「self- test」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To shorten a computing process time for computing a correction value in a self-running test step to achieve efficiency of a manufacturing step of a disk drive.例文帳に追加

自走テスト工程での補正値を算出するための計算処理時間の短縮化を実現し、ディスクドライブの製造工程の効率化を図ることにある。 - 特許庁

At self diagnostic test, the memory macro 1 can be tested with an internal clock signal iCLK and a second latency value information L1 optimal to the memory macro.例文帳に追加

また自己診断試験時にはメモリマクロに最適な内部クロック信号ｉＣＬＫや第２レイテンシ値情報Ｌ１でメモリマクロ１の試験を実行することができる。 - 特許庁

To suppress addition of circuits by circuit design to the absolute minimum in circuit constitution provided with a test circuit for performing self-diagnosis of an internal RAM.例文帳に追加

内部ＲＡＭを自己診断するためのテスト回路を備えた回路構成においてテスト回路設計による回路追加を必要最小限に抑える。 - 特許庁

To self-test a communication system for performing transmission- reception at high communication speed at its actual operating speed at low cost without increasing a chip area.例文帳に追加

チップ面積を増大させることなく安価に、高速な通信スピードで送受信を行う通信システムを、実動作スピードで自己テストすることができるようにする。 - 特許庁

The self-testing system 10 executes various testing programs in a testing set, and maintains a history record of a test result from the set in a nonvolatile memory 30.例文帳に追加

自己試験システムは、試験セットにおける様々な試験プログラムを実行し、以前の試験セットからの試験結果の履歴レコードを不揮発性メモリに維持する。 - 特許庁

When repair is performed by a spare cell of an adjacent memory block for a defective cell of a self-block as this invention, a memory test time can be shortened by matching the cell data topology, and the complexity of a test program can be reduced.例文帳に追加

本発明のように自己ブロックの不良セルを隣接したメモリブロックのスペアセルでリペアーした場合セルデータトポロジーを合わせることでメモリテスト時間を短縮させることができテストプログラムの複雑度を減少させることができる。 - 特許庁

To provide core and clad compositions for a self-forming optical waveguide which are not deteriorated in an accelerated degradation test in which a high temperature state and a low temperature state are repeated and in a degradation test in which a high humidity state is kept, and to provide the optical waveguide.例文帳に追加

高温状態と低温状態とを繰り返す加速劣化試験及び高湿状態を保持する劣化試験において、劣化しない自己形成光導波路のコア及びクラッド組成物と光導波路の提供。 - 特許庁

To reduce a test cost by performing a simultaneous collective contact to the entire chips on a wafer in high accuracy and low cost, allowing a Built In Self Test (BIST) to be most efficiently performed for a semiconductor integrated circuit using a built-in circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の自己内臓回路によるセルフテスト（ＢＩＳＴ）を、最も効率よく実行するためのウエハー全チップ一括同時コンタクトを、高精度且つ低コストで行うことにより試験コストの低減を目的とする。 - 特許庁

Then, the management server 50 specifies the implementation date and time information of a self diagnostic test and a device ID for the detected determined result data and transmits the retransmission request of corresponding test result data to the pertinent communication facilities.例文帳に追加

そして、管理サーバ５０は、検出した判定結果データについて自己診断試験の実施日時情報および装置ＩＤを特定し、該当する通信設備に対して対応する試験結果データの再送要求を送信する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device provided with a self-diagnostic test function that dispenses with complicated control by the arrangement of a complicated and large-scale circuit configuration and can flexibly cope with even revisions and additions of test specifications.例文帳に追加

複雑で大規模な回路構成を備えて複雑な制御をする必要なく、テスト仕様の変更や追加に対しても柔軟に対応することができる自己診断テスト機能を備えた半導体記憶装置を提供すること - 特許庁

A fire alarm is provided with a self-holding circuit 69 which holds the transmission state of a fire signal by itself at the time of fire detection and artificial fire detection by a test signal from a remote tester and a reset circuit 70 which resets the self-holding of the self-holding circuit 69 a certain time after the artificial fire detection.例文帳に追加

火災感知器には、火災検出時および遠隔試験器からの試験信号による擬似的な火災検出時に、火災信号の送出状態を自己保持する自己保持回路６９と、試験信号による擬似的な火災検出から一定時間後に自己保持回路の自己保持を解除するリセット回路７０を設ける。 - 特許庁

To provide a starting method and starting device of a computer and a computer system for checking whether or not a self-diagnostic test of a CPU of the computer is normally performed.例文帳に追加

コンピュータのＣＰＵの自己診断試験が、正常に行われているかどうかをチェックするコンピュータの起動方法、起動装置およびコンピュータシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of securing the freedom of expected values in a function evaluation test and incorporating a self-diagnosis function capable of simplifying a device configuration.例文帳に追加

機能評価テストにおける期待値の自由度を確保し、且つ、装置構成を簡略化することができる自己診断機能を内蔵する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a compact, easy-to-carry, and simple automatic self- performing device for a liquid turbidity object clarifying test which is suitably used for sales promotion, etc., of a liquefied vegetable processed food.例文帳に追加

液状植物加工品の販売促進等に好適に用いられるコンパクトで持ち運びが容易で簡便な、液状混濁物清澄試験の自動・自演装置の提供。 - 特許庁

When the adjustment mode switch of the radar device is turned on, the radar device is shifted to self adjustment mode and is automatically calibrated through loopback test using the testing device.例文帳に追加

そして、レーダ装置の調整モードスイッチをＯＮすると、レーダ装置が自己調整モードに移行し、試験装置を介したループバック試験で自動的にキャリブレーションが行われる。 - 特許庁

To provide a self-diagnosis system and an inspection circuit determination method that allow determination of normality of an inspection circuit for executing an diagnosis of a test target circuit.例文帳に追加

テスト対象回路の診断を実行する検査回路の正常性を判定することができる自己診断システム及び検査回路判定方法を提供すること - 特許庁

Since the base portions of the detectors 20U, 20L are fixed to and held by the supporting devices 30U, 30L, the self-weight of the detectors 20U, 20L does not act on the test piece TP.例文帳に追加

検出器２０Ｕ，２０Ｌの基端側は支持装置３０Ｕ，３０Ｌに固定保持されているので、検出器２０Ｕ，２０Ｌの自重が試験片ＴＰに作用しなくなる。 - 特許庁

To provide a method for heating and cooling test, capable of testing by imparting a thermal conduction phenomenon the same as self-heating to an electronic component mounted on a circuit board.例文帳に追加

回路基板に実装された電子部品に、自己発熱と同様の熱伝導現象を与えて試験できる加熱冷却試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The JTAG mechanism 43 is connected to a BIST(built in self test) control circuit 44 for controlling a pseudo random code string generating circuit 41 and a pseudo random code string collating circuit 42.例文帳に追加

ＪＴＡＧメカニズム４３は擬似ランダム符号生成回路４１及び擬似ランダム照合回路４２の制御を司るＢＩＳＴ制御回路４４に接続されている。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory device which can store a defective block address with a smaller memory capacity compared with a conventional technology, and its self-test method.例文帳に追加

不良ブロックアドレスを、従来技術に比較して少ない記憶容量で記憶することができる不揮発性半導体記憶装置とその自己テスト方法を提供する。 - 特許庁

To realize a temporally parallel test between a predetermined circuit block having a self-diagnosis circuit and another circuit block in a testing method for an IC having a plurality circuit blocks.例文帳に追加

複数の回路ブロックを有するＩＣのテスト方法において、自己診断回路を有する所定の回路ブロックと、その他の回路ブロックとの時間的な並列テストを実現する。 - 特許庁

To provide a built-in self-test(BIST) system that tests normality of data transmission at a payload level in a satellite communication system and of a communication satellite in the system.例文帳に追加

衛星通信システムおよびシステム内の通信衛星のペイロード・レベルにおいて、データ伝送の正常性を検査する内部自己検査（ＢＩＳＴ）システムを提供する。 - 特許庁

Each subprocessor 21-26 reads its own self-test program from the ROM 34 for the subprocessors and executes it before the setting of the DDR 33 by the main processor 11 is performed.例文帳に追加

各サブプロセッサ２１〜２６は、メインプロセッサ１１によるＤＤＲ３３の設定が行われる前にサブプロセッサ用ＲＯＭ３４から自身のセルフテストプログラムを読み出して実行する。 - 特許庁

To enable to measure easily and quantitatively color vision characteristics by using a color space that can be displayed on a display, and to enable a test subject to conduct a self-evaluation perceptually.例文帳に追加

ディスプレイ上に表示できる色空間を利用して、色覚特性を簡単且つ定量的に測定でき、しかも被験者が知覚的に自己評価するシステム等の提供。 - 特許庁

To enable customers to freely examine blood of humans or animals by self-service by setting up an automatic clinical examination place having a noninvasive blood test apparatus.例文帳に追加

非侵襲血液検査装置を設置する自動臨床検査所を開所することにより、お客が人又は動物の血液検査をセルフサービスで自由に行うことを可能にする。 - 特許庁

A device, obtaining an effective value during logic built-in self test(LBIST), includes a first multiplexer 111, a second multiplexer 115, and a 1 hot 'init' circuit 113.例文帳に追加

論理の組み込み自己試験（ＬＢＩＳＴ）中に有効値を得る装置は、第一マルチプレクサ１１１、第二マルチプレクサ１１５および１ホットｉｎｉｔ回路１１３を含む。 - 特許庁

The energy source 26 of a thermal tissue operation system 10 executes self test by using the simulation heating element and jaw heating element of the tissue grasping jaws 14 and 16 of a handpiece 12.例文帳に追加

熱組織手術システム１０のエネルギ源２６が、ハンドピース１２の組織把持ジョー１４、１６のシミュレーション加熱素子およびジョー加熱素子を用いて自己診断を実施する。 - 特許庁

A register circuit 106 provided in the built-in self test circuit of the memory changes test contents by performing setting change of an address generating circuit 101, an input data generating circuit 102, a control signal generating circuit 103, and an expected value data generating circuit 104 based on test setting data td received from the outside.例文帳に追加

メモリの組み込み自己テスト回路に備えたレジスタ回路１０６が、外部から受信したテスト設定データｔｄに基づいて、アドレス生成回路１０１、入力データ生成回路１０２、制御信号生成回路１０３及び期待値データ生成回路１０４の設定変更を行うことによりテスト内容を変更する。 - 特許庁

When an apparatus determination part 15 determines that the magnetic storage apparatus requires no execution of self STW, a first adjustment control part 11 and a test control part 12 control the magnetic storage apparatus to execute an adjusting operation for a write/read test and the write/read test in order.例文帳に追加

装置判別部１５により、磁気記憶装置がセルフＳＴＷの実行が必要な装置でないと判別された場合には、第１の調整制御部１１および試験制御部１２の制御により、この磁気記憶装置にそれぞれ書き込み／読み出し試験のための調整動作および書き込み／読み出し試験を順に実行させる。 - 特許庁

A successive approximation type A/D converter mounted on an LSI chip 10a is allowed to have a self-test function, and the conversion test of the successive approximation type A/D converter circuit 18a can be made with voltage generated from a built-in DAC circuit 22 as an analog input voltage AIN.例文帳に追加

LSI チップ10a に搭載された逐次比較型A/D コンバータ回路18a にセルフテスト機能を持たせ、内蔵DAC 回路22から生成した電圧をアナログ入力電圧AIN として逐次比較型A/D コンバータ回路の変換テストを行なうことを可能とした。 - 特許庁

Also, the self-test circuit instructs operation start to the discharge circuit in response to the instruction of operation start to the cutoff circuit in a test for holding data of the memory block, and instructs operation stop to the discharge circuit in response to the instruction of operation stop to the cutoff circuit.例文帳に追加

更に、自己試験回路は、メモリブロックのデータ保持に関する試験の際に、遮断回路への動作開始の指示に合わせて放電回路に動作開始を指示し、遮断回路への動作停止の指示に合わせて放電回路に動作停止を指示する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which operation can be performed by only one test result output terminal even when a plurality of memories having different specifications one another, in a one chip type semiconductor device which mounts a memory and can perform a self test of the memory.例文帳に追加

メモリを搭載し、メモリの自己テストを実行可能な１チップ型半導体装置において、相異なる仕様を持つ複数のメモリを搭載する場合でも、テスト結果出力端子を１つで済ますことができる半導体装置の提供。 - 特許庁

This one-chip microcomputer 10 is provided with a starting register 18 for starting test operation for an incorporation self-checking function, and an incorporation self-check starting pattern generator 19 for setting an initial value to a test control circuit (a pseudo random number generator 14, a logic circuit checking compressor 15, a pattern generator 16 and a memory checking compressor 17).例文帳に追加

１チップマイクロコンピュータ１０は、組み込み自己検査機能のために、テスト動作を起動する起動レジスタ１８と、テスト制御回路（疑似乱数発生器１４、論理回路検査用圧縮器１５、パターン発生器１６、メモリ検査用圧縮器１７）に初期値を設定する組み込み自己検査起動パターン発生器１９とを備えている。 - 特許庁

When a seek control flag for self diagnosis is set, a seek control part 5 sets a cylinder value for self-diagnosis test and seek instructions to a servo control firmware 6 so that a head is positioned on a cylinder for diagnosis which is provided on the system area of a disk 9.例文帳に追加

自己診断用シーク制御フラグがセットされている場合には、シーク制御部５は、ディスク９のシステムエリア上に備えられた診断用シリンダにヘッドを位置づけるように、自己診断テスト用シリンダ値およびシーク命令をサーボ制御ファーム６にセットする。 - 特許庁

The method for predicting powder fluidity relates in advance a maximum self-supporting height per unit area by a self-support test and a measured flow function (FF) about a plurality of given powders, and estimates the flow function of a certain powder from the maximum self-supporting height of the powder, in reference to the relations, to predict the fluidity of the powder.例文帳に追加

粉体の流動性を予測する方法であって、複数の所定の粉体について、自立試験における単位面積当りの自立最高高さと、実測したフローファンクション（ＦＦ）とを前もって関連づけ、ある粉体の自立最高高さからその粉体のフローファンクションを、その関連づけに基いて推定することにより、その粉体の流動性を予測する。 - 特許庁

The built-in self-test circuit is provided with a test control part 21 generating a memory selecting signal, an address generating part 23 generating a write-in address, a data generating part 22 generating an output expected value, and a control signal generating part 24 generating a control signal.例文帳に追加

組込自己テスト回路は、メモリ選択信号を生成するテスト制御部２１と、書込アドレスを生成するアドレス生成部２３と、出力期待値を生成するデータ生成部２２と、制御信号を生成する制御信号生成部２４と、を備えている。 - 特許庁

The Japanese government commissioned to the Japan Fine Ceramic Association a project to establish international standards for methods and criteria for assessment of photocatalysts, and submitted proposals on the methods, including a test method for evaluation of self-cleaning performance and test methods for evaluation of water purification performance.例文帳に追加

そこで、政府は、日本ファインセラミックス協会に事業を委託し、光触媒の評価方法や評価基準に関する国際標準の策定を図り、セルフクリーニング性能評価試験方法、空気浄化性能評価試験方法等を順次提案した。 - 経済産業省

To provide a semiconductor integrated circuit, which has a circuit to be tested composed of plural memory cells and a BIST(built-in self test) circuit, wherein the circuit to be tested can be made compact.例文帳に追加

複数のメモリセルからなる被試験回路とＢＩＳＴ回路とを有する半導体集積回路であって、被試験回路を小型化可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

This semiconductor memory is provided with a BIST(built-in self test) computing unit 14 and a special algorithm for a defective memory cell, word line, and a bit line, and a redundant memory cell, a bit line, and a word line are determined.例文帳に追加

故障したメモリセル、ワードラインならびにビットラインのために、ＢＩＳＴ計算ユニット１４および特別なアルゴリズムを用いて、冗長的なメモリセル、ビットラインならびにワードラインを求める。 - 特許庁

To provide a self-test built-in SDRAM controller for safely performing verify check by making a memory controller itself have the function of verify check.例文帳に追加

本発明の課題は、メモリコントローラ自体にベリファイチェックの機能を持たせることにより、安全にベリファイチェックを行うことができる自己試験内蔵ＳＤＲＡＭコントローラを提供することにある。 - 特許庁

An input vector composed of the value of the clinical test result of a subject is inputted to the completed self-organizing map to display the medical examination and treatment support information corresponding to an fired cell.例文帳に追加

完成された自己組織化マップに被験者の臨床検査結果の値からなる入力ベクトルを入力し、発火したセルに対応する診療支援情報を表示させる。 - 特許庁

To perform a boot by a boot medium even when noticing forgetting to set the boot medium in a recording medium installation/uninstallation drive during POST (Power-On Self Test) processing.例文帳に追加

ブート媒体を記録媒体着脱ドライブにセットするのを忘れてしまったことにＰＯＳＴ処理中に気付いた場合であっても、そのブート媒体による起動を実現すること。 - 特許庁

To provide a method of monitoring a heat treatment system in real time by using a built-in self-test (BIST) table for detecting, diagnosing and/or predicting a failure condition and/or the deterioration of performance.例文帳に追加

不具合条件かつ／または性能劣化を検出、診断、かつ／または予知するため、内蔵自己テスト（ＢＩＳＴ）テーブルを用いて、熱処理システムを実時間でモニタする方法を提供する。 - 特許庁

The voltage regulator circuit, capable of regulating voltages at a plurality of voltage sources has a testing control unit, a multiplexer, a comparator and a BIST (built-in self test) unit.例文帳に追加

電圧調整回路として、試験制御装置とマルチプレクサとコンパレーターとＢＩＳＴ装置とを備える、複数の電圧源の電圧を調整できる電圧調整回路を用いる。 - 特許庁

This pseudo error signal generating circuit 30 converts an output signal of the memory circuit in accordance with a setting signal, and supplies a pseudo error signal required for verifying operation of the self-test circuit.例文帳に追加

この擬似エラー信号発生回路３０は、メモリ回路の出力信号を設定信号に応じて変換して、自己テスト回路の動作検証に必要な擬似エラー信号を供給する。 - 特許庁