「test analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To develop an easily treatable inexpensive machine which can swiftly and efficiently pulverize environmental-biological samples for obtaining test samples for chemical analysis in laboratories or the like.例文帳に追加

実験室等で分析試料を得るための環境・生物試料を、迅速かつ効率的に微粉砕することができ、取り扱いが容易で安価な装置の開発。 - 特許庁

To provide a man-machine device for plant monitoring capable of quickly coping with a failure by improving efficiency of cause analysis work of the failure and a repair check test.例文帳に追加

障害の原因解析作業及び改修確認試験の効率化を図り、障害に対して迅速な対応が可能なプラント監視用マンマシン装置を提供する。 - 特許庁

To estimate bearing capacity of a pile with high reliability by easily implementing a dynamic loading test of the pile at a low cost with high controllability without needing a complicated analysis process.例文帳に追加

杭の動的載荷試験を制御性良く容易で安価に実施して、複雑な解析処理を必要とすることなく、杭の支持力を信頼性良く推定する。 - 特許庁

Then, the host 4 collates the error code with maintenance information and returns a fault analysis program and on the basis of that program, the laundry equipment control part performs test operation.例文帳に追加

すると、ホスト４は、エラーコードとメインテナンス情報とを照合して故障解析プログラムを返信し、それに基づいてランドリー機器制御部はテスト運転を実行する。 - 特許庁

To simplify the connection between an analysis apparatus and a test component magazine, work out a design for improvement in reliability of the connection, avoid disposal of electronic parts, and reduce costs by reusing the electronic parts.例文帳に追加

分析装置と試験要素のマガジンの連結を簡素化し、その信頼性が向上するよう設計し、電子部品の廃棄を回避し、再利用によってコストを低減する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a defective memory cell detected by an operation test can be relieved without requiring complex analysis processing.例文帳に追加

複雑な解析処理を要することなく、動作テストによって検出された不良メモリセルを救済することが可能な半導体記憶装置の構成を提供する。 - 特許庁

The system continues to properly function without needing to change the route of the data item even in a failure, facilitates design, analysis and a test, and thereby enhances reliability.例文帳に追加

このシステムは、故障の場合にもデータ・アイテムのルートを変更する必要なく適切に機能し続け、設計、分析及びテストを容易にし、それにより信頼性を増す。 - 特許庁

To provide an analyzing method which enables the analysis of the carbon component in steel by the image processing of a spark produced by the spark test of steel, and an analyzer of analyzing the carbon component in steel.例文帳に追加

鋼の火花試験により生じる火花を画像処理することにより鋼中の炭素成分を分析することが可能な分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of analyzing metallic impurities in a level of 107 to 108 atoms/cm2 which is requested for regulating the cleanness of a semiconductor device, in a test of a semiconductor substrate with good accuracy simultaneously with the analysis of multi-elements.例文帳に追加

半導体デバイスの清浄度管理で要求される１０^7〜１０^8atoms/cm^2レベルの金属不純物を、多元素同時に精度良く分析する分析法を提供する。 - 特許庁

This method is used for evaluating the oxidation-decomposition activity of the photocatalyst by bringing a titanium oxide (TiO2) photocatalyst test piece into contact with a pigment solution in a cell for spectroscopy and by instantaneously measuring the concentration variation of the solution under light irradiation by light absorption analysis.例文帳に追加

さらに詳しくは、分解活性データを再現性よく得ることによって、光触媒材料の開発研究を効率的に行おうとするものである。 - 特許庁

To easily make clear a mutual relation among a printed circuit board, a test jig and a tester pin number to facilitate trouble analysis for the printed circuit board.例文帳に追加

プリント回路基板と、テスト治具と、テスタピン番号の相互関係を容易に明確にすることによりプリント回路基板の故障解析を容易に行うことを目的とする。 - 特許庁

According to this analysis method and program, a test piece is provided with two or more areas where two or more types of specific coupling materials coupled to material derived from an organism are fixed.例文帳に追加

生体由来物質と特異的に結合可能な複数種類の特異的結合物質がそれぞれ固定された複数の領域を有する試験片を準備する。 - 特許庁

Actual communications between at least two telecommunications facilities are recorded, the recorded actual communications are analyzed, and the test case is generated on the basis of these analysis results.例文帳に追加

少なくとも２つの電気通信設備の間の実際の通信を記録し、記録した実際の通信を分析し、この分析結果に基づいてテスト・ケースを生成する。 - 特許庁

To highly accurately evaluate a defect identification pattern without requiring any destructive analysis involving visual check with regard to a multilayer wiring board and its test method.例文帳に追加

多層配線基板及び多層配線基板の試験方法に関し、目視を伴った破壊解析を要することなく欠陥識別パターンの評価を精度良く行う。 - 特許庁

The analysis means 7 calculates the result of test by using a transmission route of ultrasonic wave determined based on the surface information of the object 2 to be inspected in which the ultrasonic wave is incident.例文帳に追加

解析手段７は、超音波が入射する検査対象２の表面情報に基づいて求めた超音波の伝搬経路を用いて探傷結果を算出する。 - 特許庁

To attain a semiconductor test device capable of enhancing resolution of jitter analysis and flexibly corresponding to set a threshold value to determine L/H of an input signal.例文帳に追加

ジッタ解析分解能を高めるとともに、入力信号のＬ／Ｈを判定するための閾値設定に柔軟に対応できる半導体試験装置を実現すること。 - 特許庁

To provide an analysis method of a truss wall structure dispensing with a large-scale test facility, capable of determining simply and accurately an elastic/plastic restoration force characteristic of the truss wall structure.例文帳に追加

大規模な試験設備が不要で、トラス壁構造の弾塑性復元力特性を簡単かつ精度良く求めることができるトラス壁構造の解析方法を提供する。 - 特許庁

Then, the host 4 collates the error code with maintenance information and returns fault analysis program and on the basis of that program, the laundry equipment control part carries out test operation.例文帳に追加

すると、ホスト４は、エラーコードとメインテナンス情報とを照合して故障解析プログラムを返信し、それに基づいてランドリー機器制御部はテスト運転を実行する。 - 特許庁

A first analysis part 15 acquires a measured value of path delay obtained from a result of a delay test on a circuit to be tested from a path delay information storage part 120.例文帳に追加

第１の解析部１５は，パス遅延情報記憶部１２０から，テスト対象回路に対するディレイテストの結果から得られるパス遅延の実測値を取得する。 - 特許庁

To provide a powder holder, measuring sample manufacturing method, and sample analysis method which can easily manufacture test samples, even for powder to achieve enhancement in the measuring efficiency, in the analysis requiring smoothness of sample surface.例文帳に追加

試料表面の平滑性が求められる分析において、粉体であっても容易に測定用試料を製造することができ、測定効率の向上を可能とする粉体ホルダ、測定用試料製造方法及び試料分析方法を提供すること。 - 特許庁

A flow chart production part 20 analyzes a test target source code, and a state analysis part 40 extracts state transition information from an analysis result of the source code on the basis of a state variable supplied through a state variable editing part 60.例文帳に追加

フローチャート作成部２０が試験対象ソースコードを解析し、状態解析部４０は、状態変数編集部６０を介して供給される状態変数に基づいて、ソースコードの解析結果から状態遷移情報を抽出する。 - 特許庁

The ID of a product is used as a key, the process characteristic quantity data, a test data and a failure data are combined, and data for analysis that are generated by deleting invalid data in a data filter 10c is analyzed through data mining by an analysis part 10d to create a model.例文帳に追加

製品のＩＤをキーに、プロセス特徴量データと検査データ並びに故障データを結合し、データフィルター部１０ｃにて不正データを削除して生成した解析用データを、解析部１０ｄにてデータマイニングにより解析しモデルを作成する。 - 特許庁

All the path-fail data of a plurality of memory circuits built in a system LSI are stored in the failure analysis memory for collecting the path-fail data in a semiconductor memory test device, and the path-fail data are read from the failure analysis memory in batch (step S22).例文帳に追加

半導体メモリのテスト装置内のパスフェイルデータ収集用不良解析メモリへ、システムＬＳＩに内蔵された複数のメモリ回路のパスフェイルデータをすべて格納し、その不良解析メモリから一括してパスフェイルデータを読み出す（ステップＳ２２）。 - 特許庁

The genetic analysis apparatus using a fuel cell as the electric source enables genetic analysis in clinical test or the like to be efficiently and rapidly executed in the state in which the commercial power supply is not arranged or in a disaster.例文帳に追加

本発明は燃料電池を電源とした遺伝子解析装置を提供することにより、商用電源が配備されていない環境下や災害時において、臨床試験等における遺伝子解析を効率よく迅速に実施することが可能になる。 - 特許庁

Moreover, an optimizing device preparing means M has a change characteristic analytic means preparing means 112 as a means for preparing the change characteristic analytic means, test calculation instruction means preparing means 116 as a means for preparing the test calculation instruction means, and test calculation condition analytic processing means preparing means 114 as a means for preparing the test calculation condition analysis processing means.例文帳に追加

また、最適化装置作成手段Ｍは、変化特性解析手段を作成する手段である変化特性解析手段作成手段１１２と、試算命令手段を作成する手段である試算命令手段作成手段１１６と、試算条件分析処理手段を作成する手段である試算条件分析処理手段作成手段１１４とを有している。 - 特許庁

A stub function I/F extraction part 3 extracts the I/F of the input/output between the function of the test target and the lower function called by the function of the test target, and a stub function I/F analysis part 4 analyzes the extracted I/F.例文帳に追加

スタブ関数Ｉ／Ｆ抽出部３は試験対象の関数とこの試験対象の関数が呼び出す下位関数との間の入出力のＩ／Ｆを抽出し、スタブ関数Ｉ／Ｆ分析部４は抽出されたＩ／Ｆを分析する。 - 特許庁

To provide a specimen test device reducing a risk of accidentally outputting personal information to outsiders by a technician and enabling a user to output analysis results including required personal information, and also to provide a test information management device.例文帳に追加

技術者が、誤って個人情報を外部に出力してしまうリスクを低減するとともに、使用者が、必要とする個人情報を含めて分析結果を出力することを可能とする検体検査装置及び検査情報管理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a JTAG test system which enables even a test data collection section such as a logic analyzer whose trace quantity is not so much to collect sufficient data, by converting serial data into parallel data, and is capable of shortening a final analysis time sharply, by performing a part of analysis of trace data in real time during the data collection.例文帳に追加

シリアルデータをパラレルデータに変換することによりトレース量がそれほど多くないロジックアナライザなどのテストデータ収集部でも十分なデータを収集できるようにするとともに、トレースデータの解析の一部をデータ収集中にリアルタイムで行うことにより、最終的な解析時間を大幅に短縮できるＪＴＡＧテストシステムを提供すること。 - 特許庁

This prediction method determines the correlation between analysis stress in the stress-concentrating section determined by analysis, when a predetermined fixed load is charged on the resin molded article having a geometrical stress-concentrating section and a correction coefficient for making the analysis stress in a predetermined breaking period approach the analysis stress, in a resin test piece that does not have geometrical stress-concentrating section during a similar breaking period.例文帳に追加

形状的な応力集中部を備える樹脂成形品に対して所定の一定荷重を加えた場合に解析により得られる応力集中部での解析応力と、所定の破壊時間での上記解析応力を同様の破壊時間での形状的な応力集中部を備えない樹脂試験片での解析応力に近づけるための補正係数との間の相関関係を求める。 - 特許庁

An available bandwidth estimating means 12 constructs an NW analysis model with reference to the path information storing part 21, applies the quality information measured by the test stream measuring means 14 to the constructed NW analysis model, and estimates the available bandwidth of the path.例文帳に追加

可用帯域幅推定手段１２は、経路情報記憶部２１を参照してＮＷ解析モデルを構築し、構築したＮＷ解析モデルに、試験ストリーム計測手段１４にて計測された品質情報を適用し、経路の可用帯域幅を推定する。 - 特許庁

To provide a radiation analysis system having high analysis accuracy and capable of preventing both disturbances in the concentration of components in a test liquid in a retention tube and the equalization of concentration due to the diffusion of the components in a radio-liquid chromatograph of a type interlocked with a liquid chromatograph having the retention tube.例文帳に追加

存置管を有する液体クロマトグラフ連動型のラジオ液体クロマトグラフにおいて、存置管における検液中成分濃度の乱れ、成分の拡散による濃度の平準化を防止した、分析精度の高い放射能分析装置を提供する。 - 特許庁

In this fatigue characteristic determination method of a material, a fatigue test of a brittle material is performed by increasing the amplitude of a stress to be applied to the brittle material at a fixed rate together with a cycle as shown in Fig.1(b), and the optimum value of a parameter of a fatigue behavior is acquired by analysis by using the result of the fatigue test.例文帳に追加

図１(b)に示すように、脆性材料に与える応力の振幅をサイクルとともに一定割合で増加させて脆性材料の疲労試験を行い、この疲労試験の結果を用い、解析により疲労挙動のパラメータの最適値を得る。 - 特許庁

According to the past test results and information from the raw material production farmland, the production farmland is classified and managed, the test result, raw material production information, and production and distribution information are stored and managed, and at the occurrence of food accident, the cause analysis is made by tracing each process.例文帳に追加

過去の検査結果と原材料生産農地の情報によって生産農地をクラス分けして管理し、検査結果、原材料の生産情報、製造流通の情報を保管、管理し、食品事故発生時には各工程を遡って原因の究明を行う。 - 特許庁

This method and this apparatus for data analysis are configured to automatically identify a characteristic of an assembly process in accordance with components based on the test data for the components.例文帳に追加

さまざまな態様によるデータ分析のための方法および装置は、組立プロセスの特徴を、コンポーネントの試験データに基づき、コンポーネントに合わせて自動的に識別するよう構成。 - 特許庁

Further, based on the decision result by the decision unit 12 and the result of a delay test, an analysis unit 13 analyzes the occurrence state of the simultaneous switching, as one of delay causes.例文帳に追加

そして、解析部１３により、判定部１２による判定結果および遅延試験の結果に基づき、同時スイッチングの発生状況が遅延要因の一つとして解析される。 - 特許庁

When the CPU 10 executes an analysis support program, the CPU 10 reads out the values set in RAM 30 etc., and outputs the read-out values to the outside through a test output port 71.例文帳に追加

そして、ＣＰＵ１０が解析支援プログラムを実行すると、ＲＡＭ３０等に設定された値を読み出し、読み出した値をテスト専用出力ポート部７１を介して外部に出力する。 - 特許庁

To provide a processing method of semiconductor chip test data which does not increase the data volume more than necessary and can easily and quickly conduct a comparative analysis of each wafer within a lot.例文帳に追加

データ容量を必要以上に大きくすることなく、またロット内の各ウェーハの比較解析が容易且つ速やかに行える半導体チップ検査データの処理方法を提供すること。 - 特許庁

To improve exactness in the operation confirmation of a characteristic test and a client trouble characteristic analysis at slipping inspection or introduction of a set by directly confirming the switching time of a transmitting/ receiving signal.例文帳に追加

送受信信号のスイッチング時間を直接確認できるようにし、出荷検査やセット導入時での特性試験、顧客不具合特性解析の動作確認の正確性を向上させる。 - 特許庁

ANALYSIS RESULT DISPLAYING DATA GENERATOR, METHOD AND PROGRAM, PROGRAM GENERATOR WITH TEST FUNCTION, METHOD AND PROGRAM, CONTROL OPERATION DETERMINING APPARATUS, METHOD AND PROGRAM, AND CONTROL OPERATION DETERMINING SYSTEM例文帳に追加

分析結果表示用データ生成装置、方法及びプログラム、テスト機能付きプログラム生成装置、方法及びプログラム、制御動作判定装置、方法及びプログラム、並びに、制御動作判定システム - 特許庁

To provide a new system for automatically analyzing a liquid sample capable of serving various analyses in a concrete diagnosis test method such as clinical chemistry analysis and immunoassay.例文帳に追加

臨床化学分析や免疫分析等の具体的診断検査法において様々な分析を行うよう適合させた、液体試料の自動分析用の新規システムを提供する。 - 特許庁

In this manufacturing method for the semiconductor device, a prototype chip is tested using the semiconductor device, and the semiconductor chips are mass-produced after analysis-evaluating a test result.例文帳に追加

本発明の半導体装置の製造方法では、前記半導体装置を用いて、試作チップの試験を行ない、前記試験結果を解析評価した後に、半導体チップの量産を行なう。 - 特許庁

A comparing circuit 112 simultaneously reads stored contents of the analysis memories 107, 108 for each test, fail information for its difference is output to a fail address obtaining circuit 109.例文帳に追加

比較回路１１２は、毎回の試験ごとに解析メモリ１０７，１０８の記憶内容を同時に読み出し、その差分のフェイル情報をフェイルアドレス取得回路１０９に出力する。 - 特許庁

To smoothly perform the analysis and test of a testing object device by realizing the expansion of a testing case and facility of use by a higher harmonic generator with expanded versatility.例文帳に追加

汎用性を拡大させた高調波発生器により、試験ケースの拡大、使用方法の容易さを実現し、円滑に被試験装置の解析及び試験を実施することができる。 - 特許庁

A stub function generation part 5 generates the stub function mounted with the interface of the input/output between the lower function and the function of the test target based on an extraction analysis result of the I/F.例文帳に追加

スタブ関数生成部５は、Ｉ／Ｆの抽出分析結果に基づいて、下位関数と試験対象の関数との間の入出力のインターフェースを実装したスタブ関数を生成する。 - 特許庁

An image quality analysis module 28 mutually compares the 1st and 2nd parameter values and outputs an image quality evaluation value result expressing the deterioration of the test video signal from the reference video signal.例文帳に追加

画像品質分析モジュール２８は、第１及び第２パラメータ値を比較して、基準ビデオ信号に対する試験ビデオ信号の劣化を表す画像品質評価値結果を出力する。 - 特許庁