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test analysisの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 434件
Then the access server 6 reads and analyzes the fault information from the fault management database 8 and instructs a test detection circuit 7 for testing a subscriber line to perform a test according to the result of analysis.例文帳に追加
次に、故障情報を故障管理データベース8から読み出して分析し、分析結果に従って、加入者回線の試験を行う試験装置7へ試験実施の指示を行う。 - 特許庁
A test table generation device includes: an equipment set input part 1: an upstream book analysis part 3; an equipment characteristic acquisition part 4: an equipment characteristic matching part 5; and a test table generation part 14.例文帳に追加
試験テーブル生成装置は、機器集合入力部1と、上流図書解析部3と、機器特性取得部4と、機器特性マッチング部5と、試験テーブル生成部14とを備える。 - 特許庁
To provide a test analyzing system for confirming own result data and analysis data at arbitrary necessary time by a candidate for an examination without burdening a test sponsor.例文帳に追加
試験の主催者にも負担にならず、また受験者も随時必要なときに自分の成績データ及び分析データを確認できる試験分析システムを提供することを目的とする。 - 特許庁
The performance determination part 22d determines the performance of each unit and the network using the execution result and analysis result of the performance test.例文帳に追加
性能判定部22dは、性能試験の実行結果と解析結果とを用いて各ユニットやネットワークの性能を判定する。 - 特許庁
To provide a fail analysis device which improves operability, when a displaying range of a test result is instructed to alter.例文帳に追加
試験結果の表示範囲の変更を指示する際の操作性を向上させることができるフェイル解析装置を提供すること。 - 特許庁
To enable a self-analysis test capable of giving an index for better job change, educational advance, marriage, hobby, housing, life style or the like.例文帳に追加
よりよい転職、進学、結婚、趣味、住宅、ライフスタイル等を行う指針となる自己分析テストを行えるようにする。 - 特許庁
An area for test and an area for analysis are predetermined based on the design information of the display having the non-rectangular display area.例文帳に追加
非矩形状の表示エリアを有する表示装置の設計情報を利用し、検査領域並びに解析領域を指定する。 - 特許庁
To correctly perform error analysis, a test or the like in a system where data are transmitted over a plurality of lanes and error expansion processing is performed.例文帳に追加
複数レーンでデータを伝送し、エラー展開処理が実行されるシステムにおいて、エラー解析や試験などを正しく行う。 - 特許庁
The MRI apparatus 100 further includes a use tendency analysis part 22a, a performance test execution part 22c and a performance determination part 22d.例文帳に追加
また、MRI装置100は、使用傾向解析部22aと、性能試験実行部22cと、性能判定部22dとを備える。 - 特許庁
To provide a boundary scan cell circuit which reduces the inspection time for boundary scan test and facilitates the analysis obtained inspection results.例文帳に追加
バウンダリスキャンテストの検査時間を短縮し、また得られた検査結果の解析を容易にするバウンダリスキャンセル回路を提供する。 - 特許庁
TEST STRUCTURE FOR SIMULTANEOUSLY DECIDING CHARACTERISTICS OF TWO PORTS OF OPTICAL COMPONENT USING OPTICAL NETWORK ANALYSIS OF INTERFEROMETER BASE例文帳に追加
干渉計ベースの光ネットワーク解析を用いて光学部品の二つのポートの特性を同時に決定するための試験構造 - 特許庁
To accomplish a portable telephone tester which attains improvement in workability of a test and can easily perform defect analysis.例文帳に追加
試験の作業性の向上を図り、不良解析を容易に行なうことができる携帯電話機テスタを実現することにある。 - 特許庁
On the other hand, the analysis manifestation amount of the specific coupling material from two or more analysis object samples obtained by specific coupling of a material derived from the standard organism as an analysis object to the specific coupling material of the test piece is measured area by area.例文帳に追加
一方、試験片の特異的結合物質に解析対象となる標識生体由来物質を特異的に結合させてなる複数の解析対象サンプルから特異的結合物質の解析発現量をそれぞれの領域ごとに測定する。 - 特許庁
A semiconductor test device has two fail memories 203, 204 and two analysis memories 107, 108, fail information are accumulated alternately in the analysis memories 107, 108 for each test through an OR circuit 105 from the fail memories 103, 104.例文帳に追加
半導体試験装置は、2面のフェイルメモリ203,204とともに2面の解析メモリ107,108を持ち、フェイルメモリ103,104から論理和回路105を通じて、毎回の試験ごとにフェイル情報を交互に解析メモリ107,108に累積して格納していく。 - 特許庁
A test body held on a test body rack is conveyed by a conveyance line 3, and as for most immuno-analytical items, immuno-analysis is executed by an immuno-analytical module, 5 or 6, and as for biochemical analytical items, biochemical analysis is executed by a biochemical analytical unit, 7 or 8.例文帳に追加
検体ラックに保持された検体は搬送ライン3によって搬送されて、大部分の免疫分析項目は免疫分析モジュール5又は6により免疫分析され、生化学分析項目は生化学分析ユニット7又は8により生化学分析される。 - 特許庁
When a message reception receiving part receives the message reception from the test scenario analysis performing part 101 and also receives the message from the part 102 for performing the program to be tested, a message waiting part 112 transmits the received message to the test scenario analysis performing part 101.例文帳に追加
メッセージ待合せ部112は、メッセージ受理受付部がテストシナリオ解釈実行部101からメッセージ受理を受信し、かつ、被テストプログラム実行部102からメッセージを受信すると、受信したメッセージを、テストシナリオ解釈実行部101に送信する。 - 特許庁
In the analysis regarding the comparison of electroencephalogram frequency components in the group 2, by using the Z value which has been obtained by the analysis of the individual data as the sample to be used for the Mann-Whitney test (U test), the statistic index value (Z value) is introduced, and the quantitative evaluation is made possible.例文帳に追加
2群における脳波周波数成分の比較に関する解析では、個人データの解析で得られたZ値をマンフォイトニー検定(U検定)に用いるためのサンプルとして用いることで、統計指標値(Z値)を導入し、定量評価を可能とする。 - 特許庁
At the time of the IC test processing, the analysis and conversion processing part 1041 successively analyzes a program for one instruction from the read test program 301, and successively converts the analyzed program into a test program 302 for its own equipment, and stores it in the storage part 1044.例文帳に追加
解析変換処理部1041は、ICテスト処理に際して、読み出したテストプログラム301から1命令分のプログラムを順次解析し、その解析したプログラムを自機用のテストプログラム302に順次変換して記憶部1044に記憶する。 - 特許庁
In addition, a coloring metallic compound is added to provide the test sand that is easy to identify during analysis.例文帳に追加
併せて、呈色用の金属化合物を添加することによって、分析時の識別が容易な海洋漂砂調査用試験砂を提供する。 - 特許庁
The wireless device 12 applies the verification scheme 89 to the firmware 14 and obtains a verification test result 47, which is forwarded for analysis.例文帳に追加
無線装置12は、照合スキーム89をファームウェア14に適用し、分析のために転送される照合試験結果47を求める。 - 特許庁
To easily evaluate the fracture toughness characteristic of a CT test piece composed of a non-homogeneous material without performing FEM analysis.例文帳に追加
非均質材によって構成されたCT試験片の破壊靭性特性を、FEM解析を行うことなく簡易的に評価すること。 - 特許庁
The CT value measured based on a pendulum test is calculated through simulation of the collision analysis by a finite element method.例文帳に追加
有限要素法の衝突解析のシミュレーションを行うことにより、ペンデュラム試験に準拠して測定されるCT値を算出する。 - 特許庁
To shorten a supply time of an address signal from a pattern generator to a defect analysis memory in a memory test device.例文帳に追加
メモリ試験装置において、パターン発生器から不良解析メモリまでのアドレス信号の供給時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁
The method evaluates the skin condition on the results obtained by carrying out a gene expression analysis using keratin collected from the skin of test subjects.例文帳に追加
被験対象の皮膚より採取した角質を用いて遺伝子発現解析を行い、その結果によって皮膚の状態を評価する。 - 特許庁
MEASURING PROCESS FOR COMBUSTION PROPAGATION ANALYSIS OF FUEL AND FLAME SPREADING, AND TEST METHOD OF FLAME PROPAGATION MODE OF FUEL USING DEVICE例文帳に追加
燃料の燃焼伝播解析及び火炎燃え広がりの測定装置、及び該装置を用いた燃料の火炎伝播モードの試験方法 - 特許庁
More concretely, a reducing speed of a surface area of the liposome is calculated by image analysis and the irritant properties of the test substance are evaluated.例文帳に追加
より具体的には、リポソームの表面積の縮小スピードを画像解析により算出し、被験物質の刺激性を評価する。 - 特許庁
The FFT analysis test acquires sampled amplitude data from a single probe in the time domain and converts the data into the frequency domain. 例文帳に追加
このFFT分析試験は、単一のプローブから時間ドメインにおける振幅サンプル値を入手し、そのデータを周波数ドメインに変換する。 - コンピューター用語辞典
To provide a means capable of performing high-precision measurement and relatively large data processing (analysis) at a high-speed by making a measurement means and an analysis means as a BOST, and reducing the test time.例文帳に追加
測定手段及び解析手段をBOST化することで高精度な測定と比較的大きなデータ処理(解析)を高速で実行でき、テスト時間の短縮を図る手段を提供する。 - 特許庁
Finally, the adapter 3 rewrites the destination address of the header to a signal reception/analysis device 4 and transmits it as a packet TP13 for test and the router 2 receives it and transfers it to the signal reception/analysis device 4.例文帳に追加
最後に、アダプタ3がヘッダの宛先アドレスを信号受信・解析器4に書き換え、試験用パケットTP13として送出し、これをルータ2が受けて信号受信・解析器4へ転送する。 - 特許庁
The tire analysis system 1 performs a behavior analysis of a tire by measuring the change in the tire shape and the change in the surface distortion of the tire when predetermined test conditions are input.例文帳に追加
このタイヤ解析システム1は、所定の試験条件を入力したときのタイヤ形状の変化やタイヤ表面歪みの変化を測定することによりタイヤの挙動解析を行うシステムである。 - 特許庁
To provide a semiconductor device for improving the precision of failure analysis by detaledly discussing validity and effectiveness of a test pattern in practical chips, and to provide its failure analysis method.例文帳に追加
実際のチップにおいてテストパターンの妥当性と有効性を詳細に検討でき、不良解析の精度を向上させることができる半導体装置およびその不良解析方法を実現する。 - 特許庁
To provide ultrasonic test equipment and a method capable of improving greatly the efficiency of an inspection work, and improving inspection accuracy and reliability, by enabling reduction of hard system noise filters and shortening of a data analysis processing time without requiring noise reduction processing from the vast amount of ultrasonic data at the data analysis processing time.例文帳に追加
ハード方式ノイズフィルタの軽減、データ解析処理時に膨大な超音波データからノイズ低減処理を行う必要がなくデータ解析処理時間の短縮化が図れる。 - 特許庁
To obtain a photoemission electron microscope of which position alignment of an analysis portion and a photoelectron observation portion by an Auger electron spectral analysis on the test piece for obtaining a photoelectron observation image with high resolution is easy.例文帳に追加
分解能の高い光電子観察画像を得るために、試料上で、オージェ電子分光分析による分析部位と光電子観測部位との位置合わせが容易な光電子顕微鏡装置を得る。 - 特許庁
A test scenario analysis performing part 101 transmits message reception to the part 110 for simulating the service to be called when it is described in the test scenario 150 that a message is to be received from the program to be tested.例文帳に追加
テストシナリオ解釈実行部101は、テストシナリオ150に被テストプログラムからのメッセージを受信する旨が記述されているときには、被呼出しサービス模擬部110にメッセージ受理を送信する。 - 特許庁
Next, a result (temporary test result data) obtained by performing the bending analysis by the first displacement characteristic and the bending test result data are compared, and a first range allowing application of the first displacement characteristic is calculated (S16).例文帳に追加
次に、その第一変位特性で曲げ解析を行った結果(仮試験結果データ)と曲げ試験結果データとを比較し、第一変位特性が適用可能な第一範囲を算出する(S16)。 - 特許庁
To provide a test support system capable of extracting a test item to be executed about a corrected source code without needing detailed analysis of a program and even without designating a change portion by a user.例文帳に追加
プログラムの詳細な解析を必要とせず、また、ユーザが変更箇所を指定しなくても、修正後のソースコードについて実行すべきテスト項目を抽出できるテスト支援システムを提供する。 - 特許庁
To provide a method and an apparatus for analyzing a dry-chemical test element wherein the optimal chemical analysis by the optical scanning is performed even when the assay region of a test element where an optical active substance to be measured is brought into, has different optical activity.例文帳に追加
測定対象の光学活性物質が導入された試験エレメントのアッセイ領域が異なる光学活性を有するときでさえ、光学走査による最適化分析が可能である。 - 特許庁
To provide test equipment and test method for obtaining measured data that allow a sensor unit (1) to recognize error for calibration of analysis unit connected with the sensor unit by using sensor-related data allocation, for example, cable, stored data, that is, data allocation.例文帳に追加
例えば、ケーブルで、保存されたデータで、つまり、データ割当で、センサユニットと接続されている分析ユニットの較正のためにセンサユニット(1)にセンサ関連データ割当で、エラー認識を可能とすることである。 - 特許庁
To provide a screen transition test analyzing and transition system by which test analysis of screen transition of a web application using framework is correctly performed under environment where no application logic is prepared.例文帳に追加
フレームワークを用いたウェブアプリケーションの画面遷移を、アプリケーションロジックが用意されていない環境で、正しく試験分析することのできるウェブアプリケーションの画面遷移試験分析装置遷移装置を提供する。 - 特許庁
A test program is analyzed by an emulator program internal block, and the analysis result is compared with computer-filed semiconductor device standards to find an error contained in the test program at its early stage and proofread it.例文帳に追加
テストプログラムをエミュレータプログラム内部ブロックにて解析し、解析された結果をコンピュータファイル化された半導体素子規格と相互比較してテストプログラムに含まれたエラーを初期に発見し、それを校正する。 - 特許庁
In a device for performing constituent concentration measurement of an object of analysis by utilizing transmitted light or reflected light from a chromatography test piece, code information on the test piece recorded with respect to the test piece is read by utilizing movement of relative positional relation between irradiating light to the test piece and the test piece, as well as by using transmitted light or reflected light from the test piece.例文帳に追加
クロマトグラフィー試験片からの透過光もしくは反射光を利用して分析対象物の成分濃度測定を行う装置に、前記クロマトグラフィー試験片への照射光と前記クロマトグラフィー試験片との相対的な位置関係の移動、及び前記クロマトグラフィー試験片からの透過光もしくは反射光を利用して、試験片に関して記録された試験片上のコード情報を読み取る。 - 特許庁
To provide a management object heating device equipped with an IC tag which can quickly perform analysis and/or test of a sample in a frozen microtube by defrosting the frozen microtube in a short time under appropriate defrosting conditions, and especially, can immediately cope with urgent analysis and/or test.例文帳に追加
冷凍されたマイクロチューブ内の試料を、適正な解凍条件で短時間に解凍して分析や試験を迅速に行なうことができ、とくに緊急に分析や試験を行う際に即応できる、ICタグを備えている管理対象物の加熱装置を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR IN-SITU WATER SEALING TEST ON BOREHOLE FILLER, SYSTEM FOR IN-SITU WATER SEALING TEST ON THE BOREHOLE FILLER, METHOD FOR PERMEABILITY COEFFICIENT ANALYSIS OF BOREHOLE FILLER TOP PART, METHOD FOR INTENSITY ANALYSIS OF THE BOREHOLE FILLER TOP PART, AND EXPERIMENTAL DEVICE FOR BOREHOLE FILLER IN WATER-SEALED CHAMBER例文帳に追加
ボーリング孔の閉塞材原位置における遮水試験方法、ボーリング孔の閉塞材原位置における遮水試験システム、ボーリング孔閉塞材頂部の透水係数解析方法、ボーリング孔閉塞材頂部の強度解析方法、および、ボーリング孔閉塞材の遮水室内実験装置 - 特許庁
To actualize a semiconductor memory evaluator for reducing the time for defect examination and defect analysis on semiconductor memories, by classifying test fail information on the semiconductor memories by segment to execute defect analysis and defect classification, and to actualize a defect analysis method which uses the same.例文帳に追加
半導体メモリのテストフェイル情報をセグメントごとに分類し、不良解析及び不良分類を実行して半導体メモリの不良調査及び不良解析時間を低減する半導体メモリ評価装置及びそれを用いた不良解析方法を実現する。 - 特許庁
A composite tool constituted of a prime test tool, a secondary hyperbola group design tool, a secondary hyperbola group analysis tool, an extended secondary hyperbola group analysis tool, and the like in a design tool of hyperbola ciphering has constitution completing design and analysis by only the tool.例文帳に追加
双曲線暗号の設計ツールであって、素数テストツール、2次双曲線群設計ツール、2次双曲線群解析ツール、拡張2次双曲線群解析ツール等から構成されている複合ツールで、このツールだけで設計と解析が完結する構成を有している。 - 特許庁
With respect to a group of products designated by a manufacture history analysis result display means 400, an analysis support control means 200 displays any of the basic statistics selected and a scatter plot (including correlative coefficients) of a characteristic test value on the manufacture history analysis result display means 400.例文帳に追加
分析支援制御手段200は、製造履歴分析結果表示手段400で指定された製品群に関して、選択されたいずれかの基本統計量と特性試験値の散布図(相関係数も含む)を製造履歴分析結果表示手段400に表示する。 - 特許庁
In the prober 11, a travel control stage 111 for placing a wafer WF and a probe card 112, and a circuit substrate 113 for signal relay are arranged to test a probe via a tester body 13 where a test system related to the generation and analysis of a test signal is constructed, and a test head 12 for processing the transmission of a signal.例文帳に追加
プローバー11は、ウェハWFを載置する移動制御ステージ111及びプローブカード112、信号中継用の回路基材113を配備し、試験信号の生成、解析に関係するテストシステムが構築されたテスター本体13と、信号伝達を処理するテストヘッド12を介してプローブ試験が行える。 - 特許庁
The urine work area manager receives analysis results of urine test strip reading container, produces control instructions to control urine sediment analyzer using the test result, and compares results of the urine test strip reading container and the urine sediment analyzer.例文帳に追加
尿の作業領域マネージャーは、尿検査ストリップ読み取り器の分析結果を受信し、その検査結果を用いて、尿沈殿物分析器を制御するために制御命令を発生させ、尿検査ストリップ読み取り器および尿沈殿物分析器の結果を比較する。 - 特許庁
A test process comparing part 18 compares a progress reference value determined by the test process determining part 12, with the result of the analysis outputted by the test result analyzing part 16, judges the situation of the progress, and outputs the comparison result data indicating the result of the judgment.例文帳に追加
テスト工程比較部18は、テスト工程設定部12によって設定された進捗基準値とテスト成績分析部16によって出力された分析結果とを比較して進捗状況を判断し、この判断結果を示す比較結果データを出力する。 - 特許庁
To provide a transformer station monitoring control protection system capable of saving a physically installation space, and easily performing stress analysis and system test.例文帳に追加
物理的な設置スペースを節約でき応動解析やシステム試験が容易に行える変電所監視制御保護システムを提供することにある。 - 特許庁
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