「test current」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To reduce the external magnetic field influence to improve the measuring accuracy of an optical current transformer for obtaining a measured value of a current under test from the rotation angle of a linear polarized light rotating due to the magnetic field action of the current under test.例文帳に追加

被測定電流の磁界作用で回転する直線偏波光の回転角から、被測定電流値を求める光変流器において、外部磁界の影響を低減することにより、測定精度を向上すること。 - 特許庁

In a test mode, the current supply from a power supply voltage Vcc to the power source nodes 43a and 43b is stopped by current switches 102a and 102b and an externally adjustable test current is supplied.例文帳に追加

テストモード時には、電源ノード４３ａ，４３ｂに対しては、電流スイッチ１０２ａ，１０２ｂによって電源電圧Ｖｃｃからの電流供給が停止される一方で、外部から調整可能なテスト電流Ｉｔが供給される。 - 特許庁

In another aspect, the semiconductor memory device includes a test circuit for generating leakage current having the amount of current equal to that of operation current during the operation of the semiconductor memory device when a test mode is activated and the semiconductor memory device is in a standby state.例文帳に追加

また、他の発明は、テストモードが活性化し、半導体メモリ装置のスタンバイ状態時、前記半導体メモリ装置の動作時の動作電流と同一の電流量を有する漏れ電流を発生させるテスト回路を含む。 - 特許庁

Thereby, a test time of the semiconductor memory can be shortened without increasing quantity of current consumption.例文帳に追加

これにより、電流消耗量の増加無しに半導体メモリ装置のテスト時間を短縮しうる。 - 特許庁

Thereby, it becomes possible to impress a voltage or current on a specific portion of the test piece.例文帳に追加

それにより前記試料の特定部分に電圧又は電流を印加することが可能となる。 - 特許庁

To provide an eddy current test system (5) and method for testing a constituting part (12).例文帳に追加

構成部品（１２）を検査するための渦電流探傷検査システム（５）及び方法を提供する。 - 特許庁

To reduce the current consumption of the whole system when an automatic test of a fire sensor is conducted.例文帳に追加

火災感知器の自動試験実施時におけるシステム全体の消費電流を減少させる。 - 特許庁

To enable a direct-current test of an external terminal without taking the constitution of an LSI logic circuit into consideration.例文帳に追加

ＬＳＩの論理回路の構成を意識せずに外部端子の直流テストを可能とする。 - 特許庁

The inspection mechanism part has a three- dimensional camera device and an eddy current test equipment in a camera case.例文帳に追加

検査機構部13は三次元カメラ装置22および渦流探傷装置24，25をカメラケース21に具備している。 - 特許庁

The standard cell having at least two test pads for detecting current is arranged in an automatic layout.例文帳に追加

電流検出用テストパッドを少なくとも２つ有するスタンダードセルを自動レイアウトで配置する。 - 特許庁

The display information describes a current display generated by the product under test (11, 46, 55, 77-79).例文帳に追加

表示情報は、テスト対象製品(11,46,55,77−79)によって生成される最新の表示を記述する。 - 特許庁

Also, A second data write current is supplied to one of a plurality of bit lines during the test time.例文帳に追加

また、テスト時に複数のビット線のうちの１本に第２のデータ書込電流を供給する。 - 特許庁

The system estimates the leakage current by analyzing variations in a control signal against an external test vector.例文帳に追加

外部からのテストベクタに対する制御信号の変化を解析して、リーク電流を見積もる。 - 特許庁

To execute burn-in test using a simple-structured probe card without requiring a high current.例文帳に追加

構造が簡単なプローブカードを用いて、大電流を必要とすることなくバーンインテストを行なう。 - 特許庁

To easily decide how many failures which can not be detected in a functional test are detected by a stationary power current test.例文帳に追加

機能テストにおいて検出できなかった故障が静止電源電流テストによってどれだけ検出されるかを容易に判定可能とする。 - 特許庁

Regarding the plurality of good samples, static power supply current (IDDQ) for each test vector is measured while a plurality of test vectors are switched over (S102).例文帳に追加

複数の良品サンプルについて、複数のテストベクタを切り換えながら、テストベクタごとの静的電源電流（ＩＤＤＱ）を測定する（Ｓ１０２）。 - 特許庁

To test a semiconductor integrated circuit constituting a switching power supply circuit by using an ordinary test device with a small current capacity.例文帳に追加

スイッチング電源回路を構成する半導体集積回路において、電流容量の小さい通常の試験装置を用いてテストを可能とする。 - 特許庁

Thus, the amounts of current that is consumed at the time of a burn-in test are equalized, and a voltage drop in power supply of the entire burn-in test board is inhibited.例文帳に追加

このようにして、バーンインテスト時の消費電流が平準化されて、バーンインテストボード全体の電源における電圧降下が抑制される。 - 特許庁

The semiconductor test apparatus 1 includes a current detection circuit 11, a current drawing circuit 12, and a determination apparatus 13.例文帳に追加

本発明にかかる半導体試験装置１は、電流検出回路１１と、電流引込回路１２と、判定装置１３を備えている。 - 特許庁

To conduct the test of the current driving capability of an output circuit in a manufacture stage and to set the output circuit to optimum current driving capability.例文帳に追加

製造段階で出力回路の電流駆動能力を試験し、出力回路を最適な電流駆動能力に設定する。 - 特許庁

The magnetic memory cell write current threshold detector (510) includes a first MRAM test cell (512) receiving a write current and sensing when the write current exceeds a first threshold, and a second MRAM test cell (514) receiving a write current and sensing when the write current exceeds a second threshold.例文帳に追加

この磁気メモリセル書込み電流閾値検出器（５１０）は、書込み電流を受け取って該書込み電流が第１の閾値を超えたときを判定するための第１のＭＲＡＭテストセル（５１２）と、書込み電流を受け取って該書込み電流が第２の閾値を越えたときを判定するための第２のＭＲＡＭテストセル（５１４）とを含む。 - 特許庁

When the paper is not nipped between the photoreceptor drum and transfer roller, a printer controller applies a test voltage to the transfer roller, and obtains, through a current detecting section, the value of current flowing during the application of the test voltage.例文帳に追加

プリンタコントローラは、感光ドラムと転写ローラの間に用紙をニップしないときに転写ローラに試験電圧を印加し、この試験電圧印加時の電流値を電流検出部で取得する。 - 特許庁

When power source voltage to the electrical leak detector 5 decreases, a microcomputer 11 decreases the voltage amplification factor of the alternating current test voltage generating circuit 8 to maintain the output of the alternating current test voltage.例文帳に追加

漏電検出装置５への電源電圧が低下する場合にマイクロコンピュータ１１は交流試験電圧発生回路８の電圧増幅率を減少させて交流試験電圧の出力を維持する。 - 特許庁

When measurement in each write current value set beforehand is completed, the test execution control section 231 transmits the measurement data to the test computer 51.例文帳に追加

予め設定されている各ライト電流値における測定が終了すると、テスト実行制御部２３１は、測定データをテスト・コンピュータ５１に転送する。 - 特許庁

To realize stable operation by lightening a load for a measuring system at the time of a burn-in test or at the time of a stress test, and reducing a peak current, in a DRAM.例文帳に追加

ＤＲＡＭにおいて、バーンイン試験時又はストレス試験時での測定系の負荷を軽減し、ピーク電流を低減して、安定した動作を実現する。 - 特許庁

Furthermore, as another test method, voltages are simultaneously applied to the test pads 2 to the circuit blocks which are not adjacent to each other to detect the current value.例文帳に追加

更に別の試験方法として、互いに隣接していない回路ブロックへの試験パッド２に同時に電圧を印加して、電流値を検出する。 - 特許庁

The scan pass test circuit having no malfunction and a large operating margin can be made by this configuration, and the instantaneous current consumption at the time of scan test can be reduced.例文帳に追加

この構成により、誤動作のない動作マージンの大きいスキャンパス・テスト回路が可能となり、またスキャンテスト時の瞬時消費電流を削減できる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit raised in effect of an accelerated test in a reliability evaluation test while suppressing consumption current in normal operation.例文帳に追加

通常動作時における消費電流を抑えたまま、信頼性評価試験における加速試験の効果が高められた半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To restrict the voltage distortion to be generated in a breaker in a short circuit test circuit for the breaker capable of supplying two or more kinds of short circuit test current.例文帳に追加

２種類以上の短絡試験電流を供給可能にする遮断器の短絡試験回路において、遮断器に発生する電圧歪みを抑制する。 - 特許庁

To provide a non-volatile semiconductor memory that a leak current is not made to flow in a boosting circuit even if a pad for test is separated after finish of the test.例文帳に追加

テスト用のパッドをテスト終了後に切り離しても昇圧回路にリーク電流が流れないようにした不揮発性半導体メモリを提供する。 - 特許庁

Test pads 11 for allowing a virtual current for the test to flow into a photodiode PD is arranged on a wafer 1 where a light receiving amplifier element chip is formed.例文帳に追加

受光アンプ素子チップが形成されるウェハ１上において、フォトダイオードＰＤにテスト用の仮想電流を流し込むためのテストパッド１１を配置する。 - 特許庁

To obtain and report the current state of a residence alarm by a real time test by using a checking operation as a trigger for a self-test having a time lag.例文帳に追加

タイムラグを持つ自動試験に対し、点検操作などをトリガに現在の住警器の状態をリアルタイム試験により取得して報知可能とする。 - 特許庁

To shorten time of development and time of execution of a test in a static electric source current measuring test in a system LSI with a built-in processor.例文帳に追加

プロセッサーを内蔵するシステムＬＳＩにおいて、静止電源電流測定試験時の試験の開発時間と実施時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

To obtain a test result superior in stability and reproducibility even if the change of a test condition accompanying the change of an excited current of a focusing lens is carried out.例文帳に追加

集束レンズ励磁電流の変化を伴う検査条件の変更を行っても安定性および再現性が良い検査結果が得られるようにする。 - 特許庁

A hard disk current test system includes a hard disk, an adapter board, a test device, a first cable, a second cable, and two clip-on ammeters.例文帳に追加

本発明に係るハードディスク電流のテストシステムは、ハードディスク、アダプターボード、テスト装置、第一ケーブル、第二ケーブル及び２つのクリップオン電流計を備える。 - 特許庁

Thus, when the current switch 20-1 of the lowest order is ON (that is at the time of an odd number), the constant current source 10-1 and the constant current source 40 for the test are synthesized and output is performed through the current switch 50.例文帳に追加

したがって、最下位の電流スイッチ２０−１のオン時（すなわち奇数時）には、定電流源１０−１とテスト用の定電流源４０が合成され、電流スイッチ５０を介して出力される。 - 特許庁

The sense amplifier compares the test current flowing through the bit lines with a reference current, and outputs output data corresponding to the result of the comparison.例文帳に追加

センスアンプは、ビット線を流れるテスト電流とリファレンス電流との比較を行い、当該比較の結果に応じた出力データを出力する。 - 特許庁

Following to a step (S1) for forming a first interlayer film and making contact holes, a first metallization for inspection mask is formed (S8) and leak current test or function test is conducted by inline test using a probe (S7).例文帳に追加

第１層間膜形成及びコンタクトホール形成工程（Ｓ１）後に、検査用マスクの第１金属配線を形成（Ｓ８）し、プローブを用いたインライン検査（Ｓ７）によりリーク電流検査や機能検査を行う。 - 特許庁

Acceptable fill data from known first current and known second current are used to predict an estimated second current at proximate the second time period during the test sequence.例文帳に追加

既知の第１電流及び既知の第２電流からの許容可能な充填量データを使用して、試験手順の第２時間周期付近における推定第２電流を予測する。 - 特許庁

Thereafter, as a result of judgment whether the consumption current value measured after the screening test is less than the first consumption current threshold or not, the semiconductor device with a larger consumption current value is regarded as faulty.例文帳に追加

続いて、スクリーニングテスト後に測定した消費電流値が第１の消費電流しきい値よりも小さいかを判断し、大きい消費電流値の半導体装置を不良品とする。 - 特許庁

It is counted that the disconnection failure has occurred in the inductive load circuit if a difference between the value of the test current and that of the current flowing in the inductive load circuit is greater than the current difference threshold value.例文帳に追加

そして、試験電流の値と、誘導負荷回路に流れる電流値の差が電流差閾値より大きい場合には、誘導負荷回路に断線異常が発生したとしてカウントする。 - 特許庁

In an intermediate transfer system, transfer residue density is measured by outputting a test chart while changing the transfer current.例文帳に追加

中間転写系において、転写電流を変えてテストチャートを出力し、転写残濃度を測定する。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw test device capable of improving an accuracy of detecting a flaw of a cold-rolled steel pipe.例文帳に追加

冷間圧延された鋼管のきず検出精度を向上できる渦流探傷装置を提供する。 - 特許庁

The PACS 2 searches a current image group and a past image group of the test subject based on the patient ID.例文帳に追加

ＰＡＣＳ２は患者ＩＤに基づいて、被検体の現在画像群および過去画像群を検索する。 - 特許庁

To improve the communication quality by enabling a communication test without affecting the current communication network.例文帳に追加

現状の通信網に影響を与えることなく、通信試験を可能とし、通信品質の向上を図る。 - 特許庁