「test analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

First, as shown in Fig. 2 (a), in a step St 11, the analysis of signal data is performed with respect to respective test patterns P_1-P_n contained in a test pattern group 150.例文帳に追加

まず、図２（ａ）に示すように、ステップＳｔ１１において、テストパターン群１５０に含まれる各テストパターンＰ_1〜Ｐ_nについて、信号データの解析を行なう。 - 特許庁

To enhance efficiency of a test in development or product assurance, trouble analysis in an evaluation environment or market and a test in debugging or fault occurrence.例文帳に追加

開発および製品保証におけるテスト・評価環境、あるいは市場における不具合解析や、デバッグまたは障害発生時のテストの効率化を図ること。 - 特許庁

The test water is passed through electric deionizing or reverse osmosis membrane devices 1, 2 which are connected by multi-stage manner, and the analysis object substances in the test water is continuously concentrated.例文帳に追加

検水を、多段に接続した電気脱イオン又は逆浸透膜装置１，２に通水して、検水中の分析対象物質を連続的に濃縮する。 - 特許庁

To provide a method of determining whether a test sample develops nonspecific turbidity or not in a clinical analysis using the test sample of biological origin.例文帳に追加

生体由来の被検試料を用いた臨床分析において、当該試料が非特異的混濁を生じるか否かを判別する方法を提供する。 - 特許庁

A data memory and an analysis part are installed in a test auxiliary device arranged near a test circuit board, and two memory areas are constituted in the data memory, and, while digital test data are stored in one memory area, reading-out for analysis of the digital test data stored beforehand can be executed in the other memory area.例文帳に追加

テスト回路基板の近傍に配置されたテスト補助装置に、データメモリと解析部を設け、データメモリに２つのメモリ区域を構成して、一方のメモリ区域でデジタル試験データの記憶が行われるときに、他方のメモリ区域ですでに記憶されたデジタル試験データの解析のための読み出しを行うようにする。 - 特許庁

To provide an analysis technology for nondestructively and noncontactly analyzing a changing process of various chemical reactions progressing in a test object, and identifying a property of the test object based on an analysis result.例文帳に追加

被検体中で進行している各種化学反応の変化過程を非破壊、非接触で分析することができ、その分析結果に基づいて被検体の性質を特定することができる分析技術を提供する。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for semiconductor memory, in which capacity of fail memories required for relieving analysis of a semiconductor memory is reduced and of which the test cost is reduced.例文帳に追加

半導体メモリの救済解析に必要とされるフェイルメモリの容量を削減し、半導体メモリの試験コストを低減することができる半導体メモリの試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

The derivative structured document is applied to a test performing device 51 to test the structured document processor 55, and acceptable derivation patterns and non-acceptable derivation patterns are arranged by a test analysis device 52.例文帳に追加

その派生形の構造化文書をテスト実施装置５１にかけて、構造化文書処理装置５５をテストし、テスト解析装置５２で、受理できる派生パターンと受理できない派生パターンを整理する。 - 特許庁

To solve such a problem that in a test of a semiconductor memory, as a chip itself does not store nature of the chip, in order to perform analysis of a defective product by a wafer test after assembling, a test corresponding to the wafer test must be performed again and a defective product must be selected.例文帳に追加

半導体記憶装置の検査において、チップの素性をチップ自身は記憶していないので、ウエハ検査不良品の解析を組み立て後に行うためには再度、ウエハ検査相当の検査を実施して不良品を選別しなければならない。 - 特許庁

Personal use or for the purpose of test, examination, analysis, teaching, training or scientific research of the protected layout design 例文帳に追加

保護回路配置の、個人使用又は、試験、調査、分析、教育、訓練又は科学研究目的での使用。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING FUEL CELL, TEST APPARATUS FOR EVALUATING FUEL CELL, AND ANALYSIS PROGRAM FOR EVALUATING FUEL CELL例文帳に追加

燃料電池評価方法及び燃料電池評価試験装置並びに燃料電池評価用解析プログラム - 特許庁

To provide a device holding a semiconductor chip in a probing condition integrally with a probe card for performing a defect analysis and a burn-in test on a semiconductor integrated circuit in a bear chip condition.例文帳に追加

ベアチップ状態で、半導体集積回路の不良解析やバーンイン試験を可能にする。 - 特許庁

To reduce erroneous detection to enhance reliability, in automatic defect recognition for a test piece using nondestructive analysis.例文帳に追加

非破壊分析を用いたテストピースの自動欠陥認証において、誤った検出を少なくし信頼性を高める。 - 特許庁

By extracting specified traffic patterns, an analysis device can test a packet data path between elements.例文帳に追加

分析装置は、特定のトラヒックパターンを顕在化させることにより、要素間のパケットデータパスをテストすることができる。 - 特許庁

After the material density is updated, the calculation for the stress-strain matrix, the finite element analysis, the sensitivity analysis, the convergence test and update for the design variable are iterated (7).例文帳に追加

前記材料密度を更新した後、応力−歪マトリックスの算出、有限要素解析、感度解析、収束判定、および設計変数の更新を繰り返す（７）。 - 特許庁

To provide a semiconductor failure analysis system for automatically adding a new combination of electrical test results to a semiconductor failure analysis decision table as needed.例文帳に追加

半導体不良解析判定表に必要に応じて新しい電気テスト結果の組み合わせを自動的に追加できる半導体不良解析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a qualitative analyzer having a totally new automatic dispensing mechanism that can perform a qualitative analysis without dispensing urine to a test tube and at the same time can dispense urine from a paper cup to the test tube and can automatically stick a patient identification label to the test tube for a quantitative analysis and a sediment analysis as needed.例文帳に追加

試験管へ尿を分注せずに定性分析を行うことができ、同時に、必要に応じて、定量分析や沈査分析のためにハルンカップから試験管への尿の分注及び試験管への患者識別ラベルの自動貼付けを行うことができる全く新しい自動分注機構を備えた定性分析装置を提供すること。 - 特許庁

To prevent informaiton about a test piece from disagreeing with detection information in a gene expression analysis which uses the test piece on which an object to be detected is plotted in an array shape.例文帳に追加

アレイ状に検出体がプロットされた試験片を用いる遺伝子発現解析において、試験片に関する情報と検出情報との不一致を防止する。 - 特許庁

To provide a gas analysis test apparatus capable of adjusting the temperature of the test gas to a predetermined value in a short time, and a reaction device used therefor.例文帳に追加

本発明は短時間に所定温度に試験用ガスを調温できるガス分析試験装置及びそれに使用する反応装置を提供することを解決すべき課題とする。 - 特許庁

To provide a biological sample preserving test tube, especially a urine examination test tube hard to cause the adsorption of a very small amount of protein or peptide and usable even in proteome analysis.例文帳に追加

微量の蛋白質やペプチドの吸着が起こりにくく、プロテオーム解析にも使用できる生体試料保存用試験管、特に尿検査試験管を提供する。 - 特許庁

To provide a test system, a semiconductor integrated circuit, and a test method, capable of easily performing failure analysis of a semiconductor integrated circuit based on a signature.例文帳に追加

シグネチャに基づいて、半導体集積回路の故障解析を容易に行うことができるテストシステム、半導体集積回路及びテスト方法を提供すること - 特許庁

The permission of a test sample 80 for an analysis is based on the specific difference between the reference pressure integration and each test sample pressure integration.例文帳に追加

試験試料８０が分析に対し許容できるのは、基準圧力積分ＰＩｒｅｆと各試験試料圧力積分ＰＩｔｅｓｔとの所定の差に基づく。 - 特許庁

The method and apparatus of the present invention provides for a test stand, a plurality of X-ray test phantoms(10, 20, 30, 40, 50, 60, 70) and a computer program for data entry, analysis and storage of the test results.例文帳に追加

一般的に、本発明の方法及び装置は、テスト台と、複数のＸ線テスト模型（１０、２０、３０、４０、５０、６０、７０）と、データ入力、分析、及びテスト結果の保存のためのコンピュータプログラムとを提供する。 - 特許庁

To improve the efficiency of IDDQ test, and to shorten the test time, even when the IDDQ (current at a stationary time) test having different conditions is repeatedly carried out many times for analysis or verification.例文帳に追加

解析や検証のために、条件を異ならせた多数回のＩＤＤＱ（静止時電流）テストを繰り返し実施するような場合においても、ＩＤＤＱテストの効率を向上させ、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide an approval system of automatic analysis results, which proves reliability of test results, that is, a quality of a laboratory by requesting a knowledgeable person to approve the analysis results and recording its results, to provide an automatic analysis system capable of approving the analysis results, and to provide an approval method of the automatic analysis results.例文帳に追加

分析結果の承認を有識者に依頼し、その結果を記録することで検査結果の信頼性すなわち検査室の質を証明する自動分析結果の承認システム、分析結果の承認処理を可能にする自動分析システム及び自動分析結果の承認方法を提供する。 - 特許庁

In the semiconductor memory device and its repair analyzing method, address data generated by the present test is stored in other one temporary buffer by storing selectively address data by a test using two temporary buffer 4 while one temporary buffer transmits address data generated by the previous test to a data buffer 5 and performs repair analysis, and a test and repair analysis can be performed simultaneously.例文帳に追加

半導体メモリ装置及びそのリペア解析方法では、テストにより発生したアドレスデータを二つの臨時バッファ４を用いて選択的に貯蔵することにより、一つの臨時バッファが以前のテストにより発生したアドレスデータをデータバッファ５に伝送しリペア解析（repair analysis）を行う間、他の一つの臨時バッファには現在のテストにより発生したアドレスデータを貯蔵し、テストとリペア解析を同時に行うことができる。 - 特許庁

To provide a fault-tolerant computer-controlled system capable of facilitating implementation, analysis and a test, and of holding down failure risk.例文帳に追加

実施、分析及びテストが容易でかつ故障のリスクを低く抑えるフォールト・トレラント・コンピュータ制御システムを提供する。 - 特許庁

To provide a chemical analysis chip demonstrating highly accurate test results by controlling the pulsation of a sample solution.例文帳に追加

本発明は、試料液の脈動を抑制し、精度の高い検査結果を示すことのできる化学分析チップを提供する。 - 特許庁

To conduct a test such as defect analysis normally by decreasing the wiring of the semiconductor device which has a plurality of banks.例文帳に追加

複数のバンクを有する半導体記憶装置の配線数を削減し、不良解析等のテストを正常に行う。 - 特許庁

By this constitution, the operator can judge the test number capable of being requested on the same screen at the time of request of analysis.例文帳に追加

これにより、オペレータが分析依頼時に容易に同一画面にて依頼が可能なテスト数を判断することができる。 - 特許庁

To provide a new tissue array block creation method and a tissue array sheet used for test and analysis of living tissues.例文帳に追加

生体組織の検査や分析に用いられる新たな組織アレイブロック作製方法および組織アレイシートを提供する。 - 特許庁

A thermal image quality integration test verification is performed, and optimum driving, control output parameter analysis and measurement are adjusted.例文帳に追加

熱影像品質統合テスト検証を行い、最適駆動と制御出力パラメーター分析と測定を調整する。 - 特許庁

To enable a highly accurate trouble analysis for a DUT not operated stably even if a same test pattern is input.例文帳に追加

同一テストパターンを入力しても動作が安定しないＤＵＴに対して精度の高い故障解析を可能とする。 - 特許庁

The analysis means analyzes test image data acquired by reading a test image, detects a reference shadow generation region from a test image region that corresponds to the test image data based on the result of analyzing the test image data, and detects reference shadow image data that corresponds to the reference shadow generation region.例文帳に追加

前記解析手段は、テスト画像の読み取りにより得られるテスト画像データを解析し、前記テスト画像データの解析結果に基づき、前記テスト画像データに対応するテスト画像領域から基準影発生領域を検出し、前記基準影発生領域に対応する基準影画像データを検出する。 - 特許庁

A semiconductor memory test device is newly added with a CPU 2, which is dedicated to conduct a defect analysis, a second defect analysis memory 8, which has a same constitution of a first defect analysis memory 7, and switching multiplexers 5 and 6 which mutually switch the two CPUs 1 and 2 and the two defect analysis memories 7 and 8.例文帳に追加

半導体メモリ試験装置に、不良解析専用のＣＰＵ２、第１不良解析メモリ７と同じ構成をもつ第２不良解析メモリ８、２個のＣＰＵ１、２および２個の不良解析メモリ７、８を相互に切換える切換用マルチプレクサ５、６を新たに追加する。 - 特許庁

To provide an electrochemical analysis system wherein a detection cartridge necessary for electrochemical analysis of a test material, an analysis holder suitable therefor, and electronic base unit for performing control, measurement, processing or the like, or the like are constituted independently, and to provide an electrochemical analysis method.例文帳に追加

被検物質の電気化学分析に必要な検出用カートリッジ、これに適合する分析ホルダ、制御・計測・処理等を行う電子基盤ユニット等をそれぞれ独立して構成させた電気化学的分析システム及び電気化学的分析方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The work station 10 is always operated making analysis host process as damon object of sever process, when analysis processing is required from the test processor 20, the work station 10 performs directly analysis processing in accordance with the request.例文帳に追加

ワークステーション１０は、解析ホストプロセスをサーバプロセスのデーモンオブジェクトとして常時起動しており、テスタプロセッサ２０から解析処理の要求があった場合、ワークステーション１０は直ちにその要求に応じた解析処理を実行する。 - 特許庁

By using the instrument thus structured, the alkalinity of the test water can be automatically measured by a flow analysis method, and measurement can be performed accurately with good responsiveness with a small amount of test water since colorimetric analysis is used.例文帳に追加

このように構成される装置によれば、被検水のアルカリ度を流れ分析法によって自動測定することが可能であり、また比色分析を用いるので、少量の被検水で精度および応答性良く測定することが可能になる。 - 特許庁

To provide a test pad arrangement device and a program capable of arranging favorably a number of test pads as much as possible on a wiring pattern after lay-out design is finished, and capable of contributing to the facilitation of a trouble analysis and to the shortening of a trouble analysis time.例文帳に追加

レイアウト設計終了後の配線パターンにできるだけ多くのテストパッドを好適に配置することができ、故障解析の容易化および故障解析時間の短縮化に寄与することができるテストパッド配置装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁

SIGNAL PROCESSING DEVICE, TEST SYSTEM, DISTORTION DETECTION DEVICE, SIGNAL COMPENSATION DEVICE, ANALYSIS SIGNAL GENERATOR, PROGRAM, STORAGE MEDIUM, DISTORTION DETECTION METHOD, SIGNAL COMPENSATION METHOD, AND ANALYSIS SIGNAL GENERATION METHOD例文帳に追加

信号処理装置、試験システム、歪検出装置、信号補償装置、解析信号生成装置、プログラム、記憶媒体、歪検出方法、信号補償方法、および、解析信号生成方法 - 特許庁

To provide an analysis system including an analysis unit for analyzing a content in a sample, a detection unit for detecting a signal, and a test element for holding the sample thereon.例文帳に追加

試料中の含有物質を分析する分析ユニットと、発生シグナルを検出する検出ユニットと、その上に試料を保持する試験エレメントを備える分析システムを提供する。 - 特許庁

To shorten the test time without alterations in setting of analysis at every redundant constitution in performing redundancy analysis of a semiconductor device having one or more types of redundant constitution.例文帳に追加

複数種類の冗長構成を有する半導体装置の冗長解析を行うのにあたって、冗長構成毎に解析の設定を変更する必要がなく、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a protection method for a test program safely distributing the test program without depending on confidentiality and to provide a test method for LSI whose data analysis is difficult for a third party.例文帳に追加

守秘義務に頼る必要なく、安全にテストプログラムを流通させることの可能なテストプログラムの保護方法を提供すること及び第三者によるデータの解析が困難なＬＳＩのテスト方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

Design data D101 including circuit data of a test point and information relevant to the test method attached to this test point is input, and design data having undergone code analysis by a design data code analysis section K102 in a data input section K101 is stored in a storage device 700 with a database storage section K103.例文帳に追加

テストポイントの回路データと、このテストポイントに付属するテスト手法に関連した情報を含む設計データＤ１０１を入力し、データ入力部Ｋ１０１における設計データコード解析部Ｋ１０２によるコード解析を経た設計データがデータベース格納部Ｋ１０３により記憶装置７００に格納される。 - 特許庁

To provide a material tester capable of easily relating the relation between the load and strain such as elongation or the like acting on a test piece with the elapse time after the start of a test to subject the same to analysis.例文帳に追加

試験片に作用する荷重と伸び等の歪みとの関係を、試験開始後の経過時間容易に関連付けて解析に供することのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁