「Test Design」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

Position correcting pads 15a to 15c for obtaining the correction amount for correcting position shifting from a design value of each pad 13 are provided in at least three points on a test board.例文帳に追加

テストボード上の少なくとも３点には各パッド１３の設計値からの位置ずれを補正するための補正量を求める位置補正用パッド１５ａ〜１５ｃが設けられる。 - 特許庁

Performance required for running on a wet road such as waterproof performance or rust prevention performance can be evaluated without running on a test course, and vehicle design requirement can be determined.例文帳に追加

そして、テストコースを走行させずに防水性能や防錆性能などのウェット路走行時に必要となる性能の評価、ひいては車両設計要件の決定を行える。 - 特許庁

To simplify the connection between an analysis apparatus and a test component magazine, work out a design for improvement in reliability of the connection, avoid disposal of electronic parts, and reduce costs by reusing the electronic parts.例文帳に追加

分析装置と試験要素のマガジンの連結を簡素化し、その信頼性が向上するよう設計し、電子部品の廃棄を回避し、再利用によってコストを低減する。 - 特許庁

The simulation results are compared with a limitation and the data from the comparison are provided for showing whether or not any limitation is violated during simulation by a test rod pattern design.例文帳に追加

シミュレーション結果は限界と比較され、比較からのデータは、シミュレーション中にいずれかの限界が試験ロッドパターンデザインにより違反されたか否かを示すために提供される。 - 特許庁

Another embodiment includes a method and a system for generating a simulation data store which uses a signal apart from a test grid to model an influence of an IC design and/or production process.例文帳に追加

別の実施例は、ＩＣデザイン及び／または製作プロセスの影響をモデル化するテスト格子を離れた信号を使用した、シミュレーションデータストアの生成法とシステムである。 - 特許庁

The logic circuit test apparatus 10 includes a failure estimation section 110 estimating a failure estimation degree of a signal line by a wiring condition obtained from design data of the logic circuit.例文帳に追加

論理回路試験装置１０は、論理回路の設計データから得た配線条件により信号線の故障推定度を推定する故障推定部１１０を備える。 - 特許庁

The method further repeats verifications at major design check points to again verify the acceptability of an initial test yield estimated value at a time when a product is estimated to a client.例文帳に追加

この方法は更に、顧客に対して製品が見積もられたときの初期のテスト歩留まり推測値の妥当性を再検証するため、主要な設計チェックポイントで繰り返す。 - 特許庁

The compound or combinations thereof are arranged in a factorial design in wells 2 of the test tray 1, thereby facilitating the identification of optimal compound combinations and concentrations.例文帳に追加

化合物またはその組み合わせは、試験トレイ１のウェル２に要因計画で配列され、それによって、最適な化合物の組み合わせおよび濃度を見出すことが容易になる。 - 特許庁

The system continues to properly function without needing to change the route of the data item even in a failure, facilitates design, analysis and a test, and thereby enhances reliability.例文帳に追加

このシステムは、故障の場合にもデータ・アイテムのルートを変更する必要なく適切に機能し続け、設計、分析及びテストを容易にし、それにより信頼性を増す。 - 特許庁

A design verification tool 21 specifies an element whose output value is different between the circuit shown by an original circuit diagram and the circuit shown by the new circuit diagram by using a test pattern.例文帳に追加

設計検証ツール２１は、テストパターンを用いて、元の回路図で示される回路と、新しい回路図で示される回路とで出力値が異なる素子を特定する。 - 特許庁

To guarantee the delay characteristic of a semiconductor integrated semiconductor circuit by means of simulation at the time of a design and the inspection of a test circuit without being affected by the outer load of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の遅延特性を、半導体集積回路の外部負荷の影響を受けず、設計時のシミュレーションおよびテスト回路の検査により保証する。 - 特許庁

After the material density is updated, the calculation for the stress-strain matrix, the finite element analysis, the sensitivity analysis, the convergence test and update for the design variable are iterated (7).例文帳に追加

前記材料密度を更新した後、応力−歪マトリックスの算出、有限要素解析、感度解析、収束判定、および設計変数の更新を繰り返す（７）。 - 特許庁

To provide a design database which stores the system verification data so as to attain the flexible use of them by preparing test clusters hierarchized in response to the hierarchical VC(virtual cores).例文帳に追加

データをフレキシブルに利用しうる状態で格納した集積回路装置の設計用データベース及びこれを利用した集積回路装置の設計方法を提供する。 - 特許庁

Another embodiment is a method and a system for generating a simulation data store using a signal off a test grating that models the effect of the IC design and/or the fabrication process.例文帳に追加

別の実施例は、ＩＣデザイン及び／または製作プロセスの影響をモデル化するテスト格子を離れた信号を使用した、シミュレーションデータストアの生成法とシステムである。 - 特許庁

Thereafter, design data regarding a newly designed semiconductor device is received along with data describing the tester and testing algorithms to be used to test the semiconductor device.例文帳に追加

その後、新しく設計した半導体デバイスに関する設計データを、半導体デバイスをテストするために使用するテスタおよびテスト用アルゴリズムを説明するデータとともに、受け取る。 - 特許庁

To support verification of consistency of a function mounted in software and an expected function based on design information, and to allow visual grasp of a test result.例文帳に追加

ソフトウェアに実装されている機能と設計情報に基づく期待される機能との整合性の検証を支援し、試験結果の視覚的な把握を可能にする。 - 特許庁

Referring to the data, designers or engineers correct the test core loading pattern, carry out simulations and draw up a derived core loading pattern design to ultimately complete them as an acceptable core loading pattern design of the core.例文帳に追加

設計担当者又は技術者はそのデータを見て、試験用炉心ローディングパターンを修正し、シミュレーションを実行して、炉心の受け入れ可能炉心ローディングパターンデザインとして最終的に完成するために、派生炉心ローディングパターンデザインを作成する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit, and a design system for its circuit and test data (clock timing), for reducing an effect of LSI operation on delay time or instantaneous power consumption owing to a shift operation in performing LSI test without causing a load on a chip area.例文帳に追加

ＬＳＩの動作時の遅延時間への影響や、チップ面積への負担を伴うことなくＬＳＩテスト時のシフト動作の瞬時的な消費電力を低減する、集積回路とその回路やテストデータ（クロックタイミング）設計システムを提供する。 - 特許庁

To provide a test pad arrangement device and a program capable of arranging favorably a number of test pads as much as possible on a wiring pattern after lay-out design is finished, and capable of contributing to the facilitation of a trouble analysis and to the shortening of a trouble analysis time.例文帳に追加

レイアウト設計終了後の配線パターンにできるだけ多くのテストパッドを好適に配置することができ、故障解析の容易化および故障解析時間の短縮化に寄与することができるテストパッド配置装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁

The semiconductor test system is composed of a navigation system which makes up all conditions required for photographing/testing from design information, and a scanning electron microscope system which actually carries out photographing/testing, and then the all conditions required for photographing/testing are made up from the design information such as CAD data or the like, and the actual test is carried out in those conditions.例文帳に追加

CADデータ等の設計情報から撮影／検査に必要な全ての条件を作成し、その条件で実際の検査を行うために、半導体検査システムを設計情報から撮影／検査に必要な全ての条件を作成するナビゲーションシステムと実際の撮影／検査を実行する走査型電子顕微鏡システムとから構成させる。 - 特許庁

(iii) Programs designed for the design, manufacture or use of equipment or tools for manufacturing the goods that fall under Article 3, item (ii), (a), the test equipment therefor or the components thereof, or technology (excluding programs) pertaining to the design, manufacture or use of those programs 例文帳に追加

三　第三条第二号イに該当する貨物の製造用の装置若しくは工具、試験装置若しくはこれらの部分品を設計し、製造し、若しくは使用するために設計したプログラム又はそのプログラムの設計、製造若しくは使用に係る技術（プログラムを除く。） - 日本法令外国語訳データベースシステム

For a subset of a test rod pattern design which may be a subset of a fuel bundle in a reactor core, a reactor action is simulated and a plurality of simulation results are produced.例文帳に追加

原子炉の炉心における燃料バンドルのサブセットであっても良い試験ロッドパターンデザインのサブセットに対して原子炉動作がシミュレートされて、複数のシミュレーション結果が生成される。 - 特許庁

To easily change sequences accompanying design change or the like and further to perform the test of sufficient coverage simply by changing a procedure execution time arrangement to be stored.例文帳に追加

格納される手続き実行時刻配列を変更するだけで設計変更等に伴うシーケンスの変更を容易に行うことができ、さらには十分なカバレッジのテストを行うことができる。 - 特許庁

The test patterns include a plurality of pattern parts P1-1 to P5-1 associated with the design values of density ratio when the image is recorded by the same recording density by using these inks.例文帳に追加

そのテストパターンは、それらのインクによって同一の記録密度で画像を記録したときの濃度比の設計値と関連付けられた複数のパターン部Ｐ１−１からＰ５−１を含む。 - 特許庁

To easily and stably conduct a simulation test and reflects a control design result for the improvement of the quality and reliability of a monitor system and control performance.例文帳に追加

監視制御システムの品質や信頼性向上及び制御性能向上のために、シミュレーション試験や制御設計結果の反映を容易にかつ安定して実行することができるようにする。 - 特許庁

To provide a function verification technique that is more effective in dispensing with test patterns and capable of more effectively reducing the time and cost required to verify functions regarding the design data of a semiconductor device.例文帳に追加

よりテストパターンの省略効果が高く、半導体装置の設計データに対する機能検証にかかる時間及びコストをより効果的に削減できる機能検証技術を提供する。 - 特許庁

An enterprise which desires to participate in the development of the commodity supplies information on planning contents, design contents, a test production price, a manufacture price, etc., to the managing server 1 by using an enterprise terminal 3 to participated tender.例文帳に追加

商品の開発に参加したい企業は、企業端末３を用いて、企画内容、設計内容、試作価格、製造価格等の情報を管理サーバ１に供給して入札する。 - 特許庁

The testing method can thus test the program created according to the design specifications 11 and 12 more appropriately to reduce quality degradation of the program.例文帳に追加

その結果、このようなテスト方法は、設計書１１、１２に基づいて作成されたプログラムをより適切にテストすることができ、そのプログラムの品質劣化をより低減することができる。 - 特許庁

A system relating tests design of a universal serial bus (USB) smart card device and contains a bus analyzer for running a test case to generate a USB bus traffic.例文帳に追加

本発明のシステムは、ユニバーサルシリアルバス（ＵＳＢ）スマートカード装置の設計をテストし且つＵＳＢバストラフィックを発生するためのテストケースを稼動するためのバスアナライザーを包含している。 - 特許庁

The developer of the IC card system is able to easily generate a virtual file layout 70 in the memory of the test card 30 by using the development language API module by using a file layout design system 10.例文帳に追加

ＩＣカードシステムの開発者は、ファイルレイアウトデザインシステム１０を用い、前記開発言語ＡＰＩモジュールを利用して、容易にテストカード３０のメモリに仮想ファイルレイアウト７０を生成できる。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING CORROSIVE ENVIRONMENT OF MOBILE BODY, DESIGN METHOD, METHOD FOR CORROSION TEST OF MATERIAL OF MOBILE BODY, SELECTION METHOD, SURFACE TREATED STEEL SHEET, AND ANTI-CORROSION STEEL PRODUCT例文帳に追加

移動体の腐食環境計測方法および設計方法ならびに移動体材料の腐食試験方法および選定方法ならびに表面処理鋼板および耐食鋼材。 - 特許庁

All offset parameters of an exposure device, a superposition measuring instrument, etc. are reset to 0, and a test wafer is precedently exposed by using a complementary divided mark, in which a design pattern is divided into M blocks.例文帳に追加

露光装置、重ね合わせ測定器等のオフセットのパラメータを全て０にリセットし、設計パターンがＭ個のブロックに分割された相補分割マークを使って試験ウエハに先行露光する。 - 特許庁

In systems and methods for performing design verification testing, test cases are analyzed to determine the characteristics that will be verified in a module under test, and the identified characteristics are used to selectively enable checker modules 340 needed to verify the characteristics implicated by the test cases while other checker modules are disabled.例文帳に追加

テストケースが分析されて検査対象のモジュール内で検証されるであろう特性を決定し、特定された特性が用いられてテストケースによって実行される特性を検証するのに必要なチェッカーモジュール３４０を選択的に有効にし、他のチェッカーモジュールを無効にする、設計検証検査を実行するためのシステムおよび方法。 - 特許庁

An interface enables verifying of incorporating memory-macro design using a test interface, the test interface enables that an input signal from a tester of a half rate and a narrow word performs all memory macro- operation over width of a wide memory-macro input/output architecture (I/O) by comprising an on-chip test circuit being separated from a memory-macro.例文帳に追加

インターフェイスは、テストインターフェイスを用いて組込みメモリマクロ設計の検証を可能にし、該テストインターフェイスはメモリマクロと別々のオンチップテスト回路を含むことにより、ハーフレートで狭いワードのテスタからの入力信号が、広いメモリマクロ入力／出力アーキテクチャ（「Ｉ／Ｏ」）の幅をわたってすべてのメモリマクロ動作を行なうことを可能にする。 - 特許庁

To obtain a mattress having excellence in processability, handleability, the feeling of touch and design, hardly obtained in a conventional, fire-retardant nonwoven-fabric, and satisfying the specifacations of the cigarette test of 16CFR part 1632 (USA), further satisfying the specifications of the cigarette test of 16CFR part 1632 (USA) and the flammability test of TB603 (USA, Cal.).例文帳に追加

本発明は、従来の難燃性不織布では解決が困難であった課題、すなわち、加工性や風合い、触感が良好で意匠性が高く、米国タバコ試験１６ＣＦＲ ｐａｒｔ１６３２に合格するマットレス、さらには、米国タバコ試験１６ＣＦＲ ｐａｒｔ１６３２と共に米国カリフォルニア州燃焼試験ＴＢ６０３に合格するマットレスを得る。 - 特許庁

To realize cost reduction, application to various kinds of LSI testing devices, facilitation of application to various kinds of LSIs to be measured, facilitation of device quality control, improvement of LSI design quality, inexpensive LSI design evaluation, facilitation of development to an analytical system, and standardization of a test analytical system.例文帳に追加

コストの低廉化、多種ＬＳＩ試験装置ヘの適用化、被測定ＬＳＩ多品種への適用の容易化、装置品質管理の容易化、ＬＳＩ設計品質の向上、安価なＬＳＩ設計評価、解析システムヘの展開の容易化、テスト解析システムの標準化を図る。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit, a semiconductor integrated circuit design method and a semiconductor integrated circuit design program capable of reducing the number of test patterns with respect to a semiconductor integrated circuit including an internal clock domain having data path dependency operated in the same frequency.例文帳に追加

同一の周波数で動作するデータパス依存関係を有する内部クロックドメインを含む半導体集積回路に対して、テストパターン数を削減することができる半導体集積回路、半導体集積回路設計方法及び半導体集積回路設計プログラムを提供すること - 特許庁

Layout polygonal data forming the test pattern is created, and informations on a design rule identifier, a check sort of rule, a check value, a fine adjustment range of check pattern, and steps are added to an edge of a counterpart as a checking object of polygonal data within a predetermined range, thereby, the correct test pattern can be formed.例文帳に追加

テストパターンを構成するレイアウトのポリゴンデータを作成し、そのポリゴンデータのチェック対象となる対のエッジに、デザインルール識別子、ルールのチェック種別、チェック値、チェックパターンの微調整範囲およびステップの情報を、所定の範囲内で順次付加させていくことで正しいテストパターンを生成する。 - 特許庁

When the performance information of the test sample does not satisfy the target performance information, it corrects the formulation condition information based on the target performance information of the concrete and the performance information of the test sample and execute a second formulation design based on the corrected formulation condition information.例文帳に追加

試験材料の性能情報がコンクリートの目標性能情報を満たさない場合に、コンクリートの目標性能情報および試験材料の性能情報に基づいて、配合条件情報を修正し、修正した配合条件情報に基づいて、第二の配合設計を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, its testing method and design method with which it can be decided whether or not the semiconductor device is defective or a test mode controller is defective, when the test result of the semiconductor device fails and by which testing time can be shortened and the yield be improved.例文帳に追加

半導体装置のテストが不合格の場合、半導体装置の故障なのか、テストモード制御装置が故障であったのかを判別することができ、またテスト時間の短縮と歩留りの向上を図ることができる半導体装置、そのテスト方法および設計方法を提供する。 - 特許庁

To provide an analysis system and a charged particle beam device by which a high-speed and high-quality imaging of a test piece can be made with a short acting distance and a compact design, and contrast of the image can be increased.例文帳に追加

短い作用距離、コンパクトなデザインで、試料の高速かつ高品質な撮像を可能にすると同時に、画像コントラストの増強をもたらす分析システム及び荷電粒子ビーム装置を提供する。 - 特許庁

In this method, a set of the limits applicable to a core is defined (S10) and a test core loading pattern design to be used for the loading of the core is determined on the basis of the limits (S20).例文帳に追加

該方法において、炉心に適用可能な限界のセットが定義され（Ｓ１０）、限界に基づいて、炉心をローディングするために使用されるべき試験用炉心ローディングパターンデザインが判定される（Ｓ２０）。 - 特許庁

To provide a new system for obtaining picture data by synthesizing noise data being an object to be tested which is obtained by noise visualization measurement simulating immunity test and design data being an object to be tested.例文帳に追加

イミュニティ試験を模擬したノイズ可視化測定によって得られた試験対象物のノイズデータと試験対象物の設計データとを合成して画像データを得るための新たなシステムを提供するものである。 - 特許庁

The technic realizes test and verification of the design and the product in high level abstraction using a message chart with an intensive expression function to solve a problem mentioned above.例文帳に追加

上記課題を解決するため、本発明による技術は、強力な表現機能を有するメッセージ図を用いたハイレベルな抽象化における設計及び製品のテスト及び検証を可能にする。 - 特許庁

To provide a system which verifies fast whether an LSI designed by electronic design automating technology and a test pattern of the LSI generated on the basis of CAD data at the time of development designing are proper.例文帳に追加

電子設計自動化手法で設計したＬＳＩと、開発設計時におけるＣＡＤデータを基に作成されたそのＬＳＩのテストパターンの適否を高速に検証するシステムを提供する。 - 特許庁