「TEST SPECIFICATION」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

In the bit level test, a rough time stamp about transition in the signal is measured (122), and the measured rough stamp time is compared with an expected time stamp to determine whether the device satisfys a specification or not (124).例文帳に追加

ビット・レベル試験は、信号における遷移に関する粗タイムスタンプを測定し（１２２）、測定された粗タイムスタンプを期待タイムスタンプと比較してデバイスが仕様を満足するか否かを判定する（１２４）ことを含む。 - 特許庁

The test bench is automatically generated by retrieving and then connecting a verifying device based upon port information of a DUT only through DUT specification and processing an unconnected port.例文帳に追加

ＤＵＴ指定のみで、ＤＵＴのポート情報を元に検証装置の検索と接続、そして、未接続ポートの処理を行いテストベンチを自動生成を行う。 - 特許庁

An inspection objective system 2, in which an interface circuit of an IEEE1394 specification is mounted, is connected to an emulator 10 included in the inspection device 1, and inspection processing is started when a test program on the system 2 side is started.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４規格のインターフェース回路を搭載した検査対象のシステム２と、検査装置１に含まれるエミュレータ１０とを接続して、システム２側のテストプログラムの起動により検査処理が開始される。 - 特許庁

A decision part 507 decides the acceptance or non-acceptance of the test result based on information supplied from the score calculation part 503, the position specification part 504 and the point of difference detection part 506.例文帳に追加

判定部５０７は、スコア算出部５０３、位置特定部５０４、および相違点検出部５０６から供給される情報に基づいて、テスト結果のOKまたはNGの判定を行う。 - 特許庁

To provide a test water feeder capable of adopting a novel small and lightweight water quality device having specification of a small sample water amount, without increasing a loss in a pipe, a vapor phase trap, and without generating a problem such as a measuring lag.例文帳に追加

配管損失や気相トラップの増大、測定遅れ等の問題を生じることなく、小形・軽量で小試料水量仕様の新形水質装置を採用できる検水供給装置を提供すること。 - 特許庁

In the method, a function-described specification of a semiconductor integrated circuit is logically composed, and a GCB which requires the propagation of a clock in a memory test is then extracted from a net list 1 (S1-1).例文帳に追加

機能記述された半導体集積回路の仕様を論理合成した後、ネットリスト１から、メモリ試験時にクロックを伝播させる必要のあるＧＣＢを抽出する（Ｓ１−１）。 - 特許庁

To generate test data allowing intensive detection of trouble having high occurrence frequency, and allowing unique specification of a variable causing the trouble.例文帳に追加

発生頻度の高い不具合を重点的に検出することが可能で、不具合の原因となる変数を一意に特定することが可能なテストデータを生成する。 - 特許庁

The data processing unit stores the date of clinical research for a test subject together with subject identification and examination item specification.例文帳に追加

治験情報処理装置は、被験者の検査実施予定時を、被験者を特定するための被験者特定識別および個々の検査を特定するための検査識別を付して記憶する。 - 特許庁

To generate a test case and a system state transition system whose scale is suppressed while dealing with diverse phenomena or a complicated operation specification reflecting a real system.例文帳に追加

現実のシステムを反映する複雑な動作仕様や多様な事象を取り扱いつつ、規模を抑えたシステム状態遷移系ならびにテストケースを生成する。 - 特許庁

Test specification data 110 in which expected value information are written on a Web screen JSP 1 shows that expected value information is written in a cell in a region 1400.例文帳に追加

Ｗｅｂ画面ＪＳＰ１の期待値情報書き込み後のテスト仕様書データ１１０において、領域１４００内のセルに期待値情報が書き込まれていることがわかる。 - 特許庁

To provide a tool capable of evaluating the legibility of a test on a display device and modifying the properties of the text as occasion demands so as to display a legible text while maintaining specification of a writer's existing style.例文帳に追加

表示装置上でテキストの可読性を評価して、執筆者の既存スタイルの特定を維持しながら判読可能なテキストを表示するべく、必要に応じてテキストの特性を修正することができるツールを提供する。 - 特許庁

In a method for testing the real page number bits in a cache directory 304, a specification 306 of a cache is retrieved in order to test the real page number bits of the cache directory associated with the cache to be tested.例文帳に追加

テスト対象のキャッシュに関連付けられたキャッシュ・ディレクトリの実ページ番号ビットをテストするために、当該キャッシュの仕様が検索される。 - 特許庁

In the case of compiling a test program by an intermediate code group compiler, an intermediate code to be linked with the common program is inserted into the position of the program specification command.例文帳に追加

中間コード群コンパイラによってテストプログラムをコンパイルする際に、プログラム指定コマンドの位置に共通プログラムにリンクさせる中間コードを挿入する。 - 特許庁

A developer sets a recording trigger event (specific operation or the like) which seems to be beneficial for the specification of the occurrence of any defect and an observation object (input/output or the like) prior to a test.例文帳に追加

開発者は、試験前に不具合発生の特定に有用であると思われる記録契機事象（特定の操作など）と観察対象（入出力など）とを設定しておく。 - 特許庁

The specification part 2k determines the predominant frequency from among the predominant frequencies calculated by the calculation part 2g, corresponding to the natural frequency specified by the pulse load test as a natural frequency.例文帳に追加

特定部２ｋは、演算部２ｇが演算した橋脚の卓越振動数のうち、衝撃荷重試験によって特定した橋脚の固有振動数に対応する卓越振動数をこの橋脚の固有振動数として特定する。 - 特許庁

Based on specification data D1 and definition file data D2, a scenario editor section 2 creates versatile shared scenario data D3 by using a uniformed scenario language; and based on test environment data D4 and the shared scenario data D3, a scenario translation section 4 creates test scenario data D5 for executing a performance test on a real machine 10.例文帳に追加

シナリオエディタ部２は、仕様書データＤ１及び定義ファイルデータＤ２に基づき、統一化されたシナリオ言語を用いて汎用の共有シナリオデータＤ３を作成し、シナリオ変換部４は、試験環境データＤ４と共有シナリオデータＤ３とに基づいて、実機１０に対し動作試験を行うための試験シナリオデータＤ５を作成する。 - 特許庁

A test path generating part 19 generates path information showing a processing process to be executed by a BP execution system based on the input Web service specification information and the BP description information, and decides whether or not the generated path information is an executable path based on the Web service specification information and BP description information as the origin of generation.例文帳に追加

テストパス生成部１９は、入力されるＷｅｂサービス仕様情報及びＢＰ記述情報に基づいて、ＢＰ実行システムが実行する処理過程を示したパス情報を生成するとともに、生成したパス情報が実行できるパスであるか否かを、生成元のＷｅｂサービス仕様情報及びＢＰ記述情報に基づいて判定する。 - 特許庁

This performance board discrimination device equipped with a test head having a plurality of built-in head mounting cards, and the performance board connected to the test head, is also equipped with a controller for controlling so that the performance board is not locked with the test head, when the connected performance board does not agree with a specification based on a combination of the plurality of head mounting cards built in the test head.例文帳に追加

複数のヘッド実装カードが内蔵されるテストヘッドと、このテストヘッドと接続されるパフォーマンスボートとを備えたパフォーマンスボード識別装置において、 接続された前記パフォーマンスボードが、前記テストヘッドに内蔵された複数の前記ヘッド実装カードの組み合わせに基づく仕様と一致しないときは、前記テストヘッドに前記パフォーマンスボードをロックしないように制御するコントローラを備える。 - 特許庁

This system comprises first resistance specification test circuits 108, 300, 400 which are connected to bit lines of a memory array 102, test resistance of each memory cell 310, 410 in the memory array 102, and decide whether the resistance is in a range of the highest limit and the lowest limit or not.例文帳に追加

メモリアレイ１０２のビット線に連結し、メモリアレイ１０２内の各メモリセル３１０、４１０の抵抗を試験し、その抵抗が所定の上限および下限内にあるか否かを決定する第１の抵抗仕様試験回路１０８、３００、４００を含んでいる磁気抵抗メモリアレイ集積回路用の組み込み自己試験システムを提供する。 - 特許庁

This peptide for the pregnancy test reagent for sow is composed of a peptide having an amino acid sequence represented by the sequence number 1 (refer to the specification) in the sequence table and has binding ability to estrone which the pregnant sow produces and the pregnancy test reagent for sow comprises a peptide derivative of which the N terminal is bound to a labeled substance as an active ingredient.例文帳に追加

配列表の配列番号１で表わされるアミノ酸配列のペプチドからなり、妊娠した豚が産生するエストロンに対し結合性を有する豚の妊娠検査試薬用ペプチドとし、またはそのＮ末端に標識物質を結合させたペプチド誘導体を有効成分として含有する豚の妊娠検査試薬とする。 - 特許庁

This test specification generation device has a generation means generating the specifications for a test of the conversion program for the conversion of deign information of the program on the basis of: combination conversion processing information showing combination conversion processing wherein conversion items to the design information of the program are combined; between-item order information showing the priority order of the conversion item.例文帳に追加

テスト仕様生成置が，プログラムの設計情報に対する変換項目を組み合わせた組み合わせ変換処理を表す組み合わせ変換処理情報と，前記変換項目の優先順位を表す項目間順位情報と，に基づき，プログラムの設計情報の変換のための変換プログラムのテスト用の仕様を生成する生成手段を有する。 - 特許庁

A Web page type specification part 122 specifies a type of a test object Web page by referring to information in a Web page feature information DB 121, etc., and a Web page importance determination part 125 specifies a transaction flow to be attained by a test object Web page group by referring to information in a transaction flow pattern DB 124.例文帳に追加

Ｗｅｂページ種類特定部１２２が、Ｗｅｂページ特徴情報ＤＢ１２１等の情報を参照して試験対象のＷｅｂページの種類を特定し、Ｗｅｂページ重要度判定部１２５が、試験対象のＷｅｂページ群により実現される取引フローを取引フローパターンＤＢ１２４の情報を参照して特定する。 - 特許庁

When this test case generation device makes the transition phenomena sequentially occur based on system operation specification description to generate the system state transition system, the test case generation device makes a scenario state transition system representing order restriction of the transition phenomena be simultaneously transited, and restricts the transition phenomenon made to sequentially occur to the transition phenomenon capable of transiting in the scenario state transition system.例文帳に追加

システム動作仕様記述に基づいて遷移事象を順次生起させてシステム状態遷移系を生成する際に、遷移事象の順序制約を表現するシナリオ状態遷移系も同時に遷移させ、順次生起させる遷移事象を、当該シナリオ状態遷移系で遷移可能なものに制限する。 - 特許庁

Design faults such as specification failures in planning specifications of an entire system (first design stage) and planning detailed specifications of individual ECUs (second design stage) are verified on the basis of test results of a simulation test for the entire system in a simulation environment equivalent to an actual environment.例文帳に追加

そして、この接続ファイルの整合性、または、実車相当のシミュレーション環境によるシステム全体のシミュレーション試験の試験結果に基づいて、システム全体の仕様策定（第１の設計段階）や個々のＥＣＵの詳細仕様の策定（第２の設計段階）における仕様漏れなどの設計不具合を検証する。 - 特許庁

Waveform data 13 are prepared from the logical data 10 of a semiconductor integrated circuit prepared by a hardware description language and test pattern data 11 by using logical simulation and check item information 18 is prepared from the waveform data 13 and information inputted from a user specification part 15.例文帳に追加

ハードウェア記述言語にて作成した半導体集積回路の論理データ１０とテストパターンデータ１１より論理シミュレーションにて波形データ１３を作成し、この波形データ１３とユーザ指定部１５にて与えた情報より、チェック項目情報１８を生成する。 - 特許庁

When a specification such as the number of electrodes or the array shape of the electrodes in a semiconductor laser 3 which is a test element is changed, a parent base 1 can be used in common by changing sockets corresponding thereto, because the plurality of sockets are mounted detachably on the parent base 1.例文帳に追加

親基盤１に対し複数のソケット２が着脱自在に装着されるので、被試験要素である半導体レーザ３の電極数や電極の配列形状などの規格変更があった場合、それに応じたソケットに交換することで、親基盤１を共用することができる。 - 特許庁

To provide a temperature information output unit for defining an operating point so as to cope with any specification discussed in a test group (ODTS TG) of JEDEC in order to define an operating point of a temperature information output device (ODTS).例文帳に追加

温度情報出力装置（ＯＤＴＳ）の動作時点を定義するため、ＪＥＤＥＣの温度情報出力装置テストグループ（ＯＤＴＳ ＴＧ）で議論されている全ての仕様に対応可能となるように動作時点を定義する温度情報出力装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor manufacturing apparatus wherein even an operator unfamiliar with communication specification for host computers can conduct a communication test to monitor transmission/reception messages in real time and easily specify the cause of an error when the error occurs.例文帳に追加

対ホストコンピュータとの通信仕様に不慣れなオペレータでも、通信テストを行って送受信メッセージをリアルタイムに監視し、異常発生時に異常原因を容易に特定することができる半導体製造装置を提供する。 - 特許庁

Voltage measurement is performed by applying a positive constant current to each input/output pad P0-P10 in the state where a grounding voltage is applied to the test pad P13, and thereby detection of a breakage and specification of a breakage spot of the semiconductor chip 3 become possible.例文帳に追加

テスト用パッドＰ１３に接地電圧を印加した状態で、各入出力パッドＰ０〜Ｐ１０に対して正の定電流を印加して電圧測定を行うことにより、半導体チップ３の破損の検出および破損箇所の特定を行うことができる。 - 特許庁

In vehicle operation, a driver identification information acquisition means (32) acquires identification information unique to each driver, and a driver specification means (33) specifies a driver who currently drives the vehicle and acquires driving aptitude test result information of the driver.例文帳に追加

車両の運行に際して、運転者識別情報取得手段(32)により、各運転者固有の識別情報を取得し、運転者特定手段(33)により、現に車両の運転を行う運転者を特定して、当該運転者に関する運転適正検査結果情報を取得する。 - 特許庁

To provide a behavior reproduction device of a joint part capable of acquiring efficiently a highly-reliable test result in a short period by reproducing a behavior of the joint part based on a specification of an actual outer wall part or floor part, and reducing cost, and miniaturizable with a simple structure.例文帳に追加

実際の外壁部や床部の仕様に即して目地部の挙動を再現して、短期間で信頼性の高い試験結果を効率良く得ることができ、しかも簡単な構造で小型化を実現でき、コスト削減も図ることができる目地部の挙動再現装置を提供する。 - 特許庁

To provide a flame-retardant polyolefin resin composition having light weight, i.e. specific gravity of ≤1.15 and halogen-free flame-retardancy, passing the 45° inclined flame propagation test of ISO Specification in the case of using in an insulation wire and having excellent mechanical properties and abrasion resistance.例文帳に追加

比重が１．１５以下と軽量化されたノンハロゲンの難燃性を有し、絶縁電線に用いた時にＩＳＯ規格の４５度傾斜延焼試験に合格すると共に、機械的特性や耐磨耗性にも優れたポリオレフィン系難燃性樹脂組成物を提供することにある。 - 特許庁

To provide a test contact for inspecting electric characteristics of an electronic component such as a semiconductor element, capable of setting and controlling uniformly the interval between contacts and optionally the interval in accordance with a specification of the electronic component, namely, the electrode width of the electronic component, and securing a necessary insulation degree.例文帳に追加

コンタクト間の間隙を均一に、しかも電子部品の仕様、すなわち電子部品の電極の幅に合せてその間隙を任意に設定制御することができ、必要な絶縁度を確保することができる半導体素子等の電子部品の電気特性を検査するテストコンタクトを提供する。 - 特許庁

To provide a 300 mm test wafer, in which the evaluation of a performance data for a semiconductor manufacturing apparatus, and an evaluation apparatus, etc. is ensured, and the design specification inhibits layer peeling within a laser mark, and the damage to the surface is not produced after a CMP processing.例文帳に追加

半導体製造装置、評価装置などの性能データ評価を確実にするための３００ｍｍテストウエハであり、レーザマーク内で膜剥離が生じない設計仕様とし、ＣＭＰ処理後に表面の傷が生じない３００ｍｍテストウエハを提供する。 - 特許庁

To prevent the diversion of standard rule data and to allow a user to change a part of the content in the standard rule data, in a specification compliance verification apparatus to verify an apparatus under verifying test.例文帳に追加

被検証装置から送出された電文と、予め作成されたルールデータとを比較することにより、被検証装置の検証を行う仕様適合性検証装置において、標準ルールデータの流用を防止するとともに、ユーザが標準ルールデータの内容の一部を変更することを可能にする。 - 特許庁

To provide a specification creation support device and method for writing functional requirements and non-functional requirements without omission or leakage as the description method of the requirements of software, and for creating eligibility test specifications without omission or leakage for requirement specifications.例文帳に追加

ソフトウェアの要件の記述方法として機能要件と非機能要件を抜け・漏れなく記載することを可能にし、要件仕様書に対し抜け・漏れのない適格性試験仕様書の作成が可能な仕様書作成支援装置および支援方法を提供する。 - 特許庁

The design specifications of the clock frequency modulation circuit satisfying the clock specifications 53 which are electric specifications of clock signals and satisfying an EMI effect target value 58 for which an EMI suppression effect in the EMI standard adaptability test 21 is estimated are decided in SSC specification decision 14.例文帳に追加

クロック信号の電気的仕様であるクロック仕様５３を満足し、且つＥＭＩ規格適合試験２１におけるＥＭＩ抑制効果を推定しＥＭＩ効果目標値５８を満足するようなクロック周波数変調回路の設計仕様をＳＳＣ仕様決定１４で決定する。 - 特許庁

While specification of the subject and collection and analysis of the expired gas is carried out sequentially on a plurality of conveyed expired gas vessels 10, a pair of analysis results are combined with each other for performing determination when a pair of analysis results consisting of results after and before test reagent medication on the same subject is obtained.例文帳に追加

搬送されてくる複数の呼気ガス容器１０に対し、順次、被検者の特定および呼気ガスの採取・分析を行いつつ、同一の被検者の検査試薬投与前・後における一対の分析結果が得られたら、該一対の分析結果を組み合わせて、判定を行う。 - 特許庁

In the quality decision of jitter, the test control circuit 12 controls delay in signals in the window signal generating circuit 11 for setting the window width to a jitter specification value, thus detecting whether the signal change edge in the clock signal DCLK for comparison is within the window by a comparison circuit 13.例文帳に追加

ジッタの良否判定ではテスト制御回路１２はウィンドウ信号生成回路１１内における信号の遅延を制御してジッタ規格値にウィンドウ幅を設定し、比較回路１３により比較用クロック信号ＤＣＬＫの信号変化エッジがウィンドウ内にあるか否かを検出する。 - 特許庁

In a system verification system, a function checker 29 compares a verification result of a test program 23 by an instruction level simulator 25 to a result from a function simulator 17 verifying an HDL 13 based on event information representing the verification item 11 related to operational specification.例文帳に追加

たとえば、テストプログラム２３を命令レベル・シミュレータ２５により検証した結果と、動作仕様に関する検証項目１１をイベントで表現したイベント情報にもとづいて、ＨＤＬ１３を検証した機能シミュレータ１７の結果とを機能チェッカー２９により比較する。 - 特許庁

A CMOS circuit 1A is constituted of an ordinary circuit area 5 operated according to specification by a CMOS circuit device 100, and a test circuit 10A used for restoration when the circuit is not operated normally because of a logical trouble in the ordinary circuit area 5.例文帳に追加

ＣＭＯＳ回路１Ａは、ＣＭＯＳ回路装置１００で仕様上の動作をする通常回路領域５と、通常回路領域５で論理の不具合により回路が正常に動作しない場合に修復のために利用するテスト回路領域１０Ａとから構成されている。 - 特許庁

To provide a sediment material incorporation rate determining software program for designing a soil ground surface layer, allowing quick low-cost presentation of a highly reliable design specification to a customer by promptly reflecting test data having bases of design.例文帳に追加

設計根拠がある試験データを即座に反映させ、顧客対して迅速にかつ低コストで信頼性の高い設計書を提示できる土系グラウンド表層舗装設計のための土砂材料の配合率決定ソフトウェアプログラムを得る。 - 特許庁

In the material designing device 100 for a thin film stock produced by continuous casting, a solidified structure obtained by a small-scale test by a casting apparatus 210 for a test is arranged by local temperature history obtained by performing casting simulation obtained by simulating the small-scale test, thus the specification of a large-scale continuous casting apparatus 220 for mass production capable of reproducing the same local temperature history is decided by casting simulation.例文帳に追加

連続鋳造によって製造される薄膜素材の材料設計装置１００において、試験用鋳造装置２１０による小規模試験で得られた凝固組織を、この小規模試験を模擬した鋳造シミュレーションを実施して得られた局所温度履歴で整理することによって、同一の局所温度履歴を再現し得る大規模な量産用連続鋳造装置２２０の仕様を、鋳造シミュレーションによって決定する。 - 特許庁

The test management device 1 comprises a specification part 15 which reads relevant information, upon receiving code correction information showing a module related to a corrected source code, from a first storage part 12 storing relevant information relating each module constituting software with test items related to each module, and specifies the test items related to the module shown by the code correction information in the read relevant information.例文帳に追加

試験管理装置１は、修正されたソースコードに関連するモジュールを示したコード修正情報を受け取った場合、ソフトウェアを構成する各モジュールと各モジュールに関連する試験項目とを関連付けた関連情報が記憶された第１記憶部１２から関連情報を読み出すと共に、読み出した関連情報においてコード修正情報の示すモジュールに関連付けられている試験項目を特定する特定部１５を備える。 - 特許庁

Quickly create Ruby projects with logical structure, run Ruby files, configure other Ruby interpreters (such as JRuby or native Ruby), locate and install Ruby Gems through a graphical wizard, create and execute unit tests, run RSpec specification files, jump between a Ruby file and its corresponding unit test or spec file, and so on. 例文帳に追加

Ruby プロジェクトを論理的な構造で簡単に作成したり、Ruby ファイルを実行したり、ほかの Ruby インタープリタを構成したり (JRuby やネイティブ Ruby など)、グラフィカルなウィザードを使用して Ruby Gems を探してインストールしたり、ユニットテストを作成して実行したり、RSpec 仕様ファイルを実行したり、Ruby ファイルと対応するユニットテストまたは仕様ファイル間を移動したりできます。 - NetBeans