表面に保持する固相を利用する目的タンパク質の検出方法の提供。 - 特許庁

To provide a tapping mode atomic force microscope (AFM) allowing measurement of a delicate sample or a flexible material, and capable of reducing impact force between a probe and the sample acting during collision; and its operation method.例文帳に追加

繊細な試料や柔軟な素材の計測を可能にする、衝突の間に作用するプローブと試料の間の衝撃力を低減する実施可能なタッピングモード原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）及びその操作方法を提供する。 - 特許庁