「semiconductor testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(29ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a testing device and a test method of a semiconductor integrated circuit capable of facilitating control of a BOST device, and improving versatility.例文帳に追加

ＢＯＳＴ装置の制御の容易化を図ると共に、汎用性を向上することができる半導体集積回路の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a method of manufacturing semiconductors, in which a semiconductor manufacturing apparatus operates its boat efficiently by allowing the boat to handle two types of testing wafers at the same time and independently.例文帳に追加

半導体製造装置のボートにおいて２種類のテストウェーハを同時に独立して能率的に運用できる半導体製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device, the adjustable range of which is wide and capable of precise skew adjustment without inviting a large circuit scale.例文帳に追加

大幅な回路規模の増大を招くことなく、調整可能範囲が広く且つ高精度にスキュー調整を行うことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing inhibiting test time from increasing while preventing a normal semiconductor integrated circuit from being determined to be defective.例文帳に追加

正常な半導体集積回路が不良と判定されることを防止しながら、試験時間の増大を抑制することが可能な試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory tester for efficiently testing a high-speed memory by programming according to parameters of a device without any complex program processing.例文帳に追加

高速メモリのテストを、複雑なプログラム処理を伴うことなくデバイスのパラメータ通りにプログラムすることで効率よく行える半導体メモリテスタを実現すること。 - 特許庁

To provide a testing device capable of preventing a noise from being applied onto a semiconductor chip or the like of a tested object, and capable of measuring an electric characteristic stably.例文帳に追加

ノイズが被試験対象の半導体チップ等に加わることを防止し、安定的に電気的特性を測定できる試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which shares a read/write amplifier among a plurality of banks and a method for testing the same, capable of improving test efficiency.例文帳に追加

テスト効率を向上させることができる、リードライトアンプを複数のバンクで共有する半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a prober capable of conducting an accurate test without reference to variation in test temperature, and a semiconductor wafer testing method using the same.例文帳に追加

検査温度の変化にかかわらず、正確な検査を行なうことが可能なプローブ装置及びそれを用いた半導体ウェハの検査方法を提供する。 - 特許庁

Since the power supply device thus configured can cope with various situations, it is suitable for use in the semiconductor testing device in which the numerous module substrates are selected and used.例文帳に追加

多様な状況に対応することができるので、多数のモジュール基板を選択して用いる半導体試験装置に用いて好適である。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device reducing overhead time and reducing test time, by reducing the traffic of a command of a system bus.例文帳に追加

システムバスのコマンドの通信量を軽減することでオーバーヘッド時間を短縮し、試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device having non-volatile memory elements with which testing at a high temperature is possible and shortening of the manufacturing process is realized.例文帳に追加

高温での試験が可能となり製造工程の短縮を実現する不揮発性記憶素子を有する半導体装置の製造方法の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which can cope with wafer level burn-in tests and can facilitate design of testing circuits.例文帳に追加

ウェハーレベルでのバーンインテストに対応可能であって、テスト用の回路の設計容易化が見込める半導体集積回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus which stores data in a predetermined address of a memory without preprocessing of calculating each test to shorten a calculating time.例文帳に追加

本発明は、各試験の演算の前処理無しに、所定のメモリのアドレスの番地へ格納させて演算時間を短縮した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of resuming a sequence for connection of each unit without using information stored in a memory.例文帳に追加

各ユニットを接続するシーケンスを再開するときに、メモリに記憶された情報を使用することなく、シーケンスを再開できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To realize a semiconductor device in which a plurality of electronic components can be mounted in lower height with higher density after the testing without reduction of the manufacturing yield.例文帳に追加

製造歩留まりを低下せずにテスト終了後の複数の電子部品を高密度に薄く実装することができる半導体装置を実現する。 - 特許庁

To provide an inspection device and a burn-in testing device for a semiconductor device capable of specifying a defective mode and a fault mode, performing analysis and predicting market defects further.例文帳に追加

不良モード，故障モードの特定、解析さらには市場不良予測が可能な半導体装置の検査装置およびバーンイン試験装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device, in which the optimal drive performance can be selected at testing and at normal usage time, to realize low power consumption at normal usage time.例文帳に追加

テスト時と通常使用時で最適なドライブ能力を選択でき、通常使用時に低消費電力化を図る半導体装置を得ることである。 - 特許庁

To provide semiconductor wafer reduced in the manufacturing cost thereof and the testing method of a ferroelectric memory device which is capable of reducing the manufacturing cost of the same.例文帳に追加

製造コストが低減された半導体ウエハ、ならびに製造コストを低減することができる強誘電体メモリ装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus, capable of reducing the cost of the logical comparator for logical comparison of an LCD driver IC having a large number of driver outputs.例文帳に追加

本発明は、ドライバ出力数の多いＬＣＤドライバＩＣの論理比較する論理比較器のコストを低くできる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing device is also configured such that an irradiation position for the laser beam within a predetermined, three-dimensional area within the semiconductor device 15 can be scanned.例文帳に追加

また、半導体装置１５内部の３次元的な所定の領域内においてレーザ光の照射位置が走査可能となるように構成される。 - 特許庁

To achieve a testing method and IC tester of a semiconductor integrated circuit capable of detecting a short between pins even when it is not a complete short.例文帳に追加

完全なショートでなくとも、ピン間ショートの検出が行える半導体集積回路の試験方法及びＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus for using effectively merits of a fixed-type connector and a floating connector, as to the connectors used in a mother board portion.例文帳に追加

マザーボード部分に使用されるコネクタに付いて、固定式コネクタとフローティングコネクタの利点を有効に利用できる半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device realizing a good test in both of a terminal mode and a high resistance mode of driver.例文帳に追加

本発明の目的は、ドライバが終端モード、高抵抗モードのどちらであっても、良好な試験を実現する半導体試験装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which applies test pattern data to many DUTs without complicating a layer constitution of a printed board.例文帳に追加

プリント基板の層構成を複雑化させることなく、多数のＤＵＴに対して試験パターンデータを印加することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, METHOD FOR TESTING THE SAME, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE THE METHOD RECORDED THEREON例文帳に追加

半導体集積回路、半導体集積回路のテスト方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To accurately measure devices and improve delivery quality by adapting to the case that semiconductor testing apparatuses change in a short period with the passage of time.例文帳に追加

半導体試験装置の短期間の経時における変化が発生する場合に対応し、デバイスを正確に測定し、出荷品質を向上させる。 - 特許庁

The present invention relates to a test assembly for testing a product circuit of a product die, and a product and a test die are prepared on a semiconductor wafer.例文帳に追加

本発明は、製品ダイの製品回路をテストするためのテストアセンブリに関するもので、製品及びテストダイは別個の半導体ウェハ上に作製される。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which a package testing is conducted within a bandwidth other than a default bandwidth without correcting the wiring for a package option pad.例文帳に追加

パッケージオプションパッドに対するワイヤーリングの修正なしにデフォルトバンド幅以外のバンド幅でパッケージテストを行うことのできる半導体メモリ素子を提供する。 - 特許庁

To surely perform a memory test of a serial memory device with simple constitution, in a memory test apparatus testing a semiconductor memory device.例文帳に追加

本発明は、半導体メモリデバイスを試験するメモリ試験装置に関し、シリアル・メモリデバイスのメモリ試験を簡単な構成で確実に実施できるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, reducing a test time for outputting a result of comparing a data pattern for testing with a data read out from a memory cell array.例文帳に追加

テスト用のデータパターンとメモリセルアレイから読み出したデータとの比較結果を出力するテスト時間を短縮する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a program production system of a semiconductor testing device which reduces the trouble of developing an OS and a test program and simplifies debugging work.例文帳に追加

ＯＳやテストプログラムの開発の手間を低減でき、デバッグ作業を簡略化することができる半導体試験装置のプログラム作成方式を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of easily changing the speed of a pattern to be applied to a DUT by an inexpensive configuration without using on-the-fly timing control.例文帳に追加

安価な構成でオンザフライタイミング制御によらずにＤＵＴに与えるパターンの速度を容易に変えることが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To increase the number of chips, which are in parallel, and to efficiently test semiconductor chips on a wafer by testing wafer levels at the same time without using a CS signal.例文帳に追加

ＣＳ信号を用いずにウェハレベルのテストを同時に行うことを可能とし、チップの並列数を増やして効率よくウェハ上の半導体チップをテストする。 - 特許庁

To provide a signal output device and a semiconductor testing device using the same, which can reduce power consumption, size, and cost.例文帳に追加

消費電力を低減させると共に小型化およびコスト低減が可能な信号出力装置およびこれを用いた半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of eliminating waste in storage capacity in a pattern memory, as well as detecting an error at a high speed by hardware.例文帳に追加

パターンメモリにおいて記憶容量の無駄を廃すると共に、ハードウェアによって高速にエラー検出をすることが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a parallel processing method for it having a plurality of memory banks, a controller, and a data processing processor for performing measurement and data processing in parallel.例文帳に追加

複数のメモリバンクとコントローラとデータ処理プロセッサとを備え、測定の実行とデータ処理を並行して行う半導体試験装置と並列処理方法。 - 特許庁

In this semiconductor testing device, the above approximate waveform with high approximate precision is used as a test signal, whereby the quality judgment can be precisely performed.例文帳に追加

半導体試験装置において、上述した近似精度の高い近似波形を試験信号とすることで良否判定が正確に行うことが可能となる。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing device flexibly stopping application and determination of test signals without drastically increasing a circuit scale.例文帳に追加

回路規模の大幅な増大を招くことなく、試験信号の印加や判定を柔軟に停止させることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To perform an operation margin test in case that a duty ratio varies while dispensing with the need for changing the duty ratio of an input clock signal in testing a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の試験の際に、入力クロック信号のデューティ比を変更する必要なく、デューティ比が変動した場合の動作マージン試験を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of testing the operation margin of an internal circuit while separating address latch operation from internal operation according to a command input.例文帳に追加

アドレスラッチ動作とコマンド入力に応じた内部動作とを切り分け、内部回路の動作マージンを試験できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of suppressing the transfer quantity of pattern files inside to the minimum to reduce the test time of semiconductors.例文帳に追加

内部におけるパタンファイルの転送量を最小限に抑え、半導体の試験時間を軽減することを可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which is not easily placed in test mode even when high voltage noise is input to a terminal also used for testing.例文帳に追加

この発明は、テスト兼用端子に高電圧のノイズが入力された場合でも容易にテストモードに入ることのない半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a shorter test time and a reduction of a circuit area in a comparator test circuit and a semiconductor integrated circuit for testing a plurality of comparators.例文帳に追加

複数のコンパレータをテスト対象とするコンパレータテスト回路及び半導体集積回路において、テスト時間の短縮と回路面積の縮小を提供する。 - 特許庁

For testing of the semiconductor module 1, probes 22 of the tester 30 are electrically connected to the internal electrodes 16 via through-holes 17.例文帳に追加

また、半導体モジュール１の検査の際には、スルーホール１７を通じて、検査装置３０のプローブ２２が内部電極１６と電気的に接続される。 - 特許庁

To shorten the test time without using an expensive tester at the time of testing a semiconductor storage device.例文帳に追加

半導体記憶装置の検査を行うに際し、高価なテスターを用いることなく検査時間の短縮を図ることができるようにすることを目的とする。 - 特許庁