「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(127ページ目) - Weblio英語例文検索

In the electric cell testing device for determining the quality of electric cells, based on a measurement result of output voltages of the plurality of electric cells arranged in a two-dimensional matrix form in a test region, positional information on the respective electric cells at voltage measurement is reflected in the quality determination of the electric cells.例文帳に追加

試験領域に２次元マトリクス状に配列された複数の電池の出力電圧の測定結果に基づき電池の良否を判定する電池試験装置において、前記電池の良否判定に電圧測定時の各電池の位置情報を反映させることを特徴とするもの。 - 特許庁

To provide a frequency variable fatigue testing device using an electrically operated vibration generator targeting a mold material of a ground coil for a superconducting magnetically levitated railroad, and making a fatigue test by applying a bend fatigue load to a material test piece by an electrically operated vibration generator as a drive source.例文帳に追加

超電導磁気浮上式鉄道用地上コイルのモールド材を対象に、駆動源として動電型振動発生装置を用いて材料試験片に曲げ疲労負荷を与えて疲労試験を実施する、動電型振動発生装置を用いた周波数可変疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

To create basic data for product development, stock control and the like by recording and totaling kinds of cosmetics, number of times, time, dates etc., on which a customer tests at the cosmetics tester counter displaying various kinds of cosmetics used while the customer is testing the cosmetics.例文帳に追加

顧客が化粧品を試す際に用いられる種々の化粧品が配列されている化粧品テスターカウンタにおいて、顧客が試す化粧品の種類、回数、時間、日時等をホストコンピュータに記録し、それらを集計して、商品開発、在庫管理等の基礎データとする。 - 特許庁

The device for inspecting the slipperiness of an enameled wire is provided with a friction body which can load a testing enameled wire sent out from a sender with a dynamic frictional resistance and an evaluation mechanism which evaluates the slipperiness of the enameled wire from a change in the loaded dynamic frictional resistance.例文帳に追加

送出機から送り出された試験エナメル線に動摩擦抵抗を負荷できる摩擦体と、その負荷された動摩擦抵抗の変化からエナメル線の滑り性を評価できる評価機構とを設けて成ることを特徴とするエナメル線の滑り性の検査装置である。 - 特許庁

To provide a polarizing plate capable of inhibiting a color shift in a diagonal direction without damaging features of an IPS mode liquid crystal display device having a wide view angle, having excellent durability in an environment of cold impact testing, and to provide an advantageous method for manufacturing the polarizing plate.例文帳に追加

視野角が広いＩＰＳモード液晶表示装置の特性を損なわずに斜め方向のカラーシフトが抑制できるとともに、冷熱衝撃環境試験を行ったときの耐久性にも優れる偏光板を提供し、かかる偏光板を有利に製造する方法を提供する。 - 特許庁

Liquid supplied to a fuel injection valve for inspection is supplied to the metering pipe 41 having controlled inner diameter from a testing liquid supply flow passage 53, and is pressurized by gas (injected from a gas injection opening 21p) of same pressure as pressure actually used in an object to be inspected 1.例文帳に追加

検査用燃料噴射弁に供給される液は、管理された内径を有する計量管４１に試験液供給流路５３から供給され、検査対象物１で実際に使用される圧力と同圧のガス（ガス注入口２１ｐから注入）で加圧されている。 - 特許庁

In the testing device, each of a plurality of modules mod_pin includes an expected value comparison part 20 for comparing diagnosis data RDATA_pin, showing a diagnosis result with corresponding expected value data EXP, and outputs comparison determination data CDATA_pin, showing a comparison result by the expected value comparison part 20.例文帳に追加

複数のモジュールｍｏｄ＿ｐｉｎはそれぞれ、その診断結果を示す診断データＲＤＡＴＡ＿ｐｉｎをそれと対応する期待値データＥＸＰと比較する期待値比較部２０を含み、期待値比較部２０による比較結果を示す比較判定データＣＤＡＴＡ＿ｐｉｎを出力する。 - 特許庁

To provide a method of evaluating corrosion resistance of a metal material and a corrosion acceleration testing device of a metal material for performing the method of evaluating corrosion resistance having high correlation to corrosion of a steel plate mating unit of an actual vehicle by using a plane test piece to which no steel plates are overlapped.例文帳に追加

鋼板を重ね合わせていない平板試験片を用いて、実際の自動車の鋼板合わせ部の腐食に対して相関性が高い、金属材料の耐食性評価方法及び前記耐食性評価方法を行うための金属材料の腐食促進試験装置を提供する。 - 特許庁

In the pitch converting jig for connecting a semiconductor or a socket having narrow-pitch contacts to a terminal of the testing device having wider-pitch contacts, the conversion from the narrow pitch into an enlarged pitch is performed by connecting with flexible electric wires.例文帳に追加

接点のピッチが狭小な半導体又はソケットを、接点のピッチがより広い試験装置の端末に接続するためのピッチ変換治具において、狭小なピッチから拡大されたピッチへの変換が、可撓性を有する電線で接続することにより行われることを特徴とするピッチ変換治具。 - 特許庁

The ADSL line service transmission characteristic testing part 1 also performs a maintenance mode operation as necessary, performs the ADSL line transmission characteristic test even in an ADSL line service operating state and always maintains the latest optimum ADSL line setting parameter for the subscriber line in the database 2.例文帳に追加

また、ＡＤＳＬ伝送特性テスト部１は、必要に応じて保守モード動作を実施し、ＡＤＳＬ回線サービス運用状態でもＡＤＳＬ回線伝送特性テストを実施し、加入回線に対して常に最新の最適ＡＤＳＬ回線設定パラメータをデータベース２に保持する。 - 特許庁

The susceptibility-testing method for evaluating the susceptibility of a microorganism to an antibacterial agent from the measured proliferation power and/or activity of the microorganism comprises incubating the microorganism together with an oxidized quinone in a culture solution in the presence of the antibacterial agent and then determining the product by a chemiluminescence method.例文帳に追加

培養液中で微生物を、抗菌剤の存在下、酸化型キノンとともにインキュベーションし、生成物を化学発光法で定量して、定量された微生物の増殖力及び／又は活性から前記微生物の抗菌剤に対する感受性を評価する感受性試験方法。 - 特許庁

An apparatus 100 for testing the semiconductor makes blank test signals transmit mutually through transmission path T1 to be output simultaneously from drivers DR1, DR2, and measures output timings t1, t2 when the signals are output from the drivers DR1, DR2, and attainment timings t4, t3 when the signals reach the drivers DR1, DR2.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、ドライバＤＲ１，ＤＲ２から試験信号を互いに伝送経路Ｔ１を伝送させて同時に出力させ、ドライバＤＲ１，ＤＲ２から出力した出力タイミングｔ１，ｔ２と、ドライバＤＲ１，ＤＲ２に到達した到達タイミングｔ４，ｔ３を測定する。 - 特許庁

In the method for testing the surface state of the measuring object, a nib-shaped chip 11 formed of a circular cone or pyramid disposed at the tip of a hammer 12 is collided with the measuring object 16, and the surface state of the measuring object 16 is evaluated based on the repulsion constant of the hammer 12 after the collision.例文帳に追加

測定物の表面状態試験方法は、ハンマ１２の先端部に設けられた円錐又は角錐で構成される尖端形状のチップ１１を、測定物１６に衝突させ、衝突後のハンマ１２の反発定数によって、測定物１６の表面状況を評価する。 - 特許庁

In a drive circuit IC3 of an FET3 which becomes an output switch for testing, a voltage is detected by means of a Zener diode ZD and a resistor R1, and when insufficient voltage is detected from the voltage detection by means of a comparison circuit COM, the FET3 is forcibly turned off by dropping the voltage across the gate and source of the FET3 to zero volt.例文帳に追加

試験用出力スイッチとなるＦＥＴ３のドライブ回路ＩＣ３において、ツェナーダイオードＺＤと抵抗Ｒ_1で電圧を検出し、この電圧検出で比較回路ＣＯＭで電圧不足を検出したときにＦＥＴ３のゲートソース間を０ボルトにしてその強制オフを行う。 - 特許庁

To provide a method for testing the durability of concrete capable of accurately grasping the durability of the concrete by determining the relation of strength between an unaltered section and an altered section in concrete specimens, the size of the altered section, and the degree of its alteration.例文帳に追加

コンクリート供試体における非変質部位と変質部位の強度の関係及び変質部位の大きさとその変質程度を求めることで、コンクリートの耐久性を正確に把握することができるコンクリートの耐久性試験方法を提供することを課題としている。 - 特許庁

To provide a non-adhesive bond type package adapter, capable of interrupting air infiltration from a join part by adhesive bond between a test vessel orifice and a package adapter, without the use of adhesive bond, and making possible testing, in gas barrier tests for PET bottles and pouches with stopper (pouched container).例文帳に追加

ペットボトルや口栓付きパウチ（袋状容器）に対するガスバリア性試験において、試験容器口とパッケージアダプター間の接着剤による接合箇所からの大気侵入を、接着剤を使用することなく遮断させ、試験できるようにするため、無接着剤式のパッケージアダプターを提供する。 - 特許庁

The electric double-layer capacitor polarized electrode is manufactured by using a carbonaceous material in which a raw material is for example activated with non-baked coke originating from coal or oil, in which the thermal coefficient of expansion measured by an artificial graphite electrode testing method is adjusted within 0.8-2 as the raw material.例文帳に追加

人造黒鉛電極試験法によって測定される熱膨張係数を０．８〜２の範囲内に調整した石炭または石油由来の未か焼コークスを原料として、この原料を例えば賦活処理した炭素材を用いて電気二重層キャパシタ分極性電極を製造する。 - 特許庁

The terminal that is used in a test set and attachable to a load substrate of a testing device has a first end part for forming a large number of contact positions, and connects at least one lead of a tested device electrically to a corresponding metal conductive wire on the load substrate.例文帳に追加

テストセットにおいて使用され、試験装置のロード基盤に取付け可能な端子は、多数の接触位置を形成する第１の端部を有し、試験される装置の少なくとも１つのリードを、ロード基板上の対応する金属製の導電線に電気的に接続する。 - 特許庁

To provide a capacitor circuit equipped with a test circuit that can reduce a test time without capacitance test, when an abnormal connection is found, a variable capacitance circuit which uses the capacitor circuit, a resonance circuit which uses the variable capacitance circuit, and a testing method for the capacitor circuit.例文帳に追加

接続不良を見つけた場合は、容量検査を行わないようにして検査時間を短縮させることができる検査回路を備えたコンデンサ回路、そのコンデンサ回路を使用した可変容量回路、その可変容量回路を使用した発振回路及びコンデンサ回路の検査方法を得る。 - 特許庁

To obtain a method by which an operation test of radio parts is enabled, without measuring instruments by improving problem of the conventional technology that a large number of measuring instruments are required in the case of mass production in a method for testing the radio parts of a master station device or a slave station device, in a radio data communication system.例文帳に追加

無線データ通信システムにおける親局装置または子局装置の無線部テスト方法において、大量生産時に、大量の測定器が必要となるという従来技術の課題を改善し、測定器無しで無線部の動作テストが可能となる方法を提供する。 - 特許庁

Then each component that is taken out of the tray Tr is subjected to image recognition based on the imaging of the component, recognition camera 34, and the control means of a component-testing apparatus 1 is composed so that the operation of a head 23 and the like are controlled for transferring the component to a fixed position of the table 32 based on the recognition result.例文帳に追加

そして、トレイＴｒから取出した各部品を部品認識カメラ３４の撮像に基づき画像認識し、この認識結果に基づいてテーブル３２の定められた位置に部品を移載すべくヘッド２３等の動作を制御するように部品試験装置１の制御手段を構成した。 - 特許庁

A non-volatile memory 10 is constituted of plural flip-flop connected to each other end of each bit line other than a first register 11 consisting of plural flip-flop connected to each one end of each bit line 2 of a memory cell array 1, and is provided with a second register 12 for testing the discontinuity of each bit line 2.例文帳に追加

不揮発性メモリ１０は、メモリセル・アレイ１の各ビット線２の各一端と接続される複数のフリップ・フロップからなる第１レジスタ１１の他に、各ビット線２の各他端と接続される複数のフリップ・フロップからなり、各ビット線２の断線検査用の第２レジスタ１２を備えている。 - 特許庁

Then, by allocating test items for testing the function of the program to be released to the respective determined test periods on the basis of the function indicated by a function ID included in test item information read from a test item information storage device 20, the test plan is prepared.例文帳に追加

次に、リリースされるプログラムの機能をテストするテスト項目を、テスト項目情報記憶装置２０から読み出したテスト項目情報に含まれる機能ＩＤが示す機能に基づいて、前記決定された各テスト期間に割り当てることによって、テスト計画を作成する。 - 特許庁

(a) a chemical interaction, or physico-chemical interaction, with a human physiological system; or (b) action on an infectious agent, or on a toxin or other poison, in a human body; but does not include a substance that is solely for use in in vitro diagnosis or in vitro testing. 例文帳に追加

(a) 人間の生理学的組織を対象とする化学的相互作用若しくは物理化学的相互作用，又は (b) 人体における感染性因子に又は毒素若しくはその他の毒物に対する作用。 ただし，生体外での診断又は生体外での検査のみに使用される物質は含まれない。 - 特許庁

In the case that the specified information is of an output processing mode for testing, a service man executes trial use in the normal use mode at the maintenance time by using the image information to which the specified information is added without being managed by the managing device such as the copy vender and the key counter.例文帳に追加

特定情報がテスト用出力処理モードの情報である場合は、メンテナンス時にサービスマンは、特定情報の付加された画像情報の使用により、コピーベンダーやキーカウンタ等の管理装置で管理されることなく、通常使用モードでテスト使用を行うことができる。 - 特許庁

A rate signal is outputted based on a cycle information stored in a rate memory, the rate signal is delayed to output edges based on timing information of an edge memory, and the IC tester for testing a device under test is improved, using the edges.例文帳に追加

本発明は、レートメモリに格納された周期情報に基づいて、レート信号を出力し、このレート信号を、エッジメモリのタイミング情報に基づいて、遅延し、エッジを出力させ、このエッジを用いて、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

This sequence monitor for semiconductor testing device indicates on a screen a pin group of a plurality of pins as one sequence waveform, as well as variation in each transition position of the pin group obtained through simulation in the same sequence condition, on the screen so that the transition deviation of the pin group is indicated clearly.例文帳に追加

複数ピンのピングループを１つのシーケンス波形として画面上に表示し、且つシミュレーションで得られたピングループの同一シーケンス条件における各遷移位置のばらつきに対して、ピングループの遷移偏差が明示可能に画面表示する、半導体試験装置のシーケンスモニタ。 - 特許庁

A base station test apparatus 3 receives the voice signal for testing the downlink voice channel arrived via a telephone switch network 1 and a radio base station 4, converts the voice signal into PCM data, and transmits the PCM data to a maintenance console apparatus 5 via a PCM communication channel 6.例文帳に追加

基地局試験装置３は電話交換網１と無線基地局４とを経由して到来する下り音声回線試験用の音声信号を受信し、この音声信号をＰＣＭデータに変換し、このＰＣＭデータをＰＣＭ通信回線６経由で、保守卓装置５に送信する。 - 特許庁

To display, at the real time, a scanning electron microscope image of the state of an interface between the side where a load is given and the opposite side or the like, by making inclinable a surface dynamics characteristic test device for testing a surface dynamics characteristic of composite material, and by arranging it in a sample chamber of the scanning microscope.例文帳に追加

複合材料の界面力学特性の試験を行う界面力学特性試験装置を傾斜可能にして走査型顕微鏡の試料室に配置し、荷重をかけた側と反対側の界面などの状態の走査型電子顕微鏡像をリアルタイムに表示する。 - 特許庁

The testing carrier 10A comprises: a base board 21A for supporting a die 90; a cover board 31A stacked on the base board 21A so as to cover the die 90; and a sealing member 24 which is interposed between the base board 21A and the cover board 31A and surrounds the die 90.例文帳に追加

ダイ９０を保持するベース基板２１Ａと、ダイ９０を覆うように、ベース基板２１Ａに重ねられたカバー基板３１Ａと、を備えた試験用キャリア１０Ａは、ベース基板２１Ａとカバー基板３１Ａとの間に介在すると共にダイ９０を取り囲むシール部材２４を備えている。 - 特許庁

To provide an artificial flame testing apparatus for a polymer insulator preventing a great loss of resources, protecting lives of human bodies and preventing damage to assets beforehand by preventing an accident by predicting the performance and load of the polymer insulator which can be generated in a forest fire and appropriately exchanging or maintaining the polymer insulator.例文帳に追加

山火事時に発生しうるポリマー碍子の性能及び負荷を予測し、ポリマー碍子を適宜取替えまたは保守することによって、事故を未然に防止し、莫大な資源損失と人名及び財産被害を事前に防止することができるポリマー碍子の人工火炎試験装置を提供すること。 - 特許庁

A test coil 12 for testing the performance of a main coil 11 is mounted near the main coil 11 in advance, a test signal is transmitted to the test coil 12, and a test control part 33A determines the quality by measuring a detection level of the main circuit receiving the test signal.例文帳に追加

主コイル１１の性能を試験するための試験用コイル１２を主コイル１１の近傍に予め配置し、試験用コイル１２に試験用信号を送り、これを受信した主回路の検知レベルを測定することによって試験制御部３３Ａが良否判定を行う。 - 特許庁

To execute operation of machining and testing of an inner surface of joint end parts which are mutually welded by a remote controlling program from inside of the pipe 8, positioning is performed by introducing a means for operation from the components 3, 4 of the primary circulation system 2 to inside the pipe 8.例文帳に追加

配管（８）の内部から、互いに溶接された結合端部の内面の機械加工と検査との作業を遠隔制御のプログラムによって実行するために、一次循環系（２）の構成要素（３，４）から配管（８）の内部へ作業のための手段を導入して位置決めする。 - 特許庁

In a method based on a read-back signal for in-situ measuring of absolute head-medium spacing, a pre-encoded pattern in the magnetic medium on a disk has at least two harmonics with amplitudes such that a linear function of the logarithmic ratio of the spacing loss-term is formed in relation to testing frequencies.例文帳に追加

ヘッド・媒体間隔そのものの測定のためのリードバック信号に基づく方法において、ディスク上の磁気媒体に設けられたプリエンコードパターンが少なくとも２個の高調波とその振幅を有し、テスト周波数に関して間隔損失の項の対数比の線形関数が形成される。 - 特許庁

To provide a producing method and a machine for test data, and a wiring testing machine that perform a wiring test of printed-wiring boards and semiconductor package substrates with various kinds and small quantity, very fine designs, and low prices.例文帳に追加

多品種少量、高精細、低価格のプリント配線板や各種半導体パッケージ基板等の布線検査を効率的な検査スピードと低いランニングコストで布線検査を行うための検査データの作製方法、検査データ作製機及び布線検査機を提供することを目的とする。 - 特許庁

The overwriting means 23 overwrites the test condition parameter in an area for storing the test condition parameter in correspondence to a register of a semiconductor testing device out of a memory in a computer, based on the input intermediate file 4, flow information and an output condition 2.例文帳に追加

上書き手段２３は、入力された中間ファイル４とフロー情報と出力条件２とに基づき、計算機内のメモリのうち半導体試験装置のレジスタに対応してテスト条件パラメータを記憶する領域において、テスト条件パラメータの上書きを行うものである。 - 特許庁

The method for testing chemical sensitivity of metallo-β- lactamase producing strain comprises a microliquid dilution method (MIC measurement) using the combination of a liquid culture medium containing a β- lactam drug and a liquid culture medium containing a β-lactam drug/a metallo-β- lactamase inhibitor.例文帳に追加

本発明の課題は、β−ラクタム薬含有液体培地とβ−ラクタム薬／メタロ−β−ラクタマーゼ阻害剤含有液体培地の組合せを用いた微量液体希釈法（ＭＩＣ測定）によるメタロ−β−ラクタマーゼ産生菌の薬剤感受性試験方法により達成された。 - 特許庁

The testing device includes a panel receptacle having a rectangular panel receptacle surface for receiving a tabular test object, a probe unit with a probe block having a plurality of contacts to be depressed by an electrode on the test object, and a plurality of protective members located at the outside of the panel receptacle surface.例文帳に追加

検査装置は、平板状被検査体を受ける矩形のパネル受け面を有するパネル受けと、前記被検査体の電極に押圧される複数の接触子を有するプローブブロックを備えるプローブユニットと、前記パネル受け面の外側に位置された複数の保護部材とを含む。 - 特許庁

To prevent a pallet from rising up to the upper side of an installation plate and continuously transfer the pallet where a test tray or a customer tray is placed by improving the transfer method of the pallet in a module IC handler for testing a module IC.例文帳に追加

本発明は、モジュールＩＣをテストするモジュールＩＣハンドラーに関するもので、パレットの移送方法を改善して、設置板の上側にパレットが上昇しないようにして、なお、テストトレイ又はカストマトレイが載置されるパレットの移送が連続的に行われるようにしたものである。 - 特許庁

To provide a testing method for the mercaptan sulfur content of petroleum series fuel oil capable of accurately calculating and measuring the concentration of the mercaptan sulfur in the fuel oil which contains as small quantity as several ppm by mass or below without risk of calculating and measuring the concentration excessively.例文帳に追加

メルカプタン硫黄分の濃度が数質量ｐｐｍ以下の少量である石油系燃料油のメルカプタン硫黄分濃度を、過剰に算出、測定されることなく、正確に算出、測定し得る石油系燃料油のメルカプタン硫黄分試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a system and method for testing simultaneously a column of a semiconductor memory and a redundant column by adding temporarily an additional parallel signal bit giving wider band width during test mode operation to an input/output data bus connected to a semiconductor memory.例文帳に追加

試験モード動作中により広い帯域幅を与える追加の並列信号ビットを半導体メモリに連結された入出力データ・バスに一時的に追加することによって、半導体メモリの列と冗長列とを同時に試験するシステムおよび方法を提供すること。 - 特許庁

This invention provides an immunoassay method using an antibody against the NS1 protein of the influenza A type viruses, especially a sandwich type immunoassay method using a first antibody and a second antibody against the NS1 protein, in particular, the invention provides an immunochromatography method and a testing split for immunochromatography.例文帳に追加

かくして、インフルエンザＡ型ウイルスのＮＳ１蛋白に対する抗体を用いる免疫測定法、特に該ＮＳ１蛋白に対する第一の抗体と第二の抗体とを用いたサンドイッチ式免疫測定法、とりわけイムノクロマトグラフィー測定法およびイムノクロマト法テストストリップが提供される。 - 特許庁

The functions or characteristics of the claimed inventions are found to be convertible to other functions or characteristics specified by other definitions or processes for testing or measuring, and it is found that the products of the cited inventions are considered to be grounds to deny the inventive step of the claimed inventions from the results of the conversion. 例文帳に追加

請求項に係る発明の機能・特性等が他の定義又は試験・測定方法によるものに換算可能であって、その換算結果からみて請求項に係る発明の進歩性否定の根拠になると認められる引用発明の物が発見された場合 - 特許庁

A third party who privately or in an academic environment and without gainful intent, conducts scientific or technological research activities for purely experimental, testing or teaching purposes, and to that end manufactures or uses a product or applies a process identical to the one patented. 例文帳に追加

第三者であって，私的又は学術的環境において営利を目的とせず，純粋に実験的，試験的又は教育目的で，科学技術研究活動を行い，その目的のために，特許を受けたものと同一の製品を製造し，使用し，又は同一の方法を利用する者。 - 特許庁

To overcome the problem such that, related to a functional test for an A/D converter in a semiconductor integrated circuit, testing of a fast A/D converter at an actual operation speed is difficult because wiring delay in the semiconductor integrated circuit from the output of A/D converter to the input of a tester affects much.例文帳に追加

半導体集積回路内のＡ／Ｄ変換器の機能テストでは、Ａ／Ｄ変換の出力からテスタ入力までの半導体集積回路内の配線遅延が大きく影響を与えるため、高速Ａ／Ｄ変換器の実動作スピードでのテストが困難である。 - 特許庁