「sample-distribution」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To improve calculation accuracy of an optical characteristic value distribution of a sample in the whole domain from the periphery of a light incidence point to a remote spot without increasing a calculation time.例文帳に追加

算出時間を増大することなく、光の入射点近傍から遠方までの全領域において、試料の光学特性値分布の算出精度を向上させる。 - 特許庁

To obtain a crystal orientation evaluation device, capable of rapidly and simply evaluating an in-plane distribution of the crystal particles having a specific crystal orientation on the surface of a sample.例文帳に追加

試料の表面における特定の結晶方位を有する結晶粒子の面内分布を迅速且つ簡便に評価できる結晶方位評価装置を得ること。 - 特許庁

To enable reliable measurement high in S/N in a scanning probe microscope measuring the surface state or surface vol. distribution of a sample.例文帳に追加

試料２５の表面状態や表面の容量分布を測定する走査型プロ−ブ顕微鏡において、Ｓ／Ｎが高く信頼性のある測定ができるようにする。 - 特許庁

A distribution tendency acquired by taking statistics of condition parameters x_0 relating to sample image data 13b is compared with a condition parameter x acquired from the object image data 13b.例文帳に追加

サンプル画像データ１３ｂに関する条件パラメータｘ_0を統計して得られた分布傾向と、対象画像データ１３ｂから取得した条件パラメータｘとを比較する。 - 特許庁

To provide a mapping property measuring method, capable of measuring a high-reliability image clarity property, even when a light quantity distribution on the sample surface of a measuring object is large in width.例文帳に追加

被測定物のサンプル面の光量分布の幅が大きい場合でも信頼性の高い写像性の測定を行うことのできる写像性測定方法を提供する。 - 特許庁

In the sample vaporizing chamber, the aluminum blocks 1b, 1c pressed by the blade spring 4 are opened by tightening the adjustment screw 6, and a temperature distribution of the inlet cell can be changed.例文帳に追加

しかし、調整ネジ６を締め込むことで板バネ４に押さえられているアルミブロック１ｂ、１ｃは開き、注入口セルの温度分布を変えることができる。 - 特許庁

To easily evaluate the surface liquid repellency and in-plane distribution of a sample in a short time with high precision by a simple constitution even with respect to samples having various sizes.例文帳に追加

様々なサイズの試料でも、簡単な構成で容易に、かつ、短時間で、試料表面の撥液性及び面内分布を高精度で評価できるようにする。 - 特許庁

The Luer top of the injector can be connected to the Luer fixture of the adapter for facilitating the safe and convenient distribution of the sample to the cartridge for examination through the adapter.例文帳に追加

注射器のルーアー先端部が、アダプタを通って検査用カートリッジへの検体の安全且つ便宜な分配のために、アダプタのルーアー取付け器具に連結され得る。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for measuring a particle size distribution, which reduce dependency of the particle size distribution on its concentration by setting a unique concentration correcting value on a specific object sample to be measured thereby carrying out the measurement more accurately, and provide a measuring program used in the apparatus for measuring the particle size distribution.例文帳に追加

粒径分布測定装置において、特定の測定対象試料に固有の濃度補正を設定することにより、粒径分布の濃度依存性を軽減し、より高精度の測定を行うことができる粒径分布測定方法、粒径分布測定装置および粒径分布測定装置の測定プログラムを提供する。 - 特許庁

(3) The actual soil constituting distribution is grasped or the distribution diagram is formed by analyzing the actual content or the characteristics of the soil constitution in each soil constituting basic type according to the analysis of the soil sample collected based on the decision and applying the analysis result to the γ-ray dose distribution diagram.例文帳に追加

（３）上記決定に基づいて採取した土壌サンプルの分析によって各土壌構成基本型における土壌構成の実際の内容又は特性を分析し、その分析結果を前記γ線量分布図にあてはめることにより、実際の土壌構成分布を把握しあるいはその分布図を作成する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating particle size distribution wherein the object is a particle dispersion in which particles are dispersed in a medium, while the method does not use an expensive laser light source or an apparatus for receiving the light, and the particle size distribution of the dispersion sample can be evaluated even in a high concentration or in a thick film state without fine adjustment of the thickness of the dispersion sample.例文帳に追加

粒子を媒質に分散させた粒子分散体を対象とし、高価なレーザー光源及び同受光装置を用いることなく、分散体試料の厚さの精密調整を必要とせずに、高濃度あるいは厚膜のままでも粒度分布の評価を行うことのできる粒度分布評価方法を提供する。 - 特許庁

An orbit of the charged particle is calculated in compliance with the decided distribution model, and a surface potential distribution state of the sample is determined on a base of the result of the calculation, (step 523 to 535).例文帳に追加

そして、その取得結果に基づいて、適切な電荷又は電位の分布モデルを決定し、その決定された分布モデルに応じて荷電粒子ビームの軌道を計算し、該計算結果に基づいて試料の表面電位の分布状態を求める（ステップ５２３〜５３５）。 - 特許庁

To provide a new method for analyzing a crystal structure, can identify a peak spread attributable to a twist distribution even when a crystal quality of a measurement sample deteriorates considerably and the peak spread attributable to the twist distribution expands greatly.例文帳に追加

測定試料の結晶品質が著しく劣化し、ｔｗｉｓｔ分布に起因したピーク拡がりが著しく大きくなる場合にも、ｔｗｉｓｔ分布に起因したピーク拡がりを同定する結晶の構造解析方法を新たに提供する。 - 特許庁

To provide an error distribution method for controlling the distribution of both errors as a shape processing method for deriving position and shape errors to the design shape of a sample from measured data outputted by a shape measuring machine.例文帳に追加

形状測定機が出力する測定データから被測定物の設計形状に対する位置誤差及び形状誤差を導出する形状処理方法として、両誤差の配分を制御可能とするような誤差配分方法を提供する。 - 特許庁

The confocal differential interference image shows unevenness change of approximately several nm of a sample surface in the form of a luminance distribution, so a crystal defect appearing on the SiC substrate surface or epitaxial layer surface is detected based upon the luminance distribution.例文帳に追加

共焦点微分干渉画像は、試料表面の数ｎｍ程度の凹凸変化を輝度分布として表すので、SiC基板表面又はエピタキシャル層表面に出現した結晶欠陥を、輝度分布に基づいて検出することができる。 - 特許庁

A viscometer 8 and a thermometer 9 are built in a cell 2 to directly and automatically measure the viscosity and temperature of the sample at real time in measuring the grain size distribution, and the grain size distribution is automatically calculated while applying the viscosity and temperature as parameters.例文帳に追加

セル２に粘度計８及び温度計９を組み込み、粒径分布測定時にリアルタイムかつ直接的に試料の粘度及び温度を自動測定するとともに、それら粘度及び温度をパラメータとして粒径分布を自動的に算出するようにした。 - 特許庁

The DNA spin mapping/medical system comprises an equipment for measuring an exchange interacting force being set with a biological sample 1, a probe 4 for searching radical, spin distribution at the time of various radical reaction generated from the biological sample 1, and a processing unit 15 being connected with the probe 4.例文帳に追加

生体試料１がセットされる交換相互作用力の測定装置と、前記生体試料１が生成している各種ラジカル反応時のラジカル、スピン分布を探索する探針４と、この探針４に接続される演算・処理装置１５とを具備する。 - 特許庁

Specifically, light emission by glow discharge is caused by supplying electric power to the sample S, the emitted light is dispersed every wavelength, and the intensity of the light is measured, thereby measuring the concentration distribution of the component element in the depth direction of the sample S.例文帳に追加

具体的には、試料Ｓに給電することによりグロー放電による発光を発生させ、当該発光を波長ごとに分光して分光した光の強度を測定することにより、試料Ｓの深さ方向における成分元素の濃度分布の測定を行なう。 - 特許庁

To provide a standard sample plate for calibration which calibrates a particle size distribution measuring device with high accuracy and improves the calibration workability by setting the binarized level by a standard sample of the shape similar to that of the particles of the powder sample to be actually measured, and setting the measurement field of view and the binarized level by the same calibration plate.例文帳に追加

実際に測定する粉体試料の粒子と同様の形状の標準サンプルで二値化レベルの設定を行うと共に、測定視野設定と二値化レベル設定とを同一校正板で行うことにより、粒度分布測定装置の校正を精度良くし、校正時の作業性を向上することができる校正用標準サンプル板を提供する。 - 特許庁

To allow sampling under the condition where a particle size distribution, reactivity and the like of a collected sample in a sample collected portion are kept as they are, even when cohesiveness, the reactivity and the like of the sample (solid particles) are changed variously in a sampling chamber (reaction chamber) 100 as in a char in a coal hydrogenating gasfication furnace.例文帳に追加

石炭水素添加ガス化炉内でのチャーのように、採取試料（固体粒子）の凝集性、反応性などがサンプリング室（反応室）１００内で種々変化する場合であっても、試料採取箇所での採取試料の粒度分布や反応性などをそのまま保った状態でサンプリングできる固体粒子サンプリング装置を得る。 - 特許庁

In a scanning probe microscope 10 for making a probe 16 provided for one end of the cantilever 15 scan along the surface of a sample 30 and measuring the height and a distribution of the physical state of the sample 30, the resonance frequency of the cantilever 15 is detected before and after the measurement of the sample 30 to detect the presence or absence of the adhesion of foreign matter to the tip of the probe 16.例文帳に追加

カンチレバー１５の一端に設けられたプローブ１６を試料３０の表面に沿って走査させて試料３０の高さ及び物理状態の分布を測定する走査プローブ顕微鏡１０において、試料３０の測定の前後にカンチレバー１５の共振周波数を検出してプローブ１６の尖端への異物の付着の有無を検知する。 - 特許庁

To accurately measure a grain size without measuring and inputting the viscosity of a sample in advance, in a so-called dynamic scattering type grain size distribution measuring device.例文帳に追加

いわゆる動的散乱式粒径分布測定装置において、試料の粘度を事前に測定し入力するといった手間を不要とし、しかも正確な粒子径測定を行えるようにする。 - 特許庁

Then, the distribution end in the measurement chips while the inspection liquid is being retained is heated and dissolved for closing, which is used as an auxiliary sample supplying container (reaction container) in wet chemistry as it is for analysis.例文帳に追加

次に検査液を保持したままの測定チップの分配端を加熱溶解して密閉し、これをそのままウェットケミストリーでの補助試料供給容器（反応容器）として分析を行う。 - 特許庁

To evaluate the position of a target device in a high-frequency network by maintaining a probabilistic model on several sample points indicating the predicted distribution of a signal value at a certain position.例文帳に追加

高周波ネットワーク内の目標装置の位置を、ある位置における信号値の予測分布を示すいくつかのサンプル点に関する確率モデルを維持することによって評価する。 - 特許庁

The power distribution is calculated based on the reach times T of the respective characters (players M) to a plurality of sample points Q set in the game space, and output in the prescribed method.例文帳に追加

ゲーム空間中に設定した複数の標本地点（Ｑ）までの各キャラクタ（選手Ｍ）の到達時間Ｔに基づいて勢力分布を算出し、所定の方法で出力する。 - 特許庁

To provide a vibration type densitometer capable of removing the effect on a density indication value in a case that the temperature distribution in a cell is changed by a change in the outside temperature and a change in the temperature of a sample.例文帳に追加

外部温度変化、試料温度変化によりセル内温度分布が変化した場合の密度指示値への影響を除去することができる振動式密度計を提供する。 - 特許庁

A two-dimensional histogram as to each pixel existing in the same position of the images of the two time phases obtained from this space is deemed as a sample distribution of pixels corresponding to the hepatic region.例文帳に追加

この空間において、２つの時相の画像で同一位置にある各画素についての２次元ヒストグラムを求め、これを肝臓領域に対応した画素の標本分布とみなす。 - 特許庁

To recover spectroscopic information with a uniform precision without deviation of photo spectrum reproducing precision even in the case there is a deviation in the color distribution of a sample chart.例文帳に追加

サンプルチャートの色分布に偏りがある場合においても、分光色空間内において分光再現精度の偏りがなく均一な精度で分光情報を復元することができる。 - 特許庁

To provide an ultrasonic image pickup method and device capable of automatically keeping the identity of the position of a sample volume in the area of concern when the two-dimensional distribution image of a flow velocity index is picked up.例文帳に追加

流速指数の２次元分布像を撮像するとき、関心領域におけるサンプルボリュームの位置の同一性が自動的に保たれる超音波撮像方法および装置を実現する。 - 特許庁

The gas distribution plate 31 is grounded through a switch 30 and is switched to be a counter electrode of the sample table 3 or to be in an electrically strayed state by the switching on/off the switch 30.例文帳に追加

ガス分散板３１はスイッチ３０を介して接地されており、スイッチ３０のオン／オフにより試料台３の対向電極になるか、又は電気的に浮遊した状態に切り換えられる。 - 特許庁

To provide an X-ray analyzer capable of creating accurately an element distribution map of a measuring sample having a complicated shape or the like, even when having a small-sized and simple structure.例文帳に追加

小型かつ簡易な構造であっても、複雑な形状等を有する測定試料の元素分布マップを精度良く作成することができるＸ線分析装置を提供する。 - 特許庁

At a resonance mode calculation part 56, the resonance frequency is derived by using an assumed elastic constant, and the distribution of the vibration amplitude on the sample surface for the resonance frequency is calculated.例文帳に追加

共振モード演算部５６は、仮定した弾性定数を用いて共振周波数を求めるとともに、その共振周波数における試料表面の振動振幅の分布を演算する。 - 特許庁

The surface of the sample is rubbed with a copper wire before the analysis so that, in a figure, a peak is shown in the distribution of copper caused by segregation to the interface between a polycrystal silicon film and a silicon dioxide film.例文帳に追加

図には、分析前に試料表面を銅線で擦っておいたため、銅の分布に多結晶シリコン膜と二酸化シリコン膜界面への偏析に起因するピークが現れる。 - 特許庁

In a sample sampled from the strippable sheet, a distribution range of an inclination of orientation principal axis (orientation angle) of the strippable sheet substrate with respect to a straight axis set in an arbitrary direction is 5° or less.例文帳に追加

剥離シートからサンプリングした試料において、任意方向に設定した直線軸に対する剥離シート基材の配向主軸の傾き（配向角）の分布範囲が５°以下である。 - 特許庁

To provide a method and a device for precisely evaluating two dimensional distribution of crystal structure defects of a semiconductor sample by a photoluminescence method in nondestructive and noncontact manner.例文帳に追加

フォトルミネッセンス法により、非破壊、非接触で半導体試料の結晶構造欠陥の２次元分布の評価を高精度で行うことを可能にする方法及び装置を提供する。 - 特許庁

Thus, the appearance distribution of each sample document set can be calculated so that the validity of the retrieval condition and any influence of the retrieval condition on the retrieved result can be easily judged.例文帳に追加

サンプル文書集合ごとの出現分布を算出することができるため、検索条件の妥当性とその検索条件の検索結果への影響を容易に判別することができる。 - 特許庁

To provide a particle size distribution measuring device capable of preparing a sample quickly and accurately by monitoring simultaneously and precisely a transmittance of inspection light belonging to a different wavelength band.例文帳に追加

異なる波長帯域に属する検査光の透過率を同時且つ的確にモニターして、素早く正確に試料調整できるようにした粒子径分布測定装置を提供する。 - 特許庁

To improve the accuracy and reliability of measurement values of specific heat capacity and total hemispherical emissivity at an arbitrary temperature by solving problems of ununiformity in sample temperature distribution and electromagnetic interference noise.例文帳に追加

試料温度分布の不均一性や電磁干渉ノイズの問題を解消して任意の温度における比熱容量と半球全放射率の測定値の確度・信頼性を向上させる。 - 特許庁

To provide a particle diameter distribution-measuring device and method for obtaining more accurate particle diameter distribution by compensating for the decrease in scattered light due to the diameter of particles being characterized by the color of a sample to be measured and Mie scattering.例文帳に追加

測定対象試料の色やＭｉｅ散乱によって特徴付けられる粒子径による散乱光の減少を補って、より高精度の粒子径分布を求めることができる粒子径分布測定装置および粒子径分布測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a multi-pH sensor and its manufacturing method capable of three-dimensionally grasping a distribution state of pH of a sample, and measuring the distribution state of pH in a minute area with high measuring accuracy and superior response.例文帳に追加

試料のｐＨの分布状態を三次元的に把握するとともに、微小領域におけるｐＨの分布状態を、高い測定精度および優れた応答性をもって測定することが可能なマルチｐＨセンサおよびその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To obtain a high-performance image, by solving the problems wherein a conventional image obtained by measuring the energy distribution of annihilation gamma-rays or the positron lifetime distribution does not provide stable information on sample surface and contains noise.例文帳に追加

従来の消滅ガンマ線のエネルギー分布又は陽電子寿命分布を測定して得られる画像では、試料表面の安定した情報が得られない問題や、ノイズが入ってしまうという問題があるので、高性能の画像を取得することを目的とする。 - 特許庁

To accurately and rapidly measure a distribution of birefringence of a sample, without being affected by the interferences of both sides of a wafer or being affected by the thickness distribution of the wafer, while considering the conventional technical problems.例文帳に追加

本発明の目的は、この従来技術の問題点に鑑み、ウエハーの表裏の干渉による影響を受けず、かつウエハー厚みの分布の影響を受けずにより精度が高くかつ迅速な方法で試料の複屈折率分布を計測できるようにすることにある。 - 特許庁

To provide a method for evaluating easily and quickly a film thickness and a distribution thereof of a thin film existing on a material surface, in particular, the method for evaluating the film thickness in a micro-part of the thin film existing on the material surface, and the film thickness distribution in a sample face.例文帳に追加

簡便で迅速に、材料表面に存在する薄膜の膜厚及びその分布を評価する方法、特に材料表面に存在する薄膜の微小部の膜厚および、試料面内での膜厚の分布を評価する方法を提供する。 - 特許庁

To provide an instrument and a method for measuring optical characteristics, reduced in limitation as to a measurable measuring object, capable of detecting quantitatively a double refraction distribution of the measuring object, in particular, suitable for analyzing a sample such as a biological sample in a surface state.例文帳に追加

計測可能な測定対象の制限が少なく、測定対象の複屈折分布を定量的に検出することが可能で、特に、生体などの試料を、面の状態で解析することに適した光学特性計測装置、及び、光学特性計測方法を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope apparatus capable of independently changing the intensity distribution of stimulating light in the depth direction on a sample surface of a laser beam stimulating a sample and light for acquiring an image respectively, and an observation method using the confocal microscope apparatus.例文帳に追加

標本に刺激を加えるレーザ光と画像取得のための光との標本面上での深さ方向の励起光強度分布をそれぞれ独立に変化させることができる共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法を提供すること。 - 特許庁