Sampleを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 30668件
The sample fixing implement comprises both the base having the hollow exceeding the X-ray irradiation area and a sample holder for holding the base with clay.例文帳に追加
また、試料固定具は、試料を貼るための、X線照射面積を越える中空を有する土台と、粘土で該土台を保持する試料ホルダとを有するものである。 - 特許庁
To provide an evaluation method of hexavalent chromium capable of preparing a measuring sample simply in a short time, and determining easily inclusion in even a small quantity of a sample.例文帳に追加
簡便でかつ短時間で測定試料が作製可能で、わずかな量の試料であっても、含有有無が容易に判定できる六価クロムの評価方法を得る。 - 特許庁
In this case, negative potential is applied to the probe 5 from the sample 7, so the electron pairs produced within the probe 5 are continually injected into the sample 7.例文帳に追加
この際、探針5には試料7より負の電位がかけられるので、上述した探針5内で生成された電子対は試料7に連続的に注入される。 - 特許庁
To provide a near-field optical microscope capable of preventing a probe from being broken due to impacting on a sample and surely making the probe close to the sample in a short time.例文帳に追加
プローブの試料への衝突による破損を防ぎ、確実かつ短時間でプローブを試料に対して接近させることが可能な近接場光顕微鏡を提供する。 - 特許庁
The cooling water that cooled the sample 6 is delivered from a cooling water outlet 14.例文帳に追加
試料6を冷却した冷却水は冷却水出口14から排出される。 - 特許庁
Thus, the air bubbles existing in the sample in a liquid state can be efficiently captured regardless of the size of the micro flow channel even when the sample amount is fine.例文帳に追加
これにより、マイクロ流路の大きさにかかわらず、微量のサンプル量であっても、液体状態の試料中に存在する気泡を効率よく捕獲することができる。 - 特許庁
A device for focusing a microscope objective (26) on a sample (18) is disclosed.例文帳に追加
顕微鏡対物レンズ(26)をサンプル(18)に合焦させるための装置が開示される。 - 特許庁
The overlay 20 is a thin glass or polymer sheet having a sample well 22, a reaction chamber 24, and a conduit 26 communicating the reaction chamber 24 with the sample well 22.例文帳に追加
オーバーレイ(20)は、ガラス又はポリマーの薄いシートであって、サンプルウェル(22)、反応チャンバ(24)、及び反応チャンバ(24)とサンプルウェル(22)とを連絡する通路(26)を有する。 - 特許庁
A mixture 2 containing a sample is put in a bag-shaped two-ply wafer 1.例文帳に追加
2枚重ねにした袋状オブラート1の中に試料を含む混合物2を置く。 - 特許庁
FIXING STRUCTURE OF SOLID SAMPLE MEASURING PROBE USED FOR NUCLEAR MAGNETIC RESONANCE MEASURING APPARATUS例文帳に追加
核磁気共鳴測定装置に用いる固体試料測定用プローブの固定構造 - 特許庁
In this case, at a low angle region than the boundary angle of θa, the scattering angle of 2β is changed so that the irradiation width of X rays onto the sample surface becomes the width of the sample.例文帳に追加
ここで、境界角度θaよりも低角度領域では、試料表面へのX線の照射幅が試料の幅になるように、発散角2βを変化させる。 - 特許庁
To provide a sample measuring apparatus for preventing contamination from reaching a sample inside a keeping case even when a pressure inside a mini environment declines.例文帳に追加
本発明は、ミニエン内の圧力低下が発生したとしても、保管ケース内の試料への汚染の到達を抑制する試料計測装置の提供を目的とする。 - 特許庁
CONCENTRATION DETECTOR FOR LIQUID DEVELOPER OR LIQUID SAMPLE, AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加
液体現像剤又は液体試料の濃度検出装置及び画像形成装置 - 特許庁
To automatically distinguish an accuracy management sample and to automatically transmit sample data required for external accuracy management of an analyzer to a management device.例文帳に追加
精度管理試料を自動的に判別して、分析装置の外部精度管理を行うために必要なサンプルデータを、管理装置に自動的に送信することができるようにすること。 - 特許庁
To prevent a phenomenon of reattachment of produced cutting chips on a surface of a sample on a slicer to sequentially take in data on a cutting surface while slicing the sample.例文帳に追加
試料をスライスしながら、その切断面のデータを順次取り込むスライサ装置において、発生した切り屑が試料の表面に再付着する現象を防止する。 - 特許庁
APPARATUS AND METHODS FOR HIGH RESOLUTION SEPARATION OF SAMPLE COMPONENTS ON MICROFABRICATED CHANNEL DEVICES例文帳に追加
微細加工チャネルデバイス上の試料成分の高分解能分離装置および方法 - 特許庁
In the scanning probe microscope, while keeping the physical quantities constant at the measuring parts, the sample surface is scanned by the probe by the moving mechanisms, to thereby measure the sample surface.例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡では測定部で物理量を一定に保ちながら移動機構により探針で試料の表面を走査して試料の表面を測定する。 - 特許庁
The divergent beam is projected through a beam deflector (12) and an objective lens (15) to a sample and the reflected light from the sample is made incident on a linear image sensor (19).例文帳に追加
この発散性ビームは、ビーム偏向装置(12)及び対物レンズ(15)を介して試料に投射し、試料からの反射光をリニァイメージセンサ(19)に入射させる。 - 特許庁
IMAGE ACQUISITION METHOD BY MULTIPLE SCAN, IMAGE ACQUISITION DEVICE, AND SAMPLE INSPECTION DEVICE例文帳に追加
多重スキャンによる画像取得方法、画像取得装置および試料検査装置 - 特許庁
To readily set the distance between an electrode and a sample in the range of potential measurement time, in a surface electrometer for measuring the surface potential of the sample in non-contact.例文帳に追加
試料の表面電位を非接触にて測定する表面電位計において、電極と試料との間の距離を容易に電位測定時の範囲内とする。 - 特許庁
To provide an operation by which a focus is not moved in a useful area of a sample or an observation field is not moved, when the sample is inclined in a transmission electron microscope.例文帳に追加
透過型電子顕微鏡において、見本を傾斜させる時、見本の有益領域では焦点が動かない、または観測分野が動かない動作を提供する。 - 特許庁
A control part 6 reads a voice sample corresponding to the language selected by the operator through a voice selecting part 13 to store-control the voice sample to a voice program memory 12.例文帳に追加
制御部6は、音声選択部13を介して操作者により選択された言語に対応する音声サンプルを読み出し、これを音声プログラムメモリ12に記憶制御する。 - 特許庁
A sample fixing member 6 is arranged inside the space part 4 of the sample holder to blow a coolant from both sides via the space part 4.例文帳に追加
該開放空間部(4)を介して両側面から冷却剤を吹きつけることができるように、該試料ホルダの開放空間部(4)内に試料固定部材(6)が配される。 - 特許庁
Interferometers are installed on both faces to measure a parallelism and a flatness on obverse and reverse faces of an opaque sample concurrently, and an incident angle into the sample is widened using a prism.例文帳に追加
不透明な試料の表裏面の平行度を同時に平面度を測定するために、両面に干渉計を設置し、プリズムを用いて試料への入射角を大きくした。 - 特許庁
To provide a technique for automatic supply of an observation sample to a microscope device that can be implemented at low cost to contribute to automation of small-quality sample inspection.例文帳に追加
少量の標本検査の自動化にも資するほどに廉価に実施することのできる、観察標本の顕微鏡装置への自動供給の手法を提供する。 - 特許庁
SUBSTRATE FOR FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS AND STANDARD SAMPLE FOR FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS例文帳に追加
蛍光X線分析用基板および蛍光X線分析用標準試料 - 特許庁
The sample table 3 is moved by the moving mechanism 4, and a mechanical strain generated in the rubber 5a in contact with the surface of the sample 2 is detected by the piezoelectric element 5b.例文帳に追加
移動機構4でサンプル台3を平行移動し、試料2の表面と接触したラバー5aに生じた機械的歪みを圧電素子5bにより検出する。 - 特許庁
To enable to obtain electric field information derived from an electric field originating from a sample.例文帳に追加
試料本来の電場に由来する電場情報を得ることができるようにする。 - 特許庁
To provide a surface treatment apparatus in which the hydrogen concentration of the surface atomic layer of a sample is measured in the surface treatment apparatus without extracting the sample in atmospheric air.例文帳に追加
試料を大気中に取り出すことなく表面処理装置内において、試料の表面原子層の水素濃度の測定を行う表面処理装置を提供する。 - 特許庁
Also, in the analysis chamber, a sample electrode surface 22 for placing a sample 20 is arranged so that distance to a counter electrode 24 is electrically closer than that to a peripheral wall 11.例文帳に追加
また、分析チャンバーは、試料20を載置する試料電極面22を、対向電極24までの距離が周壁11までの距離より電気的に近くなるように配設する。 - 特許庁
Then the magnifying power of the microscope is set to a second magnifying power of a recording mode and a sample stage is moved to the stored sample stage coordinates to be recorded (S22).例文帳に追加
透過電子顕微鏡の倍率を記録モードの第2の倍率に設定し、試料ステージを前記記憶した記録対象の試料ステージ座標に移動する(S22)。 - 特許庁
To provide a high-reliability liquid sample introduction device capable of high-speed processing.例文帳に追加
高信頼性且つ高速処理が可能な、液体試料導入装置を実現する。 - 特許庁
To provide a computed tomography method for determining volumetric representation of a sample.例文帳に追加
サンプルの立体表現を決定するためのコンピュータ断層撮影法を提供する。 - 特許庁
To efficiently perform the phase analysis of a sample containing four or more elements.例文帳に追加
4以上の元素を含む試料の相解析を効率良く行えるようにする。 - 特許庁
The relational formula of the friction coefficient, the initial sample height/diameter ratio, and the stress variation is formed, and a friction coefficient in the compression process of the columnar sample with the arbitrary height/diameter ratio is decided.例文帳に追加
摩擦係数、初期試料高径比と応力変化の関係式を構築し、任意高径比の円柱試料圧縮過程における摩擦係数を決定する。 - 特許庁
To make detailed fluorescent observation, without losing a living body sample from the range of visual field.例文帳に追加
生体試料を視野範囲外に逃すことなく詳細な蛍光観察を行う。 - 特許庁
In the sample separation and suction instrument 100, a line of electric force is produced in the direction going toward the second opening 36 of a sample separation part 31 from the first opening 35.例文帳に追加
本発明に係るサンプル分離吸着器具100では、サンプル分離部31の第1開口35から第2開口36に向かう方向へ電気力線が生じている。 - 特許庁
To provide a charged particle beam device with a sample stage, capable of detecting a stage position with high accuracy, irrespective of thermal deformation of a sample chamber.例文帳に追加
本発明の目的は、試料室の熱変形に依らず、高精度にステージ位置を検出することが可能な試料ステージを備えた荷電粒子線装置の提供にある。 - 特許庁
To prevent a sediment sample taken inside from falling by a simple method, in a columnar sample sampling device of underwater sediment.例文帳に追加
水底の堆積物の柱状試料採取装置において、内部に取り込んだ堆積物試料の落下防止を簡便な仕組みで達成することができるようにする。 - 特許庁
To certainly detect the deviation of a light path of illumination light during the observation of a sample.例文帳に追加
試料の観察中に照明光の光路のずれを確実に検出する。 - 特許庁
To provide an observation sample preparation device capable of preparing an observation sample from a mold making material that traces the surface of a subject in a simple and effective manner.例文帳に追加
被検体の表面を転写した型取り材から観察用試料を簡便かつ効率的に作製できる観察用試料作製装置を提供することにある。 - 特許庁
Squares are printed on a design used as a sample, and "x" of the same color as the design is written in a sheet of paper only with squares to complete the same picture as the sample design.例文帳に追加
見本となる図案にマス目を印刷し、もう一枚のマス目だけの用紙に図案と同色の「×」を書き入れ、見本の図案と同様の絵を完成させる。 - 特許庁
The measuring cell 8 is fixed on the sample stage of an atomic force microscope 20, and a probe is allowed to fall on the surface of the Al layer 4 of the sample 7 to measure the surface shape of the Al layer.例文帳に追加
この測定セル8を、原子間顕微鏡20の試料ステージに固定し、試料7のAl層4の表面に探針を降ろし表面形状測定を行う。 - 特許庁
The sample volume 72 and the maximal marker 74 are in display mode different from each other.例文帳に追加
サンプルボリューム72と極大マーカ74は、互いに異なる表示態様とされる。 - 特許庁
Differently from the substance of an analysis object, an internal standard sample for which a standard substance that generates a gas in the range from a normal temperature to 1000°C is added to a sample is prepared.例文帳に追加
分析対象の物質とは異なり、常温〜1000℃の範囲で気体を生じる指標物質を試料に加えた内標準試料を作製する。 - 特許庁
In order to indicate the GDR switching points in the bitstreams, a Sync Sample Information Box, which is contained in a Sync Sample Box, is used to provide information of such GDR switching points.例文帳に追加
ビットストリームにおけるGDR切り換えポイントを表すために、同期サンプルボックスに包含される同期サンプル情報ボックスが使用され、斯かるGDR切り換えポイントの情報が提供される。 - 特許庁
The medical image processor displays a sample image for a CAD processing (Step S22), and a CAD mark is displayed on a position of the abnormal shade pick on the sample image (Step S24).例文帳に追加
CAD処理の対象となるサンプル画像を表示し(ステップS22)、サンプル画像上の異常陰影候補の位置にCADマークを表示する(ステップS24)。 - 特許庁
SAMPLING DEVICE FOR COLLECTING SOIL SAMPLE, AND COLUMNAR IMPROVEMENT APPARATUS WITH THE SAME例文帳に追加
地盤試料採取サンプリング装置及び同サンプリング装置付柱状改良装置 - 特許庁
A sample 26 is irradiated with parallel beam X-rays 24 and the diffracted X-rays 28 from the sample 26 are reflected by a mirror 18 to be detected by an X-ray detector 20.例文帳に追加
平行ビームのX線24を試料26に照射して、試料26からの回折X線28をミラー18で反射させてからX線検出器20で検出する。 - 特許庁
To provide a fixing device of a sample for fixing a biological sample in a state where cells, or the like are alive at an optional point in time while observing by a horizontal optical microscope.例文帳に追加
細胞など生きた状態の生体試料を水平型光学顕微鏡で観察しながら任意の時点で固定することができる試料の固定装置を提供する。 - 特許庁
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