Sampleを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 30668件
To one of electrodes of a sample switching device 1 in an open circuit state, a direct current voltage equivalent to the rated voltage peak value of the sample switching device is applied.例文帳に追加
開路状態の供試開閉装置1の電極の片側に供試開閉装置定格電圧波高値相当の直流電圧を印加する。 - 特許庁
To provide a sample holder for effectively finding an opening of a substrate covered with a film for holding a sample by an optical microscope.例文帳に追加
試料保持用の膜により覆われた基板の開口部を、光学顕微鏡により効率良く探し出すことのできる試料保持体を提供する。 - 特許庁
This device can be applied for a device measuring distortion inside a sample or measuring other properties or attributes of the sample for example such as temperature.例文帳に追加
本装置は、試料内の歪みを測定するための或いは例えば温度のような試料の他の特性又は属性を測定するための機器とすることができる。 - 特許庁
To provide a test strip with a sample-receiving chamber having a novel flared portion that terminates, in a sample-receiving opening.例文帳に追加
本発明は、試料受入開口部中で終結する、新規のフレア状に形成された部位を持つ、試料受入チャンバーを含む、試験片の提供を目的とする。 - 特許庁
METHOD FOR SPECIFYING MANUFACTURING ABNORMAL PART IN MANUFACTURED ABNORMAL SAMPLE DUE TO CCM AND METHOD FOR DISPLAYING MANUFACTURED ABNORMAL PART IN MANUFACTURED ABNORMAL SAMPLE DUE TO CCM例文帳に追加
CCMによる作製異常サンプル中の作製異常分の特定方法及びCCMによる作製異常サンプル中の作製異常分の表示方法 - 特許庁
To provide a sample measuring device capable of measuring the mass of an evaporating vaporizing component in a sample such as soil, continuously and accurately in each classified kind.例文帳に追加
土壌等の試料中の蒸発気化成分の質量を種類別に連続的かつ正確に測定することができる試料測定装置を提供する。 - 特許庁
Also, the receiver is provided with a decoder 116 which responds to a data group, decodes a data sample in the data group and outputs the decoded data sample.例文帳に追加
また、受信機は、データ・グループに応答して、当該データ・グループ内のデータ・サンプルをデコードし、デコードしたデータ・サンプルを出力するデコーダ(116)も備えている。 - 特許庁
To provide a fixing method which can be used to fix a sample in an electron beam of a type in which a voltage is applied to the sample.例文帳に追加
半導体ウエハなどの試料に電圧を印加する方式の電子線装置において、試料に印加する電圧を試料の固定にも利用するようにすること。 - 特許庁
SAMPLE MANAGEMENT SYSTEM, METHOD, AND PROGRAM, SAMPLE USED FOR THIS, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM FOR RECORDING THIS例文帳に追加
標本管理システムおよびこれに用いられる標本、標本管理方法ならびに標本管理プログラムおよびこれを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
To reduce cost necessary for liquid sample transfer, to improve transfer accuracy, and to transfer accurately a very small quantity of the liquid sample.例文帳に追加
液体試料移し替えに掛かる費用を低減するとともに、移し替え精度を向上し、微少量の液体試料を精度良く移し替えることを可能にする。 - 特許庁
A ^1H spin of the contact liquid thereby diffuses gradually from the surface to the sample contacting therewith, after the ^1H contained in the sample is relaxed.例文帳に追加
従って、試料に含まれる^1Hが緩和した後、接触液の^1Hスピンをそれに接触している試料の方に、表面から徐々に拡散させて行く。 - 特許庁
To obtain not only the image data of reflected lights from a sample but also the image data of the transmitted lights of the sample by suppressing the direction of any pseudo defect.例文帳に追加
疑似欠陥の検出を抑制し、かつ標本からの反射光の画像データだけでなく、標本の透過光の画像データをも取得すること。 - 特許庁
A sample introduced by a sample introduction part 3 is separated into each component by a separation column 6, and mass spectrometry thereof is executed by a mass spectrograph 12.例文帳に追加
試料試料導入部3で導入された試料は分離用カラム6で成分ごとに分離され、質量分析器12で質量分析される。 - 特許庁
To provide an apparatus for very easily sampling and measuring gas discharged from the surface of a sample without burdening any load on the sample.例文帳に追加
試料に負担をかけることなく、かつ極めて簡便に、試料表面から放出されるガスを精度高く採取および測定する装置を提供する。 - 特許庁
In this scratch machining method, a work (a sample 1) is fixed to a support bed 2, a polishing turning tool is confronted with the sample 1, and a magnetic polishing liquid 4 is supplied to a narrow gap between them.例文帳に追加
支持台2に加工対象(試料1)を固定し、試料1には研磨バイト3を対面させ、両者の狭間へ磁気研磨液4を供給する。 - 特許庁
To provide a vacuum processing apparatus having a function for removing particles on the surface of the sample stage in order to improve the yield of the sample being processed.例文帳に追加
処理対象の被処理試料の歩留まりを向上させるため、試料台表面の異物除去機能を備えた真空処理装置を提供する。 - 特許庁
Consequently, the time required for changing the sample is substantially reduced, and the replacement of the sample is carried out with an easy operation.例文帳に追加
これにより、試料交換に要する時間を大幅に短縮し簡単な操作で試料の置き換えを行なうことの出来きるファントムを提供できる。 - 特許庁
The magnetic measurement device capable of exciting the sample and also measuring the physical properties of the sample is provided with a device for controlling the temperature distribution.例文帳に追加
試料を励磁することができ、かつ前記試料の物性を測定する磁気的測定装置において、前記試料の温度分布を制御する装置を備える。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a sample suitable for evaluating two-dimensional carrier distribution by a scanning probe microscope, wherein the sample is used for measuring the two-dimensional carrier distribution.例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡による2次元キャリア分布の評価に適した2次元キャリア分布測定用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁
To provide a solid shape evaluation apparatus capable of nondestructively and speedily evaluating the shape of a sample even in the case that the sample has a complicated solid shape.例文帳に追加
試料が複雑な立体形状を有する場合にも非破壊かつ迅速に形状評価が可能な立体形状評価装置を提供する。 - 特許庁
To provide a sample analyzer and a sample analyzing method for reducing a product cost in comparison with a conventional analyzer and a conventional method, and dealing with many measurement items.例文帳に追加
従来に比して製品コストを低減しつつ、多くの測定項目に対応可能な検体分析装置及び検体分析方法を提供する。 - 特許庁
The focus of the optical device for inspecting a sample or measuring the physical quantity of the sample and the focus of an autofocus mechanism are matched with the reference system.例文帳に追加
試料を検査し又は試料の物理量を測定する光学装置の焦点及びオートフォーカス機構の焦点を基準系に整合させる。 - 特許庁
To provide a suction cup for sucking a target sample with relatively large suction force and reducing the damage to the target sample to be sucked.例文帳に追加
比較的高い吸着力で対象試料を吸着しつつ、吸着する対象試料の損傷を抑制する吸着盤を提供する。 - 特許庁
The elastic members 14 and 17 press the sample container 9 therebetween by pressure application due to the fixing member 11, whereby the holding part 10 holds the sample container 9.例文帳に追加
そして、固定部材11による加圧により、弾性部材14,17が試料容器9を押さえつけて保持部10が試料容器9を挟持する。 - 特許庁
To provide a simple linearly driven type sample cut-face measuring method and instrument of a small size capable of obtaining satisfactory sample face information.例文帳に追加
簡便で、小型であり、しかも良好な試料面情報を得ることができるリニア駆動式試料切削面計測方法及び装置を提供する。 - 特許庁
To provide a laser ablation apparatus enabling the sequential efficient laser ablation of a plurality of samples, a laser ablation sample analyzing system and a sample introducing method.例文帳に追加
複数の試料を順次効率良くレーザアブレートすることができるレーザアブレーション装置、レーザアブレーション試料分析システム及び試料導入方法を提供する。 - 特許庁
The inspection method includes the step of irradiating a sample with an X-ray beam focused to define a spot on the surface of the sample.例文帳に追加
検査方法は、サンプルの表面上においてスポットを画定するべく合焦されるX線ビームを使用してサンプルを照射する段階を含んでいる。 - 特許庁
To provide a sample holder capable of freezing a wet sample of a flat shape difficult in shape presevation under high pressure, and a high- pressure freezer including the holder.例文帳に追加
形状保持が困難な、扁平な形状の含水試料を高圧下で凍結することが可能な試料ホルダ、及び該ホルダを含む高圧凍結装置。 - 特許庁
A rectangular parallelepiped-shaped support hole 32 is formed at the tip of the sample holder body 31, and the rectangular parallelepiped- shaped sample base 33 is set in this hole.例文帳に追加
試料ホルダー本体31の先端部に、直方体状の支持穴32が形成されており、この穴に直方体状の試料ベース33がセットされている。 - 特許庁
To provide an X-ray image magnifying device capable of making an efficient survey of the observation part of a sample and observing the sample with high magnification.例文帳に追加
試料の観察部位の探査を効率よく行うと共に、高倍率で試料の観察を行うことが可能なX線像拡大装置を提供すること。 - 特許庁
To provide an element measuring instrument and an element measuring method smoothly separating elements without breaking a sample, capable of easily and accurately re-constructing three-dimensional element distribution of the sample.例文帳に追加
試料が破壊されることなくスムーズな元素の離脱を可能とし、試料中の3次元的原子分布を容易且つ正確に再構成することができる。 - 特許庁
The method determines that, if the lower signal than that of a control sample is detected, the target nucleic acid is contained in the sample.例文帳に追加
対照試料と比べ、シグナルが低く検出される場合に被検試料中に標的核酸が含まれると判定する標的核酸の検出方法である。 - 特許庁
To provide a barrier membrane type gas atmosphere sample holder that can incline about two axes, eliminates operational failure due to clinging between components or the like, and has a high repeatability of sample positions.例文帳に追加
2軸傾斜可能で、部品同士のカジリ等による動作不良が無く、試料位置再現性の高い隔膜型ガス雰囲気試料ホルダを提供する。 - 特許庁
To provide a plasma treatment system and method therefor capable of applying temperature control to a stage and applying plasma treatment to a sample depending on the process of the sample to be treated.例文帳に追加
処理される試料のプロセスに応じて、試料台の温度制御を行いプラズマ処理することのできるプラズマ処理装置及び方法を提供する。 - 特許庁
A delaying means 12 delays the first sample/hold signal SH1 by the time of the second hold length, and generates a delayed sample/hold signal SHd.例文帳に追加
遅延手段12は、第1のサンプルホールド信号SH1を、第2のホールド長の時間分遅延して遅延サンプルホールド信号SHdを生成する。 - 特許庁
Based on the letter sample data stored in the memory means 11, a letter sample (a stroke line C and a linking line S)is displayed in a display means 2.例文帳に追加
そして、当該記憶手段11に記憶された文字見本データに基づいて表示手段2に文字見本(字画線Cおよび気脈線S)が表示される。 - 特許庁
The discharging container 104 is connected to a sampling line 101 through which the sample of a raw material of cement 102 is conveyed, in order to introduce the sample into the discharging container 104.例文帳に追加
放電容器104には、セメント原料102のサンプルが移送されるサンプリングライン101と接続され、放電容器104に導入する。 - 特許庁
The foreign matter A attached on the inspection surface of the sample B is detected based on the intensity variation of the X-ray beams L' reflected on the inspection surface of the sample B.例文帳に追加
そして、試料Bの検査面で反射したX線ビームL'の強度変化に基づき、試料Bの検査面に接触した異物Aを検出する。 - 特許庁
A plurality of processing probes 2 having a tip 21 for processing a sample are arranged side by side on the side of a probe 1 for measuring very fine projecting and recessed parts on the surface of the sample.例文帳に追加
試料表面の微細な凹凸を計測するプローブ1の側方に、試料加工用チップ21をもつ加工用プローブ2を複数個並設した。 - 特許庁
After a patent has been granted anyone who requests a sample of the material shall be furnished with a sample, even if the patent has been determined or annulled.例文帳に追加
特許が付与された後は,当該特許が消滅し又は無効となっても,材料の試料を請求する何人も資料の分譲を受けることができる。 - 特許庁
As a result of this, the sample can be prevented from coming into contact with part of sample suction device, such as the syringe body, the inner surface of a tube, or the tip of a plunger.例文帳に追加
このためサンプルはシリンジ本体やチューブの内面、プランジャーの先端などのサンプル吸引装置の一部と接触を防止することができる。 - 特許庁
The height position of a sample is determined by an automatic focus function after sample exchange and a difference between this determined height position, and a true eucentric height position is determined.例文帳に追加
試料交換後オートフォーカス機能により試料の高さ位置が求められ、この求められた高さ位置と真のユーセントリックの高さ位置との差が求められる。 - 特許庁
An S is a sample cross-section desired to be obtained by an operator, in Fig. (c), and the sample cross-section S is observed thereafter by a scanning electron microscope or the like.例文帳に追加
図9(c)において、Sはオペレーターが得たかった試料断面であり、この試料断面Sは後で走査電子顕微鏡などで観察される。 - 特許庁
As test preparation, a sample 29 is filled in a cylindrical container 3 having an open face on the upper face, and the upper surface of the sample is smoothed to be substantially flat.例文帳に追加
試験準備として、円筒形で上面に開口面を有する容器3に試料29を充填し、試料29の上面をほぼ平滑に均す。 - 特許庁
A steam blasting reactor 1 is equipped with a digester 2 steam-treating agricultural production wastes, a ball valve 4 and a sample receiver 3 receiving the sample after steam-treated.例文帳に追加
蒸煮爆砕反応装置1には、農産廃棄物を蒸煮処理する蒸煮器2と、ボールバルブ4と、蒸煮処理後の試料を受ける試料受器3とが設けられている。 - 特許庁
The sample image with which the quality of the image can be confirmed is automatically determined at predetermined periods, and the sample image is discharged to an address for discharging different from the other job.例文帳に追加
一定周期毎に画質確認可能なサンプル画像を自動決定し、かつ当該サンプル画像をその他のジョブと異なる排紙先へ排紙する。 - 特許庁
The sample including the fatty acid is brought into contact with γ-Al_2O_3, and thereby the fatty acid is allowed to adhere to γ-Al_2O_3 and removed from the sample.例文帳に追加
脂肪酸を含む試料をγ−Al_2O_3に接触させることによって、脂肪酸をγ−Al_2O_3に吸着させて試料中から除去する。 - 特許庁
To provide a sample carrying and processing system reduced or eliminated in a measurement strain, by improving a flow passage, mixing, suspension and the like for a sample.例文帳に追加
サンプルの流路、混合及び懸濁等を改善することによって測定の歪みを減少又は排除したサンプル搬送処理システムを提供すること。 - 特許庁
As a result, frost will not adhere to the surface of the sample unlike in the conventional cases, and the precise image on the surface of the sample can be observed by using a cantilever.例文帳に追加
この結果、従来のように試料表面に霜が付着することはなく、カンチレバを用いた試料表面の正確な像観察が可能となる。 - 特許庁
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|