「Space probe」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

The apparatus includes a static magnetic field generating means for generating the static magnetic field in a space where a subject is mounted, a static magnetic field homogeneity adjusting means for adjusting the static magnetic field in the space uniformly, and a phantom generating MR signal, and an electromagnetic wave is radiated to the phantom and the RF probe receiving the MR signal from the phantom is fixed in the space.例文帳に追加

被検体を配置する空間に静磁場を発生させる静磁場発生手段と、前記空間における静磁場を均一に調整するための静磁場均一度調整手段と、MR信号を発生するファントムを備え、前記ファントムに電磁波を照射し、前記ファントムからMR信号を受信するRFプローブを前記空間内に固定する。 - 特許庁

The RF probe 16 contains an RF coil 22 for applying a high-frequency magnetic field to the sample 102 disposed within the space S and for detecting a magnetic resonance signal from the sample 102, and an RF shield 26 arranged within the RF coil 22 so as to surround the space S for shielding the space S.例文帳に追加

ＲＦプローブ１６は、空間Ｓに配置された試料１０２に高周波磁場を印加しかつ試料１０２からの核磁気共鳴信号を検出するためのＲＦコイル２２と、空間ＳをシールドするためにＲＦコイル２２の内側かつ空間Ｓを包囲するように設けられるＲＦシールド２６とを含む。 - 特許庁

During movement of each antenna measuring probe (4), a measured value is acquired at each high-frequency measuring point, and simultaneously or just before or after acquisition of the measured value, position measurement of each antenna measuring probe (4) is executed at least once, to associate each position with each high-frequency measuring point, and to thereby generate a measuring point group specified in a three-dimensional space.例文帳に追加

各アンテナ計測用プローブ（４）の移動中に、各高周波計測点において前記計測値取得を行うのと同時にまたは前記計測値取得を行う直前若しくは直後に各アンテナ計測用プローブ（４）の位置計測を少なくとも１回実行し、各高周波計測点に対して１つずつの位置を関連付けることにより、三次元空間的に規定された計測点群を生成する。 - 特許庁

To provide an optical probe assembly capable of fixing without large remodeling of easing even in the case that a casing is positioning deep from outside of an engine, attaching even in the case of without a sufficient space, assembling an air-purge mechanism at the tip end without enlarging the probe diameter and attaching/detaching easily in a short time.例文帳に追加

ケーシングがエンジン外部から深い位置にある場合でも、ケーシングに大がかりな改造なしに固定でき、十分なスペースがなくても取り付けができ、プローブ直径を大きくすることなく、その先端部にエアパージ機構を組み込むこができ、短時間に簡単に取り付け／取り外しができる光学プローブ組立体を提供する。 - 特許庁

To provide a probe for microscopic analysis capable of labeling specifically a specific portion of a target molecule in a sample, labeling and analyzing an analysis object without damaging a space resolution of a used microscope, and analyzing localization, the direction (aspect), the shape (stereoscopic structure) and kinetics of the analysis object in the functional state, and a microscopic analysis method using the probe for microscopic analysis.例文帳に追加

試料中の標的分子の特定部位を特異的に標識可能であり、使用する顕微鏡の空間分解能を損なわずに解析対象を標識及び解析することができ、該解析対象の局在、方向（向き）、形状（立体構造）、及び動態を、機能状態において解析可能とする顕微鏡解析用プローブ、及び該顕微鏡解析用プローブを用いた顕微鏡解析方法を提供する。 - 特許庁

A suction head 100 comprises a cylindrical housing 1; a cylindrical holder 4 and a probe 5 coaxially housed in an internal space 10 of this housing 1; and annular permanent magnets 6 and 7 housed therein while a magnetic repulsive force is made to act on these holder 4 and probe 5, so that the identical magnetic poles may face each other.例文帳に追加

吸着ヘッド１００は、円筒状のハウジング１と、このハウジング１の内部空間１０に同軸的に収容された円筒状のホルダ４およびプローブ５と、これらホルダ４およびプローブ５にそれぞれ同一磁極を対向させて磁気反発力を作用させた状態で収容された環状の永久磁石６，７とを備えて構成されている。 - 特許庁

The electrical connection device 10 includes the probe assembly which has a plurality of contacts 14 on its underside and has a plurality of electronic elements 18 arranged on the top surface; a cover 32 which covers space 30 where the electronic elements are arranged, and is disposed on the top surface of the probe assembly; and two handles 42 attached to the cover.例文帳に追加

電気的接続装置１０は、下面に複数の接触子１４を備え、上面に配置された複数の電子素子１８を備えるプローブ組立体と、前記電子素子が配置された空間３０を閉塞したカバーであって前記プローブ組立体の前記上面に配置されたカバー３２と、該カバーに取り付けられた２つの取っ手４２とを含む。 - 特許庁

Skirted packing 3 made from soft resin is formed integrally with the probe case 2, and a filler intervening between the surfaces of contact is uniformly distributed without leaving empty space when tightening of the nut 11 is complete.例文帳に追加

この探触子ケース２にはスカート状の軟質樹脂製パッキン３が一体的に形成されており、ナット１１の締め上げが完了した時点では、上記の各密着面間に介在する充填材は均一に且つ隙間なく分布した状態となる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a space resolution up to the periphery centered at 10 nm, capable of acquiring quantitatively information on a film thickness or its distribution of a dielectric thin film, and an (extremely thin dielectric) film thickness distribution measuring method using the microscope.例文帳に追加

誘電体薄膜の膜厚もしくはその分布に関わる情報を定量的に取得可能な、１０ｎｍを中心としてその近傍までの空間分解能を持つ走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた（極薄誘電体）膜厚分布測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide the configuration of an NMR apparatus equipped with a low temperature probe having excellent cooling capacity and high sensitivity between two superconductive solenoid coils generating a magnetic field space having higher uniformity in a split type superconductive magnet and constituted close at an extremely short distance.例文帳に追加

スプリット型超電導磁石においてより高い均一度の磁場空間の生成し、同時に、極めて近距離に近接させて構成された２つの超電導ソレノイドコイル間に、冷却能力に優れ高感度の低温プローブを備えたＮＭＲ装置の構成を提供する。 - 特許庁

A transmission/receiving part 3 makes a two-dimensional array ultrasonic probe 2 execute a 2D scan for scanning a two-dimensional scanning surface and a 3D scan for scanning a three-dimensional space alternately while the ultrasonic contrast agent which is destroyed by the high sound pressure is injected into a subject.例文帳に追加

高音圧で破壊される超音波造影剤が被検体に注入された状態で、送受信部３は、２次元のスキャン面をスキャンする２Ｄスキャンと、３次元空間内をスキャンする３Ｄスキャンとを、交互に２次元アレイ超音波プローブ２に実行させる。 - 特許庁

The magnetic probe 30 detects magnetism even if ultra-fine particles of a grain size of approximately several nm are used as the paramagnetic seed 31 fixed to the inside of the tip of the tubular vessel 34, thus achieving a high space resolution in the order of several nm.例文帳に追加

この磁気プローブ３０においては、管状容器３４の先端内側に固定される常磁性シード３１として粒径数ナノメートル程度の超微粒子を用いた場合でも磁気を検知することができるので、数ナノメートルオーダーの高い空間分解能を実現することができる。 - 特許庁

A probe nucleic acid polymer linked to a fine particle is allowed to form a specific complementary strand pair at its specific position (hybridization), then the fine particle is kept at a high energy state thereby breaking the site of the target nucleic acid polymer near the fine particle as the time and the space are controlled.例文帳に追加

微粒子に結合したプローブ核酸高分子を標的核酸高分子の特定の位置で特異的相補鎖対形成（ハイブリダイズ）させ、次に微粒子を高エネルギー状態にすることにより、時間空間を制御して微粒子近傍の標的核酸高分子の部位を切断することができる。 - 特許庁

To solve the problems wherein, when wiring becomes complicated in accordance with heightening of probe density, vias for a power supply and ground wiring are arranged highly densely, and an interval between adjacent vias becomes narrow, and a space for arranging a signal wire between vias cannot be taken, and extraction of the signal wire to the outside becomes difficult.例文帳に追加

プローブの高密度化によって配線が複雑になると、電源およびグランド配線用ビアが高密度で配置されることにより、隣接する上記ビアの間隔が狭くなり、上記ビアの間に信号線を配置するスペースが取れなくなり、信号配線を外側に引き出すことが困難となっている。 - 特許庁

However, when both members 4, 5 stop at half-assembling position, the elastic lock part 13 is made to be elastically deformed by being pressed by the lock-receiving part 14, and since the elastic space 15 is in a narrowed state, the detecting probe 20 becomes impossible to be inserted and it becomes clear that the normal fitting position has not been reached.例文帳に追加

しかし、両部材４，５が半組付位置で止まっていると、弾性ロック部１３がロック受け部１４に押圧されて弾性変形させられ、弾性空間１５が狭められた状態なので、検知用プローブ２０を挿入することが不可能となり、正規の嵌合位置に至っていないことが判明する。 - 特許庁

In the side face part of the adaptor main body part 31, a housing part 35 housing the liquid or jelly sound matching medium and a supply part 36 for supplying the sound matching medium to a space 34a between the probe main body 2 and the body surface of the patient 50, are stored.例文帳に追加

アダプタ本体部３１の側面部内には、液状又はゼリー状の音響整合媒体を収容した収容部３５と、音響整合媒体をプローブ本体部２と被検体５０の体表との間の空間３４ａに供給する供給部３６とが格納されている。 - 特許庁

This inspection method measures a reflection coefficient, a space distribution of the reflection coefficient or a frequency characteristic of the reflection coefficient when bringing an electromagnetic field probe or an optical fiber close to the semiconductor that is an inspected target, and compares it with one of the good product to decide whether the semiconductor is the good product or the defect product.例文帳に追加

被検査対象である半導体の近傍に電磁界プローブもしくは光ファイバを近づけたときの反射係数または反射係数の空間分布または反射係数の周波数特性を測定し、良品と比較することで良品／不良品の判別を行う。 - 特許庁

This chip for detecting the biological substance is provided with a flow channel 103 formed by bonding transparent substrates 101, 102 with a groove 107 formed in each thereof, and a plurality of reaction areas 106 formed with a space along a specimen flowing direction in the flow channel 103 and for immobilizing a probe for detecting a target in the specimen.例文帳に追加

各々に溝１０７が形成された透明基板１０１，１０２を貼り合わせて形成される流路１０３と、流路１０３内に、検体の流れる方向に間隔をおいて形成され、検体中のターゲットを検出するプローブを固定するための複数の反応領域１０６とを備える。 - 特許庁

Then, heat by a heater 12 in the vaporization chamber 18 is taken by the auxiliary gas, the auxiliary gas is heated and is introduced from an auxiliary gas supply opening 17a that is provided at the wall 26 to the space in an APCI probe retention section 22a, the sample gas is dried, and ionization is further accelerated.例文帳に追加

そして、気化室１８の加熱器１２による熱が補助ガスによって奪われ、補助ガスが暖められて、壁２６に設けられた補助ガス吹出口１７ａからＡＰＣＩプローブ保持部２２ａ内の空間に導入され、試料ガスを乾燥させ、イオン化をさらに促進する。 - 特許庁

The measuring probe 1 is provided with a light guide member 2 for simultaneously transmitting the optical information for measuring the distance between the plasma electrodes E1, E2 in the plasma discharge processor P and the optical information for measuring the spectral intensity of the plasma in a discharge space formed between the plasma electrodes E1, E2.例文帳に追加

測定プローブ１は、プラズマ放電処理装置Ｐにおけるプラズマ電極Ｅ１、Ｅ２間の距離を測定するための光情報と、プラズマ電極Ｅ１、Ｅ２間に形成される放電空間におけるプラズマの分光強度を測定するための光情報とを同時に伝送する光導部材２を備える。 - 特許庁

A first reference element 6, a second reference element 8, the electrolyte 10 and an ion-permeable fine-pore high-viscosity polymer substance are housed in the inside of the space 4, and the polymer substance forms a filler 16 for the measuring probe, together with the electrolyte 10.例文帳に追加

このスペース４の内部には、第一の基準要素６と、第二の基準要素８と、電解質１０と、イオンを透過する微孔性の高粘度ポリマー物質が収容されており、このポリマー物質が電解質１０とともに測定プローブの充填材１６を形成している。 - 特許庁

The hardness/softness measuring instrument is provided with at least two vibration detectors 11A, 11B arranged at a probe 100 with a space L; a measuring instrument 12 outputting the vibration time series signals A(t), B(t); and a signal processing part for performing signal processing based on the analysis program.例文帳に追加

そのために、プローブ１００に配置された間隔Ｌの少なくとも２つの振動検出器１１Ａ、１１Ｂと、その振動時系列信号Ａ（ｔ）、Ｂ（ｔ）を出力する計測器１２と、その解析プログラムに基づく信号処理を行う信号処理部を備える。 - 特許庁

A measurement jig 2 is provided with three spheres 4, the cylindrical nominal contour 9 formed on an outer circumference of first and second lens faces 7, 8 of an aspherical lens 1, and a nominal contour measuring space 3 measured by a probe for measuring a three-dimensional contour.例文帳に追加

３つの球４を有する測定用の治具２に、非球面レンズ１のレンズ第１面７およびレンズ第２面８の外周部に形成された円筒基準形状９を三次元形状測定用のプローブによって測定するための基準形状測定空間３を設ける。 - 特許庁

A set of three-dimensional data which are obtained by an ultrasonic probe 12 and stored in a memory 24 is computed by an image processing part 26 for every line of sight in an imaging data space (ROI) set by an input part 30 according to the lines of sight to form a projection image.例文帳に追加

超音波探触子１２により取得されメモリ２４に蓄えられた三次元データ集合は、画像処理部２６において、入力部３０で設定された画像化データ空間（ＲＯＩ）内の複数の視線に基づいて、各視線ごとにデータ演算を行って投影画像が形成される。 - 特許庁

Even when the amplitude Δf of frequency modulation of a light source 1 is widened to some degree in order to enlarge a measuring range, while keeping a space resolution Δz high, an influence of the amplitude Δf can be avoided when detecting a change portion of the probe light.例文帳に追加

しかも、空間分解能Δｚを高く維持したまま測定範囲を拡大させるために、光源１の周波数変調の振幅Δｆをある程度広げた場合でも、プローブ光の変化分を検出する際にこの振幅Δｆの影響を受けることが無い。 - 特許庁

The probe card assembly 200 is composed of an elastic contact structure 211, a space exchanger 210, a frame 212, an interposer 230, elastic contact structures 229 and 231, a frame 218, a printed wiring substrate 220, a drive plate 222, a stud 238, an extension stud 240, and a screw 224.例文帳に追加

プローブカードアセンブリ２００は弾性接触構造体２１１、空間交換機２１０、フレーム２１２、インターポーザ２３０、弾性接触構造体２２９および２３１、フレーム２１８、プリント配線ボード２２０、ドライブプレート２２２、スタッド２３８、延長スタッド２４０、ネジ２２４より構成される。 - 特許庁

Provided are an oxygen-sensitive luminescent element and a probe constructed therefrom which have reduced cross-sensitivity to humidity, as well as methods of manufacturing and using such luminescent elements and probes to measure oxygen concentrations within an enclosed space.例文帳に追加

湿度に対する交差感度が低減された酸素感受性ルミネセンス要素、及びそれによって構成されたプローブ、並びに、閉空間内の酸素濃度を測定するためのルミネセンス要素及びプローブを製造し利用する方法が提供される。 - 特許庁

A mechanism for freely adjusting a space dissolution improvement area in a visual field adjusts a focus area in a depth direction with a vibrator 5 as an annular array and also adjusts an angle direction by scanning the vibrator or a probe by a mechanical scanning system.例文帳に追加

空間分解能向上領域を視野内で自由に調整する機構は、振動子５をアニュラアレイとし深さ方向のフォーカスエリアを調整することに加え、振動子あるいはプローブをメカニカルスキャン方式によりスキャンすることにより角度方向の調整を行っている。 - 特許庁

Even in a case that the liquid supply port 8 is expanded by the unintended etching spread when the liquid supply port 8 is formed by etching a silicon substrate 1, the size or position of the opening 16a of the interlaminar film 16 will not change, and the probe solution flows through the space between the barrier wall 14 and the barrier wall column 15.例文帳に追加

液体供給口８をシリコン基板１のエッチングによって形成する際の、意図せぬエッチングの広がりによって液体供給口８が拡大した場合でも、層間膜１６の開口１６ａの大きさや位置は変わらず、プローブ溶液は障壁１４や障壁柱１５の間を流動する。 - 特許庁

Since the absolute humidities of natural air introduced into the internal space 3 of the probe 2 and mixed air humidity obtained by mixing the natural air and the skin transpiration moisture are detected by absolute humidity sensors 21 and 22, the microcomputer 14 measures the skin transpiration moisture on the basis of the difference between both of the absolute humidities.例文帳に追加

また、プローブ２の内部空間３に導入された自然空気、及びその自然空気と皮膚蒸散水分とが混合された混合気湿の絶対湿度が絶対湿度センサ２１，２２で検知されるため、マイクロコンピュータ１４は両絶対湿度の差に基づいて皮膚蒸散水分を計測する。 - 特許庁

To provide a measuring probe capable of condensing only the emission of plasma itself without receiving disturbance such as scattered light or the like even if the distance between the plasma electrodes of a plasma discharge processor is narrow or a discharge space has any shape.例文帳に追加

プラズマ放電処理装置のプラズマ電極間距離が狭く或いは放電空間の形状がいかなる形状であっても散乱光等の外乱を受けずにプラズマ自体の発光のみを集光可能な測定プローブを提供する。 - 特許庁

A probe 21 for connecting to a pad on the back of the mother board 10, and a space 22 and a discharge tube 23 for vacuum-adsorbing the mother board 10 are provided on a tester head 20 for loading the mother board 10 and connected the LSI 1 to a testing device body.例文帳に追加

一方、マザーボード１０を搭載してＬＳＩ１と試験装置本体を接続するテスタヘッド２０には、このマザーボード１０裏面のパッドに接続するためのプローブ２１と、このマザーボード１０を真空吸着するための空間２２及び排気管２３が設けられている。 - 特許庁

Then, bumps 100a of the probe card 100 are disposed on an upper side of the substrate 11 so as to be opposed to the removing part 11a, and a space surrounded by a sealing ring 15 in a region between the holder 12 and the card 100 is sealed by bringing the ring 15 into contact with the card 100 to form a sealing space 18.例文帳に追加

次に、クリーニング用基板１１の上側に、プローブカード１００のバンプ１００ａが不純物除去部１１ａと対向するように配置し、シールリング１５とプローブカード１００とを接することにより、保持具１２とプローブカード１００との間の領域におけるシールリング１５に囲まれた空間を密閉して密閉空間１８を形成する。 - 特許庁

While forming a vacuum in a test space 20, the in-circuit test fixture performs a circuit test by bringing probes 13 and 14 into contact with a circuit board S placed between probe plates 11 and 12, wherein it is characterized in that a cover 15 incorporating the heat sink 18 for cooling a device D is mounted on the probe plate 11 and an inlet 19 for taking in air is arranged in the cover 15.例文帳に追加

検査空間２０内をバキューム吸引しながら、プローブプレート１１・１２の間に位置させた回路基板Ｓに対してプローブ１３・１４を接触させて、回路試験を行うインサーキットテストフィクスチャであって、プローブプレート１１に、デバイスＤを冷却するヒートシンク１８が内蔵されたカバー１５を設けるとともに、該カバー１５に、外気を取り込むための吸気孔１９を設けることを特徴とする。 - 特許庁

This ultrasonic probe 10 is provided with an ultrasonic transducer 11 for transmitting/receiving ultrasonic waves, a housing 15 for storing the ultrasonic transducer 11, and an acoustic lens 12 disposed in the ultrasonic wave radiation face side of the ultrasonic transducer 11, wherein electrically insulating liquid 20 having a color different from the external colors of the housing 15 and the acoustic lens 12 is sealed in the inside space of the housing 15.例文帳に追加

超音波の送受波を行う超音波振動子１１と、超音波振動子１１を収容する筐体１５と、超音波振動子１１の超音波放射面側に配置された音響レンズ１２とを有する超音波プローブ１０において、筐体１５の内部空間に筐体１５及び音響レンズ１２の外観色と異なる色を有する電気的に絶縁性の液体２０を封入する。 - 特許庁

Therefore, a weaker laser beam from a beam splitter 2 is irradiated on an electrophoretic analytical part 11B on the downstream of the capillary 11 as a probe laser beam Bp, and the beam is passed through a third lens 12 receiving an electrophoretic signal at the electrophoretic analytical part 11B, a notch filter 13 and a space filter 14, and fluorescence generated in a multiplier phototube 16 is measured.例文帳に追加

そのため、ビームスプリッタ２からの弱い方のレーザー光をプローブレーザー光Ｂ_p としてキャピラリー１１の下流の電気泳動分析部１１Ｂに照射し、それをその電気泳動分析部１１Ｂにおける電気泳動信号を受ける第３のレンズ１２、ノッチフィルター１３、空間フィルター１４を介して、増倍型光電管１６で発生する蛍光を測定する。 - 特許庁

To provide a method for quantitatively measuring the surface potential distribution of a solid, especially a semiconductor with high space dissolving capacity using a scanning type tunnel microscope by solving the conventional technical problem that the distance between a probe and the surface of a sample and the thickness of the depleted layer of the surface of the sample are unclear and the measurement in the depleted layer region is difficult, and an apparatus therefor.例文帳に追加

探針／試料表面距離が不明、試料表面の空乏層 厚が不明、空乏層領域での計測が困難、という従来技術の問題点を解決し、固体表面、特に半導体表面の表面電位分布を、走査型トンネル顕微鏡を用いて高い空間分解能で定量的に計測する方法とそのための装置を提供する。 - 特許庁

To provide a signal detection apparatus enabling simplification of a mechanism for detecting the displacement of a probe and simplification of the arrangement of a detection system even if a plurality of probes are in use, thus enabling a space saving, a scanning atomic force microscope constructed of the detection apparatus, and a signal detection method.例文帳に追加

プローブ変位検出のための機構を簡単化することができ、また複数のプローブを用いる場合においても検出系の構成を簡便化することができ、省スペース化を図ることが可能な信号検出装置、該信号検出装置によって構成した走査型原子間力顕微鏡、および信号検出方法を提供する。 - 特許庁

In a semiconductor device in which the bonding pads, which are electrodes for bonding an external connecting wire or the bump on a semiconductor chip, are formed by making the bonding pads in the staggered arrangement, the test pads which are applied for contacting the probe at the time of wafer testing are provided in a surplus space for the bonding pads formed by making the bonding pads in the staggered arrangement.例文帳に追加

半導体チップ上の外部接続用ワイヤまたはバンプをボンディングする電極であるボンディング用パッドを千鳥状に配列した半導体装置において、ウエハテスト時にプローブを接触させるためのテスト用パッドを、千鳥状に配列されたボンディング用パッドの余剰のスペースに設けたものである。 - 特許庁

This instrument/method includes a probe 1 having a cylindrical case 12 and a sensor 16 provided to have a prescribed volume of a space 17 with respect to the case 12, and inserted or approached into/to an inspection zone to collect and measure the odor, and a main body having a computing means, a display means, an electric power source and the like connected electrically to the sensor 16.例文帳に追加

筒状のケース１２及び前記ケース１２との間に所定の容積の空間１７を有するように設けられたセンサー１６を有し、検査領域内に挿入又は近接させて臭気を採取・測定するためのプローブ１、及び前記センサー１と電気的に接続された、演算手段、表示手段、電源等を有する本体を備える。 - 特許庁