「location test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

In the following procedure, you will specify this location in a test case for the composite application. 例文帳に追加

次の手順の複合アプリケーションのテストケースで、この場所を指定します。 - NetBeans

The test control section A12 particularizes the suspicious fault location on the basis of a test result report frame from the test control section B22 and a test result of its own apparatus and informs a maintenance personnel about the result of particularization.例文帳に追加

試験制御部Ａ１２は試験制御部Ｂ２２からの試験結果報告フレームと自装置の試験結果とを基に被疑箇所を特定し、保守者に通知する。 - 特許庁

A test cell reception section 12 detects a function block not normally sending the test cell as a fault location.例文帳に追加

試験セル受信部１２は、試験セルを正常に送信しなかった機能ブロックを故障箇所として検出する。 - 特許庁

At the location of a gap formed in a region of a test subject 3 in a gray image of the test subject 3 imaged by a camera 1, a plurality of swath of test regions intersecting at the location are set.例文帳に追加

被検査物３をカメラ１で撮像した濃淡画像の中で被検査物３の領域内に形成された隙間の部位に、当該部位に交差する帯状の検査領域を複数設定する。 - 特許庁

To provide a test paper supplying method which eliminates the need for adjusting the location of the tip part of urine test paper in the case of placing the test paper to a holder of a urine analyzing device.例文帳に追加

尿分析装置のホルダーに試験紙を載置する場合に、尿試験紙先端部の位置調整を不要とする試験紙供給方法を提供する。 - 特許庁

The testing head 14 includes a wiper brush for rubbing a test location in the circuit board 16.例文帳に追加

試験ヘッドはプリント回路板の試験位置を擦るためのワイパーブラシ５２を含む。 - 特許庁

For the next procedure, you will specify this same location, http://localhost:18181/Service,in a test case for the composite application. 例文帳に追加

次の手順では、複合アプリケーションのテストケースでこの同じ場所 http://localhost:18181/Service を指定します。 - NetBeans

The sample tube fracture detector for the sample tube holder includes plungers slidable between an extended location corresponding to fractured test tubes and a retreated location corresponding to unfractured test tubes in the test tube holder.例文帳に追加

試料管ホルダ用の試料管破断検出器は破壊された試料管に対応する延伸位置と試料管ホルダ内の破壊されない試料管に対応する撤退位置とを有する摺動可能なプランジャを含んでいる。 - 特許庁

By extruding the test paper by the arm and testing it at the location and determining that the test paper is taken out when a sensor provided at an output opening is on, it is possible to take out the test paper accurately piece by piece.例文帳に追加

その位置でアームが試験紙を押出し、試験し取出し口に設けたセンサがオンすれば試験紙が出たと判断し、正確に一枚ずつ取出すことが出来る。 - 特許庁

Irradiation is sensed by a test module for monitoring a weathering test process from an improved location, in the manner in which the specimens are exposed to irradiance.例文帳に追加

改良された位置から耐候試験過程をモニターする試験モジュールで、試料が照射に曝される方法で照射を検知する。 - 特許庁

The New Ruby Unit Test dialog prompts you for information on the unit test file, including the class to run the test against, the test file name, its module, along with its target directory location within the project. 例文帳に追加

「新規 Ruby 単体テスト」ダイアログで、テスト実行対象のクラス、テストファイル名、そのモジュール、プロジェクト内で対象が存在するディレクトリの場所など、単体テストのファイルに関する情報を入力するように求められます。 - NetBeans

The test sound signal for measuring the standing wave condition of the test sound released within a listening room is collected to identify the peak location or the dip location caused by the standing wave based on the frequency characteristic thereof.例文帳に追加

リスニングルームにおいて放音した定在波状態を測定するためのテスト信号を収音し、その周波数特性に基づいて定在波によるピーク位置又はディップ位置を特定する。 - 特許庁

To provide a transmission apparatus test system capable of automatically particularizing a suspicious fault location on the occurrence of an intermittent error frame wherein particularization of the suspicious fault location is otherwise difficult.例文帳に追加

被疑箇所の特定が難しい間欠的なエラーフレーム発生時に自動的に被疑箇所を特定可能な伝送装置試験システムを提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH DESIGN FOR TEST FACILITATION, AND FAULT LOCATION DIAGNOSING METHOD THEREFOR例文帳に追加

検査容易化設計の半導体集積回路および半導体集積回路の故障箇所診断方法 - 特許庁

The location information of failure in the wafer of the object wafers within the object lot for the test is extracted.例文帳に追加

テストにおける対象ロット内の対象ウェーハのウェーハ内の不良の位置情報を抽出する。 - 特許庁

A project requires a directory for test packages to create tests.The default location for the test packages directory is at the root level of the project,but you can specify a different location for the directory in the project's Properties dialog. 例文帳に追加

プロジェクトには、テストを作成するためのテストパッケージ用ディレクトリが必要です。 テストパッケージディレクトリのデフォルトの場所は、プロジェクトのルートレベルですが、プロジェクトの「プロパティー」ダイアログでディレクトリ用の別の場所を指定することもできます。 - NetBeans

A rack is positioned to a receiving location C1, and the plugs are each inserted in the test tubes housed in the rack.例文帳に追加

受取位置Ｃ１にラックが位置決めされ、そのラックに収容された各試験管に対して栓が差し込まれる。 - 特許庁

A project requires a directory for test packages to create tests.The default location for the test packages directory is at the root level of the project,but depending on the type of project you can specify a different location for the directory in the project's Properties dialog. 例文帳に追加

プロジェクトには、テストを作成するためのテストパッケージ用ディレクトリが必要です。 テストパッケージディレクトリのデフォルトの場所はプロジェクトのルートレベルですが、プロジェクトの種類によって、プロジェクトの「プロパティー」ダイアログでディレクトリに別の場所を指定できます。 - NetBeans

In addition, the test specimen 1 is arranged at a high location in comparison with the receiving antenna 7, and the receiving antenna 7 is arranged so that the direction of its maximum sensitivity is directed toward the test specimen 1.例文帳に追加

また、被試験体１を受信アンテナ７と比較して高い位置に配置し、受信アンテナ７をその最大感度の方向が被試験体１を向くように設置する。 - 特許庁

In the semiconductor device, in a test operation mode, a row address that indicates the location of a first word line is fetched from a row address buffer section 12d.例文帳に追加

テスト動作モードにおいて、ロウアドレスバッファ部１２ｄにより、第１のワード線の位置を示すロウアドレスを取り込む。 - 特許庁

socket option is enabled, urgent data is put into the normal data stream (a program can test for its location using the SIOCATMARK 例文帳に追加

ソケットオプションが有効になっていると、緊急データは通常のデータストリームの中に混ぜて送られる (プログラムは下記のSIOCATMARK - JM

To provide a boundary location detection apparatus and a boundary location detection method for suitably detecting a liquid level height of a test liquid received in a container having a stuck label, etc., and a boundary location of two kinds of different liquids.例文帳に追加

ラベル等が貼着された容器に収容された検体の液面の高さや、異なる２種類の液体の境界位置を好適に検出することのできる境界位置検出装置および境界位置検出方法を提供すること。 - 特許庁

The positional information, which is identified by the GPS receiver 2, is filed as a test data file along with the test data acquired by the penetration test, and processed by a data processing means such as a notebook-size personal computer 30, so that the address of the test location and the like can be automatically obtained.例文帳に追加

そして、このＧＰＳ受信機２の割り出した位置情報を貫入試験によって得られた試験データとともに試験データファイルにファイル化してノート型パソコン３０等のデータ処理手段で処理し、試験地の住所等を自動的に求める。 - 特許庁

To provide a decentralized test system capable of intensively performing tests by a small number of test personnel without visiting each location of installation of control devices only by once installing a false signal generating device to the installation location of each control devices.例文帳に追加

各制御装置の設置場所に模擬信号発生装置を一度設置すれば、あとは各場所に出向かなくとも集中的に試験が実行でき、少数の試験要員によって試験が実施できる分散型試験システムを提供する。 - 特許庁

After that, an imaging lens is moved to a location, which is different from a standard position, for example, a location of visibility +10 D (diopter) and photographing of the test pattern is performed again to acquire a dust check image 2 of (b).例文帳に追加

その後に、撮像レンズを標準位置と異なる位置、例えば視度＋１０Ｄ（ディオプトリ）の位置に移動させて、再びテストパターンの撮影を行い、（ｂ）の塵埃チェック画像２を得る。 - 特許庁

To measure the relative location (or the amount of movement) of an ultrasonic probe and the amount of oscillation of the probe without in any contact with a test object.例文帳に追加

試験体に非接触で、超音波探触子の相対的な位置（または移動量）および探触子の首振り量を測定すること。 - 特許庁

The derivable information being compared relates to a shape of the scanning interferometry signal for the first surface location of the test object.例文帳に追加

比較される導出可能な情報は、試験対象物の第１の箇所における走査干渉分光信号の形状に関する。 - 特許庁

(3) A reference point of established coordinates is provided for the vicinity of a flight test location, and the reference point and the aircraft are both equipped with a K-GPS reception device.例文帳に追加

(3)飛行試験場所近傍に座標の確定した基準点を設け、ここと航空機の双方にK-GPS受信装置を装備する。 - 特許庁

To obtain a line communication test control system and an ATM line terminal capable of easily segmenting the location of a line fault.例文帳に追加

回線障害部位の切り分けが容易にできる回線疎通試験制御方式およびＡＴＭ回線終端装置を提供する。 - 特許庁

In a test pattern load device 30, the test patterns to be executed are divided into a size storable in the memory 11 for storing the test patterns and stored in parallel and horizontal directions in the memory 11 for storing the test patterns, and test program information indicating the location of storage and division information on the number of divisions etc. are reported to a verification processing part 13.例文帳に追加

テストパターンロード装置３０で、実行すべきテストパターンを、テストパターン格納用メモリ１１に格納可能なサイズに分割してこれをテストパターン格納用メモリ１１の水平方向並列に格納すると共に、その格納位置を表すテストプログラム情報及び分割数等の分割情報を検証処理部１３に通知する。 - 特許庁

To provide a probe card in which a test circuit chip is mounted to a narrow location such as the vicinity of probe terminals, conventionally difficult to mount the chip, and a more complicated and larger-size test circuit than before are provided.例文帳に追加

プローブ端子の近傍等、従来実装が困難であった狭い場所にもテスト回路チップを実装でき、かつ従来よりも複雑で大規模なテスト回路を備えたプローブカードを提供する。 - 特許庁

Furthermore, when the distribution of a target substance existing in the test piece 15 of which the location is not clear needs to be checked, firstly, the whole area of the test piece is scanned thoroughly at large scanning step width with a large laser irradiation diameter, and the location where the target substance exists is found out roughly.例文帳に追加

例えば、試料１５中に局在するもののその位置が不明である目的物質の分布を調べたい場合に、まず大きなレーザ照射径で以て大きな走査ステップ幅で試料１５全域をほぼ漏れなく走査し、目的物質が存在する位置をおおよそ見い出す。 - 特許庁

The test manager discriminates whether it is to receive the response packet within a prescribed time, and identifies the fault occurrence location on the basis of the response packet.例文帳に追加

テストマネージャは応答パケットを所定時間内に受信するか否かを判定し、応答パケットに基づいて障害発生箇所を特定する。 - 特許庁

Similarly, an automatic test pattern generation tool may use the defect location information to generate test data custom-tailored to check for faults corresponding to the identified defect in the specified portions of the microcircuit.例文帳に追加

同様に、自動試験パターン生成ツールは、欠陥位置情報を用い、微小回路の指定部分内の同定された欠陥に対応する故障を検査するために特別に作成された試験データを生成し得る。 - 特許庁

To establish a method that can conduct a communication test to designate a frame relay parameter for the confirmation and a communication test independently of a layer 3 protocol in order to locate a fault location on the occurrence of disabled communication between devices in the Frame Relay.例文帳に追加

フレームリレーにおける装置間における疎通不可時の障害部位特定のため、フレームリレーパラメータを指定し確認ができる疎通テストとレイヤ３プロトコルに関わらず疎通テストができる方法を確立する。 - 特許庁

To provide a scan test circuit capable of improving precision in narrowing the faulty location without needing much time for specifying the faulty position.例文帳に追加

故障箇所特定のために多くの時間を必要とせず、且つ故障箇所の絞込みの精度を上げることができるスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁

By arranging the receiver at a required location or carrying it, it is thus possible to automatically know the test result data, even if one is away from the automatic testing device.例文帳に追加

したがって、受信機を必要な場所に配置、あるいは、携帯すれば自動試験装置から離れていても試験結果データを自動的に知ることができる。 - 特許庁

To provide a failure capture circuit to be used for identifying failure location information from a memory-under-test (MUT) in a failure processing circuit.例文帳に追加

故障処理回路において、テスト対象メモリ（ＭＵＴ）から故障ロケーション情報を識別するために使用される故障捕捉回路が開示される。 - 特許庁

To identify the location and cause of a failure by means of test data and cope with improper timing when a bus interface circuit fails.例文帳に追加

バスインタフェース回路において障害が発生した場合に、テストデータを用いて障害の箇所・原因を特定するとともにタイミング不良にも対応させる。 - 特許庁

Moreover, the test writing area 95 and the write-once area 94 are prepared at a physically near location like the outer periphery side and an inner periphery side sandwiching the lead out area.例文帳に追加

また試し書きエリア９５と追記エリア９４はリードアウトエリアを挟んだ外周側と内周側というように、物理的に近い位置に設定する。 - 特許庁

To easily specify a factor and a location of fault when the fault occurs by realizing a bit error test in Ethernet (R).例文帳に追加

イーサネット（登録商標）においてビットエラーテストを行うことを可能にし、障害発生時に障害発生要因および障害発生場所の特定を容易にする。 - 特許庁

The method includes comparing information derivable from a scanning interferometry signal for a first surface location of a test object to information corresponding to multiple models of the test object, wherein the multiple models are parameterized by a series of characteristics for the test object.例文帳に追加

試験対象物の第１の表面箇所に対する走査干渉分光信号から導出可能な情報と試験対象物の複数のモデルに対応する情報とを比較することを含む方法であって、複数のモデルは、試験対象物に対する一連の特性によってパラメータ化される方法。 - 特許庁

In a method which includes comparing information derivable from a scanning interferometry signal for a first surface location of a test object to information corresponding to multiple models of the test object, the multiple models are parameterized by a series of characteristics for the test object.例文帳に追加

試験対象物の第１の表面箇所に対する走査干渉分光信号から導出可能な情報と試験対象物の複数のモデルに対応する情報とを比較することを含む方法であって、複数のモデルは、試験対象物に対する一連の特性によってパラメータ化される方法。 - 特許庁

This building inspection support device 1 acquires photograph data formed by photographing a test position to be tested in a building via an I/F 9, and then, associates the photograph data with test position data showing the location of the test position to store them in a result data storage area 46 in a storage part 4.例文帳に追加

建物検査支援装置１が、Ｉ／Ｆ９を介して、建物の検査すべき検査箇所を撮像した撮像データを取得すると、その撮像データに、その検査箇所の位置を示す検査位置データを対応つけて、記憶部４の結果データ格納領域４６に記憶する。 - 特許庁

In the verification processing part 13, the number of division of the test patterns and the location of its storage stored in the memory 11 for storing the test patterns are recognized on the basis of the division information, and read regions from the memory 11 for storing the test patterns are sequentially changed by a read region switch circuit 12 to read each test vector and verify the circuit to be tested 20 accordingly.例文帳に追加

検証処理部１３では、分割情報からテストパターン格納用メモリ１１に格納された分割テストパターン数及びその格納位置を認識し、テストパターン格納用メモリ１１からの読出領域を読出領域切替回路１２によって順次切り替えて各テストベクタを読み出し、これにしたがって被テスト回路２０に対する検証を行う。 - 特許庁