「inspect element」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To effectively inspect a plurality of unit circuits including an electro-optic element and a controlling circuit.例文帳に追加

電気光学素子と制御回路とを含む複数の単位回路を有効に検査する。 - 特許庁

To nondestructively inspect a position or a shape of a light-element foreign substance on the inside of a resin-sealed electronic component.例文帳に追加

樹脂封止された電子部品内部の軽元素異物の位置や形状を非破壊で調べる。 - 特許庁

To inspect a light emitting element and a control element before mounting them onto a substrate and to easily repair defective elements (light emitting element and control element) without separately preparing a repair chip.例文帳に追加

基板への実装前に発光素子や制御素子の検査を可能とし、リペアチップを別途用意することなく容易に不良素子（発光素子及び制御素子）の修復を可能とする。 - 特許庁

To provide a technique to directly inspect aligned state of liquid crystal molecules in a PDLC(polymer dispersed liquid crystal) element.例文帳に追加

ＰＤＬＣ素子中の液晶分子の配向状態を直接検査する技術を提供する。 - 特許庁

To inspect the finished state of conductor parts such as pad parts without causing probe marks in a semiconductor element.例文帳に追加

半導体素子にプローブ痕を発生させることなくパッド部等の導体部の仕上がり状態を検査する。 - 特許庁

To simply and surely inspect misregistration of an IC chip by an electrical way in a COG type liquid crystal display element.例文帳に追加

ＣＯＧ型の液晶表示素子において、ＩＣチップの位置ずれ検査を電気的に簡単かつ確実に行う。 - 特許庁

To accurately and efficiently inspect whether or not a storage element substrate on which a storage element is mounted has been normally connected to a slot of a main board.例文帳に追加

記憶素子を実装した記憶素子基板がメインボードのスロットに正常に接続されたか否かを、正確かつ効率的に検査できるようにする。 - 特許庁

To inspect elements in a circumference of a substrate for a light emitting panel before forming a current drive type light emitting element.例文帳に追加

電流駆動型の発光素子を形成する前に発光パネル用基板の周辺素子を検査することを可能とする。 - 特許庁

To easily inspect a circuit diagram after the value of an element property is input according to the latest design rule.例文帳に追加

素子プロパティの値が入力された後に回路図の検査を行う場合に、最新の設計規則に従った検査を容易に行う。 - 特許庁

To provide a magnetic head inspecting apparatus capable of nondestructively inspect the state of a pinhole in a tunnel barrier layer of a TMR element.例文帳に追加

ＴＭＲ素子のンネルバリア層中のピンホールの状態を非破壊で検査できる磁気ヘッド検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inspecting characteristic of a magnetic field generating element, which can inspect recording characteristic of a thin-film magnetic head element prior to final inspection of a HGA.例文帳に追加

ＨＧＡの最終検査よりも前に薄膜磁気ヘッド素子の記録特性を検査することの可能な、磁界発生素子の特性検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To surely inspect presence of defects on a circuit board, in a short time, and deposit a protective resin layer coating a circuit element, after the circuit element is incorporated only into the circuit board that is without defects.例文帳に追加

回路基板の欠陥の有無を短時間で確実に検査でき、欠陥のない回路基板のみに対して回路素子を組み込んだ後に回路素子を被覆する保護樹脂層を付着させる。 - 特許庁

In order to nondestructively inspect whether the semiconductor element formed on a pixel part of the element substrate operates or not, the element substrate and a counter detection electrode are immersed into an electrolyte, the value of electric current that flows between the pixel electrode on the element substrate and the counter detection electrode is measured and, thereby, the normal/defective condition of the element substrate is decided.例文帳に追加

素子基板の画素部に形成された半導体素子が動作するかどうかの検査を非破壊で行うために、電解液に素子基板および対向検出電極を浸し、素子基板上の画素電極および対向検出電極の間に流れる電流値を測定することにより素子基板の良否を判別する。 - 特許庁

To provide a contact probe card that can inspect a fine electronic circuit element arranged in a compact state and is easily manufactured.例文帳に追加

コンパクトな状態にて配置された微細な電子回路素子の検査が可能であり、かつ製造工程も簡便であるようなコンタクトプローブカードの構成を提供する。 - 特許庁

Hence, when mounting the electrical component 10 on a printed circuit board, it is ensured to visually inspect the protective layer 42 attached with a color code on the electrical element 14.例文帳に追加

従って、プリント回路基板に電気部品(10)を取り付けるときに、電気素子(14)上のカラーコード付き保護層(42)を目で確実に確認することができる。 - 特許庁

The method can easily and effectively inspect parts made from a superalloy, even when the superalloy includes an element such as rhenium or ruthenium.例文帳に追加

この方法により、合金がレニウムまたはルテニウムなどの元素を含む時も含め、超合金からなる部品の検査を、容易かつ効果的に行うことができる。 - 特許庁

To inspect the height of a fillet formed on the side surface of a semiconductor element with high precision without being affected by adjacent components in fillet inspection.例文帳に追加

フィレット検査において、隣接する部品の影響を受けずに、半導体素子側面に形成されたフィレットの高さを高精度に検査することを可能にする。 - 特許庁

To visually inspect a leak between pixels of a color liquid crystal display element, comprising TFTs employing a delta array as a pixel array, with ease.例文帳に追加

画素配列にデルタ配列を採用しているＴＦＴによるカラー液晶表示素子において、目視にて画素間のリークを容易に検査できるようにする。 - 特許庁

To inspect characteristics of an element having a different function independently in a case-molded capacitor used for a hybrid automobile or the like.例文帳に追加

ハイブリッド自動車等に使用されるケースモールド型コンデンサに関し、機能が異なる素子を単独で特性検査できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To properly inspect the defect in a solid-state image pickup element without being affected by a dot defect included in a small signal in the case of inspecting the defect by using the small signal outputted from the solid-state image pickup element.例文帳に追加

固体撮像素子から出力される小信号を用いて欠陥検査を行う場合に、前記小信号に含まれる点状の欠陥の影響を受けることなく適正な検査を行う。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inspecting a thin film magnetic head element which can improve throughput at low cost than the case of inserting an HGA one by one into a characteristic inspection apparatus to inspect the characteristic of the thin film magnetic head element of the HGA and can inspect the recording characteristic of the thin film magnetic head element before a final test of the HGA.例文帳に追加

１つの特性検査装置にＨＧＡを１つずつ投入して前記ＨＧＡの薄膜磁気ヘッド素子の特性を検査する場合よりも低コストでスループットを向上させることができ、かつ、ＨＧＡの最終検査よりも前に薄膜磁気ヘッド素子の記録特性を検査することの可能な、薄膜磁気ヘッド素子の特性検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inspecting the characteristic of a thin film magnetic head element which can improve throughput at low cost and can inspect recording the characteristic of the thin film magnetic head element before a final test of an HGA in comparison with the case of inserting the HGA one by one for each characteristic inspection apparatus to inspect the characteristic of the thin film magnetic head element of the HGA.例文帳に追加

１つの特性検査装置にＨＧＡを１つずつ投入して前記ＨＧＡの薄膜磁気ヘッド素子の特性を検査する場合よりも低コストでスループットを向上させることができ、かつ、ＨＧＡの最終検査よりも前に薄膜磁気ヘッド素子の記録特性を検査することの可能な、薄膜磁気ヘッド素子の特性検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To inspect a hole depth by a non-destructive manner and to extract a defective part of a contact hole at high possibility, related to a multiple contact holes formed at a semiconductor element.例文帳に追加

半導体素子に形成された多数のコンタクトホールについて、ホール深さの程度を非破壊で検査でき、コンタクトホールの不良部分を高い確率で抽出できるようにする。 - 特許庁

To provide a structure analysis method which can easily and effectively inspect parts made from a superalloy, even when the superalloy includes an element such as rhenium or ruthenium.例文帳に追加

超合金がレニウムまたはルテニウムなどの元素を含む時も含む、超合金からなる部品の容易かつ効果的な検査が可能な構造解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a piezoelectric oscillator which can improve productivity and operability by making it easy to inspect characteristics of a piezoelectric vibration element even after assembly, and is adaptive to size reduction.例文帳に追加

組み立て後でも、圧電振動素子特性検査を容易に行える事で、生産性や作業性を向上でき、小型化に対応可能な圧電発振器の提供。 - 特許庁

To easily and accurately measure and inspect an amount of light emission of not only one optical element but also a plurality of optical elements without using a conventional discrimination ID circuit used so far, as well as to easily and accurately measure and inspect the directivity of light emission of optical elements and a dust attachment fault.例文帳に追加

１個の光学素子の発光量だけではなく、従来のような識別ＩＤ回路を用いずに複数個の光学素子の発光量をも容易かつ正確に測定して検査すると共に、光学素子発光の指向性やごみ付着不良についても容易かつ正確に測定して検査する。 - 特許庁

A control part compares the formed phase output waveform Vp and peak output waveform Vo with the prepared frequency characteristic of the piezoelectric element 136 to inspect the state of a nozzle 133 through the piezoelectric element 136.例文帳に追加

そして、制御部３００が、生成された位相出力波形Ｖｐ及びピーク出力波形｜Ｖｏ｜と予め用意されている圧電素子１３６の周波数特性を比較して、圧電素子１３６を介してノズル１３３の状態を検査する。 - 特許庁

Even when the electrode formed with the element forming the measuring circuit is electrically insulated from the measuring terminal for supplying the drive voltage to the element, it is possible to inspect the electric circuit on which the corresponding electronic part is mounted without damaging the element or the electrode.例文帳に追加

被測定回路を形成する素子に形成された電極と、前記素子に駆動電圧を供給する測定端子が電気的に絶縁されている場合においても、素子や電極に損傷を与えることなく当該電子部品が実装された電気回路を検査することができる。 - 特許庁

Gas that is chemically inert to a semiconductor wafer (4) is sprayed to an element formation region (7) of the semiconductor wafer (4), a probe needle (3) is brought into contact with the element formation region (7), and at the same time an electrical signal is received from the probe needle (3) to inspect the electrical characteristics of the element formation region (7).例文帳に追加

半導体ウエハ(4)に対して化学的に不活性なガスを半導体ウエハ(4)の素子形成領域(7)に吹き付け、素子形成領域(7)にプローブ針(3)を当接させと共に、プローブ針(3)から電気的信号を受信して素子形成領域(7)の電気的特性を検査する。 - 特許庁

To provide an interface substrate, an inspection system, and an inspecting method, for making it possible to inspect a nonstandard memory element mounted on a standard substrate for inspection in an actual operating environment.例文帳に追加

標準検査基板に非標準メモリ素子を装着して実際の動作環境で実装検査できるようにするインタフェース基板、検査システム及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can inspect the propriety of a wafer in an initial stage, not only for the DC inspection of a circuit element but also for the AC inspection of the delay time of a circuit.例文帳に追加

回路素子のＤＣ検査のみならず、回路の遅延時間等のＡＣ検査についても、初期の段階でウエハの良否を検査することが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a video inspection device that can accurately inspect a video image of a television camera without being affected by a change in a luminance due to a temperature rise of an image pickup element at application of power thereto.例文帳に追加

通電による撮像素子の温度上昇による輝度レベルの変化の影響を受けることなく、テレビカメラ映像検査を正確に行なう映像検査装置を提供する。 - 特許庁

To electrically inspect whether there is a possibility that damages directly under an electrode pad would influences a circuit element, without having to use the region in a semiconductor substrate located directly under the electrode pad.例文帳に追加

電極パッド直下の半導体基板内領域を使うことなく、電極パッド下に受けたダメージが回路素子に影響を及ぼしている可能性があるか否かを電気的に検査する。 - 特許庁

To provide a photoirradiation apparatus that can inspect a plurality of photoelectric conversion characteristics of an imaging element at the same time, adjust independently the light to be irradiated to each imaging element, and irradiate a plurality of lights in the same conditions at the same time.例文帳に追加

撮像素子の光電変換特性を複数個同時に検査できるとともに、各撮像素子に対して照射する光を独立して調整することができ、同一条件の複数の光を同時に照射可能な光照射装置を提供する。 - 特許庁

The heat exchanger and the drain panel are suspended in a room for cleaning and inspection to release a piping containing region to facilitate a work to clean and inspect a device constitution element and the internal part of the device.例文帳に追加

熱交換器及びドレイン板は、清掃又は点検時等に室内に垂下して配管収容領域を開放し、装置構成要素及び装置内部の清掃・点検作業を容易にする。 - 特許庁

The method and the device image an image displayed on a display panel by an imaging means equipped with a lens system and an imaging element and inspect the display irregularities of the display panel from the imaged image.例文帳に追加

レンズ系と撮像素子とを具備した撮像手段により、ディスプレイパネルに表示された画像を撮影し、撮影した画像から前記ディスプレイパネルの表示ムラを検査する方法及び装置である。 - 特許庁

To provide an emergency broadcast system wherein it is possible to usually inspect a disconnection and short circuit in a hand microphone and a fault in a microphone element so as to prevent an inspection purpose sound signal from being externally leaked to the utmost.例文帳に追加

緊急放送システムにおいて、ハンドマイクの断線・短絡およびマイクエレメントの故障を定常的に検査することを可能とし、検査用の音声信号が極力外部に漏れることを防止する。 - 特許庁

A smoke particle detecting region 13 is irradiated with light from a light emitting element 11 and the light scattered by smoke particles is detected in a smoke particle detecting region 13 by a light detecting element 12 to inspect the sensitivity of the smoke sensor 1 for detecting smoke.例文帳に追加

発光素子１１から煙粒子検出領域１３へ光を照射し、煙粒子検出領域１３で煙粒子によって散乱された光を受光素子１２で検出することによって煙を検出する煙センサー１の感度を検査する。 - 特許庁

To offer a method to inspect from the outside the case simply the solidified condition of a solid electrolyte during or after the assembly of a solid electrochemical element having solid electrolyte and also a method of manufacturing solid an electrochemical element using the described inspection method.例文帳に追加

固体電解質を有する固体電気化学素子を組み立て後または組み立て工程中に固体電解質の固体状態をケース外部から簡易に検査する方法、及びその検査方法を利用する固体電気化学素子の製造方法の提供。 - 特許庁

To inspect a wiring harness to be connected between the liquid crystal display part and control board of a game machine for the presence of an external electromagnetic radiation suppressing element or illicit wiring which induces the malfunction of the game machine including the disturbance of a program.例文帳に追加

遊技機の液晶表示部と制御基板間に接続されるワイヤリングハーネスに対して、プログラムの攪乱を含む遊技機の誤動作を誘起する外因の電磁波障害要素や不正配線の有無を検査する。 - 特許庁

To inspect with ease the presence or absence of a residual element of a product liquid in a container while maintaining its function of tightly sealing a container, with respect to a sample container picked out from a plurality of containers as finished products filled with the product liquid to seal them.例文帳に追加

製品液を充填して密封した複数の製品容器中から抜取ったサンプル容器に対して、キャップの容器密閉機能を維持したままで製品液残留成分の有無を容易に検査する。 - 特許庁

To provide a switching element capable of eliminating a restriction of its arrangement position on a board for liquid crystal display, and preventing a damage caused by an electrostatic occurring at the time of manufacturing and handling to accurately inspect its characteristic.例文帳に追加

液晶表示用基板上の配置場所に制約なく、製造時や取り扱い時に発生する静電気によるダメージを防止し、正確な特性検査が可能な特性検査用スイッチング素子を提供する。 - 特許庁

To easily and continuously inspect a deflection characteristic related to the chord vibration of a straight portion where the element train of a continuous variable transmission belt is compressed, without disassembling the belt.例文帳に追加

無段変速機用ベルトのエレメント列が圧縮された直線状部分の弦振動に関連した撓み特性を、ベルトを分解することなく、容易に且連続的に検査する方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a piezoelectric oscillator which can improve productivity and operability by making it easy to inspect a piezoelectric vibration element even after assembly, and is adaptive to size reduction.例文帳に追加

組み立て後であっても、圧電振動素子の検査を容易に行うことができることにより生産性や作業性を向上させることができ、且つ小型化に対応可能な圧電発振器を提供することを課題とする。 - 特許庁

To inspect an element over the entire area without excluding its external frame part and separation part from the inspection area even if the circuit pattern of an IC is present in the background of a defect such as foreign matter.例文帳に追加

異物などの欠陥の背景にＩＣの回路パターンがあっても、エレメントの外枠部や分離部を検査領域から除外せずに全域にわたって検査できる外観検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁