「surface imaging」に関連した英語例文の一覧と使い方(19ページ目) - Weblio英語例文検索

The imaging optical system is characterized in that, in the imaging optical system for focussing image information of an object surface on a line sensor, all of a plurality of the reflection surfaces existing in an optical path from the original surface to the line sensor are the off-axial reflecting surfaces.例文帳に追加

本発明の結像光学系は、物体面の画像情報をラインセンサー上に結像させる結像光学系において、前記物体面から前記ラインセンサーまでの光路中にある複数の反射面は全てオフアキシャル反射面であることを特徴としている。 - 特許庁

Furthermore, when the exit pupil distance monotonously increases, pupil correction is applied to an exit pupil distance (d) satisfying (d1+d2)/2<d<d2, where d1 is an exit pupil distance in the center of the imaging surface and d2 is an exit pupil distance at an end of the imaging surface.例文帳に追加

さらに、この射出瞳距離が単調に増加するときに、撮像面の中心での瞳射出距離がｄ１、撮像面の端での瞳射出距離がｄ２となる場合、（ｄ１＋ｄ２）／２＜ｄ＜ｄ２の関係を満たす射出瞳距離ｄに対して瞳補正を行う。 - 特許庁

To miniaturize an easily-handlable diagnostic imaging apparatus suitable for imaging a diagnosed object presenting in a narrow part such as an oral cavity and allowing a user to recognize not only the surface situation but also the inside situation near the surface of the diagnosis object.例文帳に追加

口腔内等の狭い箇所に存在する診断対象の撮影に好適であり、かつ、表面状況だけでなく、診断対象の表層に近い部分の内部状況も認知することが可能な診断用撮影器を、コンパクトで扱い易いものとして提供する。 - 特許庁

In this solid-state imaging apparatus 100, electrode terminals 12 are formed to cover openings on a front surface which are formed by through-holes 11, and projecting electrodes 22 corresponding to the electrode terminals 12 are formed on a light reception surface of a solid-state imaging element 2.例文帳に追加

本発明の固体撮像装置１００は、貫通孔１１により形成されたおもて面の開口部を覆うように電極端子１２が設けられており、固体撮像素子２の受光面上に、電極端子１２に対応する突起電極２２が形成されている。 - 特許庁

The imaging section 20, where the photography direction faces upward, is arranged at the back corner on a material placement table 10, a freely curved surface mirror 21 is arranged at the upper portion, and the imaging section 20 photographs the material D via a reflection surface 21a of the freely curved mirror 21.例文帳に追加

資料載置台１０上の奥側の角部に撮影方向を上に向けた撮像部２０を配置し、その上方に自由曲面ミラー２１を配置して、撮像部２０が自由曲面ミラー２１の反射面２１ａを介して資料Ｄを撮影する。 - 特許庁

At the time of operating an electrostatographic printing apparatus including the charge-retentive member providing an imaging surface and the charging device for imparting a charge on the imaging surface, a power supply to apply a bias is applied and the bias is applied to the charging device according to the power supply application.例文帳に追加

イメージング面を提供する電荷保持部材及び当該イメージング面上を荷電させる荷電デバイスを備える静電写真印刷装置を動作させるに際して、バイアス印加用の電源を印加し、この電源印加に応じ荷電デバイスに対しバイアスを印加する。 - 特許庁

The imaging apparatus 16 for the electronic endoscope incorporated in the electronic endoscope 10 uses a bare chip where terminals 29 are arranged in a concentrated manner at the side edge part 23d on the rear end side of an insertion part 12 of a surface 23b provided with an imaging surface 23a as a CCD 23.例文帳に追加

電子内視鏡１０に内蔵された電子内視鏡用撮像装置１６は、ＣＣＤ２３として、撮像面２３ａが設けられた表面２３ｂの、挿入部１２の後端側の辺縁部２３ｄに端子２９が集中配置されたベアチップを用いる。 - 特許庁

A camera includes an imaging element 107 which images a subject to acquire an image, a protective member 109, which is disposed on a surface of the imaging element 107 and has its surface coated with a photocatalyst substance, and an illuminating means 110 for illuminating the photocatalyst substance.例文帳に追加

カメラは、被写体を撮像して画像を取得する撮像素子１０７と、撮像素子１０７の表面に配置され、表面に光触媒物質が塗布された保護部材１０９と、光触媒物質を照明する照明手段１１０とを備える。 - 特許庁

The apparatus 1 for detecting road surface condition comprises a headlight 10 for lighting road surface, a camera 12 for imaging the images of S-polarization and P-polarization of the road surface, and a controlling section 18 for determining the road surface condition based on the images of S-polarization and P-polarization.例文帳に追加

路面状態検出装置１は、路面を照射するヘッドライト１０と、路面のＳ偏光画像およびＰ偏光画像を撮像するカメラ１２と、Ｓ偏光画像およびＰ偏光画像に基づいて路面状態を判定する制御部１８とを備える。 - 特許庁

In the imaging device, an angle formed between a surface 6a nearer to a lens 3 out of an inner peripheral surface 6 of an aperture 5 and an optical axis 7 is smaller than that between a surface 6b farther from the lens 3 out of the inner peripheral surface 6 of the aperture 5 and the optical axis 7.例文帳に追加

開口５の内周面６におけるレンズ３に対する近傍側の面６ａの光軸７とのなす角度が、前記開口５の内周面６における前記レンズ３に対する遠方側の面６ｂよりも小さくなるように形成されていること。 - 特許庁

The imaging lens includes, in the order from the side of an object toward an image surface 6, a light amount diaphragm 2, a first lens 3 having a positive power with a main power on the side closer to the image surface 6, and a second meniscus-shaped lens having a negative power with a strong concave surface turned toward the image surface 6.例文帳に追加

物体側から像面６側に向かって順に、光量絞り２と、像面６側に主たるパワーを持つ正のパワーを有する第１レンズ３と、像面６側に強い凹面を向けた負のパワーを有するメニスカス形状の第２レンズ４とを有すること。 - 特許庁

To provide a cap inspection apparatus for inspecting the external appearance of a cap by handling only the side face of the cap without supporting the top surface or under surface of the cap by a support base and imaging the cap while conveying the cap in a state of making the top surface or under surface of the cap free.例文帳に追加

キャップの天面または下面を支持台で支持することなくキャップの側面だけをハンドリングしてキャップの天面または下面をフリーにした状態で搬送しつつ、キャップを撮像して外観検査を行うキャップの検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an imaging device mobile unit capable of accurately adjusting the position of an imaging device by a simple configuration, by the movement of the imaging device held at a first moving member by pushing the tilted surface of a first moving member traveling in an optical axis direction with the tilted surface of a second moving member traveling in a direction orthogonal to an optical axis.例文帳に追加

光軸と直交する方向に移動する第２移動部材の傾斜面で光軸方向に移動する第１移動部材の傾斜面を押して、第１移動部材に保持された撮像素子を移動させることにより、簡単な構成で撮像素子の位置を精度よく調整することができる撮像素子移動装置を提供する。 - 特許庁

A distance detector 6 is provided for detecting a projection distance from a test pattern imaged by an imaging part 22, the distance detector 6 comprising a test pattern projection part 21 for projecting the test pattern used to detect the projection distance between the projection lens 11 and the projection surface, and an imaging part 22 for imaging the test pattern projected onto the projection surface.例文帳に追加

投射レンズ１１と投射面との間の投射距離を検出するためのテストパターンを照射するテストパターン照射部２１と、投射面上に照射されたテストパターンを撮像するための撮像部２２とを有しこの撮像部２２によって撮像されたテストパターンから投射距離を検出するための距離検出装置６を備える。 - 特許庁

The imaging apparatus has an electric board 17 having an opening 17a, the imaging element 21 comprising a bare chip mounted on the electric board to cover the opening, and a fastening member 15 having an aperture opposed to the rear surface of the mounting surface of the photographing element which is fastened to the imaging element by impregnating the aperture with an adhesive agent 32.例文帳に追加

撮像装置において、開口１７ａを有する電気基板１７と、開口を覆うように電気基板に実装されるベアチップからなる撮像素子２１と、撮像素子の実装面の裏面に対向する開口を有し該開口中に接着剤３２が添着されて撮像素子に固着される固定部材１５とを備えてなる。 - 特許庁

In the image-forming lens 20, a support 22 in the image-forming lens 20 is joined onto the surface of the imaging device 10 while the light reception 11 of the imaging device 10 is sealed, and an electrode pad 12 of the imaging device 10 arranged outside the junction surface is connected to the lead 14b of a lead frame (electrode terminal) used for packaging onto the circuit board electrically.例文帳に追加

結像レンズ２０は撮像素子１０の受光部１１を封止する態様で結像レンズ２０の支持部２２が撮像素子１０の表面に接合されており、この接合面の外部に配されている撮像素子１０の電極パッド１２と回路基板への実装に用いられるリードフレーム（電極端子）のリード部１４ｂとが電気的に接続される。 - 特許庁

The imaging optical system 100 is provided with: an object side reflection prism 101; and an imaging element side reflection prism 102 which bend and reflect incident light almost by 90°, wherein the prisms are arranged such that the incident surface 101a of the object side reflection prism 101 becomes substantially parallel to the outgoing surface 102a of the imaging element side reflection prism 102.例文帳に追加

撮像光学系１００は、入射光を略９０度屈曲して反射する被写体側反射プリズム１０１と撮像素子側反射プリズム１０２を備え、被写体側反射プリズム１０１の入射面１０１ａと撮像素子側反射プリズム１０２の射出面１０２ａとが略平行となるように配置されてなる。 - 特許庁

In the first imaging section 2, a neck surface, including both the mouth part and the screw surface, is imaged from outside of the mouth section by a line sensor camera 22 with wide elevation angles, while self-rotating the self-rotating section 13.例文帳に追加

第一撮像部２では、自転回転部１３を自転させながら口部の外側から口部とネジ表面を含めた首部表面をアオリを利かせたラインセンサカメラ２２で撮像する。 - 特許庁

To facilitate prevention of erroneous measurement of an indicator image from each surface of an optical element to be inspected on an imaging surface, when measuring an amount of eccentricity of the optical element to be inspected by using an autocollimation method.例文帳に追加

オートコリメーション法を用いて被検光学素子の偏芯量を測定する場合に、撮像面上での、被検光学素子の各面からの指標の像の誤測定を簡易に防止する。 - 特許庁

The contact surface is imaged on an image sensor 5 so that the image 51 of the contact surface is generated on the image sensor 5 through only one imaging optical system 4 as the intensity pattern.例文帳に追加

接触面の結像（５１）が強度パターンとして１つの結像光学システム（４）だけを介して画像センサ（５）上に生成されるように、接触面を画像センサ上に結像する。 - 特許庁

To provide a lighting system for detecting a minute defect of several micrometer order in surface inspection of detecting a defect in the surface of an inspecting object by imaging processing.例文帳に追加

画像処理により検査対象物の表面の欠陥を検出する表面検査において、数μｍオーダの微小欠陥の検出を可能にする照明装置を提供する。 - 特許庁

The method of manufacturing the solid-state imaging device includes a step of forming an on-chip color filter 19 and an on-chip microlens 21a on a light incidence surface side and then forming an opening 20 in the pad on the light incidence surface.例文帳に追加

光入射面側にオンチップカラーフィルタ１９及びオンチップマイクロレンズ２１ａを形成した後に、前記光入射面側にパッド部の開口部２０を形成する工程を有する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection device capable of more reliable surface defect inspection capable of imaging while securing sufficient brightness even the inspection object is curvilinear solid.例文帳に追加

被検査物が曲面体であっても十分な明るさをもった撮影画像が確保でき、より信頼性の高い表面欠陥検査が可能となる表面欠陥検査装置を提供する - 特許庁

An exposure apparatus 1 is provided with a surface state inspection device 30 which has an imaging apparatus 22c for inspecting surface state of a wafer W held on a wafer holder 15.例文帳に追加

露光装置１は、ウエハホルダ１５上に保持されたウエハＷの表面状態を検査するための撮像装置２２ｃを有する表面状態検査装置３０を備えている。 - 特許庁

To surely remove electrical noises due to the presence of an interface at which different conduction type layers are laminated on a cut surface of a rear surface irradiation type imaging element, by a simple process.例文帳に追加

裏面照射型撮像素子の切断面に異なる導電型の層が積層された界面が存在することによる電気的なノイズを、簡易な工程で確実に除去する。 - 特許庁

When inspecting the surface of the sealant for defects, a light beam 3 from a light source 2 is incident into the semiconductor element 1 at an angle of 10 to 30° with respect to the upper surface of the chip, and imaging is conducted.例文帳に追加

封止体表面の欠陥を検査する時には、チップ上面に対して１０°〜３０°の角度で光源２からの光線３を半導体素子１に入射させて撮像する。 - 特許庁

The gradient coil 300 and other elements of a magnetic resonance imaging system include at least one layer 302 made of copper and having a first surface 31 and a second surface 318.例文帳に追加

磁気共鳴撮像システムの傾斜コイル（３００）やその他の素子は、第１の表面（３１６）及び第２の表面（３１８）を有する銅からなる少なくとも１つの層（３０２）を備える。 - 特許庁

To provide a catadioptric projection objective for imaging an object field arranged in an object surface of the projection objective onto an image field arranged in an image surface of the projection objective.例文帳に追加

投影対物器械の物体面に配置された物体視野を投影対物器械の像面に配置された像視野上に結像するための反射屈折投影対物器械を提供する。 - 特許庁

To discriminate the steep surface or flat surface of solder hardly detected by color highlight illumination while imaging a region other than the solder under white illumination.例文帳に追加

カラーハイライト照明で検出が難しいはんだの急峻な面や平坦面を判別できるようにするとともに、はんだ以外の部位を白色照明下で撮像できるようにする。 - 特許庁

In the lens barrel, the reflecting member disposed closest to the object side is arranged at the inside of the outside surface facing the reflecting surface arranged closest to the image side, of the imaging element.例文帳に追加

最も物体側に配置された反射部材を、撮像素子の最も像面側に配置された反射面に対向した外形面より、内側に配置したレンズ鏡胴とする。 - 特許庁

Since the plate part 12 is equipped with a concave part 12a formed as a concave curved surface, the curvature of the surface of the variable lens 11 opposed to an imaging device 71 is kept constant.例文帳に追加

また、板部１２は凹状の曲面に形成された凹部１２ａを備えるため、可変レンズ１１の撮像素子７１と対向する面の曲率を一定に保つことができる。 - 特許庁

To provide a camera capable of suppressing the adhesion of dusts removed from the surface of an optical member in the camera again to the surface of the optical member, and to provide an imaging element unit therefor.例文帳に追加

カメラ内部の光学部材の表面から除去した塵埃が再度光学部材の表面に付着することを抑止し得るカメラ及びその撮像素子ユニットを提供する。 - 特許庁

In a visible ray imaging mode, the surface of the substrate 10 near an N-type area 11 is short-circuited to a lower surface of the infrared ray receiving layer 13, and the entrance of the carriers into a cavity layer 12 is restricted.例文帳に追加

可視光撮像モードでは、Ｎ型領域１１近傍の基板１０表面と赤外受光層１３下面とを短絡し、キャリアが空乏層１２に入り込むのを抑制する。 - 特許庁

The imaging part 11 is provided with a movable support roller 31 for pressing the cylindrical body 10 to the hole wall surface to make the image obtaining surface 15 and the hole wall 5 of the investigation hole 4 closely adhere to each other.例文帳に追加

画像取得面１５と調査孔４の孔壁５とを密着させるように筒状本体１０を孔壁面に押しつける可動支持ローラ３１を撮像部１１に設ける。 - 特許庁

Two or more of inspection images are obtained by imaging at least two out of the top surface, the reverse surface and the bevels of the substrate in one or more of manufacturing process of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の１つ以上の製造工程において基板の表面、裏面、およびベベルのうち少なくとも２つを撮像することにより２枚以上の検査画像が得られる。 - 特許庁

For example, the device for detecting the defect on the surface of the image medium is provided in an imaging system including at least the surface of one image medium.例文帳に追加

本発明の一実施例によれば、少なくとも１つの画像媒体表面を含むイメージングシステムにおいて、画像媒体表面上の欠陥を検出するための装置が提供される。 - 特許庁

Further a polarization filter 3 is arranged at least between the illumination part 1 and the surface of the flexible substrate 10 or between the surface of the flexible substrate 10 and the imaging parts 4, 5.例文帳に追加

さらに、照明部１とフレキシブル基板１０の表面との間、又はフレキシブル基板１０の表面と撮像部４，５との間の少なくとも一方に偏光フィルタ３を配置する。 - 特許庁

A short-axis imaging lens system constituting a tandem optical system forms, on a surface to be irradiated and within the short-axis plane, the cross sections of the plurality of beams superposed on the intermediate homogenized surface.例文帳に追加

タンデム光学系を構成する短軸用イメージングレンズ系が、中間ホモジナイズ面上に重ね合わされた複数のビームの断面を、短軸面内に関して被照射面上に結像させる。 - 特許庁

To provide a photoelectric conversion device and an imaging system in which a substrate bias can be supplied from a top surface of a semiconductor substrate to a semiconductor region on the reverse surface side of the semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板の表面から半導体基板の裏面側の半導体領域へ基板バイアスを供給することができる光電変換装置及び撮像システムを提供する。 - 特許庁

To smoothly incorporate an imaging unit originally having a size larger than that of a side surface opening in an integral structural exterior member having the side surface opening, without enlarging the exterior member.例文帳に追加

側面開口を有する一体構造の外装部材を大きくすることなく、本来は側面開口よりも大きなサイズを有する撮像ユニットをスムーズに外装部材内に組み込む。 - 特許庁

The leakage detecting device is configured in such a way that an image imaging means 123 images the surface of a human body in which the needle is inserted and an image recognizing means 141 recognizes a surface profile from the image.例文帳に追加

注入針が挿入されている人体の表面を画像撮像手段１２３で撮像し、その画像から画像認識手段１４１が表面の形状を認識する。 - 特許庁

To provide a solid-state imaging element and an imaging system which can obtain a good image of which SN ratio reduction is suppressed while suppressing increase in a chip size of an imaging element even when areas having respectively different luminance values exist in an imaging surface and while suppressing increase in power consumption of a sensor without performing complicated processing.例文帳に追加

撮像面内に輝度の異なる領域がある場合にも、撮像素子のチップサイズが増加することを抑制しつつ、煩雑な処理を行わずに、センサの消費電力の増大を抑制しつつ、さらにＳＮ比の低下を抑制した良好な画像を得ることができる固体撮像素子を及び撮像システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

The imaging range clarification optical image projected on the surface of the subject M indicates the imaging range corresponding to the visual filed of the FPD 3, so that the operator can confirm the imaging range of the subject M without performing a radiography, by just looking the imaging range clarification optical image with the X-ray tube 2 positioned in the back side of the top board 1 for mounting the subject M.例文帳に追加

被検体Ｍの表面に投影された撮像範囲明示用光像は、ＦＰＤ３の視野に対応する撮像範囲を示すので、オペレータは、被検体Ｍを載置する天板１の裏側にＸ線管２が位置している状態で、Ｘ線撮影を行なわずとも、撮像範囲明示用光像を見るだけで被検体Ｍの撮像範囲が確認できる。 - 特許庁

The solid-state image pickup device according to the an embodiment includes: an imager having an imaging area with a plurality of pixel blocks each of which includes a plurality of pixels; an imaging lens for imaging light from a subject onto an imaging surface; and a plurality of aperture elements provided so as to correspond to the plurality of pixel blocks, each of which has an opening part and a shielding part.例文帳に追加

本実施形態の固体撮像装置は、それぞれが複数の画素を含む複数の画素ブロックを有する撮像領域を備えた撮像素子と、被写体からの光を結像面に結像する結像レンズと、前記複数の画素ブロックに対応して設けられ、それぞれが開口部と遮蔽部とを有する複数のアパーチャ要素を含んでいる。 - 特許庁

The imaging system comprising an imaging lens 10 and an imaging device 20 configured, in such a way that the maximum diameter of the effective area of the point image P1 is a size over three or more pixels of light receiving pixels for any point image P1, projected from any position in X, Y or Z direction through the imaging lens 10 onto the light-receiving surface 21 is prepared.例文帳に追加

Ｘ，Ｙ，Ｚ方向のいずれの位置から撮像レンズ１０を通して受光面２１上へ投影された点像Ｐ１についても、この点像Ｐ１の有効領域の最大径が受光画素の３画素以上に亘る大きさとなるように構成した撮像レンズ１０と撮像素子２０とからなる撮像系を用意する。 - 特許庁