「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(131ページ目) - Weblio英語例文検索

When a projectile is launched from a launcher and a tracking radio wave transmitted from the projectile is directed toward a target for testing projectile, the tracking radio wave and a searching radio wave are received by a detection antenna and delivered, as an electric signal, to a gain detection circuit and recognized as a gain at the time of tracking.例文帳に追加

発射機から飛しょう体が発射され、飛しょう体が送信する追尾電波が飛しょう体試験用目標に向けられた場合、検知アンテナで受信する電波は捜索電波及び追尾電波となり、捜索電波及び追尾電波が電気信号として利得検知回路に送られ、追尾時の利得として認識される。 - 特許庁

This abrasion testing apparatus 2 is provided with both a rotating drum 4 to which the test pieces T1-T6 are mounted and to be driven and rotated by a drive motor 5 and a water flow injecting device 6 having an injection nozzle 25 for injecting a flow of water to the test pieces T1-T6 mounted to the rotating drum 4 to rotate.例文帳に追加

摩耗試験装置２は、試験体Ｔ１〜Ｔ６が装着され駆動モータ５により回転駆動される回転ドラム４と、回転ドラム４に装着されて回転される試験体Ｔ１〜Ｔ６に対して水流を噴射する噴射ノズル２５を有する水流噴射装置６とを備えている。 - 特許庁

A testing method for peracetic acid ESC resistance includes forming the member into a testpiece being narrow at its center, securing the testpiece at one end to the lower part of a container holding the solution of peracetic acid and to a weight at the other, dipping the testpiece in the solution, and measuring breaking time until the testpiece breaks.例文帳に追加

洗浄殺菌機用部材を中央部で幅が狭い被試験片に成形し、被試験片の端を過酢酸溶液の入った容器の下部に固定し、他の端を重りに固定し、被試験片を過酢酸溶液に浸し、被試験片の破断するまでの破断時間を測定する耐過酢酸ＥＳＣ性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide maintainability testing method and device/system implementing the method which can be applied to various porous materials including such filter devices as single layer thin film, double layer thin film, etc., providing non-correlated universal standards for characteristic evaluation of porous material.例文帳に追加

単層薄膜装置及び複層薄膜装置等のフィルター装置を含む多様な多孔性材料に対して適用することができ、多孔性材料の特性の評価に対して非相関的で普遍的な標準を与える保全性試験の方法及びその方法を実施する装置及びシステムを提供する。 - 特許庁

In the testing device, when the designated operation mode is a parallel test mode for performing the same test simultaneously in parallel by the plurality of test modules, the central processing unit controls the test operation of the plurality of test modules by executing one test process determined beforehand.例文帳に追加

この試験装置において、中央処理装置は、指定された動作モードが、複数の試験モジュールにより同一の試験を同時に並行して行わせる並行試験モードである場合には、予め定められた一の試験用プロセスを実行することより複数の試験モジュールにおける試験動作を制御する。 - 特許庁

To conduct various kinds of testing for characteristic of optical semiconductor in a state with the wavelength locked, in a wavelength locker module having a function to lock the wavelength and a wavelength variable laser module utilizing the wavelength locking function, by feedback of wavelength of an output light detected by a wavelength monitor and by conroling the temperature of the module.例文帳に追加

波長モニターにより検知した出力光の波長をフィードバックして温度制御をおこなうことにより波長をロックする機能を有する波長ロッカーモジュールや、この波長のロック機能を利用した波長可変レーザモジュールに対して、波長をロックした状態で光半導体としての各種特性の試験をおこなうこと。 - 特許庁

In this semiconductor testing device capable of measuring plural semiconductor devices concurrently, a software executed on a tester CPU executes an IN command for providing an acceptance/rejection determination result after finish of a test during the test to provide the determination result of a DUT unit from a comparator 10.例文帳に追加

複数の半導体デバイスを同時に測定可能な半導体試験装置において、テスタＣＰＵ上で実行されるソフトウェアが、試験終了後に合否判定結果を取得するためのＩＮ命令を、試験中に実行することによってコンパレータ部１０からＤＵＴ単位の合否判定結果を取得する。 - 特許庁

An electrode terminal 12 testing a semiconductor integrated circuit is disposed on a scribe lane 13 provided for dividing the semiconductor integrated circuit, and the electrode terminal 12 on this scribe lane 13 is connected to electrode terminals 11a, 11b of the opposing semiconductor integrated circuit by a front layer wiring 15a.例文帳に追加

半導体集積回路を分割するために設けられているスクライブレーン１３上に、半導体集積回路を検査するための電極端子１２を配置し、このスクライブレーン１３上の電極端子１２に、相対する半導体集積回路の電極端子１１ａ，１１ｂを表層配線１５ａにより接続する。 - 特許庁

To operationally verify whether or not a digital/analog converter built in a semiconductor integrated circuit can execute a normal digital/analog conversion action when using the digital/analog converter as a test signal generator for testing an analog/digital converter built in the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路に内蔵されたアナログ／デジタル変換器をテストするためのテスト信号発生器として半導体集積回路に内蔵されたデジタル／アナログ変換器を使用する際に、デジタル／アナログ変換器が正常なデジタル／アナログ変換動作を実行可能であるか否か動作検証することを可能とすること。 - 特許庁

The ceramic substrate for semiconductor manufacturing/testing which has a conductive layer on its surface or inside is comprised of a nitride ceramic containing oxygen and its thickness is 50 mm or less.例文帳に追加

セラミック基板の内部または表面に導体層を有する半導体製造・検査用セラミック基板において、前記セラミック基板は、窒化物セラミックからなり、その窒化物セラミック中には、酸素が含有されているとともに、前記セラミック基板の厚さは、５０ｍｍ以下であることを特徴とする半導体製造・検査用セラミック基板。 - 特許庁

The customs or other competent authorities may allow the right holder, importer or exporter to examine the goods, the clearance of which has been suspended in accordance with Article 39, and to remove samples for examination, testing and analysis, to determine whether the goods are counterfeit. 例文帳に追加

税関又は他の管轄当局は，権利所有者，輸入業者又は輸出業者に対して，第39条に従い通関が差し止められた商品を検査することを許可すること，及び商品が偽造であるか否か決定するために検査，試験，分析用の見本を採取することを許可することができる。 - 特許庁

This semiconductor device and its testing method are equipped with an N-channel type MOSFET 11 and its protection diode 12, and have a switching circuit SW-1 for validating the protection diode 12 by being switched on by fusing of a fuse 2 between the N-channel type MOSFET 11 and the protection diode 12.例文帳に追加

本発明の半導体装置およびそのテスト方法は、Ｎチャネル型ＭＯＳＦＥＴ１１とその保護ダイオード１２とを備え、Ｎチャネル型ＭＯＳＦＥＴ１１と保護ダイオード１２との間に、ヒューズ２の溶断によってスイッチをオンさせて保護ダイオード１２を有効にするスイッチ回路ＳＷ−１を有する。 - 特許庁

For a semiconductor device having a plurality of analog input terminals AIN0 and AIN1, which have internal analog switches 11 and 12, characteristic testing of each analog input terminal switched by the analog switches 11 and 12 is conducted by simultaneously switching on the analog switches 11 and 12.例文帳に追加

複数のアナログ入力端子ＡＩＮ０、ＡＩＮ１を持つ半導体装置において、アナログ入力端子ＡＩＮ０、ＡＩＮ１は内部アナログスイッチ１１，１２を有し、前記アナログスイッチ１１，１２により切り替えられている各アナログ入力端子の特性テストを、そのアナログスイッチ１１，１２を２個同時にオンさせて行う。 - 特許庁

The total intelligent test procedure management system is provided with a document management database 2 having an electronic manual 71 showing a procedure for testing a test target, and a terminal machine 15 reading the electronic manual 71 inside the document management database 2 to display it and allowing input of the test result on the test target.例文帳に追加

本発明の総合インテリジェント試験進行管理システムは、試験対象を試験する手順を示した電子要領書７１を有するドキュメント管理データベース２と、ドキュメント管理データベース２内の電子要領書７１を読み出して表示するとともに、試験対象の試験結果を入力できる端末機１５とを備えている。 - 特許庁

To provide an indoor-outdoor dual purpose load moving testing device capable of being conveyed to a measurement field by being equipped with only a necessary minimum mechanism and being miniaturized, and executing also an outdoor test by being equipped with a temperature providing means for setting and keeping a sample piece part at a desired temperature.例文帳に追加

必要最低限の機構のみを備え、装置を小型化することにより測定現場への搬送を可能にし、且つ、供試体部分を所望の温度に設定、保持するための温度供給手段を備えることにより屋外での試験も実行可能な、屋内外兼用の荷重移動試験装置を提供する。 - 特許庁

Between a buried core 11 and a custom logic section 12, a test shift register 13 constituting a scan path circuit for testing the buried core 11 of an input register and an output register is provided, and the first stage flip-flop of a scan path circuit 122 in the custom logic section 12 is connected with the last stage flip-flop of the test shift register 13.例文帳に追加

埋め込みコア１１とカスタムロジック部１２との間に、入力用レジスタおよび出力用レジスタで埋め込みコア１１テスト用のスキャンパス回路を構成するテスト用シフトレジスタ１３を備え、カスタムロジック部１２内のスキャンパス回路１２２の初段のフリップフロップとテスト用シフトレジスタ１３の最終段のフリップフロップとを接続する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device in which the cost of a test can be reduced due to the cost reduction of a tester by reducing a capacity of an expected value memory in the tester, in the semiconductor integrated circuit device frovided with the memory with multiple bits of word lengths and a BIST (Build In Self Test) circuit for testing the memory.例文帳に追加

語長を複数ビットとするメモリと、該メモリのテストを行うためのＢＩＳＴ回路を備える半導体集積回路装置であって、テスタ内の期待値メモリの容量を削減し、テスタのコスト削減によるテストのコスト削減を図ることができる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

A control means for the FC evaluation testing apparatus confirms if an overload rating exceeds a predetermined threshold value, where the overload rating is introduced on the basis of a theoretical output which a water temperature detection sensor 42 and a vapor temperature detection sensor 44 determine uniquely, and a real output which is necessary to humidify the gas to a predetermined dew temperature with the humidifier 23.例文帳に追加

ＦＣ評価試験装置の制御手段は、水温検知センサ４２、蒸気温検知センサ４４により一意的に定まる理論出力と、ガスを加湿装置２３によって所望の露点温度まで加湿するのに要する実出力とに基づいて導出される過負荷度が所定の閾値を超えるか否かを確認する。 - 特許庁

To realize a testing device for a network service system that prevents simulating tools from being asynchronous not to hold results of business transactions in logs etc., separately by kinds of the simulating tools, but to systematically rearrange a time base and business multiplicity by processing response results together.例文帳に追加

擬似ツール間の同期のズレを防止し、擬似ツールで投入した業務トランザクションの結果についても擬似ツールの種類ごとにバラバラにログ等で保持するのではなく、一括した応答結果の処理により時間軸、業務多重度を系統的に整理することを可能とするネットワークサービスシステムの試験装置を実現する。 - 特許庁

The method for cleaning the aligner which is brought into contact with the reticle comprises the steps of providing a material, having a cleaning layer which has a tensile elastic modulus (in compliance with the testing method of JIS K7127) of 0.98 to 4,900 MPa, and conveying the material in the aligner to be cleaned.例文帳に追加

レチクルまたはレチクル状物のこれらが被洗浄装置と接する部位に、引張弾性率（試験法ＪＩＳ Ｋ７１２７に準ずる）が０．９８〜４９００ＭＰａであるクリーニング層が設けられた材料を設け、被洗浄装置内を搬送することを特徴とするレチクルが接する装置のクリーニング方法である。 - 特許庁

To provide a power-supply current measuring method for a semiconductor device capable of detecting the defect generation state of a semiconductor device to be tested by a test system, and measuring stably the change of the power-supply current flowing in the semiconductor device to be tested by another testing device, while maintaining the defect generation state.例文帳に追加

テストシステムにより被試験半導体デバイスの不良発生状態を検出し、その不良発生状態を維持したまま、他の試験装置が被試験半導体デバイスに流れる電源電流の変化を安定に測定することができる半導体デバイスの電源電流測定方法を提案する。 - 特許庁

In an SIP 102 including a plurality of semiconductor chips, such as ASIC100 and SDRAM 101 mounted on a single package, a test circuit (SDRAMBIST 109) for SDRAM 101 is provided within the ASIC 100, to perform testing the SDRAM 101 from the outside of the SDRAM 101 or from the ASIC 100.例文帳に追加

ＡＳＩＣ１００およびＳＤＲＡＭ１０１など複数の半導体チップが単一パッケージ搭載されたＳＩＰ１０２において、ＳＤＲＡＭ１０１のテスト回路（ＳＤＲＡＭＢＩＳＴ１０９）をＡＳＩＣ１００内に設けて、ＳＤＲＡＭ１０１の外部から、すなわちＡＳＩＣ１００からＳＤＲＡＭ１０１のテストを行うようにする。 - 特許庁

A fluidity testing device 1 comprises a molten metal port 11 through which a molten metal is injected, a flowing pathway 12 through which the injected molten metal flows, a standard pressure port 13 provided in the flowing pathway 12, and at least one pressure port for measurement 14 provided in the flowing pathway 12 downstream from the standard pressure port 13.例文帳に追加

流動性試験器１は、溶融金属を注入するための湯口１１と、注入された溶融金属が流れる流路１２と、流路１２に設けられた基準圧力ポート１３と、流路１２の基準圧力ポート１３よりも下流側に少なくとも一つ設けられた測定用圧力ポート１４とを有する。 - 特許庁

To provide a chuck mechanism of a discharge and charge testing device for a thin type secondary cell that reduces conventional troublesome operation, namely, operation to store and fix many thin type secondary cells in a storage container etc., and also securely chuck the thin type secondary cells (electrodes).例文帳に追加

本発明は薄型二次電池用充放電試験装置のチャック機構に係り、従来の煩わしい作業、即ち、例えば多数の薄型二次電池を収納容器等に収納、固定するといった作業を軽減し、併せて薄型二次電池（電極）に対する確実なチャックを可能としたチャック機構を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a suitability testing apparatus of a tire slip preventing apparatus for simplifying a work process, reducing a workload of a worker, ensuring safety when the worker works, reducing a noise due to work, and precisely inspecting the suitability between a tire slip preventing member and a tire.例文帳に追加

作業工程を簡易にして、作業者の作業労力を軽減し、作業者の作業時における安全性を確保するとともに、作業に伴う騒音を低減し、高い精度をもって、タイヤ滑り止め部材とタイヤとの適合性を検査することができるタイヤ滑り止め装置の適合性試験装置を提供する。 - 特許庁

To solve such problems that accumulation and development of knowledge and techniques useful for ameliorating diseases considered to be caused by a signal transduction abnormality through a CRMP2 protein, e.g. disease symptoms such as Alzheimer's disease, schizophrenia and axonal injury are pressing need; and the development of testing tools etc., in relation thereto is expected.例文帳に追加

CRMP2タンパク質を介したシグナル伝達異常に起因すると思われる疾患、例えば、アルツハイマー病、統合失調症及び軸策損傷等のような疾患症状を改善させるために有用な知識・技術の蓄積・開発が急務であり、これに関連する試験ツール等の開発が期待されている。 - 特許庁

A material testing method or a material test according to the present invention in which a loading rate is given to a test member and the strength test of the material member is performed has a first feature including: previously applying a preload once or more repeatedly and subsequently applying a main load for use in the material characteristic evaluation thereto to acquire a prescribed loading rate.例文帳に追加

本発明は、試験部材に負荷速度を与え前記材料部材の強度試験を行う材料試験方法又は材料試験において、予め一回以上の繰返し予負荷を付与し、その後続けて材料特性評価に用いる主負荷を与え所定の前記負荷速度をえることを第１の特徴とする。 - 特許庁

In this burn-in test method for collectively testing two or more objects to be tested having test patterns, at least two objects to be tested are simultaneously designated during burn in, the test patterns are read from the parts to be tested, and the test patterns read after the burn in are compared with an expectation value pattern.例文帳に追加

テストパターンを有する被試験対象物を複数個まとめてテストするバーンインテスト方法において、バーンインの間、少なくとも２以上の該被試験対象物を同時に指定し、当該被試験対象部品から該テストパターンを読み出し、該バーンイン後に読み出したテストパターンと、期待値パターンとの比較を行うよう、構成する。 - 特許庁

In this testing device 50 for the differential assembly, since the vibration is detected in the state where the coupling device 30 is assembled into the part of the differential assembly 15, the vibration of the coupling device 30 including the vibration caused by the assembly accuracy can be measured, to thereby detect more accurately than hitherto according to actual use.例文帳に追加

本実施形態のデフアッシ用試験装置５０によれば、カップリング装置３０をデフアッシ１５の一部として組み付けた状態で振動を検出するから、組み付け精度による振動を含めたカップリング装置３０の振動を測定することができ、実際の用途に沿って従来より正確に検出する。 - 特許庁

To provide a testing device and method for a differential assembly capable of detecting more accurately than hitherto vibration caused by the rotation of a coupling device, and measuring also vibration caused by assembly accuracy when assembling the coupling device into a part of the differential assembly, and provide a manufacturing method of the differential assembly having little vibration.例文帳に追加

カップリング装置の回転による振動を従来より正確に検出しかつ、カップリング装置をデフアッシの一部に組み付けた場合の組み付け精度による振動も測定可能なデフアッシ用試験装置及び試験方法を提供すると共に、振動の少ないデフアッシの製造方法を提供する。 - 特許庁

This penetration testing machine includes: an elevating table 3 elevated along an erected column 2, a chuck 4 provided on the elevated table 3 and holding a penetration rod 6 to freely rock, a rotation driving means 5 for driving the chuck 4 to rotate, and a level member 10 showing the rocking position of the penetration rod 6 held on the chuck 4.例文帳に追加

本発明は、立設されたコラム２に沿って昇降可能な昇降台３と、この昇降台３に設けられ貫入ロッド６を揺動自在に保持するチャック４と、このチャック４を回転駆動する回転駆動手段５と、前記チャック４に保持された貫入ロッド６の揺動位置を示すレベル部材１０とを有して成る。 - 特許庁

For realizing the running environment with a lot of dust not by a dust prevention performance test by actual test course running, road surface conditions and operation motion scattering of a driver is excluded and reproducibility of the running environment with a lot of dust is improved, and repetition of a plurality of testing which may occur in the dust prevention performance test by actual test course running, can be avoided.例文帳に追加

そして、テストコース実走行防塵性能試験によらずに多塵路走行環境を再現するので、路面コンディションやドライバ−の運転操作バラツキが排除され、多塵路走行環境の再現性が向上し、テストコース実走行防塵性能試験で起こり得る複数回にわたる試験の繰り返しを回避できる。 - 特許庁

To provide a water-washable water-based penetrant for a liquid penetrant test not having a flash point, capable of suppressing to the utmost generation of excess cleaning when removing an excess penetrant by water washing, and having a similar flaw detection performance to that of a water-washable oil-based penetrant, and a liquid penetrant testing method using the penetrant.例文帳に追加

引火点を有さず、かつ、水洗による余剰浸透液の除去に当たって、過洗浄の発生が可及的に抑制でき、水洗性油ベース浸透液と同等の探傷性能を具備している浸透探傷試験用水洗性水ベース浸透液及び該浸透液を用いる浸透探傷試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a power generation testing device for a cell of a solid oxide fuel battery capable of surely sealing between an air chamber as well as a fuel chamber and the cell of the solid oxide fuel battery and repetitively using the air chamber and the fuel chamber.例文帳に追加

本発明の目的は、空気用チャンバー及び燃料用チャンバーと固体酸化物形燃料電池用セルとの間のシールをより確実に行うと共に、空気用チャンバー及び燃料用チャンバーの繰り返し使用を可能とする固体酸化物形燃料電池用セルの発電試験装置を提供することにある。 - 特許庁

(vii) In addition to what is listed in the preceding item, equipment for the design, manufacture, measurement, test, or repair of goods (excluding optical fiber testing equipment and measuring equipment) that fall under any of item (i), item (ii), item (iv), item (v),or item (v)-2, or components or accessories thereof 例文帳に追加

七　前号に掲げるもののほか、第一号、第二号、第四号、第五号若しくは第五号の二のいずれかに該当する貨物の設計用の装置、製造用の装置、測定装置、試験装置若しくは修理用の装置（光ファイバーの試験装置及び測定装置を除く。）又はこれらの部分品若しくは附属品 - 日本法令外国語訳データベースシステム

CATHODE PANEL UNIT FOR COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMITTING DISPLAY DEVICE, CATHODE PANEL THEREFOR AND ITS MANUFACTURE, COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMITTING DISPLAY DEVICE, TEST DEVICE, AND TESTING METHOD OF ITS UNIT USING TEST DEVICE THEREOF例文帳に追加

冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル・ユニット、冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル及びその製造方法、冷陰極電界電子放出表示装置、試験装置、並びに、かかる試験装置を用いた冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル・ユニットの試験方法 - 特許庁

The MHLW and quarantine stations shall provide technical support to exporting countries as necessary so as to contribute to the strengthening of monitoring systems and the improvement of testing techniques for residual agricultural chemicals, etc. by dispatching experts and accepting trainees through JICA Technical Cooperation Projects.例文帳に追加

本省及び検疫所は、輸出国における監視体制の強化、残留農薬等の試験検査技術の向上に資するよう、独立行政法人国際協力機構の技術協力プロジェクトを通じた専門家の派遣や研修員の受入れ等により、必要に応じた輸出国への技術協力等を行う。 - 厚生労働省

The MHLW and quarantine stations shall provide technical support to exporting countries as necessary so as to contribute to the strengthening of monitoring systems and the improvement of testing techniques for residual agricultural chemicals, etc. by dispatching experts and accepting trainees through JICA Technical Cooperation Projects.例文帳に追加

本省及び検疫所は、輸出国における監視体制の強化及び残留農薬等の試験検査技術の向上に資するよう、独立行政法人国際協力機構の技術協力プロジェクトを通じた専門家の派遣や研修員の受入れ等により、必要に応じた輸出国への技術協力等を行う。 - 厚生労働省

To provide a strength testing machine of a structure reduced in the number of jacks for force application, having a simple small-sized compact structure, low in machine cost, capable of performing a strength test corresponding to all of loads such as shaft load, shearing load, bending load or the like.例文帳に追加

加力用のジャッキ数が少なく、簡単かつ小型コンパクトな構造で、装置コストの安い装置であって、さらには任意の場所で強度試験が可能な装置で以って、軸荷重、せん断荷重、曲げ荷重等あらゆる荷重に対応する強度試験を実施可能な構造体の強度試験装置を提供する。 - 特許庁

A device testing apparatus 1 includes: a metal plate 11 which is contacted with a collector electrode provided in a semiconductor device 20 to support the semiconductor device 20; and a plurality of contacts 30e equipped with an expansion and contraction mechanism for contacting with an emitter electrode 20e provided in the semiconductor device 20 while pressing the emitter electrode 20e.例文帳に追加

素子試験装置１は、半導体素子２０に配設されたコレクタ電極に接触して半導体素子２０を支持する金属板１１と、半導体素子２０に配設されたエミッタ電極２０ｅを押圧しつつ、エミッタ電極２０ｅに接触する伸縮機構を備えた複数の接触子３０ｅと、を備えている。 - 特許庁

A device 10A for testing a semiconductor element includes an upper guide plate 20A, having a plurality of upper guide holes 22A; a lower guide plate 30A having a plurality of lower guide holes 32A; a plurality of vertical probe 40A, provided in the upper guide holes 22A and the lower guide holes 32A; and a temperature regulation module 50.例文帳に追加

半導体素子の試験装置１０Ａであって、複数の上部ガイド孔２２Ａを有する上部ガイド板２０Ａと、複数の下部ガイド孔３２Ａを有する下部ガイド板３０Ａと、上部ガイド孔２２Ａおよび下部ガイド孔３２Ａ内に設けられている複数本のバーチカル型探針４０Ａと、温度調整モジュール５０とを備えている。 - 特許庁

To provide a method for testing airtightness performance capable of performing an accurate airtightness performance test even when leaking quantity increases under a minute pressure condition and a test pressure greatly drops, and in addition capable of rapidly and surely obtaining a test result even when conditions such as internal volume, detecting time, and a test pressure change.例文帳に追加

微圧条件下で漏れ量が大きくなりテスト圧が大きく降下するような場合でも正確な気密性能試験を行うことが可能であり、加えて、内容積、検出時間、テスト圧等の条件が変わったとしても迅速かつ確実に試験結果を得ることのできる気密性能測定方法を提供すること。 - 特許庁

On the other hand, when testing the motorcycle equipped with an operating pedal, a support board grip for stabilizing the attitude of the frame 1 to the motorcycle by sandwiching a step board is connected detachably to the frame 1 without using the left leg part operating machine fixture 5 and the right leg part operating machine fixture 6.例文帳に追加

一方、操作ペダルを備えた自動二輪車の試験を行う場合には、左足部操作機固定金具５と右足部操作機固定金具６を用いずに、フレーム１に脱着可能に、ステップボードを挟持してフレーム１の姿勢を自動二輪車に対して安定化する支持ボードグリップ金具を連結する。 - 特許庁

The test transistors A, B that have at least two kinds or more of insulating films 13, 15 and different configurations are manufactured, and the electrostatic capacity film can be guaranteed with the easy measurement using a testing method for determining whether insulating films 13, 15 have been formed normally from the difference of the sub-threshold characteristics of two kinds of test transistors.例文帳に追加

少なくとも２種類以上の絶縁膜１３，１５の構成が異なるテスト用トランジスタＡ，Ｂを製造し、２種類のテスト用トランジスタのサブスレッショルド特性の差から、絶縁膜１３，１５が正常に形成されたか否かを判定するというテスト方法を用いて、簡単な測定で静電容量膜の保証が行える。 - 特許庁

This activating device for hydrogen storage alloys has hydrogen piping 3 communicating plural tanks 1 and 2 charged with hydrogen storage alloys, a hydrogen compressor 4 provided on the hydrogen piping 3, testing medium piping 5 connecting the tanks 1 and 2 each other so as to be capable of heat-exchanging and a heating medium pump 6 provided on the heating medium piping 5.例文帳に追加

水素吸蔵合金を入れた複数のタンク１、２を連通する水素配管３および水素配管３に設けられた水素コンプレッサ４と、タンク１、２同士を熱交換可能に接続する熱媒配管５および熱媒配管５に設けられた熱媒ポンプ６と、を有する水素吸蔵合金の活性化装置。 - 特許庁