「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(123ページ目) - Weblio英語例文検索

To obtain a test equipment for testing the characteristics of each chip by touching probes to the opposite sides of a semiconductor wafer in which the probe can be touched to various semiconductor wafer with an appropriate pressing force.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、特に半導体ウエハの両面よりプローブを接触させて各チップの特性を試験する試験装置に適用して、種々の半導体ウエハに対して、適切な押圧力によりプローブを接触させることができるようにする。 - 特許庁

To provide a transformation plastic coefficient testing device for measuring successively deformation of a test piece during a rapid cooling time by assuming rapid-cooling thermal treatment after heating a material, and identifying a transformation plastic coefficient from the deformation.例文帳に追加

材料を加熱した後に急速冷却する熱処理を想定し、急速冷却時の試験片の変形量を逐次測定可能とし、その変形量から変態塑性係数を同定することができる変態塑性係数試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electric connection device provided with contacts different in arrangements capable of testing a plurality of types of electronic devices different in specifications of the size, number, arrangement and the like of electrodes, and capable of saving space for arranging the contacts.例文帳に追加

電極の大きさ、数、配列などの仕様の異なる複数種類の電子デバイスを試験することができる異なる配列の接触子を備え、それらの接触子を配列するスペースを節約することができる電気的接続装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which shortens time required for a test or achieves flexible correspondence in accordance with a DUT, by generating a steeply-changing test signal or a mildly-changing test signal.例文帳に追加

急峻に変化する試験信号或いは緩やかに変化する試験信号を生成することができ、これにより試験に要する時間の短縮やＤＵＴに合わせた柔軟な対応を図ることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of producing a test program which can shorten a test time even without having the knowledge about multithreading and capable of shortening the time required for preparation and debugging of the test program.例文帳に追加

マルチスレッドに関する知識を有しなくとも試験時間を短縮し得る試験プログラムを作成することができるとともに、その試験プログラムの作成及びデバッグに要する時間を短縮することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an attachment for sockets capable of automatically adapting to the performance test of IC devices and increasing thermal radiation from IC devices while curving increases in size, and also to provide a semiconductor device testing apparatus having the same.例文帳に追加

本発明は、ＩＣデバイスの性能試験の自動化に対応することができ、また、サイズの大型化を抑制しつつ、ＩＣデバイスからの熱放出を高めることができるソケット用アタッチメント及びそれを有する半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

16.3. A person, who provided assistance in working of technical documentation, financing or testing of the invention, industrial design or utility model, or in filing an application for the invention, industrial design or utility model shall not be regarded as a co-author.例文帳に追加

16.3. 発明、意匠若しくは実用新案の技術書類作成、資金調達若しくは試験における作業、又は発明、意匠又は実用新案の出願における作業の補助をする者は、何人も共同研究者とみなしてはいけない。 - 特許庁

Common functions or characteristics are defined by JIS (Japanese Industrial Standards), IOS-standards (International Organization for Standardization-standards) or IEC-standards (International Electro-technical Commission-standards), or determined quantitatively by testing or measuring methods provided in those standards. 例文帳に追加

標準的なものとは、JIS（日本工業規格）、ISO規格（国際標準化機構規格）又はIEC規格（国際電気標準会議規格）により定められた定義を有し、又はこれらで定められた試験・測定方法によって定量的に決定できるものをいう。 - 特許庁

Common functions or characteristics are defined by JIS (Japanese Industrial Standards), IOS-standards (International Organization for Standardization-standards) or IEC-standards (International Electro-technical Commission-standards), or determined quantitatively by testing or measuring methods provided in those standards. 例文帳に追加

標準的なものとは、JIS(日本工業規格)、ISO規格(国際標準化機構規格)又はIEC規格(国際電気標準会議規格)により定められた定義を有し、又はこれらで定められた試験・測定方法によって定量的に決定できるものをいう。 - 特許庁

To select and provide information of the optimum one out of plural kinds of test systems or test devices in response to requirement from a testing person, as to the information what test system, what test device or the like is required for a test of a semiconductor device or various kinds of electronic equipments.例文帳に追加

半導体装置や各種の電子機器のテストにどのようなテストシステムやテスト装置等が必要かの情報を、テストする者の要求に応じて複種類のテストシステムやテスト装置の中から最適なものの情報を選択し提供すること。 - 特許庁

To provide a technique for improving maintenance and inspection practices of a suction nozzle changing device which selectively positions one of a plurality of suction nozzles at a normal use position, and surface mounting equipment and component testing equipment equipped with the same device.例文帳に追加

複数の吸着ノズルのうちの１つを選択的に通常使用位置に位置決めする吸着ノズル変更装置、同装置を装備する表面実装機および部品試験機において、保守点検性を向上させる技術を提供する。 - 特許庁

The substrate 1 for testing of the semiconductor integrated circuit is formed by laminating a lowest layer substrate 11, a second layer substrate 12, a third layer substrate 13, a top layer substrate 14, each of the substrates being a multilayer wiring board and having connectors 2 on a top surface of its outer periphery.例文帳に追加

半導体集積回路試験用基板１は、それぞれが多層配線基板であり、その外周部上面にコネクタ２を備える、最下層基板１１、２層目基板１２、３層目基板１３、最上層基板１４を積層する。 - 特許庁

Because of acquiring the measurement data from the existing measuring devices, the testing scenario and sequence can be easily produced at low cost with various communication protocols as targets without needing to construct a mechanism for acquiring measurement data of the various communication protocols.例文帳に追加

既存の測定器から測定データを取得するので、さまざまな通信プロトコルの測定データを取得するしくみを構築する必要はなく、さまざまな通信プロトコルを対象として、安価で容易に試験用シナリオおよびシーケンスを作成できる。 - 特許庁

The testing apparatus carries out function tests for network relays installed in respective circuits of the network, in which a plurality of circuits led out via respective transformers are connected to a common network bus separately via a protective breaker.例文帳に追加

本発明は、それぞれ変圧器を介して導出された複数の回線がそれぞれ保護遮断器を介して共通のネットワーク母線に接続されるネットワークの各回線ごとに設けられたネットワークリレーの機能試験を行う試験装置に関する。 - 特許庁

To obtain testing equipment for a radio terminal and a base station which can realize improvement in the accuracy of reproduction of a radio environment in a real field, by enabling reduction of an error in the direction of arrival of a path and increase of the total electric power of the path being reproduced.例文帳に追加

パス到来方向の誤差の減少および再現するパスの総電力の増大を可能とすることにより、実フィールドにおける電波環境の再現精度向上を実現可能な、無線端末および基地局用の試験装置を得ること。 - 特許庁

To output the determined result of a test to the outside without increasing the number of pins to test a successive approximation type A/D converter mounted on an LSI, to execute the test of the A/D converter and the test of other circuits in parallel, and to shorten time for testing the LSI.例文帳に追加

LSI に搭載された逐次比較型A/D コンバータのテストを行なうためにピン数を増やすことなくテストの判定結果を外部へ出力し、A/D コンバータのテストを他の回路のテストと並行に実行でるようにし、LSI のテスト時間の短縮を実現する。 - 特許庁

To provide a signal generating circuit of a semiconductor testing device that is capable of reducing the data transmission amount for skew correction when an operation mode is switched, and to allow concurrent use of respective format channels without reducing the number of effective channels.例文帳に追加

動作モードを切り替えたときのスキュー補正用のデータ転送量を減らし、有効なチャンネル数を減少させることなく各フォーマットチャンネルを同時に使用することができる半導体試験装置の信号発生回路を提供すること。 - 特許庁

Article 11 (1) A person who intends to import a Class I Specified Chemical Substance shall obtain permission from the Minister of Economy, Trade and Industry; provided, however, that this shall not apply to the case where a person intends to import a Class I Specified Chemical Substance for testing and research purposes. 例文帳に追加

第十一条　第一種特定化学物質を輸入しようとする者は、経済産業大臣の許可を受けなければならない。ただし、試験研究のため第一種特定化学物質を輸入しようとするときは、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Fluorescent lamps 14 and 15, which are illuminating light sources able to outgo illuminating light for illuminating a testing surface of a product to be tested, are covered with stain-proofing covers 20 detachably so that the outgoing surface of illuminating light can be prevented from contamination anyway.例文帳に追加

被検査物の被検査面を照明するための照明光を出射し得る照明光源である蛍光灯１４、１５における少なくとも照明光の出射面を汚損防止し得るように防汚カバー２０で交換可能に被覆する。 - 特許庁

To accurately adjust the pressure of a proportional solenoid control valve in a short time independently of existence of an individual difference of the proportional solenoid control valve when testing a pressure control of the proportional solenoid control valve and to provide a device for the same method.例文帳に追加

比例電磁制御弁の圧力調整試験において、比例電磁制御弁の個体差の有無に関係なく短時間でかつ精度の高い比例電磁制御弁の圧力調整を行うこと及び、その装置の提供をすること。 - 特許庁

The sensors are elongate test strips 32 for in vitro testing, each having a substrate 34, at least one electrode 42, 44, an embossed channel 54 in the electrode, and lidding tape 38 covering at least a portion of the embossed channel 54.例文帳に追加

センサは、インビトロ試験のための細長い試験ストリップ３２であり、基板３４と、少なくとも１つの電極４２、４４と、電極内にエンボス加工されたチャネル５４と、エンボス加工されたチャネル５４の少なくとも一部分をカバーする蓋テープ３８とを含む。 - 特許庁

To provide a memory error correction and detection circuit test system which utilizes the validity/invalidity switching function of an ECC circuit and simply performs an operation test of the ECC circuit without adding a circuit for test, and also to provide its testing method.例文帳に追加

ＥＣＣ回路の有効／無効切り替え機能を利用して、試験用の回路を追加することなく簡単にＥＣＣ回路の動作試験を行うことができるメモリ誤り訂正・検出回路試験システムおよび試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a voice signal processing device which automatically changes an emphasis degree of utterance voice, according to articulation of voice in an input voice signal which is actual utterance voice, without using a sound source for testing, such as impulse.例文帳に追加

インパルス等の試験用音源を用いることなく、実際の発話音声である入力された音声信号における音声の明瞭度に応じて、自動的に発話音声の強調度合いを変更する音声信号処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide an in-plane shearing testing method for a rubbery elastic laminate capable of easily performing the laborary test of shearing fatique durability at a member level by a relatively simple tester to evaluate the same, and in-plane shearing test equipment therefor.例文帳に追加

部材レベルでの剪断疲労耐久性を比較的簡単な試験装置により室内試験で容易に行うことが出来ると共に、その評価をすることが出来るゴム状弾性積層体の面内剪断試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

Moreover, the driver board 32 of each test unit 3 performs a test specific to the driver board with respect to the burn-in board 4 connected via the motherboard 33, according to the instruction for starting testing the control unit 2, and outputs the test result to the control unit 2.例文帳に追加

また、各テストユニット３のドライバボード３２は、そのドライバボード固有の試験を、制御装置２のテスト開始の指示に応じて、マザーボード３３を介して接続したバーンインボード４に対して行い、試験結果を制御装置２に出力する。 - 特許庁

To provide a creep testing machine allowing a person to precisely know the point of time a test piece is actually loaded to a test piece and obtain precise data even for a material having a deforming characteristic sensitive to the loading of a resin or the like.例文帳に追加

試験片に対して荷重が実際に負荷される時点を正確に知ることができ、樹脂等の負荷に対して敏感な変形特性を有する材料にでも、正確なデータを得ることができるクリープ試験機の提供を課題とする。 - 特許庁

To provide a material testing device and an external output method for a measured load therein, capable of generating a sufficient processing time in a servo loop as far as possible, and of outputting a detected signal proportional to the load as far as possible.例文帳に追加

サーボループにおける処理時間に余裕を極力生じさせるとともに、負荷に極力比例した検出信号を出力することができる材料試験装置における計測負荷の外部出力方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁

A line type environment tester 40 comprises a low- and high- temperature test tanks 42, 43 for testing a plurality of boards 1 with adapters at once during transporting of the boards housed in a transport box 20 via the test tanks.例文帳に追加

ライン型環境試験装置４０は低温試験槽４２および高温試験槽４３を備え、アダプタ付き基板１は一度に複数枚が搬送ボックス２０に収納された状態でこれらの試験槽を経由して搬送され、試験が行われる。 - 特許庁

Article 62 Those who have an objection to the disposition to the designated testing agency in accordance with the provisions in this Act may submit an application for examination to the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism pursuant to the Administrative Appeal Act (Act No. 160 of 1962). 例文帳に追加

第六十二条　この法律の規定による指定試験機関の処分に不服がある者は、国土交通大臣に対し、行政不服審査法（昭和三十七年法律第百六十号）による審査請求をすることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(2) A notifying manufacturing business operator who intends to take the test set forth in the preceding paragraph shall, pursuant to the provision of the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry, submit a specified measuring instrument for testing, construction drawings and other relevant documents to said designated verification body. 例文帳に追加

２　前項の試験を受けようとする届出製造事業者は、経済産業省令で定めるところにより、試験用の特定計量器及び構造図その他の書類を当該指定検定機関に提出しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(5) The competent minister may, when recognizing that a person as provided for in paragraph (3) has violated the provisions of the said paragraph, order that person to use Organisms Subject to Testing based on the conditions in the said paragraph or take other necessary measures. 例文帳に追加

５　主務大臣は、第三項に規定する者が同項の規定に違反していると認めるときは、その者に対し、同項の条件に基づいて検査対象生物の使用等をすることその他の必要な措置を執るべきことを命ずることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Since the period of bubble economy, 'Kanji of the Year,' one Chinese character representing the social conditions of the year, have been announced every year at Kiyomizu-dera Temple under the auspices of The Japan Kanji Aptitude Testing Foundation on December 12, 'the day for Kanji' (however, the day may be shifted according to circumstances). 例文帳に追加

バブル期より毎年漢字の日の12月12日（ただし事情によりずれる場合もある）に、財団法人日本漢字能力検定協会主催によりその年の世相を漢字一字で表現する「今年の漢字」が清水寺で発表される。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To provide a built-in self test (BIST) network using a hierarchy of a universal BIST scheduler (UBS) for scheduling and coordinating testing of elements such as regular structure BIST (RSB) elements and random logic BIST (RLB) elements.例文帳に追加

規則構造組込み自己テスト（ＢＩＳＴ）（ＲＳＢ）要素およびランダム・ロジックＢＩＳＴ（ＲＬＢ）要素などの要素のテストをスケジューリングし、調整するためのユニバーサルＢＩＳＴスケジューラ（ＵＢＳ）の階層を使用したＢＩＳＴネットワークを提供すること。 - 特許庁

To provide a smoke exposure testing module which enables the efficient and easy recovery of cells in an amount sufficient for performing highly precise observation with microscopes and various biological measurements without damaging the exposed cells.例文帳に追加

曝露された細胞に損傷を与えることなく、顕微鏡での高精度の観察、及び様々な生物学的測定を行うのに十分な量の細胞を効率的かつ容易に回収することができる煙曝露試験用モジュールを提供する。 - 特許庁

To efficiently judge whether a semiconductor device is good or not without depending on the number of comparator pins provided at a tester regarding the semiconductor device having a structure which is suitable for efficiently testing a plurality of semiconductor devices.例文帳に追加

本発明は複数の半導体装置の試験を効率的に行う上で好適な構造を有する半導体装置に関し、テスターが備えるコンパレータピンの数に依存することなく、効率的な良否判定の実行を可能とすることを目的とする。 - 特許庁

TEST METHOD OF INTEGRITY OF GPS MEASURING, ERROR DETECTION METHOD IN SPECIAL VEHICLE, MAPPING METHOD AND SYSTEM OF GPS MULTIPATH LEVEL, AND SYSTEM INSTALLED IN VEHICLE FOR TESTING INTEGRITY OF GPS MEASURING例文帳に追加

ＧＰＳ測定の完全性の検査方法及び特定の車両におけるエラー検出方法及びＧＰＳマルチパスレベルのマッピング方法及びＧＰＳ測定の完全性を検査するために車両内に設けられているシステム及びＧＰＳマルチパスレベルのマッピングシステム - 特許庁

To provide a method and device for testing a semiconductor device capable of evaluating an exact interface state density and its energy distribution of the semiconductor device having an insulating film permitting the tunnel current to easily flow.例文帳に追加

トンネル電流が流れやすい絶縁膜を有する半導体装置について正確な界面準位密度及びそのエネルギー分布を評価することを可能とする半導体装置の試験方法及び試験装置を提供することを提供する。 - 特許庁

This software testing device that obtains information about the dynamic characteristics of a software system, uses a static analysis 130 and a dynamic analysis 131 and dynamically changes positions for obtaining the information about the dynamic characteristics of a program and acquisition conditions.例文帳に追加

ソフトウェアシステムの動的特性に関する情報を得るソフトウェア試験装置において、静的な分析１３０と動的な分析１３１を用い、プログラムの動的特性に関する情報を得るための位置と取得条件を動的に変更する。 - 特許庁

FILM TYPE SEMICONDUCTOR PACKAGE PROVIDED WITH TEST PAD HAVING SHARED OUTPUT CHANNEL, TEST METHOD FOR FILM TYPE SEMICONDUCTOR PACKAGE, TEST DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE PROVIDED WITH PATTERN SHARED WITH TEST CHANNEL, AND TESTING METHOD IN SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

出力チャンネルが共有されるテストパッドを備えるフィルム型半導体パッケージ及びフィルム型半導体パッケージのテスト方法、テストチャンネルが共有されるパターンを備えるテスト装置及び半導体装置、並びに半導体装置におけるテスト方法 - 特許庁

The servo information writing device includes a testing device 10 for performing test processing to select a proper servo pattern as servo information among the plurality of types of servo patterns recorded beforehand on a disk medium 2 incorporated in a disk drive 1.例文帳に追加

サーボ情報書込み装置は、ディスクドライブ１に組み込まれたディスク媒体２上に予め記録された複数種類のサーボパターンから、適正なサーボパターンをサーボ情報として選択するための検査処理輪実行する検査装置１０を含む。 - 特許庁

Quality standards for cells to be used in such research should be developed from the results of such tests, and used in testing and inspection.例文帳に追加

この試験の結果に基づいて、当該臨床研究に用いる細胞の品質基準を設け、試験検査を実施するものとする。また、調製工程中のヒト幹細胞等についても、必要に応じて品質基準を設け、試験検査を実施するものとする。 - 厚生労働省

The control panel is started in a general monitoring mode when a power supply switch is on without operation of a registration mode switch, and assigns functions of switch and indicator lamp necessary for maintenance inspection or testing to a plurality of switches and indicator lamps provided on an operation display panel.例文帳に追加

登録モードスイッチを操作せずに電源スイッチを投入した時に通常監視モードで立ち上がり、操作表示パネルに設けた複数のスイッチおよび表示灯に、保守点検や試験に必要なスイッチ及び表示灯の機能を割り当てられる。 - 特許庁

To realize a testing method capable of shortening a period required from confirming the presence of a flaw up to specifying the presence position of the flaw, preventing any defective from being produced, shortening a period for which a production line is suspended, and improving productive efficiency.例文帳に追加

傷の存在の確認から傷の存在位置の特定までに要する時間を短縮し、不良品を造り出すのを防止すべく、製造ラインを停止させている時間を短くして、生産効率の向上を図れる検査方法を実現する。 - 特許庁

An input signal generating circuit 23 for the test is provided further to set optionally an L level and an H level when testing an LSI, and a signal therein and the output signal S1 are switched by the third selector 19 to be connected to an input of the first boundary scan register.例文帳に追加

ＬＳＩテスト時に任意にＬとＨを設定できるテスト用入力信号生成回路２３を更に備え、その信号と出力信号Ｓ１を第３のセレクタ１９により切り替えて、第１のバウンダリスキャンレジスタの入力に接続する。 - 特許庁

To stably recognize the image of a part with a high accuracy for a prolonged term in a part recognizer image-sensing the part by moving a scanning unit having an image sensing means by a linear motor, a surface mounting machine with the part recognizer and a part testing machine.例文帳に追加

撮像手段を有するスキャンユニットをリニアモータにより移動させて部品を撮像する部品認識装置、該装置を備えた表面実装機及び部品試験機において、部品の画像認識を長期に渡って安定して高精度に行う。 - 特許庁