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えいせいちょう2ちょうめの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 134



例文

GaN層とGaN成長層3の格子定数が一致し、GaN成長層3はGaN層の高い結晶性を引き継いで成長するため、結晶性の高いGaN成長層3が得られる。例文帳に追加

The grid constant of the GaN layer 2 coincides with that of the GaN growth layer 3, and the GaN growth layer 3 is grown while succeeding the high crystallinity of the GaN layer 2 whereby the GaN growth layer 3, high in the crystallinity, is obtained. - 特許庁

成長用基板1上に配置した無機粒子が、3−5族窒化物半導体層の成長時においてマスクとして作用し、成長用基板1の表面1Aにおいて無機粒子の無いところが成長領域1Bとなる。例文帳に追加

Wherein the inorganic particles 2 disposed on the substrate 1 for growing act as a mask at a growing time of a 3-5 group nitride semiconductor layer and areas where the inorganic particles 2 do not exist on the surface 1A of the substrate 1 for growing become growing areas 1B. - 特許庁

基板上への窒化物薄膜の成長方法において、c面サファイア(Al_ O_3 )基板1上に+c面で成長するGa面と、c面サファイア(Al_ O_3 )基板上に−c面で成長するN面3とを形成する。例文帳に追加

In the process for growing a nitride thin film on a substrate, a Ga face 2 growing on +c face and an N face 3 growing on -c face are formed on a c face sapphire (Al_2O_3) substrate 1. - 特許庁

c面サファイア基板1上に成長させたGaN層上に、成長マスクとしてストライプ形状を有するSiO_2 膜3を形成する。例文帳に追加

An SiO2 film 3 having a stripe shape as a growing mask is formed on a GaN layer 2 grown on a c-face sapphire substrate 1. - 特許庁

例文

砥石本体は、これら砥粒層6のめっき成長面6a同士を接合する。例文帳に追加

The grinding wheel body 2 is formed by bonding the plating growth surfaces 6a of the abrasive grain layers 6. - 特許庁


例文

表面の転位密度が低いので、2度目に成長したGaNはさらに低転位になる。例文帳に追加

The GaN grown in second time has a further low dislocation density because the dislocation density in the surface of the seed crystal is low. - 特許庁

これは、半導体結晶の成長に伴って半導体結晶の結晶成長面aが結晶成長基板1の結晶成長面1a付近から上方に移動する間にも、半導体結晶はELOマスク3の傾斜面付近でこの傾斜面に沿って横方向にも成長できるためである。例文帳に追加

This is because the semiconductor crystal 2 also can grow laterally along the tilted surface of the ELO mask 3 near the surface, while, as the semiconductor crystal 2 increases, the crystal growth surface 2a of the semiconductor crystal 2 moves upward from the vicinity of the crystal growth surface 1a of the crystal growth substrate 1. - 特許庁

本発明は、透光性材料からなる結晶成長用基板1a,a,3a,4aに気相成長によりシンチレータ1b,b,3b,4bを堆積したパネル1,,3,4を、複数積層したことを特徴とするシンチレータパネルを提供する。例文帳に追加

This scintillator panel is constituted by laminating a plurality of panels 1, 2, 3, 4 where the scintillators 1b, 2b, 3b, 4b are deposited by vapor phase growth on crystal growth substrates 1a, 2a, 3a, 4a comprising a translucent material. - 特許庁

GaN系単結晶基板1の成長主面はm面となっており、GaN系単結晶基板1上に形成されたGaN系半導体層の成長主面もm面となる。例文帳に追加

A growth main surface of the GaN-based single crystal substrate 1 is an (m) plane and a growth main surface of the GaN-based semiconductor layer 2 formed on the GaN-based single crystal substrate 1 is also an (m) plane. - 特許庁

例文

結晶成長室4内に供給されるカーボン含有ガスの量を増減させることにより、種結晶基板上の結晶不成長領域(図示せず)が消滅して、種結晶基板の表面全体にAlN結晶4が成長する。例文帳に追加

By increasing or decreasing the amount of the carbon-containing gas supplied into the crystal growth chamber 24, an area (not shown in figure) on the seed crystal substrate 2, where no crystal grows, is diminished, and the AIN crystal 4 is grown on the whole surface of the seed crystal substrate 2. - 特許庁

例文

溶液成長方法等によって単独の薄膜として形成された厚さ100μm以下のGaN系結晶薄膜(特にGaN結晶薄膜)1を、基板上に接合し、該薄膜の一方の面1bをGaN系結晶を成長させるための出発面として有する結晶成長用基材を得、その上にGaN系結晶を成長させる。例文帳に追加

A GaN crystal thin film (especially GaN crystal thin film) 1 of thickness 100 μm or less which is formed as an independent thin film by a solution growth method, or the like, is jointed onto a substrate 2, to provide a crystal growth base material comprising one surface 1b of the thin film as a start surface for growing GaN crystal, on which the GaN crystal is grown. - 特許庁

GaN系結晶が成長可能な結晶基板1の該基板面に、GaN系結晶が実質的に成長し得ない化合物材料(特に、シリコン窒化物)からなるマスク層を反応性スパッタリングによって成膜し、必要なパターンとしてGaN系結晶成長用基板を得る。例文帳に追加

The substrate for growing a GaN-based crystal is obtained by depositing a mask layer 2 comprising a compound material (especially, a nitride of silicon) on which the GaN-based crystal does not grow substantially by reactive sputtering and then fabricating a necessary pattern. - 特許庁

無機粒子を媒体に分散させたスラリーを用いて、該スラリー中へ成長用基板1を浸漬させるか、または該スラリーを成長用基板1上に塗布や噴霧した後、乾燥させることにより、成長用基板1の表面1A上に無機粒子を配置する。例文帳に追加

The method comprises disposing inorganic particles 2 on a surface 1A of a substrate 1 for growing by using a slurry obtained by dispersing the inorganic particles 2 in a medium, and by dipping the substrate 1 for growing into the slurry or by coating or spraying the slurry onto the substrate 1 for growing and drying it. - 特許庁

c面サファイア基板1上にMOCVD法やMBE法により4μm/h以下の成長速度で薄いGaN層を成長させた後、このGaN層上にハイドライドVPE法により4μm/hよりも大きくかつ00μm/h以下の成長速度で十分に厚いGaN層3を成長させる。例文帳に追加

A thin GaN layer 2 is grown rate of 4 μm/h or less on a c-face sapphire substrate 1 by MOCVD or MBE, and then a sufficiently thick GaN layer 3 is grown on the GaN layer 2 at a rate higher than 4 μm/h but not higher than 200 μm/h by hydride VPE. - 特許庁

サファイア基板1上にGaN層を成長させ、その表面に無機マスク3をGaN層表面が実質平坦になるよう形成し、半導体成長用基板とする。例文帳に追加

A GaN layer 2 is grown on a sapphire substrate 1, an inorganic mask 3 is formed on the GaN layer so that a surface of the GaN layer becomes substantially flat, thereby obtaining a semiconductor growth substrate. - 特許庁

c面サファイア基板301上に、減圧ハイドライドVPE法により4μm/h以下の成長速度で薄いGaN層30を成長させた後、このGaN層30上に常圧ハイドライドVPE法により4μm/hよりも大きく且つ00μm/h以下の成長速度で十分に厚いAlGaN層304を成長させる。例文帳に追加

A thin GaN layer 302 is grown at a growth rate of, for example, 4 μm/h or under by depressurized hydride VPE method on a substrate 301, and then a thick AlGaN layer 304 is grown enough at a growth rate of 4-400 μm/h by normal pressure hydride VPE method on this GaN layer 2. - 特許庁

この半導体層は、β−Ga_2O_3単結晶からなるβ−Ga_2O_3基板1と、β−Ga_2O_3基板1の表面に窒化処理を施して形成されたGaN層と、GaN層にMOCVD法によりエピタキシャル成長して形成されたGaN成長層3とを備える。例文帳に追加

The semiconductor layer is provided with a β-Ga_2O_3 substrate 1 consisting of β-Ga_2O_3 single crystal, the GaN layer 2 formed by applying nitriding on the surface of the β-Ga_2O_3 substrate 1, and GaN growth layer 3 formed by the MOCVD method on the GaN layer 2 through epitaxial growth. - 特許庁

C面を主面とするサファイア基板1上にGaN層をエピタキシャル成長させる(図1a)。例文帳に追加

A GaN layer 2 is epitaxially grown on a sapphire substrate 1 having a surface C as a main surface (Fig.1a). - 特許庁

C面サファイア基板1上にGaN層を成長させ、GaN層上にT字型のUSG膜3を、USG膜3の側面がGaN層のA面とM面に平行となるように作製した。例文帳に追加

A GaN layer 2 is grown on a C-face sapphire substrate 1, and a T-shaped USG film 3 is fabricated on the GaN layer 2 so that the side surface of the USG film 3 is parallel to an A-face and an M-face of the GaN layer 2. - 特許庁

GaN自立基板1をフラックス結晶成長装置に搬入し、高温高圧下、ナトリウム/ガリウムフラックス中で表面1sに結晶成長させて、膜厚mmの窒化ガリウム層3を形成した(1.E)。例文帳に追加

The GaN self-supporting 21 is conveyed to a flux crystal growth apparatus and a crystal is grown on the surface 21s in a sodium/gallium flux under high temperature and high pressure conditions to form a nitride gallium layer 3 having a layer thickness of 2 mm (1.E). - 特許庁

世界経済危機の影響を受けて減速した中国経済は、2009年第1四半期を谷として回復傾向を強め、2010年の実質 GDP 成長率は、前年比10.3%と、2007年以来、3年ぶりとなる2桁成長を達成した。例文帳に追加

From the end of 2008 through early 2009, China’s economy that slowed under the influence of the world economic crisis, strengthened the recovery tendency after the bottom in the first-quarter in 2009, and, as for the real growth rate in 2010, it was 10.3% increase over the previous year. It achieved a double digit growth after 3 years since 2007. - 経済産業省

基板1上に結晶成長法として分子線エピタキシを用い、不純物としてAlを用い、前記ZnTeの成長条件の最適化を行うことによって、1×10^17cm^-3以上の高濃度n型ZnTe層の成長を行う。例文帳に追加

An n-type ZnTh layer 2 doped at a high concentration of10^17 cm^-3 or higher is grown on a substrate 1 by using molecular-beam epitaxy for the crystal growth method, wherein Al is used for the dopant, and growth condition for the ZnTh is optimized. - 特許庁

サファイア基板1の面に複数の凸起,…をランダム配置で形成し、その面上にGaN層10を成長させた。例文帳に追加

A plurality of protrusions 2, are formed in a random arrangement on a surface of a sapphire substrate 1, and a GaN layer 10 is grown on the surface. - 特許庁

ROM1に各種の映像信号を適正調整するための初期設定データを記憶しておき、これを読出し、EEPROMに書込む。例文帳に追加

Initial set data for adjusting appropriately various kinds of video signals are stored first in a ROM 1 and are read out and written into an EEPROM 2. - 特許庁

希土類磁石素体1の凸部1Bよりも凹部1Aにおいて相対的に保護膜の成長が促進され、全体としてほぼ平坦となるように保護膜の成長過程が制御されるため、保護膜の表面粗さが0.4μm以下となる。例文帳に追加

Growing of the protective film 2 is relatively accelerated at a recessed part 1A than a protruding part 1B of the rare earth magnet element 1, and the growth process of the protective film 2 is so controlled that the film becomes almost flat as a whole, so that surface roughness of the protective film 2 becomes 0.4 μm or less. - 特許庁

その後、表面改質層を形成したサファイア基板1を、0slmのアンモニア、30slmの水素及び50slmの窒素を含む雰囲気にある気相成長装置内へ搬入し、GaN層(窒化物半導体層)3の成長温度(1100℃)にまで昇温し、表面改質層の表面にGaN層3を成長させる。例文帳に追加

Thereafter, the sapphire substrate 1 with the surface modified layer 2 formed thereon is carried into a gas phase growing device in an atmosphere containing ammonium of 20 slm, hydrogen of 30 slm and nitrogen of 50 slm, then, temperature is raised to the growing temperature (1100°C) of the GaN layer (nitride semiconductor layer) 3 to grow the GaN layer 3 on the surface of the surface modified layer 2. - 特許庁

アルミナ膜3を除去し、その後、ベース基板1の表面にGaN層を結晶成長させる。例文帳に追加

The alumina film 3 is removed and thereafter a GaN layer 2 is formed by crystal growth on the surface of the base substrate 1. - 特許庁

ダイヤモンド砥粒5L…を支持するメッキ層4を成長させていくときの電流密度を、0.03〜0.1〔A/dmm^〕の範囲に設定する。例文帳に追加

The current density in growing the plated layer 4 supporting the diamond abrasive grains 5L is set ranging from 0.03 to 0.1 (A/dmm^2). - 特許庁

結晶基板1の表面にLEPS法を実施し得る凹凸を加工し、該凹部または凸部からGaN系結晶層を成長させる。例文帳に追加

Irregularities, where the LEPS method can be carried out, are machined on the surface of a crystal substrate 1, and a GaN-based crystal layer 2 is grown from the recess or projection. - 特許庁

ガラス封止部6は、GaN系LED素子の結晶成長温度に対し充分に低い温度で加工される。例文帳に追加

The glass sealing part 6 is worked at a temperature sufficiently lower than the crystal growth temperature of the GaN LED element 2. - 特許庁

Ga原子、As原子及びEr原子を分子線源とし、(001)面方位GaAs基板上、または(001)面方位エピタキシャル成長層上に、分子線源の蒸発速度と、エピタキシャル成長温度とを同時に制御してエピタキシャル成長し、Er原子をGaAs結晶の格子間位置に配位させることにより製作できる。例文帳に追加

The element can be manufactured by aligning the Er atoms to the position among the lattices of the GaAs crystal through the epitaxial growth with simultaneous control of the evaporation velocity of the molecular beam source and expitaxial growth temperature on the GaAs substrate 2 of the (001) alignment or on the epitaxial growth layer of the (001) alignment using the Ga atoms, As atoms and Er atoms as the molecular beam sources. - 特許庁

サファイア基板1のC面上に、AlGaN第1バッファ層、GaN第バッファ層3および第1GaN層4を順に成長させ、図中のA−A線上の第1GaN層4を研磨する。例文帳に追加

On a side C of a sapphire substrate 1, an AlGaN first buffer layer 2, a GaN second buffer layer 3 and a first GaN layer 4 are grown sequentially, and the first GaN layer 4 on a line A-A in the figure is polished. - 特許庁

異種基板上にGaN系半導体を成長させることにより発生する貫通転位を低減し、低転位密度(例えば、10^5/cm^以下)のGaN系半導体をエピタキシャル成長させることができるGaN系半導体エピタキシャル基板の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of manufacturing a GaN-based semiconductor epitaxial substrate, in which a GaN-based semiconductor with a low dislocation density (of, for example, ≤10^5/cm^2) is epitaxially grown by reducing threading dislocation caused when the GaN-based semiconductor is grown on a hetero-substrate. - 特許庁

結晶面に対して傾斜させた表面を有するGaAsからなる基板1の当該表面上に、マスクパターンを形成し、マスクパターンで挟まれた基板1の表面上にエピタキシャル層3を成長させる。例文帳に追加

Mask patterns 2 are formed on a surface of a substrate 1 which is composed of GaAs and has the surface slanted to a crystal face, and an epitaxial layer 3 is grown on the surface of the substrate 1 sandwiched by the mask patterns 2. - 特許庁

そして、皿保持部材35に装着した貼付皿の底面(基準面)cとレンズ素材1の貼付面1aとの距離が一定になるように、レンズ素材1を貼付皿に近接させ、貼付面1a,d間の熱溶解性貼付剤を硬化する。例文帳に追加

To keep a distance between the bottom surface (the reference plane) 2c of the pasting pan 2 mounted on the tray holding member 35 and the pasted surface of the lens material 1 constant, the lens material 1 is moved closer to the pasting pan 2, and the heat soluble pasting agent between the pasted surface 1a and the pasting surface 2d is hardened. - 特許庁

種結晶1としての六方晶系単結晶基板の表面1aとして、C面に対して10〜80°傾斜した面を選択し(a)、この表面1a上に、昇華法によりAlN単結晶を成長面aとして成長させる(b)。例文帳に追加

The method of manufacture includes: (a) selecting a plane inclined by 10 to 80 degrees to a C plane as a surface 1a of a hexagonal single crystal substrate which is a seed crystal 1; and (b) growing an AlN single crystal 2 as a growth plane 2a on the surface 1a by a sublimation method. - 特許庁

同一の成長装置内で、基板1上に積層したサブコレクタ層およびコレクタ層の一部をエッチングにより除去してコレクタ領域6を形成するとともに、バッファ層の一部を露出させ、その露出部分にInAlAsからなる埋め込み領域を成長させる。例文帳に追加

In the same apparatus for growing the following regions, parts of a sub-collector layer and collector layer stacked on a substrate 1 are removed to form a collector region 6, part of a buffer layer 2 is made to expose, and a buried region consisting of InAlAs is made to grow. - 特許庁

GaAs基板1の表面に、不純物としてSiが添加されたGa融液を接触させることにより、GaAs基板1の表面上にエピタキシャル層を成長させる。例文帳に追加

An epitaxial layer 2 is grown on the surface of a GaAs substrate 1 by bringing a Ga molten liquid in which Si is doped as an impurity into contact with the surface of the GaAs substrate 1. - 特許庁

GaN系結晶が成長可能な結晶基板1の該基板面に、マスク領域dと非マスク領域eとが形成されるパターンにてマスク層を形成し、ELO技術に対応し得るGaN系結晶成長用基板とする。例文帳に追加

The substrate for growing a GaN-based crystal usable in the ELO technology is obtained by forming a mask layer 2 with a pattern which is constituted of mask areas (d) and non-mask areas (e) on the surface of a crystal substrate 1 on which the GaNbased crystal can grow. - 特許庁

そして、SiC単結晶5の成長に伴って、種結晶保持具と共にSiC単結晶5を成長方向と逆方向に引き上げ、SiC単結晶5の表面とガイド6の表面6aとがほぼ面一となるようにする。例文帳に追加

Then, the SiC single crystal 5 is pulled together with a seed crystal supporting tool 2 in the reverse direction to the growth direction according to the growth of the SiC single crystal 5 so that the surface of the SiC single crystal 5 becomes nearly same plane with the surface 6a of the guide 6. - 特許庁

この構成とした窒化物半導体成長用基板の上に、有機金属気相成長法によりGaN層を形成すれば、転位密度が5×10^8cm^-2程度と、従来より得られているシリコン基板上のGaN層の1×10^10cm^-2に比較し、転位密度が大幅に減少して高品位な状態となる。例文帳に追加

Such a high quality state that the dislocation density is about 5×10^8/cm^2, drastically reduced in comparison with that (1×10^10/cm^2) of a conventionally obtained GaN layer on a silicon substrate can be attained by forming the GaN layer on the substrate for growing the nitride semiconductor, having such a constitution, by an organic metal vapor phase epitaxy method. - 特許庁

まず、第1工程として、排気機構を用いて石英反応管6内を減圧し、6.65×10^3〜1.33×10^4Paにして、SiC種結晶の表面に単結晶を0.5mm/h以下の成長速度で成長させる。例文帳に追加

In a first process, the pressure in the inside of a quartz reaction tube 6 is reduced to 6.65×10^3 to 1.33×10^4 Pa by using an exhaust system, and a single crystal is grown on the surface of an SiC seed crystal 2 at a growth rate of ≤0.5 mm/h. - 特許庁

次に、図1(b)で示すように、絶縁膜となる透明なSiO_薄膜3を蒸着し、ナノコラム5を成長させるべき配置位置に、成長させるべき直径および間隔でAlN膜が露出するまで貫通孔4を穿設しておく。例文帳に追加

Next, as shown in Fig.1(b), a transparent SiO_2 thin film 3, used as an insulating film, is vapor-deposited at the position where a nanocolumn 5 should be grown up; a through hole 4 is drilled until AlN film 2 is exposed at a diameter and intervals at which it is grown up. - 特許庁

サファイア基板1上にGaN膜を成長した後、サファイア基板1の裏面よりエキシマKrFレーザを照射してサファイア基板1とGaN膜とを分離する。例文帳に追加

After a GaN film 2 is grown on a sapphire substrate 1, it is separated from the GaN film 2 by irradiation of excimer KrF laser from the back of the sapphire substrate 1. - 特許庁

ダメージ層11上ではエピタキシャル層はエピタキシャル成長しない(ポリシリコンAになる)ので、エピタキシャル層がウェーハ1のエッジ部で鋭角化するのを防止することができる。例文帳に追加

The silicon epitaxial layer 2 is not epitaxially grown thereon (it becomes polysilicon 2A), so that the epitaxial layer 2 can be prevented from being an acute angle at the edge of the wafer 1. - 特許庁

ついで、Al原子を亜鉛(Zn)原子で置換した析出核をAl膜の表面に形成し、Zn原子をスターターとして、無電解めっき処理によってニッケル(Ni)めっき層を成長させる。例文帳に追加

A deposited nucleus in which zinc (Zn) atoms are substituted for Al atoms is formed on a surface of the Al film 2 to grow a nickel (Ni) plating layer by electroless plating treatment using the Zn atoms as a starter. - 特許庁

HBT0は、(100)面を主面とする半絶縁性Ga As 基板1上に、エピタキシャル成長法により、順次、エピタキシャル成長させた、n^+−GaAsサブコレクタ層、n^- −GaAsコレクタ層3、傾斜型GaAs_1-___X N_X ベース層4、及びn−InGaPエミッタ層5からなるヘテロ接合の半導体積層構造を備えている。例文帳に追加

An HBT(heterojunction bipolar transistor) 20 is equipped with a heterojunction of semiconductor stack structure consisting of an n+-GaAs sub collector layer 2, an n-GaAs collector layer 3, a tilting type GaAs1-XNX base layer 4, and an n-InGaP emitter layer 5, epitaxially grown in order by epitaxial growth layer on an semiinsulating GaAs substrate 1 whose main face is (i00) face. - 特許庁

n型GaAs基板1上に、バッファ層、n−AlGaInPクラッド層3、活性層4、p−AlGaInPクラッド層5、p−GaInPステップバンチング発生層6、p−GaInP秩序構造形成層(自然超格子層)7をエピタキシャル成長させ、メサ構造を形成する。例文帳に追加

A buffer layer 2, an n-AlGaInP clad layer 3, an active layer 4, a p-AlGaInP clad layer 5, a p-GaInP step-punching generation layer 6, and a p-GaInP ordered-structure formation layer (a spontaneous superlattice layer) 7, are epitaxially grown on an n-type GaAs substrate 1, and a mesa structure is formed. - 特許庁

n型GaN基板1の表面に、i型GaN層及びn型GaN層3をエピタキシャル成長させて、n型GaN層3を活性層とする電界効果トランジスタを形成する。例文帳に追加

An i-type GaN layer 2 and an n-type GaN layer 3 are grown epitaxially on the surface of the n-type GaN substrate 1, and the field effect transistor where the n-type GaN layer 3 is set to be an active layer is formed. - 特許庁

例文

サファイア基板1のC面と直交する面、たとえばA面(11−0)を主面とするサファイア基板1の前記主面(A面)上にZnO系化合物半導体層がエピタキシャル成長されている。例文帳に追加

A ZnO-family compound semiconductor layer 2 is subjected to epitaxial growth on the main surface (A surface) of a sapphire substrate 1, using a surface orthogonally crossing the horizontal surface of the sapphire substrate 1, for example, the A surface (11-20) as the main surface. - 特許庁

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