「testing point」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

METHOD AND DEVICE FOR TESTING DEW-POINT CORROSION ACCELERATION例文帳に追加

露点腐食促進試験方法及び試験装置 - 特許庁

PRESS STARTING POINT DETECTING METHOD AND HARDNESS TESTING DEVICE例文帳に追加

押し込み開始点検出方法および硬さ試験装置。 - 特許庁

To provide a prober device which can locate a probe in a testing point by obtaining the height of a fine testing point.例文帳に追加

微小な試験点の高さを求め、プローブを試験点に位置決めすることができるプローバ装置を提供する。 - 特許庁

POINT PENETRATION TESTING MACHINE USING DYNAMIC CONE PENETRATION TESTING MACHINE AND PENETRATION TESTING MACHINE USED FOR THE METHOD例文帳に追加

動的円錘貫入試験機を利用したポイント貫入試験方法と、この方法に使用する貫入試験機 - 特許庁

As for measurement points by the testing machine, a sea bottom point where the testing machine arrives is grasped and recorded by an underwater sound wave probe.例文帳に追加

試験機の測定点は水中音波探査機により、試験機の着底点が把握され、記録される。 - 特許庁

SCANNED MEMORY TESTING METHOD OF MULTI-PORT MEMORY ARRAY (MEMORY ARRAY, MEMORY ARRAY TESTING METHOD, AND MULTI-PORT FLOATING POINT REGISTER)例文帳に追加

マルチポート・メモリ・アレイの走査メモリ・テスト方法（メモリ・アレイ、メモリ・アレイのテスト法、及びマルチポート浮動小数点レジスタ） - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DETECTING CHANGE POINT OF MEASURED SIGNAL, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

被測定信号の変化点を検出する装置、方法および試験装置 - 特許庁

FLASH POINT DETECTING DEVICE AND DIELECTRIC STRENGTH TESTING METHOD FOR GAS INSULATED ELECTRIC DEVICE USING THE SAME FLASH POINT DETECTING DEVICE例文帳に追加

閃絡点検出装置及びこの閃絡点検出装置を用いたガス絶縁電気装置の耐電圧試験方法 - 特許庁

METHOD OF DETECTING CHANGE POINT OF SIGNAL OUTPUTTED BY SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TIME MEASURING DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスが出力する信号の変化点検出方法、半導体デバイス試験方法、半導体デバイス試験装置、時間測定装置 - 特許庁

This version of the BPEL Designer contains features to make testing a point-and-click experience. 例文帳に追加

このバージョンの BPEL デザイナーには、テストをポイントしてクリックで行うことができる機能が含まれています。 - NetBeans

A deleted inspection point index calculating part 111 calculates deleted inspection point index information 123 reflected with an index expressing easiness for testing an inspection point based on circuit information 121 and inspection point information 122.例文帳に追加

削除検査点指標計算部１１１は、回路情報１２１と検査点情報１２２から、検査点のテスト容易性を表わす指標を反映した削除検査点指標情報１２３を計算する。 - 特許庁

The methods and devices are particularly useful for providing point-of-care testing for a variety of medical applications.例文帳に追加

方法およびデバイスは、様々な医学的応用のためのポイントオブケア検査を行うのに特に有用である。 - 特許庁

This version of the BPEL Designer contains features to make this testing a point-and-click experience. 例文帳に追加

このバージョンの BPEL デザイナーには、このテストをポイントしてクリックで行うことができる機能が含まれています。 - NetBeans

To provide a system and a method collecting and testing data at a patient's point of care location.例文帳に追加

患者のポイントオブケアの場所においてデータを収集および検査するシステムおよび方法を提供すること。 - 特許庁

Thus, the attitude of the penetration testing machine is adjusted so that the center of the penetration rod 6 is aligned with the intersection point C, whereby the penetration testing machine can be installed in a predetermined attitude.例文帳に追加

これにより、貫入ロッド６のセンタが交点Ｃに合うように貫入試験機の姿勢を調整することにより、貫入試験機を所定の姿勢に設置することができる。 - 特許庁

(2) This scratchability testing device comprises the testing machine according to claim 1 or 2, the floor material horizontally placed on a mounting base; a traveling inclined passage for the testing machine set at an angle of 10-20° to the floor material, and a stopper mechanism for stooping the testing machine provided on the inclined passage at a traveling start point.例文帳に追加

（２）請求項１又は２記載の試験機、載置台上に水平に載置された床材、該床材に対し１０〜２０°の角度で設置された前記試験機の走行用傾斜路、該傾斜路に設けられた前記試験機を走行開始点に停止させておくストッパー機構よりなることを特徴とする床材用傷付き性試験装置。 - 特許庁

To solve such a problem that an automatic inspection device suitable for point of care testing does not support an inspection other than a general biochemistry item in general.例文帳に追加

ポイント・オブ・ケア・テスティングに適した自動検査装置は、一般に、一般生化学項目以外の検査に対応していない。 - 特許庁

A power supply part 22 of the LSI testing apparatus 2 supplies power supply voltage to the LSI 11 and a reference voltage waveform point 121.例文帳に追加

ＬＳＩ試験装置２の電源部２２は、ＬＳＩ１１および基準電圧波形ポイント１２１へ電源電圧を供給される。 - 特許庁

To provide a method of detecting reference point via for collating examined printed board coordinates with testing device robot coordinates, after mounting the examined printed board, in a printed board testing device.例文帳に追加

本発明は、プリント板試験装置において、被試験プリント板を実装した後に、被試験プリント板座標と試験装置ロボット座標を照合するための基準点ビアを検出する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing question collection book for evaluating according to a point of view capable of easily grasping what is an essential evaluating point of view of most importance of a learning unit relatively corresponding to its test sheet.例文帳に追加

そのテスト用紙が相対応する学習単元の最重要な主要評価観点が何であるかを容易に把握できる観点別評価用テスト問題集を提供する。 - 特許庁

As the result that the testing access is executed in one or more access routes by a failure specification means 11c, the constituent element of the failure point candidate that is last one is set as the failure point.例文帳に追加

障害特定手段１１ｃにより、１以上のアクセスルートでテスト用アクセスが実行された結果、最後の１つとなった障害箇所候補の構成要素が障害箇所とされる。 - 特許庁

To provide a point penetration testing method using a dynamic cone penetration testing machine and a penetration testing machine used for the method capable of measuring N-value of more accurate ground in a state to have no circumferential frictional resistance by soil while preventing the collapse of the ground without using any bentonite.例文帳に追加

ベントナイトを使用せず、地盤の崩壊を防ぎ、土による周面摩擦抵抗の無い状態で、より正確な地盤のＮ値を測定できる動的円錘入試験機を利用したポイント貫入試験方法とこの方法に使用する貫入試験機の提供。 - 特許庁

To quickly make alignment of a lens under testing while capable of under standing the moving direction of the lens at the time of making the alignment of the point marking etc.例文帳に追加

被検レンズへ印点等のアライメントに際し、レンズの移動方向を一目で判断でき、アライメントを迅速に行えるようにする。 - 特許庁

According to the bubble point testing prescribed in JIS K3832, the lowest pressure producing continuously bubbles is 0.05-1.5 MPa.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ３８３２に規定されているバブルポイント試験法において、気泡が連続的に生じる最低圧力は０．０５〜１．５ＭＰａである。 - 特許庁

To provide a circuit board testing device capable of bringing a probe into contact with a measuring point on a circuit board with a proper pressure, concerning the circuit board testing device having a circuit board holding tool for holding the circuit board and a probe holding tool for holding the probe for measuring the measuring point in contact with the measuring point on the circuit board.例文帳に追加

回路基板を保持する回路基板保持具と、回路基板の被測定点に接触して被測定点の計測を行うプローブを保持するプローブ保持具とを有する回路基板試験装置であって、回路基板の被測定点に適度な圧力でプローブを接触させることができる回路基板試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

The generator 20 transmits the testing frame to the POS channel N synchronously with a trigger signal showing a starting time point and an ending time point of the sampling period to be output from the POS probe unit 10.例文帳に追加

フレーム発生装置２０は、ＰＯＳプローブ装置１０から出力される、サンプリング期間の開始時点及び終了時点を示すトリガ信号に同期してＰＯＳ回線Ｎに試験フレームを送信する。 - 特許庁

To obtain a PDS optical line supervisory system capable of specifying an abnormity point in a plurality of subscriber side transmission lines with one testing device.例文帳に追加

一台の試験装置により複数の加入者側伝送路中の異常点の特定を可能とするＰＤＳ光線路監視システムを得る。 - 特許庁

To provide a method for measuring a lactic acid dehydrogenase which is useful for inspection sensor for the purpose of "Point of care testing".例文帳に追加

Ｐｏｉｎｔ ｏｆ ｃａｒｅ ｔｅｓｔｉｎｇを目的とする検査センサに有用な乳酸脱水素酵素の測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a time domain reflection factor meter-testing device that is easy to manufacture, is inexpensive, and can test a matching impedance test point.例文帳に追加

製造が容易で安価な整合インピーダンス試験点の試験ができる自動化された時間領域反射率計試験装置を提供する。 - 特許庁

The second substrate 2 has on a second surface 22 a second semiconductor chip 30 and a second test point 25 for testing the second semiconductor chip 30.例文帳に追加

また、第２基板の第２表面２２には、第２半導体チップ３０と、この第２半導体チップ３０をテストするための第２テストポイント２５とが形成されている。 - 特許庁

To provide a percussive penetration testing apparatus for investigating a bed structure at a hammering point and the strength of a ground by penetrating a rod into the ground by hammering.例文帳に追加

本発明は、ロッドを打撃して地中に貫入し、そのポイントの地層構造や地盤強度を調査する打撃貫入試験装置を提供する。 - 特許庁

In the thermal shock testing device 1, the sample W is exposed under the testing environment over a prescribed exposure time counted from a time point with the lapse of the difference time, after the detection temperature by the environment temperature detecting sensor 9 reaches the prescribed set temperature, in an objective test.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、本試験において、環境温度検知センサ９の検知温度が所定の設定温度に到達した後、差異時間が経過した時点から所定の晒し時間にわたって試料Ｗを試験環境下に晒す。 - 特許庁

To provide a detection method capable of easily detecting the yield point of a solid material, which can not be calculated by a conventional method, by a tensile testing method using a weight type control method based on a viewpoint different from a conventional tensile testing method.例文帳に追加

従来の引張試験方法とは異なる観点に基づいた重り式制御法を用いた引張試験方法により、従来方法では求めることができなかった固体材料の降伏点を容易に検出できる検出法を提供する。 - 特許庁

The prober assembly is also configured to test fractional sections of the large-area substrate positioned on a testing table, and the prober assembly can be configured for different display and contact point patterns, without having to remove the prober assembly from the testing table.例文帳に追加

プローバアセンブリは、検査テーブル上に位置された大面積基板の一部を検査するようにも構成されており、プローバアセンブリはプローバアセンブリを検査テーブルから取り外すことなく、異なるディスプレイ及び接触点パターンに合わせて構成し得る。 - 特許庁

The first substrate 1 has on a second surface 12 a first semiconductor chip 20 and a first test point 15 for testing the first semiconductor chip 20.例文帳に追加

第１基板１の第２表面１２には、第１半導体チップ２０と、この第１半導体チップ２０をテストするための第１テストポイント１５とが形成されている。 - 特許庁

To provide a method for testing microorganisms, capable of quickly and easily monitoring the increase or decrease of the microorganisms presenting on a tested surface after passing a certain period of time from a time point.例文帳に追加

ある時点から一定時間経過後の被験面に存在する微生物の増減を、迅速かつ簡易にモニタリングできる微生物試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a full-point test system for a display device screen comprising means for improving test efficiency by automating a full-point test of the display device screen to be used for a control monitoring system for a plant or the like without watching work by a testing person.例文帳に追加

プラントなどの制御監視システムで使用する表示装置画面の全点試験を、試験者の目視作業を要することなく自動化し、試験効率を高める手段を備えた表示装置画面の全点試験方式を提供する。 - 特許庁

To increase a generation voltage in a finish time point of a ramp-up time up to a reference generation voltage, even in a loading time, in an insulation withstand voltage testing device having a ramp-up function.例文帳に追加

ランプアップ機能を有する絶縁耐圧試験装置において、有負荷時においてもランプアップ時間の終了時点で発生電圧を基準発生電圧にまで上げることを可能とする。 - 特許庁

To prevent an overvoltage from being applied to a load and facilitate wire connection work at the time of testing by detecting a state of phase interruption of a neutral line extending from a power source to a load connection point.例文帳に追加

電源から負荷接続点に達する中性線路の欠相状態を検出して、負荷への過電圧印加を防止すると共に、試験する際の結線作業を容易にする。 - 特許庁

To detect a defect by using a three-point bending testing device of wood and a laminated veneer material, and to measure simultaneously a bending Young's modulus and a shear modulus.例文帳に追加

木材および単板積層材の３点曲げ試験装置を使って、欠点の検出を可能とし、曲げヤング率とせん断弾性率を同時に測定することを可能とすること。 - 特許庁

To provide methods and apparatus that allow real-time data transmission between patients and medical practitioners to enable efficient communication and high throughput point-of-care testing in an ambulatory context.例文帳に追加

患者と医療実務者との間の実時間データ伝送が、歩行用の状況において効率的な伝達および高処理能力ポイントオブケア検査を可能にする方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing the fracture toughness of a thin-walled pipe material which can easily perform a three-point bending test by fixing a holding member to the test piece sampled from the thin-walled pipe material.例文帳に追加

薄肉管材から採取した試験片に対し、保持部材を固定することにより、容易に３点曲げ試験を行うことができる薄肉管材の破壊靭性試験方法を提供する。 - 特許庁

A circulation type apparatus 2, which is a circulation type nano-filtration testing apparatus, reproduces the income and outgo of at least one membrane element at an optional point in a one-way type multi-stage nano-filtration facility.例文帳に追加

循環型ナノろ過試験装置である循環型装置２は、一過型多段ナノろ過実施設の任意の箇所の少なくとも１つの膜エレメント周りの水量収支を再現したものである。 - 特許庁

To provide an oil absorbency testing method of paper and cardboard for measuring the oil absorbency of paper and cardboard for a short period of time without causing the measuring error due to the judge error of a final point, and also to provide an oil absorbency tester therefor.例文帳に追加

紙及び板紙の吸油度を短い時間で測定し、且つ終点判定の誤差による測定誤差を生じない紙及び板紙の吸油度試験方法及び吸油度試験装置を提供する。 - 特許庁

A crack is produced in the test piece 2 by an increase in the load and the thin film pattern is cut but the cutting of the thin film pattern is detected by the material testing machine 1 and the displacement and the test load at this point of time are measured.例文帳に追加

荷重の増加によって試験片２にクラックが入り薄膜パターンが切断されるが、前記材料試験装置１により切断が検知され、この時点の変位、試験荷重が測定される。 - 特許庁