「scale defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A second coordinate system in a defect imaging device is created using the physical scale (S7).例文帳に追加

前記物理目盛を用いて欠陥撮影装置内での第２の座標系を作成する（Ｓ７）。 - 特許庁

To provide a surface inspection device capable of detecting easily a large-scale defect of a wafer.例文帳に追加

ウェハにおける大規模な欠陥を容易に検出可能な表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To reduce a position detection error arising from stain on a scale or a defect in a grating by simple calculation.例文帳に追加

簡単な計算で、スケールの汚れや格子の欠陥により発生する位置検出誤差を低減する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus that more effectively suppresses occurrence of scale-like defect.例文帳に追加

うろこ状ディフェクトの発生をより効果的に抑制することのできる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To manufacture shapes excellent in surface property by efficiently removing primary scale from the surface of steel and preventing the generation of a surface defect due to the scale.例文帳に追加

一次スケールを、鋼材表面から効率的に除去し、スケールに起因するの表面疵の生成を防止して、表面性状の優れた形鋼を製造する。 - 特許庁

To propose a defect correction technique of excellent memory efficiency, for performing small scale correction of an execution program.例文帳に追加

実行プログラムの小規模な修正を行うためのメモリ効率の良い欠陥修正手法を提案すること。 - 特許庁

Occurrence of any scale-like defect in the product is suppressed, and it is effective for increase in yield of the product and shortage of the delivery.例文帳に追加

製品にスケール性欠陥が発生するのを抑制でき、製品歩留まり向上やデリバリーの短縮に効果がある。 - 特許庁

Defect inspection is conducted for a liquid crystal panel 11 performing a gray scale display by controlling fluctuation of transmitted light quantity.例文帳に追加

光透過量の増減を制御することにより階調表示を行う液晶パネル１１の欠陥検査を行う。 - 特許庁

To provide an image display device without any large-scale display defect through restraint of wire breaking accompanying a narrower wiring pattern.例文帳に追加

配線パターンの細線化に伴う断線を抑制し、大幅な表示欠陥のない画像表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a descaling method in hot rolling by which a scale type defect of the so-called red scale is prevented by removing the scale containing Si or the like which bites into an base iron in a wedge shape together with the scale of Fe_2O_3 or the like generated during rough rolling.例文帳に追加

地鉄にくさび状に食い込んだＳｉ等を含むスケールを粗圧延中に生成するＦｅ_２Ｏ_３などのスケールとともに除去することにより、所謂赤スケールと呼ばれるスケール性欠陥を防止することができる熱間圧延におけるデスケーリング方法を提供する。 - 特許庁

To decide a defect with high precision by eliminating a misdecision on a defective pixel of an imaging device without increasing a circuit scale.例文帳に追加

回路規模を増大させることなく、撮像素子の欠陥画素の誤判定を無くして、精度の高い欠陥判定を行うこと。 - 特許庁

This is a method for making a maintenance plan by operating the risk assessment of equipment with the matrix of the scale and defect probability of a damage.例文帳に追加

被害の大きさと損傷確率のマトリックスで設備機器のリスク評価をなしメンテナンス計画を立案する方法である。 - 特許庁

To provide a pixel defect correction device, a pixel defect detector and a pixel defect detecting method that can correct a defective pixel and stably detect the defective pixel without increasing the circuit scale in response to a color filter of an image pickup element.例文帳に追加

撮像素子の有する色フィルタに応じて、回路規模が増大することなく、欠陥画素を補正でき、また、欠陥画素を安定して検出することのできる画素欠陥補正装置および画素欠陥検出装置ならびに方法を提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which an increment in circuit scale and a test time is suppressed and the defect of a memory is easily analyzed.例文帳に追加

回路規模およびテスト時間の増大を抑えて、メモリの不良解析の容易化が図られた半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

The image processing section 104 subtracts the average gray scale value for each pixel column from a gray scale value of each pixel in the image data, applies threshold processing to the difference obtained, and identifies the defect region.例文帳に追加

画像処理部１０４は、上記画像データにおける各画素の濃淡値から、画素列毎の平均濃淡値を減算し、得られた差分値に対して閾値処理を行って欠陥領域を特定する。 - 特許庁

To deal with the problem of a defect caused by enlargement of area or an increment of faults in processing steps in a large-scale integrated circuit.例文帳に追加

大規模集積回路構成の、面積を大きくすることによる欠陥や製造過程で生じる不良個所の増大に対応すること - 特許庁

To provide a method for preventing a seed from causing a defect in germination and rosette formation which can easily be performed and allows simply seeding after treating without requiring a large-scale equipment in relation to the seed easy to cause the defect in germination and the rosette formation.例文帳に追加

発育不良、ロゼット化を生じやすい種子に関して、すなわち、大がかりな設備が不要で容易に実施でき、処理後の播種が容易な種子の発芽不良・ロゼット化防止方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device having a small device scale, allocating surely a defect of an observation object into a visual field of an electron microscope or the like, concerning a device for observing minutely by the electron microscope or the like, a defect detected by an optical defect inspection device or an optical appearance inspection device.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡等で詳細に観察する装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ装置規模を小さくできる装置を提供する。 - 特許庁

To perform a precise defect inspection by eliminating the influence of a fluctuation in scale factor of a mapping projection optical system and also in scan sensitivity of a multi-beam optical system.例文帳に追加

写像投影光学系の拡大率の変動やマルチビーム光学系の走査感度の変動の影響を解消して精度のよい欠陥検査を行うこと。 - 特許庁

To provide a method for producing an N-formylaminocarboxylate in a high yield and high selectivity, having no defect of conventional technology and usable for large-scale production.例文帳に追加

従来技術の欠点がない、大規模製造に使用可能な、Ｎ-ホルミルアミノカルボン酸エステルの高収率、高選択率の製造方法を提供する - 特許庁

To produce a steel plate excellent in the surface characteristic by preventing defect caused by scale when the steel plate is produced by directly feeding and rolling a continuously cast slab.例文帳に追加

連続鋳造鋳片を直送圧延して鋼板を製造する際に、スケール性欠陥を防止して表面性状の優れた鋼板を製造する。 - 特許庁

Thus, it is possible to decide the defect with high precision by eliminating the misdecision on the defective pixel of the imaging device 22 without increasing the circuit scale.例文帳に追加

それ故、回路規模を増大させることなく、撮像素子２２の欠陥画素の誤判定を無くして、精度の高い欠陥判定を行うことができる。 - 特許庁

To provide a master disk defect measuring device which can be easily installed in a master disk cutting machine and can acquire, store and process a position and a scale of the defect generated in a rugged pattern of an optical master disk as data of a small amount of information and to provide an master disk defect measuring method.例文帳に追加

原盤カッティング機への設置が容易で、且つ光ディスク原盤の凹凸パターンに生じたディフェクトの位置及び大きさを情報量の少ないデータで取得、格納、及び処理することが可能な原盤ディフェクト測定装置、及び原盤ディフェクト測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device capable of stably realizing a high yield of a large-scale semiconductor device even when a silicon carbide semiconductor including a defect is used.例文帳に追加

欠陥を内在する炭化珪素半導体を用いても、大面積半導体装置の高歩留りを安定して実現可能な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a voting system of a wireless system having no defect of a cable voting system, which is suitable to be used for the conference of a small scale and comparatively simple in configuration.例文帳に追加

有線投票システムの欠点が無い無線式のシステムであって、しかも比較的簡単な構成で、小規模の会議での使用に適した投票システムを提供する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus and its defective pixel correction method by which calculation of position information is simplified and increase of circuit scale of a defect correction system is suppressed.例文帳に追加

位置情報算出を単純化でき、また、欠陥補正系の回路規模の増大を抑えることが可能な撮像装置およびその欠陥画素補正方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus that obtains high-quality images which have been subjected to proper defect-correction and scaling processing, and achieves reduction in circuit scale and low power consumption.例文帳に追加

適切なキズ補正及びスケーリング処理を経た高品質な画像が得られ、回路規模の削減及び低消費電力化を可能とする画像処理装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can realize a simple defect relieving and in which circuit scale is reduced, its manufacturing method, and a computer including the semiconductor device.例文帳に追加

簡易な欠陥救済を実現できると共に、回路規模が低減された半導体装置とその製造方法及び該半導体装置を含む計算機を提供する。 - 特許庁

To provide a device for processing data correction which corrects a defect of defective data from a defective photoelectric converting element at high speed and whose circuit scale can be made small.例文帳に追加

欠陥のある光電変換素子からの欠陥画素データの欠陥補正を高速に行い且つ回路規模を小さくすることが可能なデータ補正処理装置を提供する。 - 特許庁

To easily calculate a value as the scale of a damage or defect probability (lifetime consumption rate) by operating digitization and weighting processing in performing an RBM method.例文帳に追加

ＲＢＭ手法を行うに際して、被害の大きさや損傷確率（寿命消費率）といった値を数値化処理して重み付けを行って簡単に割り出すことができるようにする。 - 特許庁

To provide a method for preventing the leakage of water to be electrolyzed and electrolytically produced water from an exhaust valve attributable to a defect in closing the exhaust valve by removing a scale attached to the exhaust valve constituting an electrolyzed water generator.例文帳に追加

電解水生成装置を構成する排出弁に付着するスケールを除去して、閉弁不良に起因する被電解水や電解生成水の排出弁からの漏洩を防止する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus that can avoid increase of the circuit scale and suppress the reduction of using efficiency and the reduction of processing speed when a defect of a point and line of a display panel is detected.例文帳に追加

表示パネルの点・線欠陥を検出する場合に、回路規模の増大を回避し、利用効率の低下及び処理速度の低下を抑制し得る画像処理装置を提供する。 - 特許庁

The color conversion matrix generating device can suitably adjust a color conversion matrix causing a defect such as change in hue and deterioration in gray scale.例文帳に追加

上記の色変換行列作成装置によれば、色相が変わったり、階調性が悪くなったりするなどの不具合が生じるような色変換行列を、適切に調整することが可能となる。 - 特許庁

Since defect detection is performed by utilizing a focus error signal and an index signal which are used in the master disk cutting machine 10, the master disk defect measuring device 50 can be easily installed in the master disk cutting machine 10 without incurring large scale reconstruction.例文帳に追加

本発明によれば、原盤カッティング機１０で用いられているフォーカスエラー信号及びインデックス信号を利用してディフェクトの検出を行うため、大幅な改造を行わずとも原盤ディフェクト測定装置５０を原盤カッティング機１０に容易に設置することができる。 - 特許庁

To detect a defect in each display region with high accuracy, in the case that an inspection pattern simultaneously having at least two kinds or more display regions with mutually different gray scale levels exists on a transmissive display panel.例文帳に追加

透過型表示パネルに、少なくとも２種類以上の異なる階調の表示領域を同時に有する検査パターンを有する場合において、表示領域毎の欠陥を高精度に検出する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a molded body having complicated design, a hollow body in particular without a defect in the prior art easily at a low cost in a large scale.例文帳に追加

公知の方法の欠点を有さず、複雑なデザインの成形体、特に中空成形体を製造することを可能とし、工業的に大規模に簡単に実施できそして低コストで実施できる方法の提供。 - 特許庁

To provide the technique for avoiding a malfunction in a device by a data transfer defect caused by a meta stable state without enlarging a circuit scale in a boundary between an analog data processing part and a digital signal processing part.例文帳に追加

アナログデータ処理部とデジタル信号処理部の境界において、回路規模を増大をさせることなく、メタ・ステーブルによるデータ転送不良による装置の誤動作を回避する技術を提供する。 - 特許庁

To prevent a surface defect of a product made of a billet to contrive the enhancement in a yield by eliminating a scale lump remaining in a deep groove part in carrying out scarfing of the billet.例文帳に追加

鋼片をスカーフィングする際の深掘れ部に残留するスケール塊を除去することにより、その鋼片からなる製品の表面欠陥を防止して歩留まり向上を図ることを課題とする。 - 特許庁

To provide a substrate holder for evaluating a film, which can evaluate the defect density in a formed film on a large-scale substrate containing a sodium content, such as soda glass, and provide a method for evaluating film.例文帳に追加

ソーダガラス等のナトリウム成分を含んだ大型基板に製膜される膜の欠陥密度評価を行うことが可能な膜評価用基板ホルダ及び膜評価方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a technology capable of accelerating the speed of verification of a large-scale, multi-functional and complicated logic in the development of an LSI, and achieving early removal of a defect, and remarkable improvement of verification efficiency.例文帳に追加

ＬＳＩ開発において、多機能、複雑かつ大規模な論理の検証を加速し、不良の早期摘出と検証効率の飛躍的改善を実現することができる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for putting a defect of an observational object in a view of an electron microscope, etc. without failure, and further making a scale of the apparatus small, in the method and the apparatus for observing the defect detected by an optical foreign matter inspection device or an optical visual inspection device with the electron microscope in detail.例文帳に追加

光学式異物検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡で詳細に観察する方法およびその装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ、装置規模を小さくできる方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a withstand voltage test method of power equipment dispensing with test equipment comprising a large-scale exclusive test power source or the like, capable of applying a variable voltage over a rated voltage, and having high defect detection accuracy.例文帳に追加

大規模な専用の試験電源等からなる試験設備が不要で、定格電圧以上の可変電圧を印加することができる欠陥検出精度が高い電力設備の耐電圧試験方法を提供する。 - 特許庁

To construct an active matrix driven liquid crystal element, capable of gray scale displaying by using fast responsiveness of a liquid crystal exhibiting a chiral smectic phase and improving contrast, by preventing alignments defect due to difference in level of wiring.例文帳に追加

カイラルスメクチック相を示す液晶の高速応答性を利用し、配線の段差に起因する配向欠陥を抑制してコントラストを向上し、階調表示が可能なアクティブマトリクス駆動型の液晶素子を構成する。 - 特許庁

Thereby, the hetero structure of the nano scale of the metal oxide, especially crystalline metal oxide can be formed with high productivity while suppressing damage on the crystalline structure, generation of oxygen defect, and characteristic deterioration caused by interdiffusion.例文帳に追加

これにより、金属酸化物、特に、結晶性金属酸化物のナノスケールのヘテロ構造を、結晶構造の損傷と酸素欠陥の生成、及び相互拡散による特性劣化を抑制しつつ、生産性高く形成できる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and its inspection method for inspecting a large scale semiconductor device in a short time, and detecting any defect in a semiconductor device and/or bad wiring with high sensitivity.例文帳に追加

規模の大きな半導体装置を短時間で検査でき、かつ、半導体装置における欠陥及び／又は不良配線を高感度で検出することができる半導体装置及びその検査方法を提供する。 - 特許庁