「capability test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Further, a testing mechanism is provided to test the redundant error detection (RED) capability itself.例文帳に追加

更に、冗長エラー検出(Redundant Error Detection, 「RED」)能力自体をテストするためのテストメカニズムが提供される。 - 特許庁

To conduct the test of the current driving capability of an output circuit in a manufacture stage and to set the output circuit to optimum current driving capability.例文帳に追加

製造段階で出力回路の電流駆動能力を試験し、出力回路を最適な電流駆動能力に設定する。 - 特許庁

The information processing apparatus selects a test route, a test vehicle, and a testing stuff suitable for the basic specifications, on the basis of the schedule table and the capability map concerning the basic specifications, test routes, test vehicles, and testing members.例文帳に追加

情報処理装置は、基本仕様、試験路、試験車両および試験員に関する能力マップおよびスケジュール表に基づいて該基本仕様に適した試験路、試験車両および試験員を選出する。 - 特許庁

To completely automatize airtightness test process, obtain an optimum detection capability of the waste water trap and improve reliability of test results.例文帳に追加

気密性検査工程を完全自動化できることに加えて、排水トラップに最適な検出能力を得ることができ、検査結果の信頼性を向上できる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device, a semiconductor memory test device, and a semiconductor memory test method in which testing capability of a semiconductor device is maximized, and factors of rise of a device cost can be minimized, and test cost is reduced.例文帳に追加

半導体デバイスのテスト能力が極大化されると共に、装置価格の上昇要因を最小化し得、テストコストも削減される半導体テスト装置、半導体メモリテスト装置および半導体メモリテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To simplify a test of a semiconductor device having an output buffer with a small pad and a low current driving capability.例文帳に追加

小型パッドおよび低電流駆動能力の出力バッファを持つ半導体装置のテストを容易化する。 - 特許庁

To provide a cooling structure of an in-circuit test fixture which has sufficient cooling capability and miniaturizes a heat sink.例文帳に追加

十分な冷却能力を持ちヒートシンクの小型化が可能なインサーキットテストフィクスチャの冷却構造を提供する。 - 特許庁

To provide a nitriding method with the use of post plasma, which quickly nitrides a test piece and shows improved nitriding capability, and to provide an apparatus therefor.例文帳に追加

迅速な窒化工程を行い、窒化能を向上させる、ポストプラズマを用いる窒化方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a network equipment testing apparatus which can respond even to small-size packets and is capable of performing a test on transfer capability and filtering at a media speed.例文帳に追加

小さいサイズのパケットにも対応し、転送能力やフィルタリングにおいて、メディアスピードでの試験を可能にする。 - 特許庁

To provide a business achievement capability management system which can carry out a test according to the level of each skill item of a user.例文帳に追加

ユーザのスキル項目毎のレベルに応じたテストを実施することができるビジネス遂行力管理システムを提供すること。 - 特許庁

To provide an evaluation system of a certificate examination and an evaluation method of the certificate examination, capable of performing appropriate evaluation which unites the time for solving a test question with the number of correct answers by adding time-wise processing capability for solving the test problem to understanding capability for drawing a correct answer.例文帳に追加

正答を導く理解力に試験問題を解く時間的処理能力を付加して、試験問題を解く時間と正答の数とを融合させたより適確な評価ができる検定試験の評価システム及び検定試験の評価方法を提供する。 - 特許庁

An information processing apparatus of a trustee of the vehicle test and an information terminal of the truster is made connectable with a network, and a schedule table and a capability map concerning each test route, each test vehicle, and each testing stuff for performing the vehicle test are registered in the information processing apparatus.例文帳に追加

車両試験受託者の情報処理装置と、委託者の情報端末装置とをネットワークにより接続可能とし、車両試験を行うための各試験路、各試験車両および各試験員に関する能力マップ及びスケジュール表を情報処理装置に登録する。 - 特許庁

To provide a main signal load testing device etc., capable of conducting a load test in the device even if the difference between the packet transfer processing capability in the device and the packet transmission and reception capability of a CPU is ≥255 times.例文帳に追加

装置内のパケット転送処理能力とＣＰＵのパケット送受信能力の差が２５５倍以上であっても、装置内での負荷試験が可能な主信号負荷試験装置等を提供する。 - 特許庁

By this method, even if pixel electrodes of red, green, blue are arranged in delta arrangement, display of red, green, blue can be performed, a simple picture test can be realized, and a test having high detecting capability for defect can be performed.例文帳に追加

この方法により、赤，緑，青の画素電極とがデルタ配列に配置されていても、赤，緑，青の表示が可能となり簡易画像検査を実現でき、不良検出力の高い検査ができる。 - 特許庁

In the performance test, capability for generating negative ions is remarkably improved, when a special ceramic powder is mixed which originally have the negative ions generating capability in itself, as one of the promoting means for negative ions generating capability of electric charge transfer type catalyst.例文帳に追加

本来、電荷移動型触媒が持つマイナスイオン発生性能を促進させる手段のひとつとして、その物質自体がマイナスイオン発生性能を持つ特殊セラミックパウダーを配合することにより、性能試験の結果、マイナスイオン発生性能が格段と向上することを確認した。 - 特許庁

A subscript 1 shows the water repellent capability when using the water repellent diamond-like carbon coating, a subscript 2 shows the water repellent capability when using fluorocarbon resin coating, and alphabets show the progress steps of a heat test.例文帳に追加

添え字１は撥水性ダイアモンド・ライク・カーボン皮膜を利用した場合の撥水能力を示し、添え字２はフッ素樹脂コーティングを利用した場合の撥水能力を示し、アルファベットは耐熱試験の進行過程を示す。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which various static breakdown strength capability can be tested with a WLBI test.例文帳に追加

本発明の目的は、ＷＬＢＩ試験において様々な静電耐圧能力を試験可能な半導体記憶装置を提供することである。 - 特許庁

To provide an aptitude test method for lowering risk in recruitment and properly employing a staff with a truly valuable capability for a company.例文帳に追加

採用時のリスクを低減し、その会社にとって真に優秀な人材を適切に採用することができる適性検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a leak test method for a vessel capable of providing sure sealing capability while preventing buckling deformation of a bottle and of restraining increase of a device cost.例文帳に追加

ボトルの挫屈変形を防止しながら確実なシール性が得られ、装置コストの上昇も抑えることができる容器の漏洩試験方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor integrated circuit device which has such an ESD (electro-static discharge) protection capability as to satisfy specifications of a surge test according to the subdivision of a process.例文帳に追加

プロセスの微細化に対応して、サージ試験の規格を満たすＥＳＤ保護能力を有する半導体集積回路装置を得られるようにする。 - 特許庁

To obtain a catalyst excellent in NO_x storage capability even after lean/rich durability test in a high temperature region by using a catalyst carrier capable of suppressing catalyst-poisoning with sulfur to a far extent.例文帳に追加

硫黄被毒を高度に抑制できる触媒担体とすることで、高温域におけるリーン／リッチ耐久試験後もNO_x 吸蔵能に優れた触媒とする。 - 特許庁

To generate a test pattern for microcomputer high in examining capability without needing the knowledge of the inside of a circuit too much and without increasing a circuit scale.例文帳に追加

回路内部の知識を充分に有すること無く、回路規模を増大させないで、検査能力の高いマイクロコンピュータのテストパターンを短期間で作成する。 - 特許庁

In particular, current consumption at the time of an operation-incapable condition for the test circuit 3 is reduced and malfunction is prevented, by controlling operation capability/operation incapability for the input circuit 3b in an initial stage of the test circuit 3.例文帳に追加

特にテスト回路（３）の入力初段の入力回路（３ｂ）の動作可能／不能を制御することにより、テスト回路（３）の動作不能時の消費電流を低減しかつ誤動作を防止することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory testing device capable of preventing the degradation of defect detection capability by making it possible to test an aimed address or the address other than the aimed address without changing a test pattern and a pattern program.例文帳に追加

テストパターンやパターンプログラムを変更することなく、着目するアドレスまたは該アドレスを除外した試験を可能にして、不良検出能力の低下を防止できる半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a radiation-shielding glass ensuring suitable transparency to achieve sufficient visibility of a test subject while sufficiently ensuring radiation shielding capability.例文帳に追加

放射線遮蔽能力を十分に確保した上で、被検体の視認性をも十分なものとするための適切な透明性を確保できる放射線遮蔽ガラスを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a bit line reference potential VBL can be stably controlled independently of the drive capability of a tester driver at the time of a device evaluation test.例文帳に追加

デバイス評価テスト時にテスタドライバの駆動能力に関係なくビット線参照電位ＶＢＬを安定して制御可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a means of inspecting function of logic circuit with a high detection capability at low cost by reducing the necessary amount of a pattern memory without reducing the number of step of a test pattern.例文帳に追加

テストパターンのステップ数を減少させずにパターンメモリの必要量を減らし、低コストで検出力の高い論理回路の機能検査手段を提供すること。 - 特許庁

To provide an automatic flat-plate load testing apparatus for flexibly controlling the load applied to a sinking test ground, reducing the workload of a testing person, and which is able to suppress errors, in a test result, due to the capability and individual difference in the testing person.例文帳に追加

沈下する試験地盤に対して柔軟な荷重制御が可能であり、試験員の労力を減らし、かつ、試験員の能力や個人差による試験結果の誤差を極力抑えることが可能な自動平板載荷試験装置の提供。 - 特許庁

To provide a method for inspecting an optical disk unit by which the audio reproduction capability of an optical disk unit can accurately and reliably be inspected on the basis of the time information of a test audio disk.例文帳に追加

テスト用のオーディオディスクの時間情報に基づいて、正確かつ確実に光ディスク装置のオーディオ再生能力を検査することができる光ディスク装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

To enable displaying red, green, and blue and to improve test and detection capability for defect caused by patterns of each pixel constitution, wirings, and the like even when pixel electrodes are arranged in delta arrangement in a test method for a liquid crystal display device.例文帳に追加

液晶表示装置の検査方法において、画素電極がデルタ配列に配置された場合でも、赤，緑，青の表示を可能とし、かつ各画素構成および前記各配線などのパターンに起因する不良の検査検出力を向上させることを目的とする。 - 特許庁

To provide a weatherability test method having superior reproducibility of deterioration under a furthermore natural environment and having very promoting capability, by adding newly radicalized gas to deterioration factors, other than deterioration factors, such as light, temperature or humidity, and to provide a weatherability tester for executing the weatherability test method.例文帳に追加

光、温度、湿度等の劣化因子の他に、新たにラジカル化したガスも劣化因子に加えることによって、より自然環境下における劣化の再現性に優れ、かつ超促進性を有する耐候試験方法及びこの耐候試験方法を実施するための耐候試験機を提供する。 - 特許庁

Relating to this device, high speed pin drivers 301, 302 are provided in a test head 200 in which normal pin drivers 304-306 are provided as main drivers, when second test capability is required, a signal formatted previously is supplied to the high-speed pin drivers 301, 302, in matching with the high-speed operation.例文帳に追加

主なピンドライバとしてノーマルピンドライバ３０４〜３０６が準備されたテストヘッド２００に高速ピンドライバ３０１，３０２を準備しておき、第２テスト能力が必要なときに高速動作に合わせて予めフォーマッティングされた信号を前記高速ピンドライバ３０１，３０２に供給する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which assures less amount of overhead of circuit, reduces external terminals led out as the test terminals of a RAM, prevents increase of chip size and improves wiring capability.例文帳に追加

回路のオーバーヘッドが少なく、ＲＡＭのテスト端子として取り出す外部端子を減らし、チップサイズの増大を防ぐと共に、配線性を向上することができる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pretreatment system for preventing lowering of the pretreatment capability of a sample, such as dilution of a sample, in a clinical test that uses biological samples, and also to provide an operation method therefor.例文帳に追加

生体試料を用いた臨床検査の分野において、サンプルの希釈をはじめとするサンプル前処理の処理能力を低下させないための前処理システムおよびその動作方法を提供する。 - 特許庁

When a faulty standby current occurs, it is possible to detect the failure in a function test by weakening the driving capability of the N- channel MOS transistors 74, 78 by a substrate effect.例文帳に追加

スタンバイ電流不良が生じた場合には、基板効果によりＮチャネルＭＯＳトランジスタ７４，７８の駆動能力を弱めることにより、ファンクションテストにおいて不良を発見することができる。 - 特許庁

In each of output buffer circuit (OKT0-OKTn) arranged corresponding to each output pad (OPD0-OPDn), a first output buffer (8) having small driving capability by current for normal operation mode, and a second output buffer (10) having large driving capability by current for test operation mode, are arranged in parallel.例文帳に追加

出力パッド（ＯＰＤ０−ＯＰＤｎ）それぞれに対応して配置される出力バッファ回路（ＯＫＴ０−ＯＫＴｎ）各々において、通常動作モード用の電流駆動能力の小さな第１の出力バッファ（８）と、テスト動作モード時用の電流駆動能力の大きな第２の出力バッファ（１０）を並列に配置する。 - 特許庁

To provide an insulating member capable of simply and effectively insulating a wire connection part, of providing high airtightness and waterproofing capability and of allowing a test of insulation performance or the like after the insulation.例文帳に追加

電線接続部の絶縁処理を簡単に効率よく行うことができ、高い気密性、防水性が得られ、しかも絶縁処理後に絶縁性能などの試験を行うことが可能な絶縁処理部材を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing semiconductor devices and capable of reliably reducing overcurrent of when an element to be measure made of a semiconductor device is broken when short-circuit destruction withstanding capability test is performed on the element to be measured.例文帳に追加

半導体装置でなる被測定素子の短絡破壊耐量試験時において、被測定素子が破壊したときの過電流を確実に抑制することができる半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a screening method for a substance that potentiates damaged DNA repair capability, based on a test with DNA repair as an index with improved sensitivity as a simplified version of the currently available unscheduled DNA synthesis (UDS) assay based on ^3H-thymidine and BrdU or recovery of RNA synthesis (RRS) test, and the like.例文帳に追加

現行の^３Ｈ−チミジン及びＢｒｄＵに基づく不定期ＤＮＡ合成（ＵＤＳ）アッセイ又はＲＮＡ合成回復(ＲＲＳ)試験を簡易化し、感受性を改善した新規のＤＮＡ修復を指標とする試験に基づいた損傷ＤＮＡ修復能力を賦活する物質のスクリーニング方法等を提供する。 - 特許庁

A test sample including oocysts is brought into contact with cultured cells and thereafter cysts are stripped off from them, and the amount of infectious bodies of protozoans stuck to the surfaces of the cultured cells is detected and quantified by an immunological technique, so that the amount of oocysts keeping the excystation capability in the test sample, or having growth activity can be quantitatively evaluated.例文帳に追加

オーシストを含んだ供試試料を培養細胞に接触させてから、脱嚢させ、さらに培養細胞の表面に付着した感染性虫体の量を免疫学的な手法で検出・定量することによって、供試試料中の脱嚢性を保持した、すなわち生育活性があるオーシストの量を定量評価できる。 - 特許庁

During a normal mode, signals are transferred from the first external output terminal to the outside, and the second external output terminal is made not to operate; and during the scan test mode, a test result signal is transferred from the second external output terminal having high output-current capability to the outside and the first external output terminal is made not to operate.例文帳に追加

ノーマルモード時においては、第１の外部出力端子から外部へ信号を転送し、第２の外部出力端子は動作させず、スキャンテストモード時においては、高い出力電流能力を有する第２の外部出力端子からテスト結果信号を外部へ転送し、第１の外部出力端子は動作させない構成とする。 - 特許庁

To provide a device for generating a piece database of a scale, according to the storage capacity and processing capability of an object speech synthesizer, by effectively determining a speech piece to be deleted from a large scale piece data base, using less test text.例文帳に追加

少ない試験テキストで、大規模な素片データベースから削除する音声素片を効果的に決定し、対象とする音声合成装置の記憶容量や処理能力に応じた規模の素片データベースを生成する装置を提供する。 - 特許庁

A test parameter estimation method relating to the present invention has a step to normalize a capability value parameter θ_i, and a step to move a value of θ_i on a variable axis of distribution function while maintaining a magnitude relation so that a distribution of θ_i gets close to a normal distribution.例文帳に追加

本発明に係る試験パラメータ推定方法では、能力値パラメータθ_ｉを正規化することに加え、θ_ｉの分布が正規分布に近づくように、大小関係を維持しつつ、θ_ｉの値を分布関数の変数軸上で移動させる。 - 特許庁

A bit which may cause a retention defect of a data retention capability resulting from random changes with time is screened by repeating a pause refresh test for checking a data retention function in the whole chip surface and the whole bits by an optimized frequency.例文帳に追加

データ保持機能を調べるポーズ・リフレッシュ試験を、チップ全面全ビットにおいて、最適化された回数分繰り返すことで、データ保持能力のランダムな経時変化に起因したリテンション不良を生じる可能性のあるビットをスクリーニングする。 - 特許庁

To obtain the output buffer circuit which enables a stable test to be conducted without being affected by delay caused by additional capacitor a connected tester side by increasing the driving capability of an output buffer having low driving capacity when the output buffer circuit is tested.例文帳に追加

弱いドライブ能力の出力バッファ回路のテスト時に、出力バッファのドライブ能力を高くすることで、接続されたテスタ側の付加容量による遅延などの影響を受けることなく、安定なテストが行える出力バッファ回路を得る。 - 特許庁