「test portion」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The audio signal processing device 1 comprises a test signal supply portion, a speaker angle calculating portion, a speaker angle deciding portion, and a signal processing portion 3.例文帳に追加

本発明の音声信号処理装置１は、テスト信号供給部と、スピーカ角度算出部と、スピーカ角度決定部と、信号処理部３とを具備する。 - 特許庁

Of the test specimen 1, a portion 2 on a left side is a portion coated with the paint and a portion 3 on a right side is a masked portion not coated with the paint.例文帳に追加

供試体１のうち、左側の部分２が塗料が塗られた部分で、右側の部分３がマスキングされて塗料が付かなかった部分である。 - 特許庁

This class implements the portion of the TestCase interface which allows the test runner to drive the test, but does not provide the methods which test code can use to check and report errors. This is used to create test cases using legacy test code, allowing it to be integrated into a例文帳に追加

このクラスではTestCaseインターフェースの内、テストランナーがテストを実行するためのインターフェースだけを実装しており、テスト結果のチェックやレポートに関するメソッドは実装していません。 既存のテストコードを - Python

The cassette includes a supply portion from which unused test media is supplied and a storage portion in which contaminated test media is stored after exposure to the body fluid.例文帳に追加

カセットは、未使用の試験媒体が供給される供給部と、汚染した試験媒体が体液に露出したのち保存される保存部とを含んでいる。 - 特許庁

A test item determining portion 226 receives test item information from an operation portion 206 and obtains information about available testers from a Tests and Available Testers table 262.例文帳に追加

試験項目判断部２２６は、操作部２０６から試験項目情報を受け入れ、試験別使用測定器テーブル２６２から、使用測定器情報を取得する。 - 特許庁

In a test support portion 240, a test cell highlight portion 242 highlights a combination information cell associated with the next test case to be executed, during execution of the status transition test, and a test result history, an error replication procedure, and progress circumstances or the like are displayed on a display portion.例文帳に追加

テスト支援部２４０では、状態遷移テストの実行中、次にテストが実行されるべきテストケースに対応付けられている組み合わせ情報用セルがテストセル強調表示部２４２によって強調表示され、テスト結果の履歴、エラーの再現手順、進捗状況などの表示部への表示が行われる。 - 特許庁

Next, a retest is automatically made according to the test condition stored in the test condition memory portion 24 with respect to the test determined to be block failure.例文帳に追加

ついで、ブロック不良と判断されたテストについて試験条件記憶部２４に格納されている試験条件に従い自動的に再試験を行う。 - 特許庁

The test voltage applying portion 2 applies test voltage Vt of various voltage levels on a corresponding read-out signal line VSL.例文帳に追加

テスト電圧印加部２は、種々の電圧レベルのテスト電圧Ｖｔを対応する読み出し信号線ＶＳＬに印加する。 - 特許庁

TRANSMISSION/RECEPTION SYSTEM HAVING FUNCTION OF DETERMINING DEGRADED PORTION OF CHANNEL BY TEST SIGNAL例文帳に追加

テスト信号による通信路の劣化部位の判定機能を有する送受信システム - 特許庁

A fixation portion 3 to fix a test piece 5 and a loading portion 4 that can press the test piece 5 with a variable load are arranged 500 mm apart.例文帳に追加

試験片５を固定するための固定部３と、荷重を変化させて試験片５を押し付けることが可能な荷重部４とを５００ｍｍの間隔で配置した。 - 特許庁

If the test plug 21 is mounted on the main body 11 of the test spring, the lock pawl portion 25a is engaged into the lock recess 15b, and the test plug 21 is locked on the main body 11 of the test spring.例文帳に追加

試験用プラグ２１が試験弾器本体１１に装着されると、係止爪部２５ａが係止用凹部１５ｂに係合し、試験用プラグ２１は試験弾器本体１１にロックされる。 - 特許庁

A long protrusive body 2 is arranged in an intermediate portion between the fixation portion 3 and the loading portion 4 as a pseudo unevenness, on which the test piece 5 is placed.例文帳に追加

そして、固定部３と荷重部４との中間部に擬似不陸としての長尺凸状体２を配置して、その上に試験片５を載置した。 - 特許庁

A solid state imaging element 100 comprises a pixel array portion 1, a test voltage applying portion 2, a reference voltage producing circuit 9, and an operation point control portion 8.例文帳に追加

固体撮像素子１００は、画素アレイ部１と、テスト電圧印加部２と、参照電圧生成回路９と、動作点制御部８とを備える構成とする。 - 特許庁

The test piece 5 is then fixed with the fixation portion 3, and a variable load is applied to the test piece 5 with the loading portion 4, so as to measure a space L1 between a bottom part of the test piece 5 and a substrate 1.例文帳に追加

更に、固定部３により試験片５を固定すると共に、荷重部４により異なる荷重を試験片５に作用させて、試験片５の下部と基盤１との間の間隔Ｌ１を測定するようにした。 - 特許庁

This method comprises forming only the change portion from the previous pattern vector into a file, paying attention to a test pattern used for a semiconductor test every pattern vector, to compress the test pattern file.例文帳に追加

半導体の試験に使用するテストパターンファイルをパターンベクタ毎に着目し、前のパターンベクタからの変更分のみをファイル化してテストパターンファイルの圧縮を行う。 - 特許庁

To provide a COF (chip on film) substrate having no local tapering of a wiring in a test pad portion.例文帳に追加

テストパッド部での配線の局部的細りをなくしたＣＯＦ基板を提供する。 - 特許庁

A processing means is preset in a test condition memory portion 24 as a test condition when block failure is detected from an input portion 22 during a burn-in test, so that a burn-in board is attached/detached when block failure is detected during a burn-in test.例文帳に追加

予め入力部２２からバーンイン試験中にブロック不良を検出した場合の処理の仕方を試験条件として試験条件記憶部２４に設定しておき、バーンイン試験中にブロック不良を検出した場合には、バーンインボードの着脱を行う。 - 特許庁

The slip issuing machine carries out printing of a test pattern 96 at a lower portion of a slip 94 in order to test printing omission of a printing mechanism 90.例文帳に追加

伝票発行機では、伝票９４の下部に印字機構９０の印字欠落をテストするためのテストパターン９６を印字する。 - 特許庁

The hardware portion has a hardware function which generates a test pattern and conducts an operation verification by inputting the test pattern to the circuit to be tested.例文帳に追加

ハードウェア部は、テストパタンを生成し、テストパタンを被テスト回路に入力することによって動作検証を行うハードウェア機能を有する。 - 特許庁

The test terminal is disposed on an unnecessary portion of the semiconductor wafer 10, and when testing the semiconductor wafer 10, a tester 20 is connected to the test terminal 14.例文帳に追加

テスト端子１４は、半導体ウェハ１０の不要部に設けられ、半導体ウェハ１０のテスト時においてテスタ２０が接続される。 - 特許庁

A relationship between the optical face tangle error and the tangle error portion comatic aberration of a test lens 1, and a relationship between the surface displacement and the displacement portion comatic aberration of the test lens 1 are determined by computer simulation.例文帳に追加

被検レンズ１の面倒れと面倒れ分コマ収差との関係、および被検レンズ１の面ずれと面ずれ分コマ収差との関係を、コンピュータシミュレーションにより求める。 - 特許庁

To attain shortening of a test time of a recording disk and high test reliability by more accurately predicting the number of defects on the basis of a test result about a portion of tracks in the recording disk.例文帳に追加

記録ディスクにおける一部トラックについてのテスト結果によってより正確な欠陥数を予想し、記録ディスクのテスト時間の短縮とより高いテスト信頼性とを実現する。 - 特許庁

The reaction line is constituted, for example, of an endless track system type provided successively with a plurality of test piece holders, and the internal standard is incorporated in a test piece mounting portion itself of the test piece holder.例文帳に追加

反応ラインは、例えば複数の試験片ホルダーを連ねた無限軌道方式のものから構成され、内部標準は試験片ホルダーの試験片載置箇所自体に組み込む。 - 特許庁

Voltage is applied to the test piece via an applying electrode, and resistivity in each portion of the test piece S is measured by electrically connecting between the test piece S and measuring electrodes P1-n.例文帳に追加

試験体に印加用電極を介して電位を与えると共に、測定用電極Ｐ１〜ｎと試験体Ｓとを導通させて試験体Ｓの各部位における比抵抗を測定する。 - 特許庁

To provide test equipment and a test method which can perform a dynamic test even on a sensor having a small detection sensitivity or a sensor with its sensing portion cut out from the outside world.例文帳に追加

検出感度の小さいセンサやセンサ部が外界から遮断された構成となっているセンサでも、動的試験を行うことができる検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

An ADC test circuit has an expected value generator 1, a test signal generator 2, an input signal selector 3, an ADC 4 for a test, a comparator 5, and an internal logic portion 6.例文帳に追加

ＡＤＣテスト回路は、期待値生成部１と、テスト信号生成部２と、入力信号選択部３と、テスト対象のＡＤＣ４と、比較部５と、内部ロジック部６を備えている。 - 特許庁

(ii) Items (i), (ii) (excluding the portion pertaining to research and test reactor, etc. establishers and users), item (iii) (excluding the portion pertaining to research and test reactor, etc. establishers and users), item (iv) (excluding the portion pertaining to research and test reactor, etc. establishers and users), item (vi), (vii), (viii) (excluding the portion pertaining to research and test reactor, etc. establishers), item (viii)-2 (excluding the portion pertaining to research and test reactor, etc. establishers and users), item (x) (excluding the portion pertaining to research and test reactor, etc. establishers), item (xi), (xii) (excluding the portion pertaining to research and test reactor, etc. establishers), item (xiv), (xv), (xvii), (xviii), (xx), (xxi), (xxvi)-2 (excluding the portion pertaining to test and research reactor, etc. establishers and users), item (xxviii) (excluding the portion pertaining to research and test reactor, etc. establishers and users), item (xxix) (excluding the portion pertaining to research and test reactor, etc. establishers and users) or item (xxx) (excluding the portion pertaining to research and test reactor, etc. establishers and users) of Article 78: Fine of not more than one hundred million yen 例文帳に追加

二　第七十八条第一号、第二号（試験研究炉等設置者及び使用者に係る部分を除く。）、第三号（試験研究炉等設置者及び使用者に係る部分を除く。）、第四号（試験研究炉等設置者及び使用者に係る部分を除く。）、第六号、第七号、第八号（試験研究炉等設置者に係る部分を除く。）、第八号の二（試験研究炉等設置者及び使用者に係る部分を除く。）、第十号（試験研究炉等設置者に係る部分を除く。）、第十一号、第十二号（試験研究炉等設置者に係る部分を除く。）、第十四号、第十五号、第十七号、第十八号、第二十号、第二十一号、第二十六号の二（試験研究炉等設置者及び使用者に係る部分を除く。）、第二十八号（試験研究炉等設置者及び使用者に係る部分を除く。）、第二十九号（試験研究炉等設置者及び使用者に係る部分を除く。）又は第三十号（試験研究炉等設置者及び使用者に係る部分を除く。）　一億円以下の罰金刑 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Thereby, it becomes possible to impress a voltage or current on a specific portion of the test piece.例文帳に追加

それにより前記試料の特定部分に電圧又は電流を印加することが可能となる。 - 特許庁

To easily discover failure of blazing jointing at an emboss portion by a normal leak test.例文帳に追加

通常の漏れ検査でエンボス部分でのロー付け接合の不良を容易に発見できるようにする。 - 特許庁

A space portion of reproduction test data is counted and the counted value is supplied to the control part 24.例文帳に追加

また、再生テストデータのスペース部分をカウントし、そのカウント値を制御部２４に供給する。 - 特許庁

The inner angle θ2 of the ridge portion 11a formed by both ridge surfaces 11b is formed to the test piece fixing angle corresponding to the displacement of the bending angle θ1 of the test piece 15, and a recessed portion 11c to avoid the interference with the spring portion 15a corresponding to the ridge portion 11a is formed.例文帳に追加

両稜面１１ｂにより構成される稜線部１１ａの内角θ２が、試料片１５の曲げ角度θ１の変位に対応する試料片固定角度に形成されると共に、稜線部１１ａに対応バネ部１５ａとの干渉を回避する逃し部１１ｃが形成される。 - 特許庁

A test jig is equipped with a lower base portion 4, an upper base portion 20, the load applying part 30 having an acting point 32 and bonded to the upper base portion 20, the stabilizers 50 erected on the lower base portion 4 and the stabilizer support portion 60 supporting the upper ends of the stabilizers 50 and connected to the upper base portion.例文帳に追加

下部基部４と、上部基部２０と、作用点３２を有し上部基部２０に結合される荷重負荷部３０と、下部基部４に立設されるスタビライザー５０と、スタビライザー５０の上端側を支持し上部基部側と連結されるスタビライザー支持部６０、とを備える。 - 特許庁

To provide a test plug excellent in working easiness and free of risk to damage threads in a groove formed in a joint provided at the piping outlet or the threaded portion of the test plug.例文帳に追加

作業性に優れ、またテストプラグの螺子部や配管出口に設けられた継ぎ手の凹溝の螺条を傷めることのないテストプラグを提供する。 - 特許庁

The analyte test strip employed in the method includes a first port in fluidic communication with the sample-receiving chamber and proximate a platform portion of the analyte test strip.例文帳に追加

この方法に使用される検体試験片は、サンプル受容チャンバと流体連絡し、検体試験片のプラットフォーム部に近接する第１のポートを備える。 - 特許庁

Alternatively, a memory or an analog switch may be provided on a wiring portion for connecting the two test pads.例文帳に追加

また、２つのテストパッド間をつなぐ配線部にメモリ又はアナログスイッチを設ける構成としてもよい。 - 特許庁

In the COF substrate, the shape of a corner portion connecting the test pad TP to the wiring L is formed so that the arc of a circle having a larger distance as a radius, out of a distance between adjacent test pads TP and TP and a distance between the wiring L and the test pad TP, may contact the test pad TP and a straight line portion of the wiring L.例文帳に追加

テストパッドＴＰと配線Ｌをつなぐコーナー部の形状を、隣接するテストパッドＴＰ，ＴＰ間の間隔または配線ＬとテストパッドＴＰとの間の間隔のうちの、大きい方の間隔を半径とする円の円弧が、テストパッドＴＰ及び配線Lの直線部と接するように、形成したことを特徴とする。 - 特許庁

The risky portion extracting part 110 extracts a risky portion with a risk of generating the malfunction in the test caused by the IR drop of an electric power source, from the semiconductor integrated circuit, and the ATPG 150 generates the test pattern to restrain an operation rate of an instance included in the risky portion, in the risky portion extracted by the risky portion extracting part 110.例文帳に追加

危険箇所抽出部１１０は、半導体集積回路から、電源のＩＲドロップに起因してテスト時に誤動作が生じうる危険箇所を抽出し、ＡＴＰＧ１５０は、危険箇所抽出部１１０により抽出された危険箇所に対して、該危険箇所に含まれるインスタンスの動作率を抑制するようにテストパターンを生成する。 - 特許庁

For example, a signal of the impact sound which is measured by the microphone 20 when the test object is struck with the shockless hammer 2 is different between a portion free from exfoliation of a laminated material of the test object and a portion with exfoliation of the laminated material.例文帳に追加

例えば、検査対象物の積層材の剥離が無い部位と、積層材の剥離がある部位とでは、ショックレスハンマー２による打撃時にマイク２０によって測定される打撃音の信号が異なる。 - 特許庁

The stabilizer support portion 60 and the upper base portion 20 are connected by a screw means of which the screw axis direction is in an the up-and-down direction of the test jig and the clearance between the acting point and the test piece can be regulated by the screw means.例文帳に追加

スタビライザー支持部６０と上部基部２０側とは、ネジ軸方向が試験治具上下方向であるネジ手段により連結され、このネジ手段により作用点と試験片間のクリアランスが調節可能である。 - 特許庁

With respect to each portion of the specific pattern, an output engine 134 creates a portion of the specific test pattern from the segment description code within the memory and generates output of a series of portions of the specific test pattern.例文帳に追加

出力エンジン１３４は、特定テスト・パターンの各部分に対して、メモリ内のセグメント記述コードから特定テスト・パターンの部分を作成して、この特定テスト・パターンの一連の部分の出力を発生する。 - 特許庁

A digital multifunction machine 1 when performing calibration acquires target data by reading a test chart recording surface of a test chart document, acquires sampling data by reading a test chart copy surface of a copy of the test chart document, and saves the acquired sampling data when a read portion obtained by reading the test chart copy surface matches a read portion that the specifying means specifies.例文帳に追加

デジタル複合機１は、キャリブレーションを行う際に、テストチャート原稿のテストチャート記録面を読み取って目標データを取得するとともに、テストチャート原稿の複写物のテストチャート複写面を読み取ってサンプリングデータを取得し、テストチャート複写面を読み取った読み取り部と前記特定手段が特定した読み取り部とが一致する場合に取得したサンプリングデータを保存する。 - 特許庁

This system includes a substitution bus 32a of a test bus substituted by one portion or the whole of an existing I/O bus.例文帳に追加

既存のI/Oバスの一部又は全部により代用されたテストバスである代用バス３２ａが設けられている。 - 特許庁

The automatic mode makes sense in cases where you want to quickly test a fixed portion of code like a script or a single function. 例文帳に追加

自動モードは、スクリプト全体や特定の関数など、決まった部分をお手軽にテストしたい場合に便利です。 - PEAR

When performing the continuity confirmation test, the non-combined portion 5b of the reinforcement sheet 5 is rolled up to insert the probe of a tester in the test point 2a and the probe is brought into contact with the linear conductor 1.例文帳に追加

導通確認テストの際は補強シート５の非固着部分５ｂを捲り上げてテストポイント２ａにテスターのプルーブを挿入して線状導体１に接触させる。 - 特許庁

The displacement portion comatic aberration caused by the displacement is calculated by subtracting the tangle error portion comatic aberration from the comatic aberration, and the face deviation of the test lens 1 is calculated based on the displacement portion comatic aberration.例文帳に追加

このコマ収差から、面倒れ分コマ収差を差し引くことにより、面ずれに起因する面ずれ分コマ収差を算定し、この面ずれ分コマ収差に基づき、被検レンズ１の面ずれを算定する。 - 特許庁