「DEFECTIVE」に関連した英語例文の一覧と使い方(49ページ目) - Weblio英語例文検索

The position of the defective pixel of a CCD image pickup element is stored in a defective pixel position storing part 12, and a control part 13 generates a control signal based on the position of the defected pixel stored in the part 12.例文帳に追加

ＣＣＤ撮像素子の欠陥画素の位置を欠陥画素位置記憶部12に記憶し、制御部13において欠陥画素位置記憶部12に記憶された欠陥画素の位置に基づいて制御信号を生成する。 - 特許庁

To control the flow of a foaming fluid before the expansion of expandable groups being expanded to make foam in a desired direction and to prevent the generation of the defective cutoff and defective reinforcement of a hollow structure.例文帳に追加

発泡性基が発泡し発泡体となる前状態の発泡流動体の流れを所望とする方向にコントロールすることができ、中空構造物の遮断不良や補強不良の発生を防止する。 - 特許庁

To stick labels to all target items transferred at a specified interval while a defective label in the labels stuck to a release sheet at a specified interval is collected before the defective label is stuck to the items.例文帳に追加

剥離紙に一定間隔で貼付されて供給されたラベルのうち不良品であるラベルを被着体に貼付する前に回収しながらも、一定間隔で搬送されてくる全ての被着体に貼付する。 - 特許庁

The printing table TA is replaced with one wherein a condition of not using the defective head is described and controlling of the printing is executed by using the other good head instead of the defective one.例文帳に追加

そして、印刷テーブルＴＡを当該非正常印刷ヘッドを用いない条件を記載しているものに変更し、非正常印刷ヘッドとは別の正常な印刷ヘッドで代用させるように印刷制御を行う。 - 特許庁

A control part 17 closes the stopper 13 based on a signal from the detecting part 16 when the non- defective signal is inputted, abuts the non-defective 20a of the sheet printed book 20 on the stopper 13 to fall it to the accumulating part 15.例文帳に追加

制御部１７は検知部１６からの信号に基づいて、良品信号が入力されるとストッパ１３を閉とし、刷本２０のうち良品２０ａをストッパ１３に当接させて集積部１５へ落下させる。 - 特許庁

To provide a heat exchanger comprising a tube of a structure capable of improving work efficiency for correction when defective brazing of a plate constituting the tube is found, while controlling the generation of defective brazing of the tube and a header plate.例文帳に追加

チューブとヘッダプレートのろう付け不良の発生を抑制しつつ、チューブを構成するプレートのろう付け不良発生時に行う手直しの作業性を向上できる構造のチューブを備える熱交換器を提供する。 - 特許庁

In a fourth step, a test of a semiconductor memory determined as defective memory operation using the test pattern converted to the signal pattern by a semiconductor memory tester, is performed and reappearance of the occurrence of the defective operation is verified.例文帳に追加

第４ステップでは、半導体メモリテスタにより信号パターンに変換されたテストパターンを用いてメモリ動作不良と判定された半導体メモリのテストを実施し、上記動作不良発生の再現を検証する。 - 特許庁

To provide a decision method which more uniformly and accurately determines a semiconductor wafer to be non-defective/defective independently of difference of S/N in an inspection device using a laser scattering method.例文帳に追加

レーザー散乱法を用いた検査装置におけるＳ／Ｎ比の差異に依存することなく、より均一で正確な半導体ウェーハの良品・不良品の判定を行うことができる判定方法を検査装置を提供する。 - 特許庁

To prevent the error ending of alternate recording processing by the defective alternate regions within the same zone which are also defects when a wide range of the defective regions, such as flaws and fingerprints, exist on an optical disk.例文帳に追加

光ディスク上に傷や指紋等の広範囲な欠陥領域が存在する場合に、同一ゾーン内の欠陥代替領域も欠陥となることにより、代替記録処理がエラー終了することを防止する。 - 特許庁

To prevent a normal sheet with no disturbance in image in original sense from being recognized as a defective sheet in an inspection device for detecting whether or not a sheet outputted from an image forming apparatus 100 is a defective sheet.例文帳に追加

画像形成装置１００から出力されたシートが不良シートであるかどうかを検知する検品装置において、本来ならば画像に乱れの無い正常なシートを不良シートとして認識されないようにする。 - 特許庁

The defect correction method for correcting a defect on a substrate 6 wherein two or more circuit patterns are formed detects a defective part on the substrate 6 and acquires position information on the substrate 6 of the defective part.例文帳に追加

複数の配線パターンが形成された基板６上の欠陥を修正する欠陥修正方法であって、基板６上の欠陥部位を検出し、その欠陥部位の基板６上における位置情報を取得する。 - 特許庁

Operation of the sense amplifier is controlled so that sense margins are different, defective margin is detected conforming to coincidence/noncoincidence of the logic levels of output signals of these sense amplifiers, and an address of the defective margin memory cell is registered.例文帳に追加

センスアンプを、センスマージンが異なるようにその動作を制御し、これらのセンスアンプの出力信号の論理レベルの一致／不一致に従ってマージン不良を検出し、そのマージン不良メモリセルのアドレスを登録する。 - 特許庁

Since the rotating sound is changed when the rotation of the guide roller is defective, the defective rotation of the guide roller can be specified by collecting and analyzing the sound and detecting a change in the frequency of the sound.例文帳に追加

ガイドローラが回転不良となった場合には、回転音に変化が生じることから、この音を収集し、解析することでその周波数変化により、ガイドローラの回転不良を特定することができる。 - 特許庁

Therefore, even if defective pixels exist in the OB area, appropriate clamping processings can be carried out, without being influenced by it, thus enabling prevention of the occurrence of deteriorated image quality caused by the defective OB pixels.例文帳に追加

したがって、ＯＢ領域に欠陥画素が存在してもそれによる影響無しに適切なクランプ処理を行なうことができるので、ＯＢ画素欠陥に起因する画質劣化の発生を防止することが可能となる。 - 特許庁

With this structure, the center of the fluctuation of the cam angle phase when a defective holding of the cam angle phase occurs can be detected as a real cam angle phase, and the growth of the defective holding of the cam angle phase caused by the displacement can be restricted.例文帳に追加

これにより、カム角位相の保持不良の発生時のカム角位相の変動中心を実カム角位相として検出可能とし、そのずれに起因したカム角位相の保持不良の助長を抑えるようにした。 - 特許庁

To provide a defective dimension estimating method an a device therefor in which the setting standard of safety factor is made clear when the maximum defective dimension is estimated, and structural designing and strength evaluation in consideration of desired tolerance are performed.例文帳に追加

最大欠陥寸法を推定する際の安全率の設定基準を明確とし、所望の裕度を考慮した構造設計や強度評価が可能となる欠陥寸法推定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing semiconductor device to suppress remaining of residues at a via-hole in the device and to suppress also defective characteristics and defective reliability, etc. of the device.例文帳に追加

半導体装置のビアホールにおける残渣物の残留を抑制することができ、かつ、半導体装置のデバイス特性不良、信頼性不良等を抑制することができる、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit evaluation method for detecting a defective transistor in a large-scale semiconductor integrated circuit (DMA-TEG etc.) and measuring transistor characteristics of the defective transistor at high speed.例文帳に追加

大規模な半導体集積回路（ＤＭＡ−ＴＥＧ等）における不良トランジスタの検出と、不良トランジスタのトランジスタ特性の測定を高速で行うことができる、半導体集積回路評価方法を提供する - 特許庁

A defective size determining part 6 and a scale 7 are printed on the transparent board 3 for inspection, and determining parts 6a-6f are formed in the defective size determining part 6 as continuous multiple steps with the space between two lines as the space for determination.例文帳に追加

検査用透明板３には不良サイズ判定部６とスケール７がプリントされ、また、不良サイズ判定部６は２本の線分間を判定間隔とした判定部位６ａ〜６ｆが連続した多段状をなしている。 - 特許庁

After elements are arranged on a substrate and the elements are electrically connected to wirings which are connected to a driving circuit and they are mounted on the substrate, a defective element is detected and a repair element is mounted at a position corresponding to the defective element.例文帳に追加

基板上に素子を配列し、駆動回路と接続された配線と電気的に接続することにより実装した後、不良素子を検出し、当該不良素子に対応した位置にリペア素子を実装する。 - 特許庁

After the result of detection of a defective pixel, the imaging apparatus reaches a photographing standby state, and the imaging apparatus corrects and records image data obtained from the CCD on the basis of the defective pixel data recorded in the EEPROM 34 in photographing.例文帳に追加

欠陥画素の検出結果を記録した後には撮影スタンバイとなり、撮影時には、ＥＥＰＲＯＭ３４に記録した欠陥画素データに基づいて、ＣＣＤから得た画像データを補正して記録する。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester which prevents ink marks made by an inker on a semiconductor chip discriminated as being defective from being scattered or flowing over to other semiconductor chips, and prevents discrimination between defective semiconductor chips and nondefective ones from becoming difficult.例文帳に追加

インカーにより不良判定された半導体チップに付されたインクマークが他の半導体チップに飛散したり流れ半導体チップの良否判定を困難にするのを防止する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for processing test data of a semiconductor which can detect abnormality in a fabricating process even if the number of defective products is small, and quickly research causes of generating the defective products.例文帳に追加

不良品の発生数が少ない場合でも、製造工程の異常を検出することができ、不良品の発生原因の調査を早期に行うことができる半導体試験データ処理方法を提供する。 - 特許庁

The hybrid signal 303 is recognized as a defective waveform signal in a receiver which does not use any predetermined hybrid signal communication system, so that even when the signal is received, it can be discarded as a defective packet.例文帳に追加

このハイブリッド信号３０３は所定のハイブリッド信号通信方式を用いない受信機では欠損した波形の信号と認識されるため、信号を傍受したとしても、不良パケットとして破棄される。 - 特許庁

Further, in a defective section lacking the metal film constituting the wire, an interfacial reaction between the metal film on the transfer member and glass or silicon oxide exposed on the surface is made to occur so as to recover the defective section by tightly bonding them.例文帳に追加

また、配線を構成する金属膜が欠落した欠陥部においては、その表面に露出したガラスあるいはシリコンオキサイドとの間で界面反応を起こして強固に固着させて、欠陥部を修復する。 - 特許庁

In the defective pixel detector 23, output level difference between adjacency pixels is taken about output level inputted one by one for every pixel at the time of photography, and the pixel is judged to be a defective pixel if output level difference exceeds threshold.例文帳に追加

欠陥画素検出部２３は、撮影時に画素毎に順次入力される出力レベルについて、隣接画素間の出力レベル差を取り、出力レベル差が閾値を超えたら、その画素を欠陥画素と判定する。 - 特許庁

To reduce occurrence of any defective quality of a U-shaped steel sheet pile, mainly, occurrence of any defective quality of a claw part thereof by correcting a forming caliber while taking into consideration the effect by the metal flow when manufacturing the U-shaped steel sheet pile.例文帳に追加

Ｕ型鋼矢板の製造に際し、メタルフローによる影響を考慮した造形孔型の修正を行うことにより、Ｕ型鋼矢板の品質不良、主として爪部の品質不良の発生を低減する。 - 特許庁

To provide a defective label collecting device capable of collecting defective labels on a mount without applying any load thereto as much as possible in an adhesive label conveying line at low cost, and a label affixing device.例文帳に追加

貼付用の表示ラベルの搬送ラインにおいて、台紙上の不良ラベルに極力負荷を加えない形で回収することができる低コストで実現可能な不良ラベル回収装置、及びラベル貼付装置を提供する。 - 特許庁

As a result, the incident light on the included defective beads 2A is diffused at the boundary of the transparent layer 12 and is made incident thereon and is condensed by the lens effect of the defective beads 2A and, therefore, the occurrence of the light escape is averted.例文帳に追加

これにより混入した不良ビーズ２Ａへの入射光も透明層１２の界面で光が拡散して入射し、不良ビーズ２Ａのレンズ効果により集光されるため光抜けが生じない。 - 特許庁

A defective section in the raw material pulp sheet 3 is detected by a detector 10, and the detected defective section is removed from the raw material pulp sheet 3 by a removal tool 20 during carrying the raw material pulp sheet to the crusher.例文帳に追加

粉砕機への搬送中に、原料パルプシート３内の不良部分を検出器１０によって検出すると共に、検出された不良部分を除去器２０によって原料パルプシート３から除去する。 - 特許庁

To provide an image processing device capable of specifying the positions of defective pixels without respectively preparing position information pieces of the defective pixels according to reading modes when a reading area of pixels is predetermined.例文帳に追加

本発明は、画素の読み出し領域が予め定められているときに、欠陥画素の位置情報を読み出しモードに応じてそれぞれ用意することなく、欠陥画素の位置を特定できる画像処理装置を提供する。 - 特許庁

An image processing object is reduced to a basic area to identify borderlines and/or centers of the defective areas, and afterwards, it is identified whether the localized basic areas are color defective or not.例文帳に追加

画像処理の対象はこの基本領域に絞られ、色調不良領域の輪郭線および／または中心を識別した後、この位置確認された基本領域の色調が不良であるか否かを判断する。 - 特許庁

After the wafer inspection, a mark 30 indicating being defective is marked on a chip area 42 on which a semiconductor device determined defective by the wafer inspection is formed out of the whole surface 41 of the semiconductor wafer 40 (see Fig.2(b)).例文帳に追加

ウェハ検査の後、不良であることを示すマーク３０を、半導体ウェハ４０の一面４１のうちウェハ検査によって不良と判定された半導体素子が形成されたチップ領域４２にマーキングする（図２（ｂ））。 - 特許庁

To provide an automatic inspection device which can discharge a defective article at a prescribed position even when a processing time for each image is different when a moving object to be inspected is photographed and a defective article is detected by image processing,例文帳に追加

移動する検査対象物を撮像して画像処理により不良品を検出するとき、画像毎の処理時間が異なる場合でも、定められた位置で不良品を排出できる自動検査装置を提供する。 - 特許庁

A defective area identification part 55A identifies an area in the solid image read in that is a substantially continuous array of a predetermined or larger number of directional pixels of values not smaller than a predetermined threshold, as a defective area.例文帳に追加

欠陥領域特定部５５Ａは、上記読み取ったベタ画像中における所定閾値以上の値を持つ画素が１方向に所定個数以上略連続して並ぶ領域を、欠陥領域として特定する。 - 特許庁

When the test data of the judgement area 32 are all "1", the failure type of the defective chip coordinates 31 is determined as a system failure, and in the other cases, the failure type of the defective chip coordinates 31 is determined as a random failure.例文帳に追加

この判定領域３２のデータが全て“１”の場合には不良チップ座標３１の不良種別をシステム不良とし、その他の場合には不良チップ座標３１の不良種別をランダム不良とする。 - 特許庁

A regulation hole 37 is formed in the shaft-like projection 33, tilt of the reel pressure plate 23 is controlled by the engagement with a tilt regulation shaft 21 provided at the releasing pin 17, and defective lock and defective releasing of lock can be dissolved.例文帳に追加

軸状突起３３には規制穴３７を形成し、解除ピン１７に設けた傾動規制軸２１との嵌係合により、リール押さえ２３の傾動を規制してロック不良やロック解除不良を解消する。 - 特許庁

Weather the respective tooth parts 12A and the respective spaces 12B satisfy shapes of specifications or not is determined when determined results are switched, so as to discriminate quality, i.e., a non-defective or a defective, of the toothed wheel 11.例文帳に追加

また、この判定結果が切替わったときに、各歯部１２Ａ及び各歯溝１２Ｂが規格の形状を満たしているか否かを判定し、歯車１１が合格品であるか、不良品であるかを識別する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for correcting a defective pixel of a liquid crystal display that enable a defective pixel of a large-sized liquid crystal display to be corrected and enable an image-forming optical system to be mounted on a repair device.例文帳に追加

大型液晶ディスプレイの欠陥画素の修正が可能であり、さらに結像光学系の搭載も可能である液晶ディスプレイの欠陥画像修正方法および修正装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of reducing its size for analyzing defective cause of built-in memories, as well as shortening the analysis time for the cause of defective built-in memories.例文帳に追加

内蔵メモリの不良原因の解析時間を短縮することができると共に、内蔵メモリの不良原因解析用の回路規模を小さくすることができる半導体集積回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

A defective pixel correcting part 160 corrects a corresponding signal of the pixel in a picked-up image signal obtained by the solid-state imaging device, at a correction timing based on the position information stored in the defective pixel information holding part 140.例文帳に追加

欠陥画素補正部１６０は、欠陥画素情報保持部１４０に記憶された位置情報に基づく補正タイミングで、固体撮像素子による撮像画像信号中の対応する画素の信号を補正する。 - 特許庁

To easily specify any defective jig set at the rotary table without stopping a working rotary table, and to continuously perform an efficient work without stopping the rotary table even when any defective jig is present.例文帳に追加

作業中の回転テーブルを止めることなく、回転テーブルに設置された不良治具を容易に特定し、不良治具が存在する場合でも回転テーブルを止めることなく継続して効率の良い作業を行う。 - 特許庁

To provide a particle sorting method by color accurately sorting a defective product wherein a defective part is formed to the end part of a particle to enhance sorting accuracy and a sorter adapted thereto.例文帳に追加

本発明は、粒子の端部に不良部分を有する不良品であっても、的確に選別し、従来よりも選別精度を向上させることのできる粒状物色彩選別方法及びその選別機を提供する。 - 特許庁

The sealing film 110 is provided with a self-repair layer 113 to repair a defective portion by showing a volume change if it is brought into contact with a deterioration factor invading from the outside through the defective portion such as a pin hole or the like.例文帳に追加

封止膜１１０は、ピンホール等の欠陥部分を通じて外部から侵入する劣化因子と接触すると体積変化を示して該欠陥部分を修復する自己修復層１１３を備える。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus which repairs a defective area of a storage medium and surely and quickly notifies an owner of image data written in the defective area that the image data has been destroyed.例文帳に追加

記憶媒体の不良領域を修復し、不良領域に書き込まれていた画像データが破壊されたことを、画像データの所有者に確実かつ速やかに通知することのできる画像形成装置を提供する。 - 特許庁