| 意味 | 例文 |
Test dataの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3606件
The WUSB device 12 includes test data generated by a PRBS generation part 126 in a payload part according to a test packet transmission request received from the WUSB host 11 and transmits a test packet to which an FCS capable of detecting a coding error of the payload part is added to the WUSB host 11.例文帳に追加
WUSBデバイス12は、WUSBホスト11から受信した試験パケット送信要求に応じて、PRBS生成部126によって生成された試験データをペイロード部分に含み、ペイロード部分の符号誤りを検出可能なFCSが付加された試験パケットをWUSBホスト11に送信する。 - 特許庁
The inkjet recoding device performs test printing prior to printing based on image data inputted, prints a plurality of test pattern images on recording medium so as to provide a plurality of drying times, prints drying levels correspondent to the test pattern images on the recording medium and discharges a recording medium to stick undried ink.例文帳に追加
入力された画像データに基づく印字以前にテスト印字を行い、複数の乾燥時間となるように、記録媒体に複数のテストパターン画像各々を印字するとともに、各テストパターン画像に応じた乾燥レベルを印字して排出し、更に、未乾燥のインクを付着するための記録媒体を排出する。 - 特許庁
All the path-fail data of a plurality of memory circuits built in a system LSI are stored in the failure analysis memory for collecting the path-fail data in a semiconductor memory test device, and the path-fail data are read from the failure analysis memory in batch (step S22).例文帳に追加
半導体メモリのテスト装置内のパスフェイルデータ収集用不良解析メモリへ、システムLSIに内蔵された複数のメモリ回路のパスフェイルデータをすべて格納し、その不良解析メモリから一括してパスフェイルデータを読み出す(ステップS22)。 - 特許庁
The switching circuit 9 gives read data D1 to Di of the memory circuit 8 to a data output circuit 10 in normal operation, and gives count signals C1 to Cj of an up/down counter 4 being included in a DLL circuit 2 to the data output circuit 10 on test.例文帳に追加
切換回路9は、通常動作時はメモリ回路8の読出データD1〜Diをデータ出力回路10に与え、テスト時はDLL回路2に含まれるアップ/ダウンカウンタ4のカウント信号C1〜Cjをデータ出力回路10に与える。 - 特許庁
When respective demodulated reception data (a) to (c) are input from a device 6 under test, comparators 8a to 8c compare the respective reception data (a) to (c) with the transmission data (a) to (c) according to a synchronizing signal which is input from a pseudo-random number bit sequence synchronization part 7.例文帳に追加
また、比較器8a〜cは、被測定デバイス6から復調された各受信データa〜cが入力されると、擬似乱数ビット列同期部7から入力される同期信号に従って、各受信データa〜cを送信データa〜cと比較する。 - 特許庁
To provide a material tester having a function of superimposing and displaying plural test data on the same screen by a graph, which is capable of surely reading desired data among plural superposed and displayed data without an error.例文帳に追加
同一画面上に複数の試験データを重ねてグラフ表示する機能を備えた材料試験機において、重ね表示された複数の試験データの中から、所望のものを間違いなく確実に読み取ることのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁
This multivariable decision tree construction system 1 is configured to construct a multivariable decision tree where multivariable test functions for dividing data are installed in every non-terminal end node by using a plurality of data for training equipped with element data.例文帳に追加
本発明に係る多変数決定木構築システム1は、要素データを備えた複数の訓練用データを用いて、データの分割を行うための多変数テスト関数が非終端節点毎に設けられた多変数決定木を構築するシステムである。 - 特許庁
The user terminal 1 receives a voice data group inputted from plural user terminals and a text group corresponding to this voice data group from the management server 2 and outputs the voice data group as voice and displays the test group as pictures.例文帳に追加
また、複数の利用者端末の各々から入力された音声データ群と該音声データ群に対応するテキスト群とを管理サーバー2から受信して上記音声データ群を音声出力すると共に上記テキスト群を画面表示する。 - 特許庁
A reference data group containing all of the plural sets of data gained during the operation test of a plurality of the image forming apparatuses is used as an initial reference data group for determining an index value calculating expression that calculates an index value for the state discrimination.例文帳に追加
この複数の画像形成装置の稼働テスト中に取得した複数組のデータのすべてを含む基準データ群を、状態判定用の指標値を算出する指標値算出式を決定するための初期の基準データ群として用いる。 - 特許庁
After the processed data are transmitted to an output means corresponding to respective output formats, the data are briefly processed by means of the output means and transmitted to the output device 30, and then, the output device 30 outputs the IC test data.例文帳に追加
そして、加工されたデータを各出力形式に対応する出力手段に送信し、出力手段が当該データに簡単な処理を施し、出力装置30に送信することにより、出力装置30がIC試験データの出力を行う。 - 特許庁
This DDR (double data rate) SDRAM (synchronous DRAM) performs write-in operation having write-latency at the normal operation, and at a test, receives a data strobe signal DQS and a data signal before one clock cycle of a write-command WRT and performs write-in operation having no write-latency.例文帳に追加
このDDR SDRAMは、通常動作時はライトレイテンシを持った書込動作を行ない、テスト時はライトコマンドWRTの1クロックサイクル前にデータストローブ信号DQSおよびデータ信号を受けてライトレイテンシを持たない書込動作を行なう。 - 特許庁
A test probe is contacted with only a portion of representative input/output pads among a plurality of input/output pads, data inputted from the representative input output pad are expanded to data equivalent to all input output pads by a compressed data expanding circuit 631.例文帳に追加
複数の入出力パッドのうち、一部の代表入出力パッドにのみ試験用の針を当て、代表入出力パッドから入力されたデータを、圧縮データ展開回路631により、すべての入出力バッド分のデータに展開する。 - 特許庁
When data for test print are transmitted from the terminal T1-T2, a control unit 19 of the image forming apparatus 10 stores in a storage unit 14 terminal data (IP address, terminal name and the like being set to the terminal) to be transmitted together with the data.例文帳に追加
画像形成装置10の制御部19は、端末T1〜T2からテスト印刷用のデータが送信されてきたときに、そのデータとともに送信される端末データ(端末に設定されるIPアドレス、端末名等)を記憶部14に記憶する。 - 特許庁
After recording the test data in each of the sectors, a value for a filter factor of an FIR filter arranged in a data reproduction system is changed from the optimal value, frequency gain is reduced, the testing data is reproduced, and the sector in which the reproduction failure occurs is registered as the defect.例文帳に追加
各セクタに試験データを記録したあと、データ再生系に設けたFIRフィルタのフィルタ係数の値を最適な値から変更して周波数利得を低下させて試験データを再生し、再生エラーが発生したセクタを欠陥登録する。 - 特許庁
A host computer 2 transfers test data to an optical disk drive 1 before transferring data to be recorded to an optical disk 2, and increases the execution priority of a task transferring the mentioned data when informed by the optical disk drive 1 that the recording can not be performed.例文帳に追加
ホストコンピュータ2は、光ディスク20に記録するデータの転送前に光ディスクドライブ1へテストデータを転送し、光ディスクドライブ1から記録不可の通知を受け取ったとき、上記データを転送するタスクの実行優先順位を繰り上げる。 - 特許庁
To provide a tape printer, and its data inputting means, in which the operability of test data input can be enhanced by providing an area for edition on a display in addition to an area capable of inputting the text data.例文帳に追加
ディスプレイ上において、テキストデータ入力可能領域以外に、編集用の領域を設けることにより、テキストデータ入力の操作性を向上し得るテープ印刷装置およびそのデータ入力処理方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
A processor included in the display processing part corrects the data of the output voltage Vo at the time of actual use based on the data of the output voltage Vo at the time of a non-load obtained in a test mode and the data of the output voltage Vo at the time of a specified load.例文帳に追加
表示処理部に含まれる処理装置は、テストモードで取得した無負荷時の出力電圧Voのデータと、定格負荷時の出力電圧Voのデータとに基づいて、実使用時の出力電圧Voのデータをソフトウェアで補正する。 - 特許庁
The steps of acquiring the plurality of dark images may include acquiring data from a plurality of data channels (68) of the digital detector during an analog test mode of the digital detector in which calibration voltages (154) are applied to the data channels (178, 182).例文帳に追加
複数の暗画像を取得するステップは、データ・チャネルに較正電圧(154)が印加されている(178、182)ディジタル検出器のアナログ試験モード時にディジタル検出器の複数のデータ・チャネル(68)からデータを取得することを含み得る。 - 特許庁
The built-in circuit generation processing part 24 generates the net list wherein the test circuit is built in the customer circuit, and outputs it as built-in circuit-included design data 25.例文帳に追加
埋め込み回路発生処理部24は、顧客回路にテスト回路を繰り込んだネットリストを生成し、埋め込み回路込み設計データ25として出力する。 - 特許庁
The test data so set as to have the values which reach X, Y and Z respectively in total is stored at the head addresses plus a, b, c or d.例文帳に追加
先頭番地にa、b、c、dをプラスした番地には、それぞれ合計した値がX、Y、Zとなるように設定されたテストデータが記憶されている。 - 特許庁
An outdoor unit 10 composing the air conditioner 50 sends a test frame to each indoor unit, and it identifies a system on the basis of data that had a response.例文帳に追加
空気調和機50を構成する室外機10は、各室内機に向けて試験フレームを送信し、応答があったデータに基づいて系統を識別する。 - 特許庁
A slave station 9 performs an operation test (self-diagnosis) of an interconnection protective relay 54 according to data received from a key station 3 through a relay station 4.例文帳に追加
子局9は、親局3から中継局4を経由して受信したデータに従って、連系保護リレー54の動作試験(自己診断)を行う。 - 特許庁
Processing circuits 561-564 test the stored digital samples, detect predetermined events, and designate a range of the memory storing position including the data regarding the predetermined event.例文帳に追加
処理回路561-564は、蓄積されたデジタル・サンプルを試験し、所定イベントを検出し、この所定イベントに関するデータを含んだメモリ記憶位置の範囲を指示する。 - 特許庁
To implement a function verification by inputting arbitrary image data within small circuit scale, without the need to prepare a test pattern or an expected value.例文帳に追加
テストパターンや期待値を予め用意する必要がなく、少ない回路規模で、任意の画像データを入力して機能検証の実施を可能にする。 - 特許庁
Based upon the output of the test on the entry of the comparison matrix, it is identified whether the received electronic image data are inclusive of a fog scene or not.例文帳に追加
次に、比較マトリクスのエントリについてのテスト出力に基づいて、受け取られた電子画像データにかぶりシーンが含まれているか否かが判定される。 - 特許庁
For carrying out testing, parasitic capacitances are found using the design information, operations for weighting are performed on test data or thresholds for determining acceptance.例文帳に追加
また、設計情報を利用して寄生容量等を求め、検査データもしくは良否の判定をするしきい値に対し重み付け演算をして検査する。 - 特許庁
The test signal generator includes: a FPGA 21; a memory 22 whose circuit data are referenced by the FPGA 21; and a connector 26 to which a module board 10 to be inspected is connected.例文帳に追加
FPGA21と、このFPGA21が回路データを参照するメモリ22と、被検査モジュール基板10が接続されるコネクタ26とを設ける。 - 特許庁
An intermediate value of an upper limit and a lower limit of the delay time by which a correct test data pattern is obtained is set in the delay time of the variable delay elements 134, 144.例文帳に追加
正しい試験データパターンが得られた遅延時間の上限及び下限の中間値を、可変遅延素子134、144の遅延時間に設定する。 - 特許庁
By arranging the receiver at a required location or carrying it, it is thus possible to automatically know the test result data, even if one is away from the automatic testing device.例文帳に追加
したがって、受信機を必要な場所に配置、あるいは、携帯すれば自動試験装置から離れていても試験結果データを自動的に知ることができる。 - 特許庁
To perform a function test of a radio data service device without being connected to a radio network and a cable network.例文帳に追加
無線ネットワークや有線ネットワークへ接続しなくとも無線データサービス装置の機能試験を行えるような回線呼発生器及び機能試験方法を提供する。 - 特許庁
Data are recorded for test (S102) by making a focus balance to change for changing a focal position of a laser beam while irradiating the optical disk by the laser beam.例文帳に追加
光ディスクにレーザ光を照射しつつ、レーザ光の焦点位置を変化させるためにフォーカスバランスを変化させ、データをテスト記録する(S102)。 - 特許庁
A decision is made whether the image data falls within an allowable range from a true test pattern or not (S108) and the decision results are outputted (S110, 112).例文帳に追加
そして、画像データが真のテストパターンからの許容範囲内にあるか否かを判定し(S108)、その判定結果を出力する(S110,112)。 - 特許庁
To provide a data transmission device wherein the assembling and test time of an apparatus panel for electronic apparatus system configuration is shortened, and electromagnetic interference is prevented.例文帳に追加
電子機器システム構成のための機器パネルの組み立てや試験時間の短縮化、および電磁障害防止を図ったデータ伝送装置を提供する。 - 特許庁
Also, test recording and data recording are performed for a recording layer being remote from the incident plane always through the already recorded region of the recording layer of this side.例文帳に追加
また、入射面から遠い記録層に対しては、常に手前の記録層の記録済み領域を介して、テスト記録やデータ記録を行うようにする。 - 特許庁
To enable performing a test for a ROM while holding secret of data incorporated in a ROM with respect to a ROM built-in semiconductor integrated circuit.例文帳に追加
ROMを内蔵した半導体集積回路について、ROMに実装したデータの機密性を保ちつつ、ROMのテストを実行可能にする。 - 特許庁
To generate test data enabling a program for performing a DB search to hit only an intended DB record, and handling a complex dependence relation among variables.例文帳に追加
DB検索を行うプログラムに対して意図したDBレコードのみがヒットすることを可能とし、変数の複雑な依存関係を扱うテストデータを生成する。 - 特許庁
Print data for printing the test pattern is generated by performing halftoning using a diffusion matrix where the weight value of error diffusion is adjusted.例文帳に追加
このテストパターンを印刷するための印刷データは、誤差拡散の重み値を調整した拡散マトリクスを用いてハーフトーン処理することによって生成する。 - 特許庁
By this tester, a plurality of semiconductor integrated circuits can be tested in parallel using a test data stored in a set of memories.例文帳に追加
本発明よるテスト装置は、1つのメモリセットに蓄積されたテストデータを使用して複数の半導体集積回路を並列にテストすることができる。 - 特許庁
To provide a semiconductor test device which can store address data of a defective memory cell and which is inexpensive, a method for testing a semiconductor, and a method for manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加
不良メモリセルのアドレスデータを記憶可能で、且つ安価な半導体試験装置、半導体試験方法、および半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
Further, test writing and the recording of user data to an actual RAM layer are carried out under the same conditions to obtain optimum recording parameters.例文帳に追加
さらに、試し書きの条件と実際のRAM層へのユーザデータ記録時条件を同一化することで、記録最適パラメータの取得を可能にした。 - 特許庁
To provide a test method for semiconductor memory circuits capable of transmitting path-fail data of a plurality of memories incorporated in a system LSI at a short period of time.例文帳に追加
システムLSIに内蔵された複数のメモリのパスフェイルデータを、短い時間で送信できる半導体メモリ回路のテスト方法を提供することにある。 - 特許庁
The printed image evaluation part digitizes the image noises which are included in a plurality of image data for evaluation, generated from the plurality of test patterns.例文帳に追加
印刷画像評価部は、複数のテストパターンから生成された複数の評価用画像データに含まれた画像ノイズを数値化することを特徴とする。 - 特許庁
Laser power which is determined to achieve the target modulation degree in a test writing is made laser power being appropriate for recording data in the optical disk 50.例文帳に追加
そして、テスト書込みにおいて当該目標変調度を達成すると判断されたレーザパワーが、光ディスク50へのデータの記録に適切なレーザパワーとされる。 - 特許庁
To provide a recording device which makes an adjustment of test recording and the like, on a disk by using a user data zone, to improve the adjustment accuracy.例文帳に追加
ディスクにおいてユーザデータゾーンを使用してテスト記録などの調整を行うことを可能とし、調整精度の向上を図れる記録装置を提供する。 - 特許庁
The acquired data read from a boundary-scan register is analyzed by the processing unit of the test device 42 in order to examine the connection between the driver and the sensor.例文帳に追加
バウンダリスキャンレジスタから読み出された捕捉データが、ドライバとセンサの間の接続を調べるためにテスト装置42の処理ユニットによって分析される。 - 特許庁
An amplitude measuring part 15 measures the amplitude (m) of the reproduced signal of recorded data recorded in the test writing area of an optical disk while changing recording power P.例文帳に追加
振幅測定部15は、光ディスク2の試し書き領域にパワーPを変化させながら記録した記録データの再生信号の振幅mを測定する。 - 特許庁
The observation terminal 11 receives the rainfall amount data by the test instruction signal, and it judges an abnormality of the rainfall amount observation system 10A so as to be displayed on a display part 18.例文帳に追加
観測端末11は、試験指示信号による雨量データを受信して雨量観測システム10Aの異常を判定し、表示部18に表示する。 - 特許庁
To obfuscate at least a part of a database for creating a test database having a data distribution mirroring a distribution present in an actual database.例文帳に追加
実際のデータベースに見られる分布を映し出すデータ分布を有するテストデータベースを作成するために、データベースの少なくとも一部分を難読化すること。 - 特許庁
A test pattern formed in a belt 33 is read, and the resulting speed variation data of the belt 33 based on the reading result is stored beforehand.例文帳に追加
ベルト33に形成されたテストパターンを読み取り、その読取結果に基づいて求められたベルト33の速度変動データを予め記憶しておく。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing apparatus which stores data in a predetermined address of a memory without preprocessing of calculating each test to shorten a calculating time.例文帳に追加
本発明は、各試験の演算の前処理無しに、所定のメモリのアドレスの番地へ格納させて演算時間を短縮した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
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