「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(132ページ目) - Weblio英語例文検索

A transformed petunia proves itself to be extremely resistant to the dryness, when compared with a wild type thereof, based on a result of preparing the transformed petunia which excessively expresses a ZPT2-3 gene under control of a CaMV 35S promotor, for the purpose of testing a function of ZPT2-3, and then investigating whether the transformed petunia has resistance to drought stress treatment or not.例文帳に追加

ZPT2-3の機能を調べるため、CaMV 35Sプロモーターの制御下でZPT2-3遺伝子を過剰発現する形質転換ペチュニアを作製し、乾燥ストレス処理に対する耐性の有無を検討した結果、驚くべきことに、形質転換ペチュニアが、野生型と比較して、乾燥に対して顕著な耐性を示すことが明らかとなった。 - 特許庁

10. We instruct the EWG and EGEEC to strengthen the APEC Energy Standards Information System (ESIS) and to conduct a series of Collaborative Assessments of Standards and Testing (CAST) for the energy-intensive appliances identified by CEEDS in cooperation with the Renewables and Efficiency Deployment Initiative (Climate REDI) of the Major Economies Forum (MEF). 例文帳に追加

10.我々は、EWGと EGEECに対し、APECエネルギー標準情報システム(ESIS)を強化するとともに、主要経済国フォーラム(MEF)の再生可能エネルギー・省エネルギー普及イニシアティブ(Climate REDI)とも協力しつつ、CEEDSによって明らかにされたエネルギー消費の多い機器を対象とした一連の標準・評価法に関する調査(CAST)を実施することを指示する。 - 経済産業省

In June 2009, Japan relayed its concerns to the Korean Institute for Technology and Standards that the trial test imposed and, with almost no preparation time, organizations were limited to a few domestic testing and inspection agencies so it had the potential to prevent exports from Japan. Japan worked with South Korea's chief negotiator during the OECD Trade and Industry Council. The WTO ・ TBT committee also expressed concerns in continued talks with the South Korean government.例文帳に追加

我が国は、2009年6月、韓国技術標準院に上記懸念を伝達し、さらに同月、OECD閣僚理事会の際に経済産業大臣から韓国通商交渉本部長へ働きかけを行い、その後、WTO・TBT委員会においても各国と共に懸念を表明し、韓国政府と協議を続けた。 - 経済産業省

In a semiconductor inspection apparatus having a loop counter counting a loop count of loop instructions for generating a pattern address to be given to pin electronics for DUT testing and the fail memory for storing information related to DUT pass/fail, the fail memory stores necessary information only when count output data of the loop counter change in an all trace mode which captures respective data in all inspection cycles.例文帳に追加

ＤＵＴのテストのためにピンエレクトロニクスに与えるパターンアドレスを発生するためのループ命令のループ回数をカウントするループ回数カウンタと、ＤＵＴのパス／フェイルに関する情報を格納するフェイルメモリを有する半導体検査装置において、前記フェイルメモリは、全ての検査サイクルで各データを取り込むオールトレースモード設定状態では、前記ループ回数カウンタのカウント出力データが変化した時にだけ必要な情報を格納することを特徴とするもの。 - 特許庁

The deciphering processing testing device is provided with a ciphered key information fixing means 1021 for fixing ciphered key information to be used for the ciphering processing and deciphering processing of data and an algorithm inspection means 1022 for inspecting whether the algorithms of the ciphering processing and deciphering processing are coincident with each other in the state of fixing the ciphered key information with respect to time by the fixing means 1021.例文帳に追加

本発明の秘匿解読処理試験装置は、データの秘匿処理及び秘匿解読処理に使用する秘匿鍵情報を時間に対して固定にする秘匿鍵情報固定手段１０２１と、前記秘匿鍵情報固定手段１０２１により前記秘匿鍵情報を時間に対して固定にした状態において前記秘匿処理及び前記秘匿解読処理のアルゴリズムが一致するか否かを検証するアルゴリズム検証手段１０２２と、を具備している。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus which performs parallel tests while applying test pattern waveforms to a plurality of devices under measurement 12, is equipped with a pattern generator 101 for generating first test pattern data common to each device 12, a storage portion 103 for generating second test pattern data individual to each device 12, and a first selection circuit 105 for choosing either the first test pattern data or the second test pattern data.例文帳に追加

複数の被測定デバイス１２に対し、試験パターン波形を印加して並列試験を行う半導体試験装置において、各被測定デバイス１２に共通の第１試験パターンデータを発生するパターン発生器１０１と、各被測定デバイス１２に個別の第２試験パターンデータを発生する記憶部１０３と、第１試験パターンデータと第２試験パターンデータのいずれかを選択する第１の選択回路１０５とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

Article 41 (1) When providing animals for use in education, testing and research or the manufacture of biological preparations, or for any other scientific use, consideration shall be given to the appropriate use of such animals by such means as using alternative methods to that of the use of animals as much as possible and reducing the number of animals provided for such use as much as possible, within the extent that the purpose of the scientific use can be attained. 例文帳に追加

第四十一条　動物を教育、試験研究又は生物学的製剤の製造の用その他の科学上の利用に供する場合には、科学上の利用の目的を達することができる範囲において、できる限り動物を供する方法に代わり得るものを利用すること、できる限りその利用に供される動物の数を少なくすること等により動物を適切に利用することに配慮するものとする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

An inert gas-filled container is connected to a test liquid supply tank in the soil-filled column testing apparatus comprising a soil-filled column, where soil/sand in which contaminant-decomposing bacteria are mixed; a test liquid supply tank for storing a test liquid supplied to the column; and an effluent tank for storing effluent flowing out of the column.例文帳に追加

汚染物質分解菌の混入した土壌・砂を充填した土壌充填カラムと、カラムに供給する試験液を貯蔵する試験液供給タンクと、カラムから流出する流出液を貯蔵する流出液タンクを有する土壌充填カラム試験装置において、試験液供給タンクに不活性ガス充填容器を接続したことを特徴とする土壌充填カラム試験装置などによって提供。 - 特許庁

The module for testing comprises a test substrate having a bonding pad; the semiconductor device arranged on the test substrate; an anisotropic conductive sheet having conductivity only in the thickness direction in contact with the electrode of the semiconductor device; and a metal wire whose one end is connected to the bonding pad and whose the other end is connected to the anisotropic conductive sheet in a region for covering the electrode.例文帳に追加

ボンディングパッドを有する試験基板と、前記試験基板の上に配置された半導体装置と、前記半導体装置の電極に接触して厚さ方向にのみ導電性を有する異方性導電シートと、前記ボンディングパッドに一端が接続され、前記電極を覆う領域において前記異方性導電シートと他端が接続された金属ワイヤとを有することを特徴とする試験用モジュールによって解決する。 - 特許庁

The testing device of the semiconductor integrated circuit includes a first waveform generator 1a for supplying a first test clock generated by masking an optionlal clock pulse of a clock having a first frequency to a first clock domain and a second waveform generator 1b for supplying a second test clock generated by masking an optional clock pulse of a clock having a second frequency to a second clock domain.例文帳に追加

本発明にかかる半導体集積回路の試験装置は、第１の周波数を有するクロックの任意のクロックパルスをマスクすることで生成された第１のテストクロックを第１のクロックドメインに供給する第１の波形生成器１ａと、第２の周波数を有するクロックの任意のクロックパルスをマスクすることで生成された第２のテストクロックを第２のクロックドメインに供給する第２の波形生成器１ｂと、を備える。 - 特許庁

(2) With respect to any goods for the selection and testing of samples of which provision is not made in any rules for the time being in force under sub-section (1) the Court or officer of customs, as the case may be, having occasion to ascertain the number, quantity, measure, gauge or weight or the goods, shall, by order in writing, determine the number 52 of samples to be selected and tested and the manner in which the samples are to be selected. 例文帳に追加

(2)本条第(1)項に基づきその時点で有効ないずれの規則においても規定が制定されていない、見本の抜き取り検査が必要な商品について、当該商品の個数、数量、度量、ゲージ又は重量を確認する機会がある裁判所又は税関職員(場合に応じ)は、命令書により、抜き取り検査をすべき見本の個数と見本の選択方式を決めるものとする。 - 特許庁

The electro-optical apparatus is provided with a plurality of external circuit connection terminals which are arrayed along one side of a projected area projected from a counter substrate on one side of a peripheral area of an element substrate, and to which an external circuit for supplying various signals for displaying images on a plurality of display elements is connected and testing image signals are collectively supplied in the case of performing display tests.例文帳に追加

電気光学装置は、素子基板上における周辺領域のうちその一辺において対向基板から張り出している張出領域に、その一辺に沿って配列され、複数の表示素子に画像表示させるための各種信号を供給する外部回路が接続されると共に、表示検査の際に、一括して検査用画像信号が供給される複数の外部回路接続端子を備える。 - 特許庁

This method for testing a microorganism which is contained in a specimen in which a microorganism is detected or identified by providing an environment that permits the proliferation of the microorganism, particularly a vessel containing a medium suitable for the proliferation, collecting the specimen in the vessel, and recovering the vessel to detect or identify the microorganism permits providing a whole system from the collection of a specimen to the analysis of the test result.例文帳に追加

被検材料中に含まれる微生物を検査するために、微生物の増殖可能な環境特に増殖に適した培地を含む容器を供給し、該容器に被検材料を採取した後、その容器を回収し微生物の検出または同定を行なう微生物検査の方法により、検体の採取から検査結果の解析まで一連のシステムを提供できることを見出し本発明を完成させた。 - 特許庁

When the gradation voltage test of the semiconductor device having the liquid crystal driving circuit is performed, a gradation voltage (Vx) generated by the gradation voltage generation circuit 16 of the semiconductor device is compared with a comparison voltage (for example, Vx+ΔV) generated for testing the gradation voltage, and a test result is outputted as a binary voltage from the external terminal of the semiconductor device.例文帳に追加

液晶駆動回路を有する半導体装置であって、半導体装置の階調電圧試験時に、半導体装置の階調電圧生成回路１６で生成された階調電圧（Ｖｘ）と階調電圧を試験するために生成された比較電圧（例えばＶｘ＋ΔＶ）とを比較し、試験結果を２値電圧として半導体装置の外部端子から出力することを特徴とする。 - 特許庁

"pharmaceutical product" means a medicinal product which is a substance used wholly or mainly by being administered to a human being for the purpose of treating or preventing disease, but does not include--(a) any substance which is used solely--(i) for diagnosis or testing; or(ii) as a device or mechanism, or an instrument, apparatus or appliance; or(b) any substance or class of substances specified in paragraph 2 or 3of the Schedule;例文帳に追加

「医薬品」とは，病気を治療又は防止する目的で全部又は大部分を人間に投与することにより用いられる物質である薬用製品をいうが，次のものは含まない。(a)専ら次のように用いられる物質　(i)診断又は検査のため　(ii)装置若しくは機械装置，若しくは計器若しくは器具として，又は(b)附則第2項若しくは第3項に定める物質若しくは定める種類に属するもの - 特許庁

To provide traffic shaping with a high efficiency in terms of a calculation amount by solving a problem of testing output queues of each virtual channel during each processing period and find whether or not cells to be sent are present, which is troublesome for a GCRA(general cell rate algorithm) equipped with a software program supporting many virtual channels, in the case of using the GCRA for a plurality of the virtual channels.例文帳に追加

複数の仮想回線でＧＣＲＡ（一般セルレートアルゴリズム）を使用する場合に、各処理周期中に各仮想回線の出力キューをテストして、送信すべきセルを有するかどうかを判定しなければならないが、多数の仮想回線をサポートするソフトウェアで実装されたＧＣＲＡにとってこの判定は面倒であるという問題点を解決し、計算量的に効率が高いトラフィックシェーピングを実現する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for concealing defective pixels in image sensors, by which the provision of an external storage means, is unnecessitated, the testing on every occasion, so as to program defective pixels is unnecessitated and moving defect pixels for the use of a user can be concealed and to provide a computer-readable recording medium in which a program to realize the method is recorded.例文帳に追加

外部に別に格納手段を設ける必要がないのみでなく、いちいちテストをして欠陥ピクセルに対するプログラミングをする必要もなく、ユーザが使用する間にも動く欠陥ピクセル(Moving defect pixel)に対する補正が可能となるようにするための、イメージセンサの欠陥ピクセル補正装置及びその方法と、前記方法を実現させるためのプログラムを記録したコンピュータで読み出すことができる記録媒体を提供する。 - 特許庁

The monitoring apparatus 101 includes: a receiving traffic counter 51 for counting testing frames received from the upstream apparatus by an object apparatus, which is the house side apparatus 202 or station side apparatus 201; and a reporting frame transmission section 59 for, when the object apparatus receives a reporting frame from the upstream apparatus, transmitting the reporting frame together with the count value of the receiving traffic counter 51 to the downstream apparatus.例文帳に追加

モニタ装置１０１は、宅側装置２０２または局側装置２０１である対象装置が前段の装置から受信した試験用フレームの数をカウントするための受信トラフィックカウンタ５１と、対象装置が前段の装置から報告用フレームを受信した場合には、受信トラフィックカウンタ５１のカウント値を報告用フレームに含めて後段の装置へ送信するための報告用フレーム送信部５９とを備える。 - 特許庁

To provide a disconnector built-in transformer which is improved in economical efficiency and reliability for easily and surely executing the unit testing of a transformer body and an electric cable after site installation, and for quickly and efficiently executing a maintenance check operation by easily separating the transformer body from the electric cable without making it necessary to put in/out an insulating medium sealed in an electric cable connection box.例文帳に追加

電力ケーブル接続箱に封入した絶縁媒体の出し入れを行うことなく、変圧器本体と電力ケーブルとを簡単に切り離すことにより、現地据付け後の変圧器本体と電力ケーブルの単体試験を簡単且つ確実に行い、短期間で効率よく保守点検作業を実施でき、経済性及び信頼性の向上を果たした断路器内蔵形変圧器を提供する。 - 特許庁

To provide a socket assembly for testing an IC chip, capable of improving reliability for electrical characteristics inspection by improving efficiency by selecting one of direct/indirect connection between a test board and the IC chip in accordance with its characteristics, and reducing the load capacity between probe pins through direct contact and terminals, the IC chip which uses the same, and a tester which uses the socket assembly.例文帳に追加

テストボードと集積素子との間の接続を集積素子の特性に従い直間接的方式のうちの一つを選ぶことにより効率性を高め、直接接続を通じたリードと端子との間の負荷容量を減らして電気的特性検査の信頼度を高めることができる集積素子テスタ用ソケット組立体とこれを用いる集積素子、及びこれを用いるテスタを提供するにある。 - 特許庁

To provide a method and device for testing fire resistance of a lining segment and a method of designing the lining segment capable of improving reliability to a fire of the lining segment by performing a test in a state more similar to the actual state, and performing economical design based on a result acquired from such a test.例文帳に追加

より現実に近い状態で試験を行なうことにより、覆工セグメントの火災に対する信頼性を向上させることが可能で、且つこのような試験で得られた結果に基づき経済的な設計を可能にした覆工セグメントの耐火性試験方法及び耐火性試験装置並びに覆工セグメントの設計方法を提供する。 - 特許庁

In this testing device using the test plate 10 where many storage recessed parts 11 for storing the sample liquid 1 are provided, the pair of electrodes 12, 13 extending to the inside in the storage recessed part on the test plate are provided, and a pair of lead parts 14, 15 corresponding to the test plate are provided to be connected to the pair of electrodes provided in the storage recessed part.例文帳に追加

サンプル液１を収容させる収容凹部11が多数設けられた試験用プレート10を用いた試験用装置において、この試験用プレートにおける収容凹部にその内部に伸びた一対の電極12，13を設けると共に、この収容凹部に設けられた一対の電極に接続させるようにして、試験用プレートに対応する一対のリード部14，15を設けた。 - 特許庁

The LSI tester and the test system for testing respective LSIs formed on a wafer is characterized by that the LSI tester is structured so as to forecast and calculate an ending time of measurement of all of the LSIs in real time every time the respective LSI tests are ended, and that the plurality of the LSI testers are connected by a network.例文帳に追加

ウェハ上に形成されている個々のＬＳＩのテストを行うＬＳＩテスタおよびテストシステムであって、全てのＬＳＩの測定が終了する時刻を個々のＬＳＩのテストが終了するごとにリアルタイムに予測算出するように構成されたＬＳＩテスタおよびこれら複数のＬＳＩテスタをネットワークで接続したことを特徴とするもの。 - 特許庁

An apparatus of the present invention includes a probe card for testing a die on a wafer and an energy transmissive element located adjacent to the probe card at a portion of the probe card, wherein the energy transmissive element utilizes energy transmitted to selectively deflect a portion of the probe card to selectively control the geometric planarity of the probe card.例文帳に追加

本発明の装置は、ウエハ上のダイをテストするプローブカードと、前記プローブカードの一部において該プローブカードに隣接して配置されたエネルギー伝達要素とを含み、前記エネルギー伝達要素が伝達されたエネルギーを利用して前記プローブカードの一部分を選択的に撓曲させることにより前記プローブカードの幾何学的平面性を制御する。 - 特許庁

This high temperature-high pressure testing device is provided with an opening-closing valve for introducing compressed air from a compressed air supply device to a sample by heating the compressed air by the high temperature gas from a high temperature gas generator, introducing the high temperature gas from the high temperature gas generator to the sample and introducing one to the sample by selectively switching the compressed air and the high temperature gas.例文帳に追加

圧縮空気供給装置からの圧縮空気を高温ガス発生装置からの高温ガスにより加熱して供試品に導入するとともに、前記高温ガス発生装置からの高温ガスを前記供試品に導入し、かつ、前記圧縮空気と前記高温ガスを選択的に切換えて前記供試品に導入する開閉弁を設けた。 - 特許庁

To provide a sample support structure for hollow torsional shear testing apparatus, by which when the shear strength of a sample is large and a large torque is repeatedly applied to a cap, the torque is transmitted uniformly to the top of the sample, and the bottom of the sample can be fixed by the fixing force from a pedestal, and as a result of which, an accurate torsional shear test can be performed.例文帳に追加

供試体のせん断強度が大きい場合に、キャップに大きなトルクを繰返し加えたときでも、供試体の上端にトルクを均一に伝達できるとともに、ペデスタルからの固定力で供試体の下端を固定でき、その結果、正確なねじりせん断試験を実施できる中空ねじりせん断試験装置の供試体支持構造を提供する。 - 特許庁

This method for testing the expression-regulating factor of cysteinedioxygenase (CDO) associated with obesity is provided by administering a tested substance to test animals, extracting mRNA from a fat tissue and/or fat cells of the test animals, measuring the amount of CDO mRNA contained in the extracted mRNA and determining whether the tested substance is a substance capable of changing the expressing amount of the CDO mRNA or not.例文帳に追加

試験用動物に被試験物質を投与し、試験用動物の脂肪組織及び／又は脂肪細胞からmRNAを抽出し、抽出したmRNA中に含まれるシステインジオキシゲナーゼ（CDO）mRNA量を測定し、被試験物質がCDOのmRNA発現量を変化させる物質であるかを決定する、肥満に関連するCDO発現調節因子の検査方法。 - 特許庁

The biological testing apparatus includes: a plurality of laser sources; and a control means for outputting an excitation start signal that instructs the laser light sources to start excitation and outputting an oscillation start signal to instruct the laser light sources to start oscillation after a prescribed time has elapsed from the output of the excitation start signal so as to generate pulsed light from the laser light sources.例文帳に追加

生体検査装置は、複数のレーザ光源と、レーザ光源に対して励起の開始を指示する励起開始信号を出力するとともに、励起開始信号から所定の時間の経過後にレーザ光源に対して発振の開始を指示する発振開始信号を出力することで、レーザ光源からパルス光を発生させる制御手段とを備える。 - 特許庁

Besides, this testing method performs steps of: mounting, on the shaft, a base material to which deposition substances are applied, immersing a film coated base material in a solution housed inside a container, utilizing the drive system for rotating the shaft and the film coated base material at a given rotating speed, and determining an amount of the deposition substances removed from the base material.例文帳に追加

この試験方法はさらに、堆積物質が塗布されている基材をシャフトに載置するステップと、その塗膜基材を容器に収容された溶液内に沈浸するステップと、シャフトと塗膜基材とを所定回転速度で回転させるために駆動システムを利用するステップと、基材から除去された堆積物量を決定するステップとを含んでいる。 - 特許庁

A changeover circuit 26 of a load control unit 1 detects open and close of a circuit breaker 7, gives a normal power to a multi-functional protection relay device 5 from a main circuit 3 in a closed-circuit state of the circuit breaker 7, and gives a power for testing to the multi-functional protection relay device 5 in an open-circuit state of the circuit breaker 7.例文帳に追加

負荷制御装置１の切換回路２６は、回路遮断器７の開閉を検出し、その回路遮断器７が閉路状態にあるときには多機能型保護リレー装置５に主回路３から常用電源を与え、回路遮断器７が開路状態にあるときには多機能型保護リレー装置５に試験用電源を与えるように切り換える。 - 特許庁

To provide a member for image display which hardly causes curling or cracking of a polarizing film laminated body in an environmental testing, especially in a demanding high temperature resistance test, even in a structure that aims to impart high functions, that is, in a structure of the polarizing film laminated body having a functional resin layer such as crosslinked coating film and/or a functional sheet laminated/adhered onto a polarizing film.例文帳に追加

高機能付与を目的とする構成、即ち、偏光フィルムに架橋塗膜等の機能樹脂層、及び／又は、機能シートを積層／貼合する偏光フィルム積層体の構成に於いても、環境試験、特に過酷な高温耐熱試験で、偏光フィルム積層体のカール及びクラックが生じることのない画像表示用部材を提供する。 - 特許庁

A detachable test fixture 11 formed with a groove in the peripheral surface thereof is provided to be interposed between a sheave 1 and a rope 8 when testing an emergency stop means 3 of an elevator for holding a guide rail in emergency to hinder elevation of an elevator car 2 to reduce traction ability of the sheave 1 in relation to the rope 8 in comparison with that of the normal operation.例文帳に追加

非常時にガイドレールを把持して乗かご２の昇降を阻止するエレベータの非常止め手段３の試験時に、綱車１とロープ８との間に介在され、その外周面に溝が形成される着脱可能な試験用治具１１を備え、綱車１のロープ８に対するトラクション能力をエレベータ通常運転時よりも小さくする。 - 特許庁

In a process of manufacturing a semiconductor device including an adjustment circuit for adjustment according to results of tests, the method includes testing the semiconductor device (at step S3), and forming a wiring pattern or a via pattern by electronic beam lithography with an electronic beam lithography device according to the results of the tests, and finishing the circuit pattern of the adjustment circuit (at step S4).例文帳に追加

試験結果に応じた調整を行う調整回路を含む半導体装置の製造途中において、当該半導体装置を試験し（ステップＳ３）、その試験結果に応じて電子ビーム描画装置による電子ビーム描画によって、配線パターンやビアパターンなどを形成することにより、調整回路の回路パターンを確定させる（ステップＳ４）。 - 特許庁

In an LSI test system for testing a plurality of LSI devices to be tested DUT1 through DUT4 at one sitting, between the signal lines connecting the LSI devices to be tested DUT1 through DUT4 and the LSI tester 100, each of delay units DLY1 through DLY4 with different delay times is provided to each LSY devices DUT1 through DUT4.例文帳に追加

複数の被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４を一度にテストする半導体集積回路装置のテストシステムにおいて、被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４とＬＳＩテスタ１００とを結ぶ信号線の間に、被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４ごとにそれぞれ遅延時間の異なる遅延ユニットＤＬＹ１〜ＤＬＹ４を設ける。 - 特許庁

To provide a testing device for determination of a display defect including display irregularity and the like to be appeared on a display surface of a plane display device and a manufacturing method of the plane display device using this which are capable of making determination of display irregularity and the like precisely and reliably without being affected by skill level and some difference of operation conditions.例文帳に追加

平面表示装置の表示面に表れる表示ムラその他の表示欠陥を判定するのに用いる検査具、及びこれを用いる平面表示装置の製造方法において、表示ムラ等の判定を、熟練度や多少の作業条件の違いに左右されることなく、高い精度及び信頼度にて行うことができるものを提供する。 - 特許庁

To provide a new airtightness testing method, capable of inspecting fine leaks and gross leaks of an electronic component sealed airtightly in a shorter time than hitherto, showing a high leak detection capability, coping with miniaturization of the electronic component, and surely detecting the leak, without omission over a wide range, and an in-line airtightness test device for realizing the method.例文帳に追加

気密封止された電子部品のファインリーク及びグロスリークを従来よりも短時間で検査し、電子部品の小型化に対応して高いリーク検出能力を発揮し、広い範囲に亘って確実にかつ漏れなくリークを検出し得る新規な気密試験方法、及びそれを実現するインライン化された気密試験装置を提供する。 - 特許庁

A method and system for testing sugar contents irradiates the measured object with a generated electromagnetic wave to obtain a transmission or reflection intensity thereof, using an electromagnetic wave generation source having 10GHz-10THz of oscillation frequency constituted of a terahertz generator, and using a suitable frequency of oscillation element, and obtains thereby the sugar content in the measured object and a distribution situation thereof.例文帳に追加

テラヘルツ発生装置によって構成される１０ＧＨｚから１０ＴＨｚの発振周波数を持つ電磁波発生源を用い、適した周波数の発振素子を用い、被測定物に前記発生電磁波を照射しその透過あるいは反射強度を得ることによって、被測定物中の糖度およびその分布状況を得ることを可能にした。 - 特許庁

In a game machine, the winning probability of a variable display device for normal patterns is heightened associated with the variable probability state while the opening time of a normal role device is extended with the shortening of the variation time along with an increase in the frequency of opening and a testing connector which allows the outputting of signals outside the game machine is mounted on a game control board.例文帳に追加

確変状態に付随して普通図柄用可変表示器の当り確率が向上されかつその変動時間が短縮されるとともに普通電役の開放時間が延長されかつその開放回数が増加する遊技機において、信号を遊技機外部へ出力可能な試験用コネクタを遊技制御基板に取付ける。 - 特許庁

To provide a method for determining brittle crack propagation inhibiting performance of high-strength steel plates which greatly improves miniature testing method and its evaluation method, and simply/easily estimates arrest performance of any high-strength steel plate with thickness of 50 mm or more without conducting any large test such as ESSO test or double tensile test to inspect performance of high-strength steel plates.例文帳に追加

高強度厚鋼板の脆性き裂伝播停止性能の判定において、小型試験法およびその評価方法を大幅に改善し、ＥＳＳＯ試験や二重引張試験の大型試験を行うことなく、板厚５０ｍｍ以上の高強度厚鋼板のアレスト性能を簡便な手法で推定して、高強度厚鋼板の性能を検査する。 - 特許庁

In systems and methods for performing design verification testing, test cases are analyzed to determine the characteristics that will be verified in a module under test, and the identified characteristics are used to selectively enable checker modules 340 needed to verify the characteristics implicated by the test cases while other checker modules are disabled.例文帳に追加

テストケースが分析されて検査対象のモジュール内で検証されるであろう特性を決定し、特定された特性が用いられてテストケースによって実行される特性を検証するのに必要なチェッカーモジュール３４０を選択的に有効にし、他のチェッカーモジュールを無効にする、設計検証検査を実行するためのシステムおよび方法。 - 特許庁

As for your question regarding the impact of the slumping stock prices on Japan's financial sector, although we are conducting stress testing in order to study the effects of stock price drops, I would like to refrain from saying what levels of prices would have what effects. 例文帳に追加

こういった株価の水準が、我が国の金融セクターに及ぼす影響についてのお尋ねでございますけれども、これについては、従来より一定のストレスをかけた場合の影響度というものを研究いたしておりますけれども、具体的に特定の水準をおいた場合に、こういう姿である、と逐一申し上げるということは差し控えたいと思います。 - 金融庁

Adaptively adjusting the impulse response of the optical signal output from the laser in this way allows the optical TX to dynamically adapt to and compensate for a wide range of factors that typically cause performance degradation and result in reduced product yields, increased testing times, and increased test complexity, and higher costs.例文帳に追加

このようにレーザから出力される光信号のインパルス応答を適用性良く調整することにより、性能の低下やその結果生じる製品収量の減少、試験時間の増加や試験の複雑性の増加、及びより高いコストを一般にもたらす広範囲の要素に対して、光ＴＸは動的に適応及び補償できるようにされる。 - 特許庁

A system for testing the active matrix array including a plurality of transistors includes: an injecting element operative to apply a driving voltage to the selected transistors of the array; a readout circuit having amplifiers operative to selectively detect output signals; and a control circuit operative to control the injecting element and the readout circuit.例文帳に追加

複数のトランジスタを含むアクティブマトリクスアレイをテストするシステムであり、アレイの選択されたトランジスタに駆動電圧を印加する働きをする注入素子と、出力信号を選択的に検出する働きをする増幅器を有する読み出し回路と、前記注入素子及び前記読み出し回路を制御する働きをする制御回路と、を含む。 - 特許庁

(2) If the applicant has claimed protection for more than one plant variety in one application, he may divide the application, retaining the date of filing and any earlier priority, if any, until such time as the experimental testing has begun. In any other matters pertaining to division, the provisions of Article 73(2) and (3) shall apply.例文帳に追加

(2) 出願人は，1の出願において1を超える植物品種に関する保護を請求した場合は，実験的試験が開始される時までに，出願日及び(ある場合は)先の優先権を維持したままで，当該出願を分割することができる。分割に関連する他の事項に関しては，第73条(2)及び(3)の規定を適用する。 - 特許庁

Article 29 (1) The State and prefectures shall set up the necessary facilities for inspections where inspections under Article 25, paragraph (1) or Article 26, paragraphs (1) to (3) (hereinafter referred to as "product inspections") and affairs concerning the testing of food, additives, apparatus or containers and packaging that have been removed pursuant to the provisions of paragraph (1) of the preceding Article are to be carried out. 例文帳に追加

第二十九条　国及び都道府県は、第二十五条第一項又は第二十六条第一項から第三項までの検査（以下「製品検査」という。）及び前条第一項の規定により収去した食品、添加物、器具又は容器包装の試験に関する事務を行わせるために、必要な検査施設を設けなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム