「self- test」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

An anionic self-crosslinkable polyurethane material has a weight average molecular weight of less than 15,000 g per one mole and has a toughness of at least 20 MPa, as measured according to the toughness test method at a temperature of 25°C, when the material is cured.例文帳に追加

アニオン性の自己架橋可能ポリウレタン材料は、１モル当たり１５，０００グラム未満の重量平均分子量を有し、硬化する場合に、２５℃の温度でのＴＯＵＧＨＮＥＳＳ ＴＥＳＴ ＭＥＴＨＯＤに従って少なくとも２０ＭＰａの靱性を有する。 - 特許庁

A circuit element of a logic circuit which is designed so that a scan pass test can be performed and has shift register constitution in a shift operation mode is utilized for an address register 3, a data input register 4, and a compare-register 5 constituting a semiconductor integrated circuit provided with self-diagnosis.例文帳に追加

診断機能を備えた半導体集積回路を構成するアドレスレジスタ３、データ入力レジスタ４およびコンペアレジスタ５に、スキャンパステストが実行可能に設計されシフト動作モード時にシフトレジスタ構成となる論理回路の回路要素を利用する。 - 特許庁

To provide a BIST (built in self test) system using an ECC (error correction code) which corrects a single bit error in a given memory word with a given address and in which the ECC has the maximum number of bit errors which can be corrected for itself in the given memory word.例文帳に追加

所与のアドレスの所与のメモリ・ワード内の単一ビット誤りを訂正するＥＣＣを使用するＢＩＳＴシステムであって、前記ＥＣＣが、前記所与のメモリ・ワード内で自分が訂正できるビット誤りの最大数を有するＢＩＳＴシステムを提供すること。 - 特許庁

An anionic self-cross-linkable polyurethane material has a weight average molecular weight of less than 15,000 grams per mole and, when cured, has a toughness of at least 20 MPa according to TOUGHNESS TEST METHOD at a temperature of 25°C.例文帳に追加

アニオン性の自己架橋可能ポリウレタン材料であり、１モル当たり１５，０００グラム未満の重量平均分子量を有し、硬化する場合に、２５℃の温度でのＴＯＵＧＨＮＥＳＳ ＴＥＳＴ ＭＥＴＨＯＤに従って少なくとも２０ＭＰａの靱性を有する。 - 特許庁

An anionic self-crosslinkable polyurethane material has a weight-average molecular weight of less than 15,000 gram per mole and, when cured, gives a toughness of at least 20 MPa according to the TOUGHNESS TEST METHOD at 25°C.例文帳に追加

アニオン性の自己架橋可能ポリウレタン材料は、１モル当たり１５，０００グラム未満の重量平均分子量を有し、硬化する場合に、２５℃の温度でのＴＯＵＧＨＮＥＳＳ ＴＥＳＴ ＭＥＴＨＯＤに従って少なくとも２０ＭＰａの靱性を有する。 - 特許庁

This semiconductor device includes a test target circuit 19 being the object of self-diagnosis, a PLL circuit 18 outputting a clock for self-diagnosis to the target circuit 19, a register 16 for diagnosis storing a clock frequency corresponding to an operating speed limit of the target circuit 19, and a control circuit 14 for setting the frequency of the clock output from the PLL circuit 18 in self-diagnosis based on the clock frequency stored in the register 16.例文帳に追加

本発明に係る半導体装置は、自己診断の対象となるテストターゲット回路１９と、テストターゲット回路１９に対して自己診断用のクロックを出力するＰＬＬ回路１８と、テストターゲット回路１９の動作スピード限界に対応するクロック周波数を記憶する診断用レジスタ１６と、診断用レジスタ１６に記憶されたクロック周波数に基づいて、自己診断時にＰＬＬ回路１８から出力されるクロックの周波数を設定する制御回路１４と、を備えるものである。 - 特許庁

To provide an alumina cement-containing self-flowing hydraulic composition used as an undercoating material of a coated flooring, which self-flowing hydraulic composition has good surface levelness, a sufficient surface hardness and strength, and good adhesion to a coated flooring and, in particular, is satisfactory even in an adhesion test including not only a vertically acting tensile strength but also a horizontally acting tensile strength.例文帳に追加

塗り床材の下地材として用いられるアルミナセメントを含む自己流動性水硬性組成物において、表面の良好な水平性や、十分な表面硬度、強度、塗り床材との良好な付着性を有し、特に、垂直方向に働く引張り力のみではなく、水平方向に働く引張り力を含む付着性試験においても良好な自己流動性水硬性組成物を提供する。 - 特許庁

When an internal enable signal 13 is outputted from the PLL circuit 3 to the BIST circuit 5, a test at the actual operation speed is started, corresponding to the phase lock time of the PLL circuit mounted in each IC, thus preventing useless idle time during the self testing of function.例文帳に追加

ＰＬＬ回路３が内部イネーブル信号１３をＢＩＳＴ回路５に出力することにより、ＩＣ個々に搭載されるＰＬＬ回路の位相ロック時間に対応して実動作速度によるテストが開始されるので、自己機能テスト中に無駄な空き時間が発生しない。 - 特許庁

To provide a combination of a basic power amplifier measuring function and a measuring system self-test function into one RF circuit to improve reliability and reproducibility, to reduce the costs and to improve the accuracy without cutting a high power RF switch or DUT.例文帳に追加

大電力ＲＦスイッチまたはＤＵＴの切断を必要とすることなく、高信頼性、高再現性、低コスト、及び、高正確度をもたらす、基本的な電力増幅器測定機能及び測定システム自己テスト機能の、１つのＲＦ回路への組み合わせを提供する。 - 特許庁

To provide an optimum production system for a test culture of genome decipherment crops or a large scale production for industrial purpose to improvea self sufficiency rate with the large scale production at a low cost by automating each process of hydroponics and accelerating agricultural refreshment and activity.例文帳に追加

水耕栽培をオートメーション化して各工程を効率化し、農業の再生、活性化を促進し、自給率を向上させる事が出来、且つ低コストで大量生産が可能であり、又、ゲノム解読作物のテスト栽培や産業目的の大量生産に最適な生産方式を提供する。 - 特許庁

Each of block processing sections 8-1 to 8-4 correspond to each block when the fail memory 4 is divided into plural blocks in according with blocks of the semiconductor memory, the number of defective addresses in a block corresponding to self-processing section are counted, when the number exceeds a threshold value, a test stop signal is outputted.例文帳に追加

各ブロック処理部８−１〜８−４は、フェイルメモリ４を半導体メモリのブロックに応じて複数のブロックに分割した際の各ブロックに対応しており、自処理部と対応するブロック中の、不良アドレスの個数を計数し、その個数が閾値を超える場合には、試験停止信号を出力する。 - 特許庁

To provide a means by which wiring channel regions relating to signal distribution, quantity of buffers, FF, or the like, and the number of LSI pins can be reduced, and mounting to a chip can be facilitated, in a built-in type self test circuit (BIST) for testing a CAM-macro.例文帳に追加

ＣＡＭマクロをテストするための組み込み型自己テスト回路（ＢＩＳＴ）回路において、信号分配にかかわる配線チャネル領域、バッファ、ＦＦなどの物量およびＬＳＩピン数の削減を可能とし、チップへの実装を容易化する手段を提供するものである。 - 特許庁

Supply of a clock signal to functional blocks other than a functional block being an object of current measurement out of a plurality of functional blocks (2A-2D) is stopped, and a built-in self test circuit and a scan circuit are operated in the functional block which is the object of current measurement.例文帳に追加

複数の機能ブロック（２Ａ〜２Ｄ）のうち電流測定対象とされる機能ブロックを除く他の機能ブロックについて上記クロック信号の供給を停止し、且つ、上記電流測定対象とされる機能ブロックにおける上記ビルトインセルフテスト回路と上記スキャン回路とを動作させる。 - 特許庁

The at least one STA card module (40) includes a generic region adapted for interfacing with an additional STA card module (40) over the dual data bus (62), and a resource specific region (64) adapted for self test of at least one ATE station resource (16, 18).例文帳に追加

少なくとも１つのＳＴＡカードモジュール（４０）は、デュアルデータバス（６２）を通じて追加のＳＴＡカードモジュール（４０）とインターフェースするように適合されているジェネリックな領域、および少なくとも１つのＡＴＥステーションリソース（１６、１８）のセルフ試験するように適合されているリソース特有の領域（６４）を含む。 - 特許庁

The BIOS setting means acquires setting information of any operation mode selected among the plurality of operation modes from the storing means and sets the acquired setting information of the operation mode in BIOS during POST (Power On Self-Test) processing by BIOS.例文帳に追加

ＢＩＯＳ設定手段は、ＢＩＯＳによるＰＯＳＴ（Ｐｏｗｅｒ Ｏｎ Ｓｅｌｆ−Ｔｅｓｔ）処理中、複数の動作モードのうちの選択されたいずれか一つの動作モードの設定情報を格納手段から取得すると共に、取得した当該動作モードの設定情報をＢＩＯＳに設定する。 - 特許庁

A wound dressing has its wound-contacting surface composed of carboxymethylcellulose filaments which can absorb 0.9 wt% of aqueous saline infusion against its self weight (as measured by a free-swelling absorption test) to form swollen transparent gel.例文帳に追加

外傷包帯は、その外傷- 接触表面が、( 自由- 膨潤吸収度テストにより測定されるような) それら自体の重量の少なくとも15倍の0.9 重量% の水性生理食塩水溶液を吸収して膨潤透明ゲルを形成することができるカルボキシメチル・セルロース・フィラメントを含んで成ることを特徴とする。 - 特許庁

Use of a low-speed test device having a small number of terminals is made possible, by controlling the first and second transistors according to a pattern signal generated by the pattern generating section, and by providing a self-diagnosis control circuit (115) for transmitting the pattern signal to the input circuit.例文帳に追加

上記パターン生成部で生成されたパターン信号に従って上記第１トランジスタ及び上記第２トランジスタを制御することでパターン信号を上記入力回路に伝達する自己診断制御回路（１１５）を設けることによって、端子数が少なく且つ低速な試験装置の使用を可能にする。 - 特許庁

To perform an irradiating test on a large number of irradiating samples at the same temperature under a constant temperature condition by providing a self-temperature control function while being an uninstrumental type, reducing a shaft directional temperature gradient, and restraining a temperature change in the irradiating samples caused by an output change in a nuclear reactor.例文帳に追加

無計装タイプでありながら自己温度制御機能を有し、軸方向の温度勾配を低減すると共に、原子炉の出力変動などに伴う照射試料の温度変動を抑え、それによって多数の照射試料を同一温度且つ一定温度条件下で照射試験を実施できるようにする。 - 特許庁

To present a video signal clamp circuit in which malfunction is prevented firstly by avoiding generation of V sag (vertical sag) when a test signal is inputted, a self-clamp circuit can be employed with problem secondly, and an additional circuit is excellent in circuit area thirdly through utilization of a Schmidt inverter.例文帳に追加

第１に、テスト信号を入力した場合に、Ｖサグ（垂直サグ）発生が回避されて、誤動作が防止され、第２に、もってセルフクランプ方式のクランプ回路を、問題なく採用でき、第３に、しかもシュミットインバーターの利用により、追加回路の回路面積等にも優れた、映像信号のクランプ回路を提案する。 - 特許庁

Stainless steel having corrosion resistance is used, a metal liner is manufactured by the lost-wax casting method, a thickness of a body part is adjusted by cutting, a carbon fiber is wound together with resin, self-tightening pressure is controlled, and compressive stress of about a half of bearing force is inherent therein, and thereby, the life in a fatigue test pressure is designed to be optimum.例文帳に追加

耐蝕性が有るステンレスを用い、ロストワックス鋳造法で金属ライナーを製作し、切削加工で胴部の厚さを調整して、炭素繊維を樹脂ともに巻きつけて、自緊圧力をコントロールして耐力の約半分の圧縮応力を内在させる事で、疲労試験圧力での寿命を最適に設計している。 - 特許庁

In the disk drive 20 having an independent servo writing function, a CPU 29 is so constituted as to compute only correction values of designated tracks of a plurality of servo tracks to store the correction values in servo sectors when the computing process for computing a correction value of an STW-RRO (servo track writing-repeatable runout) variation component is performed in the self-running test step.例文帳に追加

自立サーボライト機能を有するディスクドライブ２０において、ＣＰＵ２９は、自走テスト工程時にＳＴＷ−ＲＲＯ補正値を算出する計算処理を実行するときに、複数のサーボトラックの中で、指定のトラック分の補正値のみを算出して、当該補正値をサーボセクタに記憶するように構成されている。 - 特許庁

The self-check of incorporation is started by a command of a CPU 12, and the test results of the memory 11 and a logic circuit group 13 are read from the memory checking compressor 17 and the logic circuit checking compressor 15 and compared respectively with expected values stored beforehand in the memory 11 to diagnose the result inside the one-chip microcomputer 10.例文帳に追加

そして、ＣＰＵ１２の指令により組み込み自己検査を起動し、メモリ１１および論理回路群１３のテスト結果をメモリ検査用圧縮器１７および論理回路検査用圧縮器１５から読み出して、１チップマイクロコンピュータ１０内部において、あらかじめメモリ１１に記憶されている期待値とそれぞれ比較し結果診断を行う。 - 特許庁

In this fire prevention receiver 1 in a self fire alarm system which outputs fire alarm when a fire signal is received from a fire sensor installed in each section, the receiver is equipped with a test recovery switch 11A, a storage means 18 and a control means 10 for having the storage means 18 store the fire signal received from the fire sensor in turn.例文帳に追加

各地区毎に設置された火災感知器より火災信号を受信したときに、火災警報を出力する自火報システムにおける防災受信機１において、試験復旧スイッチ１１Ａ、記憶手段１８と、試験復旧スイッチ１１Ａが操作されたときには、火災感知器から受信した火災信号を、記憶手段１８に順番に記憶させる制御手段１０とを備えている。 - 特許庁

A cache line or a set, having defects, is deleted using array built-in self-test logic, together with the codes and hardware, a corresponding fuse repair value is distinguished, and call home is conducted by foreseeing the future, when a spare fuse cannot be used.例文帳に追加

アレイ組込みセルフテスト論理をコードおよびハードウェアと共に使用して、欠陥のあるキャッシュ・ラインまたはセットを削除し、対応するヒューズ修理値を識別し、予備ヒューズが使用不能な場合に先を見越してコール・ホームを行い、次のシステム再始動のためにソフト・ヒューズ修理をスケジューリングし、次の再始動時のライン削除をスケジューリングし、削除およびヒューズ修理をテーブルに保管し、ログ記録されていない欠けている削除がある場合にコール・ホームを行う。 - 特許庁

This controller is provided with a self-decision function for deciding whether scheduled operation can be carried out or not by calculating actual work process time from a previously inputted work process of a reagent reaction test.例文帳に追加

反応を開始させる試薬を注入してから反応停止試薬を注入するまでの時間を予め設定できる時間設定手段と、試薬を注入した時点から時間を実際の時間を計測する計時手段を設け、更に、予め入力された試薬反応試験の作業工程から、実際の作業工程時間を計算して時間通りの動作を実行できるか否かを判断する自己判断機能を制御装置に設けることにより解決できる。 - 特許庁

The semiconductor testing device performs a semiconductor test on a wafer where a circuit corresponding to a plurality of chips is formed, and is provided with a semiconductor testing implementation section 131 that performs a predetermined measurement while sequentially changing positions of chips contained in one wafer, and a self-diagnosis implementation section 134 when measurement results obtained by the section 131 on a predetermined number of chips continuously failed to satisfy the provided certain criteria.例文帳に追加

半導体試験装置は、複数のチップに対応する回路が形成されたウエハに対して半導体試験を行うものであり、一のウエハに含まれるチップの位置を順番に切り替えながら所定の測定を実施する半導体試験実行部１３１と、半導体試験実行部１３１による測定結果が所定数のチップについて連続してフェイルとなったときに、自己診断を実施する自己診断実行部１３４とを備えている。 - 特許庁