「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(133ページ目) - Weblio英語例文検索

In a process of manufacturing a semiconductor device including an adjustment circuit for adjustment according to results of tests, the method includes testing the semiconductor device (at step S3), and forming a wiring pattern or a via pattern by electronic beam lithography with an electronic beam lithography device according to the results of the tests, and finishing the circuit pattern of the adjustment circuit (at step S4).例文帳に追加

試験結果に応じた調整を行う調整回路を含む半導体装置の製造途中において、当該半導体装置を試験し（ステップＳ３）、その試験結果に応じて電子ビーム描画装置による電子ビーム描画によって、配線パターンやビアパターンなどを形成することにより、調整回路の回路パターンを確定させる（ステップＳ４）。 - 特許庁

To provide a testing apparatus for a vehicle which is capable of improving reliability of test results and ensuring safety by confirming fixed state of a test vehicle set on a chassis dynamometer, detecting it when the preparation of test is incomplete or insufficient, and disturbing the continuation of the improper test due to carelessness of workers.例文帳に追加

シャシダイナモメータ上にセットする試験車両の固定状態を確認して、試験の準備が未完または不十分である場合にはこれを検知して、作業者の不注意による不適切な試験の続行を阻止することにより、試験結果の信頼性を向上させると共に安全性を確保できる車両の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a superconducting electromagnet cooling device capable of controlling the circulation flow rate of a supercritical pressure helium (SHe) supplied to a superconducting electromagnet in a wide range in the same facility, capable of testing the circulation flow rate of an exhaust gas compressor in a wide range even when the exhaust gas compressor for the refrigerator is tested, and enabling the availability of data containing operating points.例文帳に追加

同一設備で超電導電磁石に供給する超臨界圧ヘリウム（ＳＨｅ）の循環流量を広範囲に調整でき、かつ、逆に冷凍機の排気圧縮機を試験する場合にも、排気圧縮機の循環流量を広範囲に試験でき、動作点を振ったデータを入手することができる超電導電磁石冷却装置を提供する。 - 特許庁

A test data recording part 15 is provided to store the digital data on electricity quantity of all digitalized plant operating patterns (accident data, normal operation data, plant starting data, plant stopping data, etc.), and the data required by a test data selection signal 16 is selected from these data and is outputted to a relay part 11 for testing.例文帳に追加

ディジタル化されたあらゆるプラント運転パターン（事故データ，通常、運転データプラント起動時データ，プラント停止時データなど）のディジタル電気量データを記憶した試験データ記録部１５を設け、これらのデータの中から試験データ選択信号１６によって必要とするデータを選択し、これをリレー部１１に出力して試験するようにした。 - 特許庁

To provide a circuit and a method for testing a semiconductor integrated circuit, which can easily test a limitation of an operation cycle, i.e., a delay characteristic of the semiconductor integrated circuit device at an arbitrary cycle in a function test pattern of the semiconductor integrated circuit, by using the function test pattern and a relatively slow clock signal input from the outside.例文帳に追加

半導体集積回路の機能試験パタンと、外部からの比較的遅いクロック信号とを用いて、機能試験パタンの任意のサイクルでの動作周期の限界、つまり本半導体集積回路装置の遅延性能を容易に試験することができる半導体集積回路の試験回路およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

In a test mode for testing whether output voltage OUT at a predetermined output current is within a standard or not, operation of an internal circuit 1 is stopped, and switches 15 and 17 are set to off-state and on-state, and only current carried to PMOS transistors 13_1, 13_2 and 13_3 of a current supply circuit 13 is supplied to a resistance element 16.例文帳に追加

所定の出力電流時における出力電圧_ＯＵＴが規格内にあるか否かのテストを行なうテストモードにおいて、内部回路１の動作を停止するとともにスイッチ１５，１７をオフ状態，オン状態に設定し、電流供給回路１３のＰＭＯＳトランジスタ１３＿１，１３＿２，１３＿３に流れる電流のみ抵抗素子１６に供給する。 - 特許庁

The method, system, and computer program product pertain directly to the enhancement of existing home blood glucose monitoring devices, by introducing an intellectual data interpretation component predicting and alerting the user to periods of increased risk for hyperglycemia, hypoglycemia, increased glucose variability, and ineffective testing, and to the enhancement of emerging self-monitoring blood glucose devices by the same features.例文帳に追加

本方法、システム、コンピュータプログラム製品は直接的には、使用者に、高血糖、低血糖、グルコース変動の増大、無効な検査の期間を予測して警告することができるデータ知的解釈部を導入することによる既存の家庭用血中グルコース監視装置を改善、及び同機能を導入することによる血中グルコース自己監視装置の改善に関する。 - 特許庁

In the device, an image processing circuit 4 performs image processing for the detection of certain testing items other than display unevenness based on image data, a judgment circuit 5 determines defects from processing result of the image processing circuit 4, and an image processing circuit 6 performs image processing based on the image data so that display unevenness may become marked to be output to a display unit 6a.例文帳に追加

画像処理回路４は画像データをもとに表示ムラ以外の所定の検査項目検出のための画像処理を行い、判定回路５は画像処理回路４の処理結果から欠陥を判定し、画像処理回路６は、画像データをもとに表示ムラが顕著になるような画像処理を行い表示装置６ａに出力する。 - 特許庁

In the test circuit of the device 400 equipped with the nonvolatile memory 402, an external reset control section 410 generates an internal reset signal 414 by masking the external reset signal 222 for a predetermined period, and a CPU 401 controls an execution of a self-testing and a write of this test result to the nonvolatile memory 402 based on the internal reset signal 414.例文帳に追加

不揮発性メモリ４０２を備えたデバイス４００のテスト回路であって、外部リセット制御部４１０は外部リセット信号２２２を所定の期間マスクして内部リセット信号４１４を生成し、ＣＰＵ４０１は内部リセット信号４１４に基づいて、自己試験の実行とその結果の不揮発性メモリ４０２への書き込みとを制御する。 - 特許庁

The device 10 contains a plurality of load generation mechanisms for testing the strength of a material under pressure, in which each mechanism simultaneously operates independently of other mechanisms and each load mechanism applies a load to simulate a pressure condition with at least one method from among deformation, in-plane shear, a cyclic load, gas permeability, layer or film delamination.例文帳に追加

複数の負荷発生機構を含み圧力下での材料の強度をテストする装置１０であって、機構のそれぞれは互いに他の機構から独立して同時に動作し、各負荷発生機構は、変形、面内せん断、周期的負荷、気体透過性、層又はフィルム剥離のうち少なくとも一つの形式で、圧力状態をシミュレートする負荷を加える装置１０。 - 特許庁

The apparatus for testing a liquid crystal panel includes: a test board to transmit light to a liquid crystal panel which is placed thereon; a polarizer plate fixing unit rotatably formed on the test board and having a groove where a polarizer is inserted; and a stopper formed at the test board to fix the polarizer fixing unit at a desired position.例文帳に追加

本発明に係る液晶パネル検査装置は、液晶パネルが置かれて前記液晶パネルに光を出力する検査台と、該検査台に回転可能に形成されて偏光板が挿入される溝を有する偏光板固定部と、前記検査台に形成されて前記偏光板固定部を所望の位置に位置させるストッパーとで構成される。 - 特許庁

The method for testing the secondary battery of this invention includes a step of discharging and charging that carries out discharging and charging in the secondary battery treated initial discharging and charging treatment under a discharging and charging current larger than that of the initial discharging and charging current of the initial discharging and charging treatment.例文帳に追加

本発明の二次電池の検査方法は、初期充放電処理が施された二次電池に、初期充放電処理の初期充放電電流より大きな電流値を有する充放電電流での充放電を行う充放電工程と、充放電工程が施された二次電池の電池特性の変化を測定する測定工程と、を有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a device for testing local load smaller than a conventional apparatus, easily carried, conveniently measuring a strength in a desired depth from an artificial structure or all ground levels, reducing a damage applied to the artificial structure or the ground to the minimum, and overcoming a troublesome operation, and also to provide a test method.例文帳に追加

従来よりも小型で持ち運びに便利で、人工構造物または地盤のあらゆる面から所望の深さ位置での強度を簡便に計測することができ、さらに人工構造物または地盤に与える損傷を最小限にとどめ、また操作の煩雑さを解消することができる局部載荷試験装置および試験方法を提供することである。 - 特許庁

The apparatus for testing the optical head device 106 controls one or more functions out of focusing servo control, tracking servo control and spindle servo control, using control circuits (a PCB mounted thereon a controller, a servo circuit, a digital circuit, etc.), of the optical disk drive apparatus 100 into which the device 106 to be tested is to be incorporated.例文帳に追加

光学ヘッド装置１０６を検査するための検査装置において、検査装置のフォーカスサーボ、トラッキングサーボ、スピンドルサーボのうちいずれか１つ以上の制御機能を、検査対象の光学ヘッド装置１０６が組み込まれる光ディスク駆動装置１００の制御回路（コントローラ、サーボ回路、デジタル回路などを実装したＰＣＢ）を使用して実現するように構成した。 - 特許庁

This semiconductor testing device 100 stores data acquired by executing processing to DUT in preservation registers 135, 145, keeps an open collector output through a monitoring line 121 at a low level in a control module 140 for a fixed period, and removes restriction in the control module 140 when the open collector output is set at the low level in a master control module 130.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、ＤＵＴに対して処理を実行させて得られたデータを保存レジスタ１３５、１４５に記憶し、制御モジュール１４０内で監視ライン１２１を介したオープンコレクタ出力を一定期間ローレベルとし、マスタ制御モジュール１３０内でオープンコレクタ出力をローレベルとした時点で制御モジュール１４０内での制限を解除する。 - 特許庁

Typical configuration of the method for manufacturing the vertical magnetic recording disk includes a writing process which applies an alternating current with a frequency less than a predetermined value or a direct current while rotating the magnetic disk, and a signal quality testing process after writing.例文帳に追加

上記課題を解決するために、本発明に係る垂直磁気記録方式の磁気ディスクの製造方法の代表的な構成は、磁気ディスクを回転させつつ、所定の周波数以下の交流信号または直流信号を印加して書き込みを行う工程と、書き込みを行った後に信号品質テストを行う工程と、を含むことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a premixed gas supply testing device capable of reducing waiting time and improving test efficiency by reducing abrupt expansion of volume of premixed gas in a combustion vessel when supplying gas for stabilizing temperature and pressure of the premixed gas, and capable of stabilizing fuel concentration in the premixed gas immediately after starting to supply gas and temperature of the premixed gas.例文帳に追加

給気時における燃焼容器内での予混合気の急激な体積膨張を軽減して、該予混合気の温度と圧力を安定化し得、又、給気開始直後の予混合気中の燃料濃度並びに予混合気の温度を安定化し得、待ち時間の短縮と試験効率向上を図り得る予混合気供給試験装置を提供する。 - 特許庁

In this semiconductor testing apparatus constituted so as to perform operation processing of measurement data of a DUT by the DSP, a measuring file storage means for collecting and storing the measurement data of the DUT is provided in the DSP, and debugging of the DSP is carried out, based on the measurement data stored in the measuring file storage means.例文帳に追加

ＤＳＰでＤＵＴの測定データの演算処理を行うように構成された半導体試験装置において、前記ＤＳＰに前記ＤＵＴの測定データを収集格納する測定ファイル格納手段を設け、この測定ファイル格納手段に格納された測定データに基づき前記ＤＳＰのデバッグを行うことを特徴とするもの。 - 特許庁

The method and apparatus are for testing wirings in a circuit base mounted with an integrated circuit, and has a circuit having the function of executing embedded-type time domain reflectivity test is incorporated therein, by sending out a test transition signal generated by the integrated circuit (IC) mounted thereon to the wiring 102 and capturing the reflection 502 of the test transition signal.例文帳に追加

集積回路を搭載した回路基盤の配線を試験する方法及び装置であって、搭載された集積回路より発生される試験遷移信号を配線１０２に送出し、その試験遷移信号の反射５０２をキャプチャすることにより、時間領域反射率試験を実施する機能を有する回路が組み込まれたＩＣを含む方法及び装置。 - 特許庁

To provide a load cell correction jig capable of correcting bentness of a load cell so as to be not influenced by bentness of the load cell, without generation of noise due to reflection wave, when, for example, high-speed tension test is performed of low strength of resin and thereby to provide a high-speed tension testing machine capable of implementing easy and correct measurement.例文帳に追加

例えば樹脂などの低強度の高速引張り試験を行う際に、反射波によるノイズを発生させることなく、ロードセルの曲がりによる影響を受けないようにロードセルの曲がりを矯正することが可能なロードセル矯正治具およびこれを用いて、簡易に正確な測定が可能な高速引張り試験機等を提供する。 - 特許庁

Article 22 (1) The competent minister may, within the limits necessary to enforce the provisions of this Section, require a Registered Inspection Body to submit reports on its work for Testing of Organisms, or may authorize staff members to enter the office of a Registered Inspection Body, inspect the books, documents or other necessary properties of the Registered Inspection Body, or question relevant persons. 例文帳に追加

第二十二条　主務大臣は、この節の規定の施行に必要な限度において、登録検査機関に対し、その生物検査の業務に関し報告を求め、又はその職員に、登録検査機関の事務所に立ち入り、登録検査機関の帳簿、書類その他必要な物件を検査させ、若しくは関係者に質問させることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

a) All individuals must first understand that it is possible for hepatitis to progress to serious diseases such as cirrhosis and liver cancer, which severely affects their health keeping, if left untreated, and must understand the importance of undergoing hepatitis testing at least once and to be informed regarding their own hepatitis infection status, given the importance of treatment of the disease in the early stages.例文帳に追加

ア 国民一人一人が、肝炎は放置すると肝硬変や肝がんという重篤な病態へと進展する可能性があり、各人の健康保持に重大な影響をもたらし得る疾病であることを理解した上で、少なくとも一回は肝炎ウイルス検査を受検し、自身の肝炎ウイルス感染の有無について、早期に認識を持つよう努めること。 - 厚生労働省

At least either sidewall of a tire manufactured in the mold 2 has a surface having a surface glossiness of more than 10 as measured under a 60° gloss reading per the specular gloss designation D523-89 of American Society for Testing and Materials.例文帳に追加

この金型２を用いて製造されたタイヤの少なくとも１つのサイドウォールは、米国材料試験協会（Ａｍｅｒｉｃａｎ Ｓｏｃｉｅｔｙ ｆｏｒ Ｔｅｓｔｉｎｇ ａｎｄ Ｍａｔｅｒｉａｌｓ）の鏡面光沢度規定Ｄ５２３−８９による６０°光沢度を使用して計測したときの表面光沢度が１０よりも大きい表面を備えている。 - 特許庁

This IC tester for testing a test IC has a high-resolution digitizer digitizing and fetching a settling signal outputted from the test IC; and a digital signal processor adding the data fetched sequentially from the high-resolution digitizer to the preceding data, and scaling the added data by the number of additions to execute the averaging process of the taken-in data.例文帳に追加

被試験ＩＣの試験を行なうＩＣテスタにおいて、被試験ＩＣが出力するセトリング信号をデジタイズして取込むハイレゾルーションデジタイザと、このハイレゾルーションデジタイザから順次取込むデータをその直前のデータに加算すると共に加算されたデータを加算回数でスケーリングし、取込みデータの平均化処理を行なうデジタルシグナルプロセッサを備えた構成とする。 - 特許庁

Further, this testing method is used to calculate non-elastic strain produced in the maximum strain part of the solder joint structure when a heat cycle within a predetermined temperature range is received to impart the same non-elastic strain to a test piece to obtain the thermal fatigue evaluation method of the solder joint structure substituted for a cold heat environment test.例文帳に追加

さらに、この試験方法を用いて、所定温度範囲での熱サイクルを受けた時に前記はんだ接合構造体の最大歪部に生じる非弾性歪を計算により求めて、これと同じ非弾性ひずみを試験片に付与することで、冷熱環境試験に代替するはんだ接合構造体の熱疲労評価方法を得る。 - 特許庁

In the method for testing a function of an electrical circuit which has a sensor module 2 having a switch circuit and a diagnostic device 3, where the sensor module 2 has one output terminal and power supply terminals 12a, 12b connected to the diagnostic device 3, drive voltage is applied to the power supply terminals 12a, 12b via lead wires 13a, 13b.例文帳に追加

切替え回路を有するセンサモジュール２と診断装置３とを有し、センサモジュール２が診断装置３と接続された１つの出力端子と電力供給端子１２ａ，１２ｂを有した電気回路の機能を検査する方法において、リード線１３ａ，１３ｂを介して駆動電圧が電力供給端子１２ａ，１２ｂへ印加される。 - 特許庁

The semiconductor device includes two or more bonding pads 11, made up of a bonding unit 11a formed on a semiconductor chip and each as an electrode for bonding of an external connection wire or a bump, and a projection unit 11b formed in a projected state from the bonding unit 11a to the inner part of the face and having a probe contact unit, to which a testing probe is made to contact.例文帳に追加

半導体装置は、半導体チップ１０の上に形成され、それぞれが外部接続用のワイヤ又はバンプをボンディングする電極であるボンディング部１１ａと、該ボンディング部１１ａから面内に突き出して形成され、検査用プローブが接触されるプローブ接触部を含む突き出し部１１ｂとを有する複数のボンディング用パッド１１を備えている。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspecting device and a semiconductor inspecting method capable of shortening testing time whereby suppressing an increase in inspection cost while preventing destruction of a semiconductor device by preventing spikes from being generated when power supply voltage is changed, even if the semiconductor device to be inspected is a semiconductor device for IEEE 1394.例文帳に追加

もし、被検査用半導体装置がＩＥＥＥ１３９４用半導体装置の場合であっても、テスト時間を短縮し、検査コストの増加を抑えることができるとともに、電源電圧切り替え時のスパイクの発生を抑え、半導体装置の破壊を防止することができる半導体検査装置および半導体検査方法を提供する。 - 特許庁

Since the Asia Common Skill Standard Initiative for IT technicians proposed by Mr.Takeo Hiranuma, Minister of Economy, Trade and Industry, was adopted at the October 2000 ASEAN Meeting of Economic Ministers and the Ministers of People’s Republic of China, Japan and Republic of Korea, Japan has been practicing mutual accreditation with testing agencies in Asian countries based on standardization of skills tested(Fig.3.2.28).Further expansion of member countries is expected in the future.例文帳に追加

2000年10月のASEAN+日中韓経済閣僚会議で、平沼経済産業大臣が提案を行ったアジアITスキル標準化イニシアティブが採択されたことを受け、これまでアジア各国の試験実施機関と試験のスキル標準ベースでの相互認証を行ってきており（第3-2-28表）、今後も締結国の更なる拡大が期待されるところである。 - 経済産業省

Thus the following measures are being implemented: (1) Create skill standards which clarify the skills and know-how appropriate for the special qualities of services provided, through efforts of organizations such as the Service Productivity & Innovation for Growth conference, (2) Support establishment of a skills evaluation system (testing and certification) as a common platform for human resource development, (3) Promote utilization of Job Cards,34 which are also incorporated into a “Bottom-up Growth Strategy”, (4) Provide support to develop a common education program and education materials for each industry and job type, etc.例文帳に追加

そのため、提供されるサービスの特質に応じたスキルやノウハウを明確化したスキル標準を、サービス産業生産性協議会などの取組を通じて作成すること、人材育成のための共通プラットフォームとしての能力評価制度（試験・検定）の構築を支援すること、「成長力底上げ戦略」にも盛り込まれているジョブ・カード22の活用促進を図ること、さらに、業界や職種ごとの共通教育プログラムや教材の充実を図る支援を行うことなどの施策を実施することとしている。 - 経済産業省

Article 28 (1) The Minister of Health, Labour and Welfare or a prefectural governor, etc. may, when it is found to be necessary, request a business person or other relevant persons to submit the necessary report, or have their officials visit places for business, offices, warehouses, and other places, inspect food, additives, apparatus or containers and packaging to serve for the purpose of marketing or to use in business, business facilities, books and documents, and other articles, and remove food, additives, apparatus or containers and packaging to serve for the purpose of marketing or to use in business, without charge, within the limit necessary for using them for the purpose of testing. 例文帳に追加

第二十八条　厚生労働大臣又は都道府県知事等は、必要があると認めるときは、営業者その他の関係者から必要な報告を求め、当該職員に営業の場所、事務所、倉庫その他の場所に臨検し、販売の用に供し、若しくは営業上使用する食品、添加物、器具若しくは容器包装、営業の施設、帳簿書類その他の物件を検査させ、又は試験の用に供するのに必要な限度において、販売の用に供し、若しくは営業上使用する食品、添加物、器具若しくは容器包装を無償で収去させることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The soil pollutant elution testing method measures the quantity of a soil pollutant elution from a solid sample by implementing an elution test for eluting a soil pollutant from the solid sample containing the soil pollutant into water, and implements a cycle test includes at least one drying process for drying the solid sample and one moistening process for moistening the solid sample before the elution test.例文帳に追加

土壌汚染物質が含有されている固体試料から前記土壌汚染物質を水中に溶出させる溶出試験を実施することにより前記固体試料からの土壌汚染物質溶出量を測定する土壌汚染物質溶出試験方法であって、前記固体試料を乾燥させる乾燥過程と、前記固体試料を加湿する湿潤過程とが少なくとも１回ずつ実施されるサイクル試験を前記溶出試験前に実施することを特徴とする土壌汚染物質溶出試験方法による。 - 特許庁

Now, the main reason behind the scheduling of such a tight agenda for the authenticity testing was that, while the exchange of equivalent amounts of counterfeit for specie was accepted as unavoidable given the government's relationship with foreign countries, it was clear that if all the counterfeit money was exchanged for specie of an equivalent price, the Meiji Government would face financial ruin, so the Meiji Government wanted to keep this amount to a minimum; at the same time, the foreign ministers of Japan's trading partners wanted to avoid a situation in which the government might collapse so as to ensure that they could maintain their trade relationships with the Meiji Government, so the motives of both sides coincided. 例文帳に追加

さて、先の検勘の際に強引な日程を組んだ背景には、外国との関係の都合上贋貨と正貨の等価交換をやむなく認めたものの、実際に全ての贋貨を同じように正貨と等価で引き換えた場合には明治政府の財政が破綻するのは目に見えていたからであり、その額をなるべく抑制したいという明治政府と貿易関係の維持のために政府の崩壊に至る事態は避けたいと考える外国公使との思惑の一致があったからである。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To provide a method and an apparatus for optically testing weatherability which relate to the method and the apparatus employing liquid hydrogen peroxide, make the work simple and easy by carrying out all test steps without taking out a sample therefrom, make drained water harmless, generate oxygen by catalyzing the liquid hydrogen peroxide, eliminate the need for a unit such as an oxygen gas cylinder and its cost by utilizing the oxygen and can carry out recycling resource.例文帳に追加

過酸化水素水を用いる耐候光試験装置及び方法に関するものであって、（イ）試料を取り出さずに全工程の試験ができて作業が簡便で、（ロ）排水を無害な水にすること、及び（ハ）過酸化水素水に触媒を作用させることにより酸素を発生させ、その酸素を利用することで酸素ボンベ等の装置やコストを不要とし、資源の再利用ができる耐候光試験装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

A heated platen assembly for use in a biological testing device is disclosed, having a heated platen defining a plurality of optical openings configured to permit radiation to pass through the heated platen, a light-transmissive slip cover configured to cover at least one of the plurality of optical openings, and a means for retaining the slip cover over the at least one of the plurality of optical openings.例文帳に追加

放射線が、加熱プラテンを通過すことを可能にするように構成される複数の光学的開口部を規定する加熱プラテンと、この複数の光学的開口部のうち少なくとも１つを覆うように構成される光透過型スリップカバーと、この複数の光学的開口部のうち少なくとも１つを覆ってスリップカバーを保持するための手段とを有する、生物学的試験デバイスにおいて使用するための加熱プラテンアセンブリが開示される。 - 特許庁

This method for testing an agent for its potential to inhibit heparanase catalytic activity comprises interacting immobilized heparanase substrate binding protein on a solid support with labeled heparanase substrate to provide immobilized labeled substrate, interacting a heparanase enzyme solution with the substrate in the presence of the agent, and detecting the presence or absence of label in the solution remote from the solid support.例文帳に追加

へパラナーゼ触媒活性を阻害する能力に関する物質を試験する方法であって、固定化した標識ヘパラナーゼ基質（標識基質と略す）を得るために、固体支持体上に固定化した基質結合蛋白質を標識基質と相互作用させる段階、試験物質と、へパラナーゼ酵素溶液を、固定化した標識基質と相互作用させる段階、および固体支持体から離れた溶液中の標識の有無を検出する段階を含む。 - 特許庁

The heated platen assembly for use in a biological testing device is disclosed having a heated platen defining a plurality of optical openings configured to permit radiation to pass through the heated platen, a light transmissive slip configured to cover at least one of the plurality of the optical openings, and a means for retaining the slip cover over at least one of the plurality of the optical openings.例文帳に追加

放射線が、加熱プラテンを通過すことを可能にするように構成される複数の光学的開口部を規定する加熱プラテンと、この複数の光学的開口部のうち少なくとも１つを覆うように構成される光透過型スリップカバーと、この複数の光学的開口部のうち少なくとも１つを覆ってスリップカバーを保持するための手段とを有する、生物学的試験デバイスにおいて使用するための加熱プラテンアセンブリが開示される。 - 特許庁

The method for testing the canceration comprises typically (a) determining the transcription level of the nucleic acid hybridizing to the specific base sequence or its complementary base sequence under the stringent conditions in a biological sample using the nucleic acid and (b) judging whether or not the transcription level of the nucleic acid in the biological sample is significantly below that of a control normal biological sample.例文帳に追加

また、本発明の癌化検定方法は、典型的には、（ａ）特定の塩基配列又はその相補的な塩基配列にストリンジェントな条件下でハイブリダイズする核酸を使用して、生物試料中の該核酸の転写レベルを測定し；そして（ｂ）該生物試料中の該核酸の転写レベルが、対照の健常生物試料のそれを有意に下回るかを判断することを含む。 - 特許庁

The method for testing an electronic circuit 16 comprises selection of an input signal using a first multiplexer 208, selection of an signal to be input to the first multiplexer 208 using at least one of other multiplexers 202, 204, 206, and control of at least one of other multiplexers 202, 204, 206, using a selection signal output from a control circuit 222.例文帳に追加

電子回路１６をテストするための方法は、第１のマルチプレクサ２０８を用いる入力信号の選択、少なくとも１つの他のマルチプレクサ２０２，２０４，２０６を用いる第１のマルチプレクサ２０８に入力されるべき信号の選択、および制御回路２２２から出力される選択信号を用いる少なくとも１つの他のマルチプレクサ２０２，２０４，２０６の制御を含む。 - 特許庁

To reduce time required for reading data from devices to be controlled, and to return correct data when a read request to the devices to be controlled occurs from a control section during write in a semiconductor-testing device including the control sections having a fast data transfer speed and the devices to be controlled having a slow data transfer speed while having a register or a memory in the inside.例文帳に追加

データ転送速度の速い制御部と内部にレジスタもしくはメモリを有しデータ転送速度の遅い被制御デバイスとを備えた半導体試験装置において、被制御デバイスからのデータの読み出しに要する時間を短縮できるとともに、書込み中に制御部から被制御デバイスに対するリード要求が発生した場合にも正しいデータを返送することができるようにする。 - 特許庁

A method for inspecting the precision of the tire testing machine has a rotating radius different from a drum 42 and higher circularity than a tire T in place of the tire T, mounts a dummy tire 60 having rigidity capable of maintaining circularity on a spindle shaft 11 even when receiving load in a radial direction, and measure variation load generated by rotating the dummy tire 60 while giving load from the drum 42.例文帳に追加

タイヤＴに代えて、ドラム４２とは異なる回転半径とタイヤＴよりも高い真円度とを有すると共に、荷重を径方向に受ける場合にも真円度を維持可能な剛性を有するダミータイヤ６０をスピンドル軸１１に装着し、ダミータイヤ６０をドラム４２からの荷重を与えた状態で回転させることにより生じる変動荷重を計測する。 - 特許庁

To provide a method for automatically calibrating a detection level in a measuring part of a shutter testing machine, in which manual adjusting operation of an adjusted value VR is eliminated and an output level of a comparator to electric output (voltage) of reflected light is automatically set just by opening the shutter of a camera, whereby the shutter speed of the camera is easily, speedily and accurately detected.例文帳に追加

人手による調整値VRの調整操作を無くし、カメラのシャッタを開くだけで自動的に反射光の電気出力（電圧）に対するコンパレータの出力レベルを設定できるようにし、これによってカメラのシャッタスピード検出を簡便かつスピーディに精度よく行うことができるようにしたシャッタ試験機の測定部における検出レベルの自動校正方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a medical image diagnosis apparatus capable of reducing the burden of an operator and simultaneously improving throughput of the whole imaging (testing) by switching a display screen about a first subject to a display screen for registering the information on the next subject automatically before the imaging of the next subject is started after the imaging of the first subject is finished.例文帳に追加

前被検体の撮影が終了し後被検体の撮影が開始される前に、前被検体について表示されていた画面を自動的に後被検体の患者情報を登録するための画面に遷移させることによって、操作者の負担を軽減するとともに撮影（検査）全体のスループットの向上を図ることのできる医用画像診断装置を提供する。 - 特許庁

The method includes the step of preparing an object file management framework for establishing a standard interface between a vender-supplied pattern compiler and the module type test system, receiving a pattern source file, preparing a pattern object metafile on the basis of the pattern source file by using the object file management framework, and testing the device to be tested, through the test module by using the pattern object metafile.例文帳に追加

ベンダ供給パターンコンパイラとモジュール式試験システムとの間に標準インターフェースを確立するためのオブジェクトファイル管理フレームワークを作成すること、パターンソースファイルを受信すること、オブジェクトファイル管理フレームワークを用いて、パターンソースファイルに基づいてパターンオブジェクトメタファイルを作成すること、及びパターンオブジェクトメタファイルを用いて試験モジュールを通して被試験デバイスを試験する。 - 特許庁

This method for testing the computer system by applying a load includes: receiving of a load specification which identifies at least one resource of the system and specifies the load applied to the resource(s); and applying of the corresponding and specified load to the resource specified by the load specification.例文帳に追加

本発明にかかる負荷を適用することによってコンピュータシステムをテストする方法は、負荷仕様を受け取ることであって、当該負荷仕様が、システムの少なくとも１つの資源を特定し、かつ、当該資源に適用される負荷を指定する、負荷仕様を受け取ることと、および負荷仕様で特定された各資源について、対応する指定された負荷を当該資源に適用することとを含む。 - 特許庁