「Reference axis」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

A cross-sectional image generating section generates data of a plurality of cross-sectional images corresponding to a plurality of cross sections substantially orthogonal to a predetermined reference axis, from a volume data file.例文帳に追加

断面画像発生部は、ボリュームデータファイルから所定の基準軸に略直交する複数の断面にそれぞれ対応する複数の断面画像のデータを発生する。 - 特許庁

A reference plane 7 passing a rotary axis of a backup roll 3 and formed along the ejecting direction of a down stream side lip part 21a forming a discharge port 24 is assumed.例文帳に追加

バックアップロール３の回転軸３１を通り、吐出口２４を形成する下流側リップ部２１ａの突出方向に沿って形成される基準面７を想定する。 - 特許庁

The behavior estimating part calculates a second oscillation angle θ2 around a reference tie-rod axis (y) of the first ball joint 24 under utilization of the calculated third oscillation angle θ3.例文帳に追加

挙動推定部は、算出された第３揺動角θ３を利用して、第１ボールジョイント２４の基準タイロッド軸ｙ回りの第２揺動角θ２を算出する。 - 特許庁

A tool length correction vector T is added to a tool tip position Pt commanded on the reference coordinate system, so that a straight axis machine coordinate position Pm can be calculated.例文帳に追加

基準座標系上で指令された工具先端点位置Ｐｔにそのときの工具長補正ベクトルＴを加算し、直線軸機械座標位置Ｐｍを求める。 - 特許庁

To provide a scanning optical system in which ghost light is sufficiently eliminated without setting the shift value and the tilt value of the reference axis of the optical plane of a lens face large.例文帳に追加

レンズ面の光学面基準軸のシフト量やチルト量を大きく設定しなくてもゴースト光を十分に除去することができる走査光学系を、提供する。 - 特許庁

When a specific direction Al is a reference, the state of the magnetic powder 5 that an easy axis 6 in the crystal of magnetic powder 5 is set within ±30° is defined as a satisfactory oriented state.例文帳に追加

特定方向Ａ1を基準としたときに磁性粉５の結晶における磁化容易軸６が±３０°以内に入っているものを良配向状態と定義する。 - 特許庁

The optical element has, in the surface continuous with the optically effective surface 1a, a first reference surface 1s whose direction of the normal approximately coincides with the direction of the optical axis of the optically effective surface.例文帳に追加

光学有効面１ａと連続する面内に、その法線の方向が光学有効面の光軸の方向と略一致する第１の基準面１ｓを有する。 - 特許庁

In addition, the instrument again scans the two-dimensional plane by moving a reference light mirror 132 along its optical axis and changing the acquiring depth of the tomogram information of the tissue 10 to be measured.例文帳に追加

さらに、参照光ミラー１３２を光軸方向に移動し、被測定組織１０の断層情報を取得する深度を変えて、再度２次元平面の走査を行う。 - 特許庁

Then, a spot light is emitted from a spot light source 11, arranged on the optical axis of the lens 13A used as the reference, and the locus of the spot light source 11 is fixed at a single point.例文帳に追加

次に、基準となるレンズ１３Ａの光軸上に配置されたスポット光源１１からスポット光を出射させ、スポット光源１１の軌跡を一点に固定する。 - 特許庁

When the focusing inspecting unit 10 is set on the photographic film setting surface of a film carrier, respective parallel line patterns 22 to 25 are inclined with reference to the printing optical axis.例文帳に追加

ピント調整検査器１０を、フイルムキャリアの写真フイルムセット面にセットすると、各平行線パターン２２〜２５が焼付光軸に対して傾斜した状態になる。 - 特許庁

Two kinds of reference axes which controls the same control axis are utilized, and switching from one to the other, and vice versa is made at a right time.例文帳に追加

同一の制御軸を制御する２種類の基準軸を利用し、一方から他方へ、他方から一方への切り替えを適切なタイミングにて切り替えることが出来るようにした。 - 特許庁

Based on the stored data of the i-th and (i+1) th lines and an input reference value Lm, a motion path is obtained, and the motion amounts of the controlled axis are output (S8 to S10).例文帳に追加

記憶したｉ行とｉ＋１行のデータ及び入力される基準値Ｌｍに基づいて、移動経路を求め制御軸の移動量を出力する（S8〜S10）。 - 特許庁

The sample stage 15 is driven in the vertical direction (the Z-axis direction) with reference to the surface of the sample block 11 in order to set the thickness of a thin sample which is cut off.例文帳に追加

試料ステージ１５は、切り取られる薄片試料の厚さを設定するため、試料ブロック１１の表面に対して垂直方向（Ｚ軸方向）に駆動される。 - 特許庁

The light axis of the microscope mirror body is tilted orthogonally downward with a surface, which is vertical with respect to a line Y connecting the center of the motion of the microscope control head and the center of gravity, as reference.例文帳に追加

顕微鏡鏡体光軸は、顕微操作ヘッドの首振り中心及び重心を結ぶ線Ｙに垂直な面を基準として斜め下方に傾斜する。 - 特許庁

More specifically, viewing the coating apparatus 1 from above, the blowout direction of the blowout slit 41a is deflected clockwise by 27° relative to a first reference axis L1.例文帳に追加

具体的には、塗装装置１を平面視した場合に、吹出スリット４１ａの吹出スリット方向は、第一基準軸Ｌ１に対して、時計回りに２７°だけ偏向されている。 - 特許庁

The day and night sighting instrument is divided into an infrared ray camera section and an eyepiece section so that the infrared ray camera section is exchangeable with a visible objective section employing the surface of engagement as the reference of an optical axis.例文帳に追加

赤外線カメラ部と接眼レンズ部とに分割し、嵌合面を光軸基準として赤外線カメラ部を可視対物レンズ部と交換できるようにした。 - 特許庁

The medical information processor 10 moves the optimal time axis about all samples in each cluster by using the representative value as a reference, and converges the results.例文帳に追加

医療情報処理装置１０は、代表値を基準として、各クラスター内の全てのサンプルについて最適な時間軸の移動を行い、その結果を、収束させる。 - 特許庁

As a result, as a second multiple light source formed by a second optical integrator 8, an annular light source or a plurality of light sources decentered from the reference optical axis are formed.例文帳に追加

その結果、第２オプティカルインテグレータ（８）により形成される第２多数光源として輪帯状の光源または基準光軸から偏心した複数の光源が形成される。 - 特許庁

Furthermore, an autocollimator 14 for measuring the rotational angle of the interferometer 10 about the Y axis is arranged at a position where the autocollimator 14 faces the angle reference mirror 13 from the X direction.例文帳に追加

また、干渉計１０のＹ軸回りの回転角度を測定するためのオートコリメーター１４が角度参照ミラー１３をＸ方向から臨む位置に配置されている。 - 特許庁

A pixel pattern having a diffraction grating formed by arranging grating lines directed at the azimuth angle θ to an X axis is allocated to a pixel positioned at the reference point P.例文帳に追加

基準点Ｐに位置する画素には、Ｘ軸に対して方位角θをなす方向を向いた格子線を配置してなる回折格子を有する画素パターンを割り付ける。 - 特許庁

Magnification in the prescribed direction of the divided region and an inclination 415, with respect to a prescribed axis are computed, based on the change degree of the interpolation function in the reference position.例文帳に追加

そして、基準位置における補間関数の変化度合いに基づいて、区画領域の所定方向の倍率、所定軸に対する傾き４１５を演算する。 - 特許庁

A roughness of the coarse surface of the dimming part of a vehicular lighting tool is so set that light is dimmed for irradiation to a luminosity with light distribution characteristics on a reference axis of the cover between 4.0 to 25.0 cd.例文帳に追加

この車両用灯具の減光部の粗面の粗さはカバーの基準軸上の配光特性が4.0cd〜25.0cdの明るさに減光されて出射されるようにしてある。 - 特許庁

It is preferable that the chamfering reference jig can change a separation distance between the pin axis extended line in such a form and the normal direction of the setting surface as required.例文帳に追加

また、面取り基準治具は、上記形態のピンの軸延長線と設定面の法線方向の離隔距離を、適宜に変更可能とすることが好適である。 - 特許庁

The lens to be inspected is turned by 90° about its optical axis, it is fringe-scan measured at a position of 180° with reference to the position of 0°, and the result of its measurement is Zernike-coefficient developed.例文帳に追加

更に、被検レンズを光軸中心に９０°回転し、０°位置に対する１８０°位置でのフリンジスキャン測定し、その測定結果をツェルニケ係数展開する。 - 特許庁

While jetting air from the air jet nozzle 25 to the reference inner peripheral surface 34a of the reference ring 34, the spindle 22 is rotated around the rotary axis O3 with a rotary radius R22, and the air jet nozzle 25 is oriented in the normal line direction of the reference inner peripheral surface 34a by rotating the spindle 22.例文帳に追加

エア噴射ノズル２５から基準リング３４の基準内周面３４ａにエアを噴射しつつ、主軸２２を旋回軸線Ｏ３を中心として旋回半径Ｒ２２で旋回するとともに、主軸２２を回転させてエア噴射ノズル２５を基準内周面３４ａの法線方向に指向する。 - 特許庁

A reticle microscope (observation area 52RA, 52RB) is used to successively observe a plurality of mark pairs on a reticle R and a pair of reference marks on a reference mark plate on a wafer stage, and to measure a positional difference of the respective marks to the reference mark while it moves on a reticle stage RST in Y-axis direction.例文帳に追加

これによれば、レチクルステージＲＳＴをＹ軸方向に移動しながら、例えばレチクルＲ上の複数のマーク対とウエハステージ上の基準マーク板上の一対の基準マークとを、レチクル顕微鏡（観察領域５２ＲＡ、５２ＲＢ）を用いて、順次観察し、各マークの基準マークに対する位置誤差を計測する。 - 特許庁

Furthermore, by setting a spot where the reference optical axis and the detecting surface 61 of an image pickup device 6 are intersected as a reference position, a lens adjusting part adjusts the objective 2 so that the condensing point of reflected light (reflected light 35 from the objective) from the objective 2 used for photographing by the image pickup device 6 may be aligned with the reference position.例文帳に追加

さらに、この基準光軸と撮像装置６の検出面６１との交わる箇所を基準位置とし、レンズ調整部が、上記撮像装置６に撮影された上記対物レンズ２の反射光（対物レンズ反射光３５）の集光点と上記基準位置とを一致するように、上記対物レンズ２を調整する。 - 特許庁

A face recognition processing is performed for an image captured by a camera 1, and if a plurality of face images are included in the image, a rotation angle of an axis of each face image relative to an axis as a reference in the image captured by the camera 1 is detected.例文帳に追加

カメラ１が撮影した画像に対して顔認識処理が実行され、複数の顔画像が含まれている場合には、各顔画像の軸の、カメラ１が撮影した画像において基準とされる軸に対する回転角度が検出される。 - 特許庁

A state shown in the figure in which a lid 12 is opened by 90° around an X axis with respect to a main body 11 and a perpendicular of a display unit 32 is in the same direction as the optical axis of a CCD 41 is a reference state in photographing.例文帳に追加

蓋部１２が、本体部１１に対してＸ軸を中心としてほぼ９０度起こした状態にあり、かつ、表示部３２の垂線がCCD４１の光軸と同じ方向にある図５の状態が、撮影時の基準の状態とされる。 - 特許庁

Namely, in an optional cross-section including a center axis 7 of the corrugation damper, the shape of the cross-section in the principal part of the corrugation 4 is made to be perpendicular to the cross-section and rotation symmetrical to an axis included in a reference surface of the corrugation.例文帳に追加

すなわち、コルゲーションダンパの中心軸７を含む任意の断面において、コルゲーションの主要部における該断面の形状が、該断面に垂直であってコルゲーションの基準面に含まれる軸について回転対称となるようにする。 - 特許庁

When an average value of the thickness of the well layer is determined from the three points P1, P2, and P3 on the axis Ax with reference to Fig. 12, the values of average thickness D_W1, D_W2, and D_W3 of the well layer increase uniformly on the axis Ax.例文帳に追加

図１２を参照しながら説明された井戸層の厚さの平均値を軸Ａｘ上の３点Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３で求めると、井戸層の平均厚さＤ_Ｗ１、Ｄ_Ｗ２、Ｄ_Ｗ３の値は、軸Ａｘ上で単調に増加している。 - 特許庁

A search axis learning unit 31 generates a search axis used as a reference for presenting content, which is determined by a characteristic quantity of content and history of reproduction of content by the user or evaluation of content by the user.例文帳に追加

検索軸学習部３１は、コンテンツを提示する基準となる検索軸であって、コンテンツの特徴量およびユーザによるコンテンツの再生の履歴またはユーザのコンテンツに対する評価により定められる検索軸を学習によって生成する。 - 特許庁

The pile hole 14 is formed to have the enlarged conical bottom part 16 following by the lower end 15a of the axis part 15 of the pile hole extending below the ground 12, and the lower end 15a of the axis part 15 of the pile hole 14 (the upper edge 17a of the enlarged bottom part 16) is defined as a pile-hole reference line 20.例文帳に追加

地面１２から杭穴軸部１５の下端１５ａに続いて円錐形の拡底部１６を形成した杭穴１４を形成し、杭穴１４の軸部１５の下端１５ａ（拡底部１６の上縁１７ａ）を杭穴基準線２０とする。 - 特許庁

By arranging an objective lens so as to form a predetermined angle between the reference axis of the device and the optical axis of the objective lens, there are corrected third and fifth coma aberrations caused by decentering between the lens groups of the aberration correction optical system.例文帳に追加

装置の基準軸と、対物レンズの光軸とが所定の角度をなすよう対物レンズを配置することによって、収差補正光学系のレンズ群間の偏芯により発生する３次のコマ収差と５次のコマ収差の補正を行う。 - 特許庁

And, in the case the optical axis of the projection optical system is shifted from a reference axis drawn from the center of an original image formed by the image forming element to the center of the projected image, the light within a detection range set around the light receiving area is received.例文帳に追加

そして、投射光学系の光軸が、画像形成素子に形成された原画像の中心から投射画像の中心に至る基準軸に対してシフトしている場合に、受光周辺に設定された検出範囲からの光を受光させる。 - 特許庁

While a game is carried out, the entertainment device sets a value in a first parameter according to the angle of inclination of operating shafts 31b, 31a round a predetermined reference axis O (Step 1007), and sets a value in a second parameter according to the rotating angle round a standard axis (Step 1010).例文帳に追加

ゲーム実行中、エンタテインメント装置は、予め定めた基準軸線Ｏ周りの操作軸３１ｂ,３１ａの傾斜角度に基づき、第一パラメータに値を設定し(Step1007)、規準軸線周りの回転角度に基づき、第二パラメータに値を設定する(Step1010)。 - 特許庁

Regarding the microscope, an abutting member 20 which is made movable in the optical axis direction, with reference to an objective optical system 4, and also, which can be positioned in a desired position in the optical axis direction is arranged on the leading end part of the objective optical system 4 arranged adjacent to the sample A.例文帳に追加

試料Ａに近接配置される対物光学系４の先端部に、該対物光学系４に対して、光軸方向に移動可能かつ、所望の光軸方向位置に位置決め可能な突当て部材２０を備えることを特徴とする。 - 特許庁

Also, the plurality of terminal pins 106 include a pair of terminal pin groups 161 and 162 symmetrically arranged with a virtual plane 153 including an optical axis 151a of the light emitting part 151 and an optical axis 152a of the light receiving part 152 as a reference.例文帳に追加

また、複数の端子ピン１０６は、発光部１５１の光軸１５１ａおよび受光部１５２の光軸１５２ａを含む仮想平面１５３を基準として、対称に配置された一対の端子ピン群１６１、１６２を含んでいる。 - 特許庁

A recording surface Sxy is set on a XY plane in an XYZ three-dimensional coordinate system, a projection surface Syz is set on a YZ plane, a reference axis R is set on a Z axis and a three-dimensional structure M as an original image of the stereoscopic pattern is set.例文帳に追加

ＸＹＺ三次元座標系におけるＸＹ平面上に記録面Ｓｘｙ、ＹＺ平面上に投影面Ｓｙｚ、Ｚ軸上に基準軸Ｒを設定し、立体模様の原画像となる三次元構造体Ｍを設定する。 - 特許庁

A three-dimensional structure M as an original image of the stereoscopic pattern is set by setting a recording surface Sxy on an XY plane of an XYZ three-dimensional coordinate system, a projection surface Syz on a YZ plane, and a reference axis R on a Z axis.例文帳に追加

ＸＹＺ三次元座標系におけるＸＹ平面上に記録面Ｓｘｙ、ＹＺ平面上に投影面Ｓｙｚ、Ｚ軸上に基準軸Ｒを設定し、立体模様の原画像となる三次元構造体Ｍを設定する。 - 特許庁

Then, a reference position mark 9 is formed in the center of the substrate placing stand 8, and by detecting the travel distance of the gantries 3L-3R to the reference position mark 9, the displacement of these gantries 3L-3R in an X axis direction can be detected.例文帳に追加

また、基板載置台８の中央部に基準位置マーク９が設けられ、ガントリ３Ｌ，３Ｒのこの基準位置マーク９への移動距離を検出することにより、これらガントリ３Ｌ，３ＲのＸ軸方向の位置ずれが検出される。 - 特許庁

This arrangement makes the optical axis of the reference beam 23b and the signal light 23d common, which eliminates the need to carry out positioning of the reference beam 23b and the signal light 23d mechanically, and gives the benefit of the optical system being simplified.例文帳に追加

これにより、参照光２３ｂと信号光２３ｄの光軸が共通となることにより、参照光２３ｂと信号光２３ｄの位置合わせを機械的に行う必要がなくなり、光学系が簡単になるという効果が得られる。 - 特許庁

The controller 50 previously stores reference data based on image data of a detection area A1 in the RAM 56, and determines the existence of the misalignment of the optical axis by comparing detection data based on the image data of the detection area A1 with the reference data.例文帳に追加

ＣＰＵ５０は、予め検出エリアＡ１の画像データに基づく基準データをＲＡＭ５６に記憶しておき、判定時に、検出エリアＡ１の画像データに基づく検出データを基準データと比較することで、光軸のずれの有無を判定する。 - 特許庁

To provide a marking jig, capable of easily fixing a target plate onto a deck plate without the occurrence of displacement afterward, in the case of copying a reference mark to be the reference axis of a building from a lower floor to a higher floor through the use of laser light.例文帳に追加

建物軸線の基準になる基準墨を、レーザー光を用いて下階から上階に写し取る場合に、ターゲット板をデッキプレートの上に固定することが容易であり、しかも後でズレが生じないような、墨出し治具を提供する。 - 特許庁

The first reference section formed on any layer among a plurality of the layers is detected by irradiating a plurality of the layers with first light transmittable through these layers and the second reference section is formed by irradiating the position on the optical axis of the first light with second light.例文帳に追加

複数の層を透過し得る第１の光を照射することにより、複数の層のいずれかの層に形成された第１の基準部を検出し、第１の光の光軸上の位置に第２の光を照射して第２の基準部を形成する。 - 特許庁