「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(125ページ目) - Weblio英語例文検索

A continuity inspection display unit 33 is arranged and a person in charge confirms that the prize winning sensor is connected by displaying the number of prize winning balls (1, 2, etc.), which enter prize winning ports in the unit 33 for testing in a test mode.例文帳に追加

導通検査用表示器３３を配置し、テストモードのときは、導通検査用表示器３３にテストのために入賞口に入れた球の入賞球数を表示（例えば、１、２・・・）することで、係員は該当の入賞センサが導通していることを確認する。 - 特許庁

To provide a deformed disk for testing which is obtained by deforming a disk, like a DVD disk, formed by bonding two substrates to each other in order to prevent deformation to a desired shape and a method of deforming the disk which is capable of easily and surely yielding such deformed disk.例文帳に追加

ＤＶＤディスクのように変形を防ぐため２枚の基板を張り合わせて形成したディスクを所望の形状に変形させたテスト用の変形ディスク及びそのような変形ディスクを簡単、確実に得ることの出来るディスク変形方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a device for conducting a restoring test of a base isolation floor capable of safely and smoothly conducting the test without generating a flight substance in load tripping by applying a testing load to the base isolation floor, then quickly releasing the load.例文帳に追加

免震床に試験負荷をかけ、次いでその負荷を急激に開放することにより、その免震床の復元試験を行う装置において、負荷引き外し時に飛翔物が発生することなく、安全に且つ円滑に試験を行うことができる装置の提供。 - 特許庁

To conduct tests continuously for reduction in testing time by identifying a dummy test signal at the time of operational test of an electronic circuit breaker formed so as to incorporate energization heat history properties into overcurrent tripping properties, thereby temporarily releasing the energization heat history properties.例文帳に追加

過電流引外し特性に通電熱履歴特性を取り入れるようにした電子式回路遮断器の動作テスト時に擬似テスト信号であることを検知して一時的に通電熱履歴特性を解除して、連続テストを可能してテスト時間の短縮をはかる。 - 特許庁

This conveying carrier tool for the semiconductor device testing device includes at least one first linear support part extending along a first direction, and at least one second linear support part extending along a second direction orthogonal to the first direction.例文帳に追加

半導体装置試験装置用搬送キャリア冶具は、第１の方向に沿って延在する少なくとも一つの第１の線状支持部と、第１の方向に直交する第２の方向に沿って延在する少なくとも一つの第２の線状支持部とを備える。 - 特許庁

The metallic microsphere preferably shows a deformation resistance of ≤3,500 mN for a displacement magnitude of 10% when measured at room temperature using a micro compression testing machine comprising an upper trapezoid diamond indenter and a lower pressure plate made of an SKS plate.例文帳に追加

また、本発明の金属微小球は上部台形型ダイアモンド圧子とＳＫＳ平板である下部加圧板とからなる微小圧縮試験器を用い、室温において測定した際の変位量１０％における変形抵抗が３５００ｍＮ以下であることが好ましい。 - 特許庁

In the method for testing the drug sensibility of the tubercle bacillus, a specimen is cultured in a culture medium containing a tuberculostat and the obtained cultured medium is subjected to immunoassay to detect the tubercle bacillus strain specific secretory protein in the cultured medium as a tubercle bacillus marker.例文帳に追加

抗結核薬を含有する培地中で検体を培養し、得られた培養物を免疫学的測定に供することによって該培養物中の結核菌群特異的分泌タンパク質を結核菌マーカーとして検出する、結核菌の薬剤感受性検査法。 - 特許庁

To provide an FIR active thermography testing equipment for actively heating a body surface by far infrared ray (FIR) radiation heating and imaging biological information based on the difference of the heat conduction/heat capacity/specific heat of tissue near the body surface.例文帳に追加

本発明は、遠赤外線（ＦＩＲ）放射加熱により能動的に体表面を加熱して体表面付近の組織の熱伝導・熱容量・比熱の違いに基づく生体情報を画像化するＦＩＲアクティブ・サーモグラフィ検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

This site work managing method performs test measurement and construction management by carrying an automobile mounted with the testing apparatus for measuring properties and an environmental condition of various building materials or civil engineering materials and its display apparatus in the construction site or the civil engineering site.例文帳に追加

本発明の現場施工管理方法は、各種建築材料又は土木材料の性状、環境条件を計測する試験機器及びその表示機器を搭載した自動車を建築現場又は土木現場に搬入し、試験測定及び施工管理を行う。 - 特許庁

In the testing apparatus for the temperature characteristic of the electronic component, the characteristic of the electronic component is tested in a state that the electronic component is maintained at a prescribed temperature, the electronic component is brought into contact with a temperature control unit which is maintained at the prescribed temperature, and the temperature of the electronic component is controlled.例文帳に追加

電子部品を所定温度に維持した状態で該電子部品の特性を試験する電子部品の温度特性試験装置において、前記電子部品を所定温度に維持された温度調節ユニットに接触させ、該電子部品の温度を制御する。 - 特許庁

In the adhesive property testing method for evaluating adhesive properties by adding force to the adherend and the material to be tested adhered thereto, the primer is applied to the surface to be adhered of the adherend in coincidence with the adhesive surface of the adherend with the material to be tested.例文帳に追加

被着体とこれに接着した被試験材とに力を加えて接着性を評価する接着性試験方法において、被着体と被試験材との接着面に一致させて被着体の被着面にプライマーを塗布することを特徴とする方法とする。 - 特許庁

To prevent an inner cylinder from being displaced in a direction orthogonal to the axis of a rubber bush when a static load is imposed on the outer circumference of the rubber bush in a jig for testing characteristics of the rubber bush, and to accurately measure a static spring constant of the rubber bush in the direction orthogonal to the axis.例文帳に追加

ラバーブッシュの特性試験装置用治具において、ラバーブッシュの外周に軸直方向の静荷重を付与したときにその静荷重で内筒が軸直方向にずれるのを防止し、ラバーブッシュの軸直方向の静ばね定数を正確に測定する。 - 特許庁

To remove scale adhering on the inner wall of piping and to prevent the adhesion of scale on the inner wall of the piping by letting the optimum Lorentz force act on a liquid to be treated passing through the piping without requiring a laboratory testing and continuously changing the frequency of a current for exciting a solenoid coil.例文帳に追加

ラボテストを必要とせず、ソレノイドコイルに励磁する電流の周波数を連続的に変化させずに、配管内を通流する被処理液体に対し最適なローレンツ力を作用させ、配管の内壁に付着したスケールの除去および付着の防止する。 - 特許庁

The semiconductor memory device having a function of masking a high-order or a low-order bit of all the bits of write data during a normal operation includes a mask control circuit for masking all the bits of the write data during a testing operation.例文帳に追加

書き込みデータの全ビットのうち上位ビット或いは下位ビットのいずれかを通常動作時にマスク可能な機能を有する半導体記憶装置は、テスト動作中は書き込みデータの全ビットをマスク可能にするマスク制御回路を含むことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a maintenance information providing system, a device and a method therefor capable of reducing both the user side cost and maker side cost required for maintenance by enabling to cope, on the user side, with a deficiency generated in semiconductor integrated circuit testing device.例文帳に追加

半導体集積回路試験装置で生する不具合をユーザ側で対処可能とすることにより、メンテナンスに要するユーザ側のコスト及びメーカ側のコストの双方を低減することができるメンテナンス情報提供システム、装置、及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a signal measurement apparatus which performs a timing adjustment for storing data obtained by sampling and converting analog signals through a plurality of A/D converters with different conversion properties with the same timing in a memory with the same timing, a signal measurement system and a semiconductor testing device.例文帳に追加

変換特性の異なる複数のＡ／Ｄ変換器が同一時期にアナログ信号をサンプリングして変換したデータを、メモリに同一タイミングで記憶するためのタイミング調整を行う信号測定装置、信号測定システムおよび半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of electronic components, containing semiconductors which secures processing efficiency, while holding back increase in cost for the entire system by enabling the testing of electric characteristics thereof in a conveying process that allows conveying of a plurality of electronic components as units.例文帳に追加

システム全体のコストアップを抑えつつ、処理能率を確保するために複数の電子部品を単位として搬送しながら、その搬送過程で電子部品の電気的な特性を試験することのできる、半導体素子を含む電子部品の試験方法を提供する。 - 特許庁

When evaluating the resistance to corrosion of the material under the ammonium hydrosulfide environment, a relation between concentrations of the ammonium hydrosulfide and pressures is previously simulated for a testing solution, and the concentration of the ammonium hydrosulfide is determined from the pressure, and the resistance to corrosion of the material is evaluated.例文帳に追加

水硫化アンモニウム環境下における材料の耐腐食性を評価するに際し、予め試験溶液の水硫化アンモニウム濃度と圧力との関係をシミュレートしておき、圧力から水硫化アンモニウム濃度を判断し、材料の耐腐食性を評価する。 - 特許庁

To provide a probe block of a probe device for testing a liquid crystal panel, which facilitates alignment of a probe block electrode with an electrode, has high flexibility to cope with a difference in size of a liquid crystal panel and enables a test with reliability.例文帳に追加

液晶パネル検査用のプロ−ブ装置のプロ−ブブロックにおいて、プロ−ブブロック電極３と電極１２との位置合わせし易く、液晶パネル１１の大きさの違いがあっても対応できる汎用性が高く信頼性のある検査ができるようにする。 - 特許庁

To provide a test instrument for an optical element package which enable easy, efficient test operation and can perform high-precision testing, evaluation, or measurement by transmitting a high-frequency signal from a test signal generator as it is to an optical element package to be tested.例文帳に追加

試験操作を簡単かつ能率的に行え、試験信号発生器からの高周波試験信号を、そっくりそのまま、試験対象の光素子パッケージに伝送して、高精度の試験評価又は測定ができる、光素子パッケージの試験器具を提供すること。 - 特許庁

To solve the problem that a testing circuit in a chip applied by a conventional test facilitation designing technique must inspect whether an input/ output circuit for outputting a signal to an external terminal or capturing a signal from an external terminal is normally operated or not by using a circuit tester.例文帳に追加

従来のテスト容易化設計技術を適用してチップ内にテスト回路の構成では、外部端子へ信号を出力したり外部からの信号を取り込む入出力回路が正常に動作するか否かの検査はテスタを用いて行なわざるを得ない。 - 特許庁

As a result, the amount of testing gas used per sensor can be reduced, and a period for replacing the gas can be reduced thereby shortening the necessary working hours, and the amount of gas to be used can be reduced thereby reducing its cost and executing the sensor processes accurately.例文帳に追加

この結果、センサ１個あたりの検査用ガスの使用量を減少できるため、ガス置換時間の短縮により作業所要時間を短縮でき、また、ガス使用量の現象によるコストの低減を図ることができ、さらに精度良くセンサ処理を実行できる。 - 特許庁

Further, the combination of the metal material having resistance in the surface stress corrosion cracking is discovered by observing the state of the surface stress corrosion cracking of the stainless steel test piece by removing the plurality of the test pieces (set) in a time series by using the testing apparatus for evaluating it.例文帳に追加

さらに、その評価試験装置を使用し、複数の試験片（組）を時系列に取り外して、ステンレス鋼試験片の外面応力腐食割れ状況を観察することにより、外面応力腐食割れに抵抗性のある金属材料の組み合わせを見出す。 - 特許庁

A first power shutdown switch (WTR1) is provided between a power supply line (VDD) and an internal power supply line (VDDM1) which is exclusive for a circuit block (BLK1), and has a current supply capability such that an on-state current is raised to an amplitude capable of protecting an external testing environment.例文帳に追加

第１電源遮断スイッチ（ＷＴＲ１）は、電源線（ＶＤＤ）と回路ブロック（ＢＬＫ１）専用の内部電源線（ＶＤＤＭ１）との間に設けられ、オン電流が外部試験環境を保護可能な大きさになる電流供給能力を有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which can be suitably used for a measurement device, such as a semiconductor integrated circuit testing set and the like, in which junction temperature and jitters hardly fluctuate, even if the frequency of an inputted clock fluctuates, and high accuracy is demanded on time.例文帳に追加

入力されるクロックの周波数が変動してもジャンクション温度及びジッタが殆ど変動せず、時間的に高い精度が要求される半導体集積回路試験装置等の測定装置で用いて好適な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To acquire a highly-accurate measurement result in a tire testing machine having a spindle device 2 for holding rotatably a test tire T and provided with a detector 29 capable of measuring a load generated from the test tire T to the spindle device 2.例文帳に追加

供試タイヤＴを回転自在に保持するスピンドル装置２を有し、このスピンドル装置２に対して供試タイヤＴから発生される荷重を測定可能な検出器２９が設けられたタイヤ試験機において、高精度の測定結果を得ることができるようにする。 - 特許庁

To provide a device and method for testing semiconductor integrated circuit device by which test items can be set more efficiently by setting the items based on test results and, consequently, an object to be measured can be tested efficiently.例文帳に追加

試験結果に基づいて試験項目を設定することにより効率的に試験項目を設定することができ、その結果として効率的に被測定対象の試験をすることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

The synchronous semiconductor integrated circuit device receiving an external clock signal ext.CLK in a testing operation mode executes a writing operation and a reading operation under the control of an internal clock regulator 200 for generating an internal clock signal int.CLK having a high frequency.例文帳に追加

同期型半導体記憶装置１０００は、テスト動作モードにおいて、外部クロック信号ｅｘｔ．ＣＬＫを受けて、周波数の高い内部クロック信号ｉｎｔ．ＣＬＫを生成する内部クロック調整回路２００に制御されて、書込み動作および読出動作を行う。 - 特許庁

To provide a material testing machine capable of performing control for holding the plastic strain amplitude of a test piece to required magnitude under automatic operation and capable of reducing the load of an operation and eliminating the possibility to perform the test error caused by an artificial mistake.例文帳に追加

試験片の塑性歪み振幅を所要の大きさに維持する制御を自動運転のもとに行うことができ、オペレータの負担の軽減並びに人為的ミスに起因する誤った試験の行う可能性をなくすことのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing of rubber, capable of reproducing the behavior of rubber in actual abrasion with higher precision, thereby allowing the measured degree of abrasion and abrasion form of the rubber to be more precisely matched with actual abrasion results.例文帳に追加

実際の摩耗時におけるゴムの挙動をより高精度に再現することができ、これにより、測定されるゴム摩耗度および摩耗形態を、実際の摩耗結果に、より精度良く対応させることが可能なゴム試験機およびゴム試験方法を提供する。 - 特許庁

To diagnose a service provision status of an image formation system while network connection for operating the image formation system is kept as it is without changing a connection configuration or the like without installing a testing device, and without performing test packet transmission work by a user.例文帳に追加

画像形成システムを運用するネットワーク接続のままの状態で、接続構成等を変更することなく、試験用の装置を設置することなく、ユーザによるテストパケット送信作業もなく、画像形成システムのサービス提供状況を診断すること。 - 特許庁

To provide a device for testing a semiconductor that facilitates verification as to whether control and measurement of unintended DUT are executed mistakenly, out of the DUTs in a plurality subjected to simultaneous measurement, in the case when the DUTs are subjected to the simultaneous measurement.例文帳に追加

複数のＤＵＴを同時測定している場合、同時測定している複数のＤＵＴのうち、誤って意図しないＤＵＴに対しての制御および測定を行っていないかを容易に検証することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

This red-corpuscle reagent for testing blood-group antibodies in blood is characterized in that red corpuscles are suspended in an aqueous medium including a gelatinizer, and gelated by being refrigerated to keep a solid form while returning to a liquid state at use temperatures.例文帳に追加

血液中の血液型抗体を試験するための赤血球試薬であって、ゲル化剤を含む水性媒質中に赤血球を懸濁させ、冷蔵保存によりゲル化して固形を維持する一方、使用時の温度では液状に復帰することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a belt-type tire testing machine of a simple constitution, capable of performing tests even at large steering angles and forming snow and ice surfaces in a short time by a reduced amount of energy for cooling, in tests on snow and ice surfaces.例文帳に追加

本発明は、簡素な構成で、大きな操行角度でも試験が行うことができ、また、氷雪面での試験においても、冷却するためのエネルギーが少なく、且つ短時間で氷雪面を形成できるベルト式タイヤ試験機を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a blood clinical testing device for performing blood coagulation test, biochemical test, or immune serum test capable of speedily heating specimens and reagents housed in reaction containers to a reaction temperature and further efficiently perfuming tests.例文帳に追加

血液の凝固検査、生化学検査あるいは免疫血清検査を行う臨床検査装置であって、反応容器に収容した検体および試薬を反応温度まで迅速に加温でき、一層効率的に検査を実施し得る血液の臨床検査装置を提供する。 - 特許庁

To verify stability of an analogue circuit and to secure quality in the mass-production process, wherein waveform measurement and failure analysis of the analogue circuit, being difficult so far, are automatically performed for quicker and easier testing of the analogue circuit.例文帳に追加

従来は困難であったアナログ回路の波形測定及び不良解析を自動的に実現可能とすることで、アナログ回路の試験が短時間で且つ容易に行うことを可能とし、アナログ回路の安定性の検証及び大量生産工程での品質確保を図る。 - 特許庁

Therefore, the “period during which the patented invention was unable to be worked” means either “the period of time spent conducting the testing necessary to obtain a disposition plus the period between the date on which the disposition was filed for and the date of the disposition”, or “the period between the date of patent registration and the date of the disposition”, whichever is shorter. 例文帳に追加

このため、処分を受けるのに必要な試験に要した期間と処分の申請から処分を受けるまでの期間を合わせた期間のうち、特許権の設定登録の日以降の期間が、｢特許発明の実施をすることができなかった期間｣となる。 - 特許庁

In this heat degradation testing machine for performing a heat degradation test of a plurality of test pieces S, while circulating heated air in a test vessel 1, a plurality of cells 5 openable at the upper and lower ends and capable of storing the test pieces S respectively in the test vessel 1 are provided.例文帳に追加

試験槽１内で加熱した空気を循環させながら複数の試験片Ｓの熱老化試験を行うようにした熱老化試験機において、試験槽１内に試験片Ｓをそれぞれ収容可能な、上下が開口する複数のセル５を設置する。 - 特許庁

When test output data 6 and hash values 7 are returned from the server 3 for testing, the test output data 6 are compared with the contents of test output specifications, which are described in test specifications 1d, by a test result determination means 1c to determine whether the test is acceptable.例文帳に追加

テスト用サーバ３からテスト出力データ６とハッシュ値７とが返されると、テスト結果判定手段１ｃにより、テスト出力データ６と、テスト仕様書１ｄに記述されているテスト仕様出力内容とが比較され、テストの合否が判定される。 - 特許庁

To provide a link layer device with testing circuit for eliminating usual inconvenience by enabling to measure the AC timing by a link layer device single body and enabling to measure by changing measuring conditions such as temperature and source voltage by using a general purpose board.例文帳に追加

リンク層デバイス単体でＡＣタイミング測定ができるようにし、これにより従来の不都合を解消でき、かつ、汎用ボードを使用して温度、電源電圧等の測定条件を変えてその測定できるようにしたテスト回路付きリンク層デバイスを提供すること。 - 特許庁

Based on a potential detected at one GND terminal by the GND sense line 6 during inspection of the device 12 to be measured, a potential correction circuit 8 corrects a potential level of a testing signal input for the inspection from the semiconductor sensor 10 into the device 12 to be measured.例文帳に追加

被測定デバイス１２の検査中にＧＮＤセンスライン６で検知した１つのＧＮＤ端子における電位に基づいて、電位補正回路８が検査のために半導体テスタ１０から被測定デバイス１２に入力されるテスト信号の電位レベルを補正する。 - 特許庁

Then, an image quality degradation notification controlling section 107 orders the image forming section 102 to print out a record medium on which a pattern image for testing is formed when the comparison determination section 106 determines that the toner cartridge 40 is the one filled with non-genuine toner.例文帳に追加

そして、画質劣化通知制御部１０７は、比較判定部１０６による判定結果が、非純正品トナーが充填されたトナーカートリッジ４０である場合に、テスト用のパターン画像が形成された記録媒体を、画像形成部１０２に印字出力させる。 - 特許庁

To provide a method for activating a gas diffusion electrode by which the initial performance is improved, the performance is improved with the operating time, and the service life is stably prolonged and to furnish a testing method by which the quality of the electrode is confirmed in a short time, and the service life is predicted.例文帳に追加

初期性能が優れているとともに、運転時間と共に性能が良くなり、安定した長寿命のガス拡散電極の活性化方法を提供し、また短時間で電極の品質確認と寿命予測を行える試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a durability testing method of coating member and a test device therefor that enable the sufficient simulation of the test condition of a coating member against the working condition of an actual machine, the investigation for more detailed damage mechanism of the coating member, and more accurate life evaluation.例文帳に追加

コーティング部材の試験条件を実機使用条件に十分に模擬することが可能であり、コーティング部材のより詳細な損傷メカニズムの解明と、より高精度な寿命評価とを可能にするコーティング部材の試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a probe card which has a high probe density, a high contact stability with an electric circuit during testing, which can test a wafer, which can execute a large deformation of the probe, and which can rapidly test in a high frequency and to provide the probe card.例文帳に追加

プローブ密度が高く、ウェーハのテストが可能で、プローブの大幅変形を実施可能で、試験中電気回路の間との接触安定性が高く、プローブで高周波テストおよび高速テストが可能なプローブカードの製造方法およびプローブカードを提供する。 - 特許庁