「TEST SPECIFICATION」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To realize a test circuit which detects the number of clocks between signals of an operation instruction during measurement, can judge whether an operation specification is satisfied or not, and can detect easily contravention to the operation specification, and a semiconductor memory using the circuit.例文帳に追加

測定中に動作命令の信号間のクロック数を検出し、動作スペックが満たされているか否かを判断でき、動作スペック違反を容易に検出できる試験回路及びそれを用いた半導体記憶装置を実現する。 - 特許庁

The design support server 3 is equipped with a DB which associates and stores classification of a product, information about a sales area and specification information and a DB which associates and stores the specification information and test information.例文帳に追加

設計支援サーバ３は、製品の種別及び販売地域の情報と規格情報を関連付けて記憶するＤＢと、規格情報と試験情報を関連付けて記憶するＤＢと、を備える。 - 特許庁

Use Test File or Run File from the Editor context menu to run the specification file under rspec control, which means that the test follows the specification file options found in the spec.opts file in the spec directory. 例文帳に追加

「エディタ」のコンテキストメニューから「ファイルをテスト」または「ファイルを実行」を使用して、rspec コントロールの下にある仕様ファイルを実行します。 これは、spec ディレクトリ内の spec.opts ファイルにある仕様ファイルオプションに、テストが従うことを意味します。 - NetBeans

To provide a software development support system by which content of a design specification is easily and surely reflected on both of a program as an object for development and a test specification by associating the software development support system with technique of test first.例文帳に追加

テストファーストの手法に対応させることにより、設計仕様書の内容を開発対象としてのプログラム及びテスト仕様書の双方に容易かつ確実に反映させることを可能とするソフトウエア開発支援システムを提供する。 - 特許庁

In a status transition table design support portion 230, a test path generation portion 232 generates a test path including a series of test cases to be executed as a status transition test, based on information accepted by an operation specification information input acceptance portion 231.例文帳に追加

状態遷移表設計支援部２３０では、動作特定情報入力受付部２３１が受け付けた情報に基づいて、状態遷移テストとして実行されるべき一連のテストケースからなるテストパスがテストパス生成部２３２によって生成される。 - 特許庁

To satisfy a specification and to reduce test time of an substandard special test by singly setting a multi-bit mode standardized by JEDEC (Joint Electron Device Engineering Council) so as to simultaneously set a special test mode whicn is not standardized by JEDEC and this multi-bit test mode.例文帳に追加

JEDEC で標準化されているマルチビットテストモードを単独で設定でき、JEDEC で標準化されていない特殊テストモードとこのマルチビットテストモードを同時に設定できるようにして規格を満たすと共に規格外の特殊テストのテスト時間の短縮を図る。 - 特許庁

To provide a test method and a test device for a semiconductor integrated circuit device including a high-speed input/output device, capable of quickly performing high-speed I/O test exceeding 1 GHz by simple board configuration without alteration of test system for each I/O specification.例文帳に追加

高速入出力装置を備えた半導体集積回路装置の試験方法及び試験装置に関し、簡単なボード構成によって迅速に１ＧＨｚを越える高速Ｉ／Ｏのテストを、各Ｉ／Ｏ仕様毎にテスト・システムを変更することなく行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing program debug device capable of reducing wastefulness of a facility when using a semiconductor test program or a semiconductor test device having a different specification.例文帳に追加

仕様が異なる半導体試験装置あるいは半導体試験プログラムを用いる場合に設備の無駄を低減することができる半導体試験用プログラムデバッグ装置を提供すること。 - 特許庁

A pattern matching part matches the test pattern generated from the formal specification with the stored pattern, and inserts the corresponding program code into the test program.例文帳に追加

パターンマッチ部は、形式的仕様から生成されたテストプログラムに対して、格納されているパターンとのマッチングを行い、対応するプログラムコードをテストプログラムに挿入する。 - 特許庁

To accurately and rapidly carry out creating an LSI inspection specification, checking test program specifications between different devices and considering a programming description enabling the shortest test period to be realized.例文帳に追加

ＬＳＩ検査仕様書作成、異機種間のテストプログラム仕様の確認、テスト時間を最短にするプログラミング記述の検討を正確かつ迅速に行うことを目的とする。 - 特許庁

In this test circuit, a determination circuit 13 conducts a function test for determining whether timing in an inclined portion of a waveform in an analogue signal ANS of a measured device is within a specification range or not.例文帳に追加

このテスト回路では、判定回路１３は、被測定デバイスのアナログ信号ＡＮＳの波形の傾斜部分のタイミングが規格範囲内にあるかどうかを判定するファンクションテストを行なう。 - 特許庁

Manufacture process information J1 is transmitted from a manufacture process host 11 to a wafer test host 21 and the wafer test host 21 refers to a correspondence chart 212, and decides a wafer specification code J2.例文帳に追加

製造プロセスホスト１１よりウェハテストホスト２１へ製造プロセス情報Ｊ１を送信し、ウェハテストホスト２１は対応表２１２を参照し、ウェハスペックコードＪ２を決定する。 - 特許庁

To provide a test specification generation device and a program, generating test specifications of a conversion program executing conversion processing imparted with priority order.例文帳に追加

優先順位を付与した変換処理を実行する変換プログラムのテスト仕様書を生成するテスト仕様生成装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory inspection apparatus in which a test can be performed with the minimum specification value of an address cycle by preventing existence of an useless setting period in a test cycle without using a high speed control means by inexpensive and simple circuit constitution.例文帳に追加

安価で簡単な回路構成により、高速な制御手段を用いずに、テストサイクル内に不要な設定期間の存在をなくし、アドレスサイクルの最小仕様値で試験可能な半導体メモリ検査装置を提供する。 - 特許庁

Thereafter, a power supply voltage and a first test signal are supplied from a testing apparatus body through the probe pin to the semiconductor chip A under conditions determined by a specification and a sorting test is implemented.例文帳に追加

その後、試験装置本体からプローブピンを介して半導体チップＡに仕様で定められた条件で電源電圧と第１のテスト信号とを供給し、選別試験を実施する。 - 特許庁

Simultaneously, a power supply voltage and a test signal are supplied to the semiconductor chip B under conditions severer than the conditions determined by the specification and a burn-in test is implemented.例文帳に追加

これと同時に、半導体チップＢに仕様で定められた条件よりも過酷な条件で電源電圧とテスト信号とを供給し、バーンイン試験を行う。 - 特許庁

To constitute so as to agree with a specification and to test an integrated circuit with a very little cost, and to test a lot of circuits requiring little external labor.例文帳に追加

規格に合致しごく僅かなコストで集積回路をテストできるように構成し、また、外部での手間をほとんどかけずにそのような回路を多数、テストできるようにする。 - 特許庁

Then the description data necessary for the operation test are extracted from the design manual file 21 on the basis of the format specification and test specifications for an application are generated by using the extracted description data (step S2).例文帳に追加

次に、書式指定に基づいて設計書ファイル２１から動作テストに必要な記述データを抽出し、抽出された記述データを用いて、このアプリケーション用のテスト仕様書を生成する（ステップＳ２）。 - 特許庁

To provide a method for designing a proper random vibration test specification by finding a shortening rate of a test time by using a peculiar accumulated fatigue calculation method, while applying correspondingly a linear damage rule.例文帳に追加

直線被害法則に準じながらも、独自の蓄積疲労計算方法を用いて試験時間の短縮率を求め、適正なランダム振動試験仕様を設計する方法を得る。 - 特許庁

To provide a built-in self-test device for memory circuit which can test the timing specification such as setup time, hold-time, or the like prescribed for a memory to be tested by using plural timing signals having a prescribed phase difference.例文帳に追加

所定の位相差を持つ複数のタイミング信号を用いて、被試験メモリに規定されるセットアップタイムやホールドタイム等のタイミングスペックの試験を可能にしたメモリ回路用の組込み自己試験装置を提供する。 - 特許庁

A quality judging specification value for an avalanche proof level test carried out as substitution for the PBSOA proof level test for securing a PBSOA proof level is determined based on a sample of the testing objective semiconductor element.例文帳に追加

試験対象半導体素子のサンプルから、ＲＢＳＯＡ耐量を保証するＲＢＳＯＡ耐量試験の代替として行うアバランシェ耐量試験の合否判断の規格値を決定する。 - 特許庁

Further, since, in the EDS file, specification and the content of test are described in association with each other, the content of test are easily obtained.例文帳に追加

さらに、ＥＤＳファイルは、仕様書の部分と、テスト内用を記載した部分とが、互いに対応しながら記載されているので、そのテスト内容が把握しやすい。 - 特許庁

To improve the efficiency in test process control by consistently and continuously executing the work from the preparing and approving work of a test specification to the control of a schedule and the registration of a result.例文帳に追加

テスト仕様書の作成・承認作業からスケジュール管理、成果物の登録に至るまでを一貫性をもって連続的に行ない、テスト工程管理の効率化を図る。 - 特許庁

A semiconductor testing device 100 tests devices 17A, 17B to be measured which are mounted on two test heads by using two kinds of test programs each of which is constituted so as to include a program specification command for specifying a common program.例文帳に追加

半導体試験装置１００は共通プログラムを指定するプログラム指定コマンドを含んで構成された２種類のテストプログラムを用いて２台のテストヘッドに実装された被測定デバイス１７Ａ，１７Ｂを試験する。 - 特許庁

The wafer test host 21 transmits the wafer specification code J2 to an electrical inspection device 22, and the electrical inspection device 22 selects a test program and then executes the electrical inspection.例文帳に追加

ウエハテストホスト２１は電気的検査装置２２へウェハスペックコードＪ２を送信し、電気的検査装置２２はテストプログラムを選定した上で電気的検査を実行する。 - 特許庁

To solve the problem that it is impossible to perform specification of nonconformity spots which aims at failure analysis or test development, and observation of its information by a limited number of terminals, in a test circuit which inputs an expected value to a semiconductor integrated circuit and performs comparison inside.例文帳に追加

半導体集積回路に期待値を入力し内部比較するテスト回路で、不良解析やテスト開発を目的とする不一致箇所の特定や、その情報を限られた端子で観測することができない。 - 特許庁

Facility symbol information extracted from a display device document or the like is extracted, and a test specification of a full-point test and simulation data to be inputted to a display device are automatically generated.例文帳に追加

表示装置ドキュメントなどから抽出した設備シンボル情報を抽出し、全点試験の試験仕様書と表示装置への入力する模擬データを自動生成する。 - 特許庁

The air bag base fabric comprising a synthetic fiber woven fabric is a noncoated air bag base fabric which has not lower than 2 class of hole opening of a test piece in a melt-proof property test measured by a method defined in the specification.例文帳に追加

合成繊維織物からなるエアバッグ基布において、本文中に規定する方法で測定された防融性試験による試験片の穴あきが２級以上であることを特徴とするノンコートエアバッグ基布。 - 特許庁

To enable to appropriately perform an end-product test, electric specification test or the like of a produced semiconductor package without polluting surroundings because only a small amount of solder or the like are removed.例文帳に追加

半田等をわずかしか除去しないので周囲を汚染するようなことがなく、製造された半導体パッケージの最終製品検査、電気的特性試験等を適切に行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor element test method and a test device capable of preventing air discharge during application of a high voltage without using a method of increasing the distance between the electrodes of a semiconductor element or a method of using an expensive prober, when wafer test is performed with the specification maximum voltage.例文帳に追加

ウエハテストで仕様最大電圧の試験を行うときに、半導体素子の電極間の距離を広げる方法や高価なプローバを使用する方法を用いずに、高電圧印加時の空気放電を防止することができる半導体素子試験方法および半導体素子試験装置を提供する。 - 特許庁

Therefore, even though a function block that operates in accordance with a test condition is not set, a test case generating part 131 acquires information about a function block that operates in accordance with the test condition from the function block specification information storing part 111 and can automatically generate a test case in which a plurality of function blocks operate in association with one another.例文帳に追加

このため、試験条件に関連して動作する機能ブロックが設定されていなくても、テストケース生成部１３１は、機能ブロック仕様情報記憶部１１１より関連して動作する機能ブロックに関する情報を取得して、複数の機能ブロックが関連して動作するテストケースを自動的に生成することができる。 - 特許庁

Furthermore, in a plurality of test programs which are described by different programming languages and run for inspecting the same LSI, their respective specification files are compared with each other, whereby the presence or absence of difference between respective test programs can be accurately and rapidly checked.例文帳に追加

また、異なるプログラミング言語で記述され、同一のＬＳＩを検査する複数のテストプログラムそれぞれのスペックファイルを比較することにより、各テストプログラム間に差異があるかどうかを正確かつ迅速に確認することができる。 - 特許庁

The golf club head has a coefficient of rebound bigger than 0.8 under the test condition such as the USGA test condition the specification of which is determined based on Rule4-1e of Appendix II of 'Rules of Golf (for 1998 to 1999)'.例文帳に追加

ゴルフクラブ・ヘッドは更に、「Ｒｕｌｅｓ ｏｆ Ｇｏｌｆ（１９９８〜１９９９年用）」のＲｕｌｅ４−１ｅ， Ａｐｐｅｎｄｉｘ ＩＩに準拠して仕様が定められたＵＳＧＡテスト状況などのテスト状況下で０．８より大きい反発係数を有する。 - 特許庁

This elevator controller is provided with a BKRAM 20 storing program of a site remodelling plan or specification data from the outside and a program part controlling an elevator and a test using test conditions related to the program or data in the BKRAM.例文帳に追加

エレベーターの制御装置において、外部から現地改造案のプログラム又は仕様データを記憶するＢＫＲＡＭと、前記ＢＫＲＡＭ内のプログラム又はデータと関連するテスト条件を使用して、エレベーターの制御とテストを制御するプログラム部を備える。 - 特許庁

By visually editing the input or output object and the input or output information according to operation on test items or a verification order, a test specification and a manual can be created.例文帳に追加

前記入力対象または出力対象と前記入力情報または出力情報を試験項目の操作または検証の順番に従ってビジュアル的に編集していく事によって試験仕様書およびマニュアルを作成することができる - 特許庁

An adhesive force of the adhesive layer for a glass sheet, measured by setting the peeling speed at 5 mm/s according to "test method (method 1) for peeling a tape and a sheet at 180° with respect to a stainless test plate" stipulated on JIS Z0237 specification is 4 cN/25 mm or more and 25 cN/25 mm or less.例文帳に追加

この粘着層は、ＪＩＳ Ｚ０２３７規格に規定される「テープ及びシートをステンレス試験板に対して１８０°に引きはがす試験方法（方法１）」にて剥離速度を５ｍｍ／秒に設定して測定されるガラス板に対する粘着力が４ｃＮ／２５ｍｍ以上２５ｃＮ／２５ｍｍ以下である。 - 特許庁

A test support device 1 acquires format specification indicating a position on which description data necessary for an operation test regulated in accordance with the format of a design manual is set at inputting a design manual file 21 stored in a storage part and generates a format information file 22 (step S1).例文帳に追加

テスト支援装置１は、記憶部に格納されている設計書ファイル２１が入力されると、この設計書の書式に応じて規定される動作テストに必要な記述データが設定されている位置を示す書式指定を取得し、書式情報ファイル２２を生成する（ステップＳ１）。 - 特許庁

The specification of the apparatus for the characteristic test, the selection of the characteristic test, and the input and output used for the input of input values are performed by a graphical user interface of a personal computer 4 and the decision of the results meeting the input values is also displayed on the screen of the personal computer 4.例文帳に追加

特性試験の対象装置の特定、特性試験の選定および入力値の入力に用いる入出力をパソコン４のグラフィカルユーザインターフェースによりおこない、入力値に応じた結果の判定もパソコン４の画面に表示する。 - 特許庁

The augmentation specification specifies: (a) a function to be augmented, (b) the parameter of a function to be tested, (c) a test to be applied to the specified parameter, and (d) modification to be executed to the behavior of the function when the specified test is not satisfied by the specified parameter.例文帳に追加

増補指定は、（ａ）増補される機能、（ｂ）テストされる機能のパラメータ、（ｃ）指定されたパラメータに適用されるテスト、および（ｄ）指定されたテストが指定されたパラメータによって満足されない場合に機能の挙動に対して実行される変更を指定する。 - 特許庁

To provide a material property specification method of an elastoplastic material by an indentor indentation test capable of specifying highly accurately a material property (for example, yield stress σ_Y) of a metal by a nondestructive test, even in the case of a metal whose work-hardening exponent is not single.例文帳に追加

加工硬化指数が単一でない金属であっても、非破壊試験により金属の材料物性（例えば降伏応力σ_Ｙ）を、高い精度で特定することができる圧子押込み試験による弾塑性材料の材料物性特定方法を提供する。 - 特許庁

Classes includes a procedure class, a test class, a measurement class, a datapoint class, a parameter class, a DUT (data use technology) class, a test system class, a specification class, a run procedure class, a result class, a plug-in class, an exec class, as well as other classes.例文帳に追加

クラスは、プロシージャクラス、試験クラス、測定クラス、データポイントクラス、パラメータクラス、ＤＵＴクラス、テストシステムクラス、仕様クラス、起動プロシージャクラス、結果クラス、プラグインクラス、ｅｘｅｃクラス、およびその他のクラスを含む。 - 特許庁

This test mode setting circuit for setting into a test mode by an combination of input voltages to a plurality of IO cells is provided with a special IO cell of which the threshold voltage is heightened above the H-level input voltage of the standard IO cell registered in its specification.例文帳に追加

複数のＩＯセルへの入力電圧の組み合わせでテストモードへと設定するテストモード設定回路において、閾値電圧を仕様書に記載された標準ＩＯセルＨレベル入力電圧よりも高く設計した特殊ＩＯセルを設ける。 - 特許庁

To achieve efficient automatic software test by extracting a true error image from real images inconsistent with correct images even when a specification change occurs.例文帳に追加

仕様変更が発生しても正解画像と実画像と不一致なものから真の誤り画像を抽出することにより効率的なソフトウェアの自動試験を可能とさせる。 - 特許庁

This fishline comprises a polyvinylidene fluoride-based resin monofilament and is characterized in that tensile strength retention measured by a scratch test method explained in the present specification is ≥70%.例文帳に追加

本発明の釣糸は、ポリ弗化ビニリデン系樹脂モノフィラメントからなる釣糸であって、本分中で説明する擦過試験法で測定した引張強力保持率が７０％以上であることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a method of finding an accurate plane strain fracture toughness value of low alloy steel such as that in a turbine rotor, using a test piece remarkably smaller than a conventional specification.例文帳に追加

タービンロータなどの低合金鋼の正確な平面ひずみ破壊靭性値を、従来の規格よりも相当小さな試験片により求める方法を提供する。 - 特許庁