「self- test」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

At the time of a self-refresh mode, power source voltage is supplied to only a test refresh system circuit and refresh operation is performed.例文帳に追加

セルフリフレッシュモード時テストリフレッシュ系回路に対してのみ電源電圧を供給してリフレッシュ動作を実行させる。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for performing a built-in self-test ('BIST') on an integrated circuit device.例文帳に追加

集積回路デバイス上で組込み形自己試験（「ＢＩＳＴ」）を実行するための方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To facilitate specification of a range influenced when abnormality is found in a self-diagnostic result of a product test device.例文帳に追加

製品試験装置の自己診断結果に異常が発見された場合における影響を受ける範囲の特定の容易化。 - 特許庁

This defibrillator 30 includes a test signal generator and a defibrillator state indicator and is provided with an automatic self-testing system 42.例文帳に追加

試験信号発生器と除細動器状態インジケータとを含む、自動自己試験システム(42)を備えた除細動器(30)。 - 特許庁

The self-extinguishing grease composition has self-extinguishing time within 5 minutes by an ointment can combustion test and ≥270°C flash point of the liquid component of the grease composition.例文帳に追加

軟膏缶燃焼試験で自己消火時間が５分間以内の自己消火性グリース組成物；グリース組成物の液体成分の引火点が２７０℃以上である自己消火性グリース組成物。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit tester and its self- diagnosis method which enable self diagnosis, without the removal of an object to be tested, even in the middle of a test.例文帳に追加

試験の途中においても被試験対象を取り除くことなしに自己診断を行うことができる半導体集積回路試験装置及びその自己診断方法を提供する。 - 特許庁

To prevent a test from being disabled owing to a drop in line voltage even when self-hold type fire sensors connected to the same sensor line are placed in operation successively with a test signal.例文帳に追加

同じ感知器回線に接続している複数の自己保持型の火災感知器を試験信号により順次作動させても、回線電圧の低下により試験不能とならないようにする。 - 特許庁

To provide a test circuit, for example a BIST(Built-In Self Test) circuit, capable of testing any circuit to be tested (for example, a high speed semiconductor memory) easily with the actually working frequency.例文帳に追加

テスト回路（例えば、ＢＩＳＴ（Ｂｕｉｌｔ−Ｉｎ Ｓｅｌｆ Ｔｅｓｔ）回路）において、被テスト回路（例えば、高速の半導体メモリ）を実動作周波数で容易にテストする。 - 特許庁

This alarm unit 1 has the power source part 26 having the multi-power source formation and a processing means (central control part 21) for executing self-test processing.例文帳に追加

警報器１は、多電源構成の電源部２６と、セルフテスト処理を実行する処理手段（中央制御部２１）を有する。 - 特許庁

To enable a self-analysis test capable of giving an index for better job change, educational advance, marriage, hobby, housing, life style or the like.例文帳に追加

よりよい転職、進学、結婚、趣味、住宅、ライフスタイル等を行う指針となる自己分析テストを行えるようにする。 - 特許庁

To provide a clock generating circuit including a self-test circuit capable of checking whether variations in the phases of clocks lie within the allowable range.例文帳に追加

クロックの位相のばらつきが許容範囲内か否かをチェックできるセルフテスト回路を有するクロック生成回路を提供する。 - 特許庁

This program normally makes a basic self-test of the machine and accesses non-volatile memory to read further parameters. 例文帳に追加

ふつうこのプログラムは、まずマシンの基本的な自己診断を行い、そして不揮発性メモリにアクセスして各種のパラメータを読み込む。 - JM

To perform a self-test of operations of WDT (watchdog timer) for monitoring CPU (Central Processing Unit) runaways during the operation of a CPU.例文帳に追加

ＣＰＵ（マイクロプロセッサ）の暴走監視を行うＷＤＴ（ウォッチドッグタイマ）の動作をＣＰＵの運転中に自己診断する。 - 特許庁

To achieve a semiconductor testing apparatus which can absorb self-heating, produced in an IC under testing by the semiconductor test apparatus itself.例文帳に追加

試験状態のＩＣに発生する自己発熱を、試験装置自体で吸熱することができる半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To dispense with a self-test circuit, composed of a linear feedback shift register(an LFSR) which is required, in addition to an inspected circuit to reduce a circuit area by dispensing with a built-in data compression circuit for executing a self-test for the inspected circuit, in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路内の被検査回路の自己テストを行うために、データ圧縮回路を内蔵する方法では、被検査回路の他に線形フィードバックレジスタ（ＬＦＳＲ）で構成される自己テスト回路が必要になるため回路面積が増大する。 - 特許庁

A subscriber side media converter starts self-diagnosis (S13) on the basis of a loopback test start request maintenance signal (S31) from a station office side media converter (MC) and transmits the result of self-diagnosis to the station office side media converter together with a loopback test signal (S17).例文帳に追加

局舎側メディアコンバータ（ＭＣ）からの折り返し試験開始要求保守信号（Ｓ３１）により、加入者側メディアコンバータにおいて自己診断を開始し（Ｓ１３）、折り返し試験信号と共に自己診断の結果を局舎側メディアコンバータへ送信する（Ｓ１７）。 - 特許庁

The Nevada Department of Motor Vehicles in the United States recently issued a license that allows Google to test its self-driving car on public roads. 例文帳に追加

米国のネバダ州車両管理局は先日，グーグルが公道で同社の自動走行車を試験するのを認める免許を交付した。 - 浜島書店 Catch a Wave

To provide a semiconductor device which can be subjected to a collective wafer test, while the self-heating value of the device is being adjusted.例文帳に追加

自己発熱量を調整しつつウエハ一括テストが可能な半導体装置および半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

The I/O circuit can be also constituted to perform data balancing, write-verfy and the built-in self test.例文帳に追加

入力／出力回路はまた、データの平衡化、書き込み・検証、および組み込み自己テストを実行するよう構成することができる。 - 特許庁

The package panel includes instructions for setup of the AED including indication of a control to actuate during or at the end of the self-test.例文帳に追加

パッケージパネルは、セルフテスト中又はその終わりに作動させるべきコントロールの指示を含む、ＡＥＤのセットアップのためのインストラクションを含む。 - 特許庁

To easily confirm a POST (Power-On Self Test) code executed in a motherboard even in the state where the motherboard is incorporated in a chassis.例文帳に追加

マザーボードがシャーシに組み込まれた状態でも、そのマザーボードで実行されているＰＯＳＴコードを容易に確認できるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor data processing device performing a highly flexible self test on an internal circuit, while being installed in a system.例文帳に追加

システムに実装された状態で内部回路に対して自由度の高いセルフテストを実行でき半導体データ処理デバイスを提供する。 - 特許庁

When a test mode signal TM is activated by a signal provided from an external terminal CLK, RST, or SIO, various self-test programs stored in a ROM 3 are read and executed by a CPU 1.例文帳に追加

外部端子ＣＬＫ，ＲＳＴ，ＳＩＯから与えられる信号で試験モード信号ＴＭがアクティブにされると、ＣＰＵ１によってＲＯＭ３に格納された各種の自己試験プログラムが読み出されて実行される。 - 特許庁

To provide an analog BIST (Built in self-test) circuit capable of controlling by a digital signal, reducing cost for a shipping test, and shortening a period for characteristic evaluation, and to provide an electronic system using the circuit.例文帳に追加

デジタル信号による制御を可能とし、出荷試験の費用削減および特性評価の期間を短縮することができるアナログＢＩＳＴ回路およびそれを用いた電子システムを提供する。 - 特許庁

To provide a versatile jig for a seat self-weight load test capable of easily performing the test while preventing interference with a body block arranged in a seating part or a body part on the lateral side.例文帳に追加

着座部に配置されるボデーブロック或は側方のボデー部分との干渉を回避した状態で、容易に試験を実施し得る汎用性のあるシート自重負荷試験用治具を提供する。 - 特許庁

A wireless receiving circuit chip 2 for receiving electric power transmitting by wireless from the outside and a test start signal, and a non-volatile memory chip 3 loading a self-diagnosis test circuit are mix-loaded in a wafer 1.例文帳に追加

ウェーハ１は、外部から無線により送信される電力および試験開始信号を受信する無線受信回路チップ２と、自己診断試験回路を搭載する不揮発性メモリチップ３と、を混載する。 - 特許庁

In this test circuit device, self-fault diagnosis for the self fault diagnosis circuit comprising a random number generation circuit part 101, a scan chain part 102, a counter circuit part 103 and a decision circuit part 104 is executed, and the output of a state hold register 105 is changed, on the basis of the result of the self fault diagnosis.例文帳に追加

乱数発生回路部１０１、スキャンチェーン部１０２、カウンタ回路部１０３、判定回路部１０４から成る自己故障診断回路の自己故障診断を行い、自己故障診断の結果から状態保持レジスタ１０５の出力を変化する。 - 特許庁

The test apparatus, in which a body-side connector 10a attached to the apparatus body 10 is connected to a self diagnosis part 12 in the apparatus body 10, is configured so that the self diagnosis part 12 diagnoses whether or not a product test part 11 and the test cable 20 are in a normal condition when a cable-side connector 20a is connected to the body-side connector 10a.例文帳に追加

本発明によるテスト装置は、装置本体１０に設けられた本体側コネクタ部１０ａが装置本体１０内の自己診断部１２に接続され、本体側コネクタ部１０ａにケーブル側コネクタ部２０ａが接続された場合に、製品テスト部１１及び前記テストケーブル２０が正常か否かを自己診断部１２が診断する構成である。 - 特許庁

A self-constitution type memory is provided in a chip, the self- constitution type memory or other memory and a logic circuit in the chip in which a test circuit is constituted in a normal memory are tested by a tester HDL, the memory used for constitution of the test circuit can be operated as a normal memory.例文帳に追加

自己構成型のメモリをチップ内に設けて、テスタＨＤＬによりその自己構成型のメモリまたは通常のメモリにテスト回路を構成してチップ内の他のメモリやロジック回路をテストし、テスト回路の構成に用いたメモリを通常のメモリとして動作できるように再構成するようにした。 - 特許庁

The CPU3A of the A system 1A controls DMA (Direct Memory Access) engines 10A and 10B, and inputs the test data stored in a self-system main memory 4A through a data line path 15A to the other system test comparator 13B, and inputs the test data stored in the other system main memory 4B to the other system test comparator 13B.例文帳に追加

Ａ系システム１ＡのＣＰＵ３Ａは、ＤＭＡエンジン１０Ａ，１０Ｂを制御して、データリンクパス１５Ａを経由して自系のメインメモリ４Ａに記憶されているテストデータを他系のテストコンパレータ１３Ｂに入力し、他系のメインメモリ４Ｂに記憶されているテストデータを他系のテストコンパレータ１３Ｂに入力する。 - 特許庁

The self-test section is provided with an address counter (35) that corresponds to a plurality of addressings in which updating methods of the X address, the Y address and the bank address are made different.例文帳に追加

セルフテスト部は、Ｘアドレス、Ｙアドレス及びバンクアドレスの更新の仕方の異なる複数のアドレシングに対応したアドレスカウンタ（３５）を有する。 - 特許庁

A built-in self-test circuit 300 and a built-in redundancy analyzing circuit 400 are respectively provided in a plurality of DRAM cores 100.1-100.n.例文帳に追加

ビルトインセルフテスト回路３００およびビルトイン冗長解析回路４００とは、複数のＤＲＡＭコア１００．１〜１００．ｎに共通に設けられる。 - 特許庁

To provide a technique which secures security and also does not impair user's convenience if a self-test fails.例文帳に追加

自己テストに失敗した場合に、セキュリティを確保しつつ、かつ利用者の利便性を損なうことがない技術を提供することを目的とする。 - 特許庁

To execute a self diagnosis test for detecting a failure of a head or circuit which depends on the frequency of writing/reading signals to/from a user area.例文帳に追加

ユーザ領域の書き込み／読み出し周波数に依存するヘッドや回路の不具合を検出する自己診断テストを行うことを課題とする。 - 特許庁

The secure circuit 20 outputs a self-diagnostic test result signal RSULT showing whether the secure circuit 20 is normal or not to the CPU 18.例文帳に追加

セキュア回路２０は、セキュア回路２０が正常か否かを示す自己診断テスト結果信号ＲＥＳＵＬＴをＣＰＵ１８に出力する。 - 特許庁

This SOC with built-in self-test circuit comprises an IP block including a BIST logic circuit and a BIST control part.例文帳に追加

ＢＩＳＴロジック回路を含むＩＰブロックとＢＩＳＴコントロール部とを備えることを特徴とする内蔵型セルフテスト回路を有するＳＯＣ。 - 特許庁

In the self-weight type handier, in which the device is slid on the tilting chute so as to be conveyed toward a test head, the chute is vibrated by means of a vibrating means.例文帳に追加

傾斜したシュートにデバイスを滑落させ、テストヘッドへ搬送する自重落下式ハンドラにおいて、振動手段でシュートを振動させる。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device which is capable of performing a test at an accurate temperature in consideration of self-heating of an electronic component during testing.例文帳に追加

テスト時における電子部品の自己発熱を考慮して正確な温度で試験を行うことができる電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁

To enable the accurate oscillation period of an internal oscillation circuit used for self-refreshing of a semiconductor memory to be easily obtained by a test.例文帳に追加

半導体記憶装置のセルフリフレッシュに用いられる内部発振回路の正確な発振周期を検査によって容易に求められるようにする。 - 特許庁

To provide a self-diagnostic device for a semiconductor which allows its user side to prepare for a test mode, allows its LSI to automatically operate under load at actual operation level and perform self diagnosis after power on, and outputs the result.例文帳に追加

ユーザ側でテストモードを用意し、電源投入後は自動的にＬＳＩが実動作レベルの負荷で動作して自己診断を行い、その結果を出力することができる半導体自己診断装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit by which a large-scale semiconductor device is self-tested at an actual operating speed only by additing a few circuits by using a boundary scan register, and which outputs only its test result to the outside.例文帳に追加

バウンダリスキャンレジスタを利用して、ごく僅かな回路の追加だけで、大規模な半導体装置を実動作速度で自己テストし、そのテスト結果だけを外部へ出力することができるテスト回路を提供する。 - 特許庁

The built-in self-test circuit generates a pattern for memory test in a programmable manner conforming to indication input through the TAP controller and output it, also, compares data read from the external memory with an expected value and judges the data.例文帳に追加

ビルトインセルフテスト回路は、ＴＡＰコントローラを介して入力される指示に従ってプログラマブルにメモリテスト用パターンを生成して出力し、且つ、外部メモリから読み込んだデータを期待値と比較判定する。 - 特許庁

To provide a built-in self-test device for memory circuit which can test the timing specification such as setup time, hold-time, or the like prescribed for a memory to be tested by using plural timing signals having a prescribed phase difference.例文帳に追加

所定の位相差を持つ複数のタイミング信号を用いて、被試験メモリに規定されるセットアップタイムやホールドタイム等のタイミングスペックの試験を可能にしたメモリ回路用の組込み自己試験装置を提供する。 - 特許庁

A slave station 9 performs an operation test (self-diagnosis) of an interconnection protective relay 54 according to data received from a key station 3 through a relay station 4.例文帳に追加

子局９は、親局３から中継局４を経由して受信したデータに従って、連系保護リレー５４の動作試験（自己診断）を行う。 - 特許庁

To realize a single pass self-servo writing process capable of realizing the desired number of tracks on a disk drive for reducing test time and the number of servo writing devices.例文帳に追加

セルフ・サーボ書込プロセスを用いるドライブ・プログラムの多くでは、希望するフォーマットのための正しいトラック数を得るために２回パス・プロセスが用いられる。 - 特許庁