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on-line measurement methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 44



例文

STEEL PLATE SOFTENING DEGREE ON-LINE MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

鋼板軟化度のオンライン測定方法 - 特許庁

ON-LINE MEASUREMENT METHOD AND DEVICE OF AMOUNT OF ADHESION OF METAL PHASE CONTAINED IN PLATED LAYER例文帳に追加

めっき層に含まれる金属相の付着量のオンライン測定方法および装置 - 特許庁

To provide a method for measuring the gelatinization temperature of starch, enabling simple continuous measurement on-line.例文帳に追加

簡便で、オンラインでの連続測定も可能な澱粉の糊化温度の測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a measurement apparatus and an advertising effect measurement method with which the advertising effect of an advertisement published on off-line media can be measured.例文帳に追加

オフラインの媒体に掲載された広告の広告効果を測定する、測定装置および広告効果測定方法を提供する。 - 特許庁

例文

METHOD FOR OBTAINING LINE WIDTH COMPENSATION VALUE BASED ON MEASUREMENT OF ELECTRIC RESISTANCE OF LINE, AND MANUFACTURING METHOD OF BUILT-IN ELECTRICAL RESISTANCE TYPE PRINTED ELECTRIC CIRCUIT PLATE例文帳に追加

線路の電気抵抗の測定に基づき線幅補償値を求める方法及び組み込み電気抵抗式の印刷電路板の製造方法 - 特許庁


例文

To provide a film thickness measuring method capable of obtaining satisfactory measurement results by correcting measurement errors at the traveling location of a film and resolving the errors in the on-line thickness measurement of the film.例文帳に追加

オンラインでのフィルムの厚み測定における誤差をフィルム走行位置による測定誤差を補正することによって解消し、良好な測定結果を得ることのできるフィルムの厚み測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a radiation measurement apparatus and a diagnostic method thereof, capable of performing self-diagnosis of high accuracy, on-line for count rate measurement which is essential for radiation measurement using a simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成で放射線測定の要である計数率測定について、精度の高い自己診断をオンラインで行うことができる放射線測定装置及びその診断方法を得る。 - 特許庁

To provide error correction method in current measurement for solving conventional problems that there is no other action for degradation in accuracy due to aged deterioration of CT used on current measurement in distribution line than replacement of the CT itself, and that measurement error cannot be measured unless the CT is removed to be tested.例文帳に追加

配電線の電流計測にはCTを用いているが、そのCTの経年劣化による精度低下の対応としてはCT本体を取り替えるしかない。 - 特許庁

ON-LINE MEASUREMENT BY METHOD FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING SURFACE TREATING FILM ADHERING AMOUNT ON ZINC- PLATED STEEL SHEET例文帳に追加

亜鉛系めっき鋼板上の表面処理被膜付着量の蛍光X線分析法によるオンライン測定 - 特許庁

例文

To provide a film thickness measuring device improving the accuracy of on-line measurement, and also to provide a film thickness measuring method.例文帳に追加

オンライン測定の高精度化を図ることができる膜厚測定装置および膜厚測定方法を提供すること。 - 特許庁

例文

In addition, a method for evaluating the cleanness of copper is applicable to measurement of copper on a line at a manufacturing site.例文帳に追加

また、この鋼の清浄度評価方法は、鋼の製造現場のライン上での測定に適用することが可能である。 - 特許庁

To perform continuous temperature measurement while correcting the error in a radiation thermometer in on-line caused by the progressing of contamination on an observing window, etc., in a method for performing the radiation temperature measurement of molten steel through a nozzle in a refractory vessel wall.例文帳に追加

耐火物容器壁のノズルを通して溶鋼の放射測温を行う方法において、観察窓の汚れ進行等による放射温度計の誤差をオンラインで校正しながら連続測温を行うこと。 - 特許庁

To provide a film thickness measuring method for obtaining sufficient measurement accuracy on an in-line basis even when measurement in water or with a probe is unsuitable.例文帳に追加

水中での計測やプローブによる計測が適さない場合であっても、インラインで十分な計測精度を得ることができる膜厚計測方法を提供すること。 - 特許庁

Two slopes are calculated by means of enclosure method, by using a function indicating the degree of distribution of the measurement data as to the positional relation between the measurement data and an initial quasi-straight line, based on the initial-value intercept and slope.例文帳に追加

そして、計測データと初期値の切片及び傾きによる初期疑似直線との間の位置関係における計測データの分布度合いを示す関数を用いて、囲い込み法により2つの傾きを算出する。 - 特許庁

To enable measurement accuracy reliability and on-line self-diagnostics of a width and length measuring instrument that measure the width and the length dimensional shape of a hot steel sheet with a thick plate, for there is no measurement method with high performance available.例文帳に追加

他に高性能測定の方法が無い厚板熱間鋼板の幅寸法形状と長さ寸法形状を測定する幅計と長さ計の測定精度確性、及び、オンライン自己診断を可能とする。 - 特許庁

The measurement on the plurality of items is performed, in which the AMP (auto measurement parameter) registration is performed for the setting of the parameters regarding the preparation of a line profile from a SEM (scanning electron microscope) image, as the common condition to all measurement items, and in which the plurality of AMP registrations for the edge detection method and the distance measurement value calculation method are performed.例文帳に追加

本発明においては、SEM画像からラインプロファイルを作成するときに関わるパラメータの設定を全測定項目において共通の条件としてAMP登録を行い、また、エッジ検出方法と測長値算出方法を複数のAMP登録を行うことによって、複数項目の測定を行うようにした。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus that reduce measurement time and inspect a contact angle on an in-line (manufacturing line) even if the rotational speed of a turning wheel is low.例文帳に追加

測定する時間を短縮でき、また、回転輪の回転数が低回転であっても、インライン(製造ライン)上で接触角を検査可能な方法及び装置を提供することができる。 - 特許庁

To propose a method and device for measurement of an oxide film thickness on the surface of a steel plate, capable of performing an accurate on-line and continuous measurement of the film thickness of an iron-based oxide formed on the surface of the steel plate, from outside a heating furnace being far from the steel plate.例文帳に追加

鋼板表面に生成された鉄系酸化物の膜厚を、鋼板から遠く離れた加熱炉外からオンラインで連続的に精度良く測定することができる鋼板表面の酸化膜厚計測方法及び装置を提案することを課題とする。 - 特許庁

To provide a plasma treatment device using a film thickness measuring method of a material to be treated capable of accurately measuring the actual amount of film remaining on a layer to be treated and etching depth on-line, and to provide a plasma treatment device using the film thickness measurement method.例文帳に追加

被処理層の実際の残膜量やエッチング深さをオンラインで正確に測定することのできる被処理材の膜厚測定方法を用いたエプラズマ処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide an etching end point judging method and a plasma processing device which performs the end point judging method, by using a film thickness measurement method of a processed material, capable of measuring the amount of actual remaining film and etching the depth of the processed layer on-line.例文帳に追加

被処理層の実際の残膜量やエッチング深さをオンラインで正確に測定することのできる被処理材の膜厚測定方法を用いたエプラズマ処理装置を提供する。 - 特許庁

In this paper, we prove that in-line holographic approach, based on magnetic interferograms generated by phase-coherent Foucault imaging, can be used as a quantitative flux-measurement method. 例文帳に追加

この論文でわれわれは、位相可干渉なフーコー結像によって作られる磁性インターフェログラムに基づくインライン・ホログラフィーの手法が、定量的な磁束測定法として利用できることを、証明する。 - 科学技術論文動詞集

To provide a measuring method and device for easily performing exact measurement of an extremely fine line width and quantification about a profile of an etching structure on a pattern wafer.例文帳に追加

極微線幅の正確な測定やパターンウェハ上のエッチング構造のプロファイルに関する定量化が容易に行える測定方法と装置を提供する。 - 特許庁

To provide a plasma processing apparatus using a film thickness measurement method of a processed material capable of accurately measuring an actual residual film amount and/or an etching depth of a processed layer on line.例文帳に追加

被処理層の実際の残膜量やエッチング深さをオンラインで正確に測定することのできる被処理材の膜厚測定方法を用いたエプラズマ処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating cleanness of copper by which the cleanness with high correlation with B10 life to be obtained by a rolling fatigue test is obtained, and which can be applied to measurement of copper on a line at a manufacturing site.例文帳に追加

転動疲労試験により得られるB10寿命との相関が高い清浄度が得られ、且つ、鋼の製造現場のライン上での測定に適用することが可能な鋼の清浄度の評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a marker and a method for the measurement of the displacement of a plane movement object by using a line scan camera wherein the two-dimensional plane movement of the object can be measured on the basis of one-dimensional linear image data.例文帳に追加

1次元線形の映像データから物体2次元平面運動を測定することが可能な、ラインスキャンカメラを用いた平面運動物体の変位測定マーカーとその測定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and a device for measuring an oxygen (an oxygen amount per unit area of steel band) in a subscale formed in a silicon steel band after decarbonization annealing, for example, through a nondestructive, direct, and especially, on-line measurement.例文帳に追加

例えば脱炭焼鈍後に珪素鋼帯に形成されるサブスケールにおける酸素目付量を、非破壊でかつ直接的に、特にオンラインで測定する方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a fault locating method and a fault locating system capable of locating a fault point on a transmission/distribution line including the optional number of branches by only one-spot measurement.例文帳に追加

1地点のみの測定で任意数の分岐を含む送配電線路上の故障点の標定を行うことができる故障点標定方法及び故障点標定システムを提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus, a method and a program for the measurement of irregularities in a film thickness wherein when the film thickness of a thin film during a production process is controlled, the film thickness can be measured wholly with high accuracy in an on-line manner.例文帳に追加

生産工程中の薄膜の膜厚管理を行う際に、オンラインで全面を高精度に測定可能な膜厚むら測定装置、膜厚むら測定方法および膜厚むら測定プログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a method and a device for measuring a pattern dimension capable of suitably determining an edge based on a line profile even if contrast of the edge is light, and carrying out measurement of a length of a pattern.例文帳に追加

エッジ部分のコントラストが希薄であってもラインプロファイルに基づくエッジを適切に判定し、パターンの測長を実行することのできるパターン寸法測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a mark arrangement inspection method capable of reducing errors in arranging marks to be arranged on scribe lines such as an alignment mark and a measurement mark in designing scribe line data.例文帳に追加

スクライブラインデータの設計時に、アライメントマークや計測マークなどのスクライブライン上に配置されるマークの配置ミスを低減することができるマーク配置検査方法を提供する。 - 特許庁

The three-dimensional shape measuring apparatus 10 comprises: a line sensor 16 for reading the measurement object, onto which the optical pattern is projected as an image; and an image analysis section for calculating three-dimensional shape information of the measurement object, by analyzing the optical pattern in the image read by the line sensor 16, on the basis of a spatial fringe analysis method.例文帳に追加

ここで、三次元形状測定装置10は、光パタンが投影された計測対象を画像として読み取るためのラインセンサ16と、ラインセンサ16により読み取られた画像における光パタンを空間縞解析法に基づいて解析して、計測対象の三次元形状の情報を算出する画像解析部とを備えている。 - 特許庁

To provide a device and a method for computing approximation bending line of an operation pattern, which accurately perform automatic computing of an approximation bending line of an operation pattern based on a result of measurement of the operation pattern of an index value of a requested driving force of a vehicle.例文帳に追加

車両の要求駆動力の指標値の操作パターンの測定結果からの同操作パターンの近似屈曲線の自動演算を的確に行うことのできる操作パターンの近似屈曲線演算装置及び演算方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic measuring method, and an ultrasonic measuring instrument for measuring thickness of a coating material coated to a coating product at low cost, and with highly reliable measurement accuracy on an in-line to the coated product to be manufactured in a manufacturing line.例文帳に追加

製造ラインで製造される塗布製品に対し、インライン上で、塗布製品に塗布された塗布材の厚みを、低コストで、信頼性の高い計測精度で計測することができる超音波計測方法、及び超音波計測装置を提供する。 - 特許庁

To automatically determine which is a line and which is a space on an image to determine the line or the space of a length measurement object without making an error to measure its length, in relation to a line/space determination method and a line/space determination device.例文帳に追加

ライン・スペース判定方法およびライン・スペース判定装置に関し、ラインとスペースの幅がほぼ同一でしかも明るさ・コントラストが同じような場合であっても画像上でいずれかラインでありいずれがスペースであるかを自動判定し、測長対象のラインあるいはスペースを間違いなく判定して測長する。 - 特許庁

To provide a method for measuring positions of patterns on the front and back faces of a substrate and a measurement apparatus, capable of accurately measuring a positional misalignment of a mark or the like on front and back faces of a photomask substrate even if a normal of the photomask substrate is shifted relative to a rotating shaft (line O-O') of a measuring stage.例文帳に追加

フォトマスク基板の法線が、測定用ステージの回転軸(線O—O’)に対してずれているような場合においても、精度よくフォトマスク基板の表面および裏面のマーク等の位置ずれを測定することができる基板表裏面パターン位置測定方法・測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a three-dimensional image measurement method, system and program for a subject that uses an illuminance difference stereo method to measure each information on position coordinates, normal line direction, and reflectivity of a surface of the subject with one camera without using parallel light or a distance measuring device.例文帳に追加

照度差ステレオ法を利用し、平行光や距離計測装置を用いずカメラは1台で、被写体表面の位置座標、法線方向および反射率の各情報を計測できる被写体の3次元画像計測方法、システム、並びにプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a moisture value estimating method of coal capable of quickly and easily estimating a moisture value of the coal by measurement of a near infrared radiation spectrum and use of a regression model, capable of peforming on-line monitor and an on-line analysis for a process control and capable of making an easy and quick analysis usable at a mining site.例文帳に追加

近赤外分光スペクトルの測定と、回帰モデルの利用により、石炭の水分値を迅速・簡便に推定することができ、プロセスコントロール用のオンラインモニターや、オンライン分析が可能で、しかも採掘現場で使用可能な簡易で迅速な分析を行うことができる石炭の水分値推定方法を提供する。 - 特許庁

In this manufacturing method, a liquid crystal panel 20 is manufactured via a state of a multi-dividable liquid crystal panel 10 equipped with the liquid crystal panels 20 and a panel for measurement 40 which has electrodes 42 with a specified width wider than line widths of display electrodes 22 formed on the liquid crystal panels 20.例文帳に追加

液晶パネル20と、液晶パネル20に形成された表示用の電極22の線幅より広い所定幅の電極42を有する測定用パネル40とを備える複数取り液晶パネル10の状態を経て液晶パネル20を製造する方法である。 - 特許庁

To provide a method for mounting an optical fiber cable for measurement of the temperature of a power cable, by which an optical fiber cable can be efficiently laid on a power cable in an underground pipe line and the temperature of the power cable can be measured with low cost.例文帳に追加

光ファイバケーブルを効率良く地中管路内の電力ケーブルに布設できるとともに、電力ケーブルの温度を低コストで測定することができる電力ケーブル温度測定用光ファイバケーブルの取付方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for calculating a correction factor in orientation measurement, capable of determining precisely a correction factor in an off-line condition even when there is a wrinkle and a fold on an object to be measured or when the object to be measured is a paper penetrating air.例文帳に追加

本発明の目的は、測定試料にシワや折り目などがある場合や、測定試料が空気を透過する紙の場合でも、オフラインの状態で精度良く補正係数を求めることを可能とした配向測定における補正係数算出方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a method for holding contents for respective abnormality items of power source detected by a measuring instrument, by which plural kinds of abnormality items occurring on a power source line after the start of measurement are respectively held in a memory non-time-sequentially with a priority of holding request as a reference.例文帳に追加

測定開始後の電源ラインに発生する複数種類の異常項目をその保持要求度を基準として各別に非時系列でメモリに保持させる測定器により検出される電源の異常項目別の内容保持方法の提供。 - 特許庁

In the on-line film thickness measuring method provided with a means for measuring the traveling location of the plastic film, measurement errors due to a thickness meter and variations in the traveling location of the film are controlled.例文帳に追加

プラスチックフィルムの走行位置を測定する手段を備えたオンラインでのフィルムの厚み測定方法であって、厚み計とフィルム走行位置の変動による測定誤差を調整することを特徴とするフィルムの厚み測定方法。 - 特許庁

To provide a doctor gap measuring method by which the doctor gap is optically measured by arranging a light emitting element and a light receiving element on an optical line passing through a doctor gap, to provide a manufacturing method for a developing device for adjusting the position of a doctor on the basis of the result of such measurement, and to provide a developing device to use the manufacturing method.例文帳に追加

ドクタギャップを通る光線上に発光素子と受光素子を配置し、光学的にドクタギャップを測定することができるドクタギャップ測定方法を提供する、またその測定結果に基づいてドクタの位置調整をする現像装置の製造方法およびその製造方法に用いることができる現像装置を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a wheel alignment measuring method of an automobile, and a device therefor, can measure easily wheel alignment in consideration of the state of a suspension system in a completed vehicle to each wheel mounting part where a wheel is not mounted yet, and obtain a highly-accurate measurement result can adjust accurate wheel alignment, on an assembly line for assembling an automobile car body.例文帳に追加

自動車車体を組み立てる組立ラインにおいて車輪が未装着の各車輪取付部に対して完成車における懸架装置の状態を加味した車輪のアライメントを容易に測定することができ、正確な車輪アライメントの調整を行うことが可能な精度の高い測定結果を得ることができる自動車の車輪アライメント測定方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

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