| 意味 | 例文 |
Test dataの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3606件
A flash memory system and a method for data management using the embodiments of the invention use special test cells with early degradation detection (EDD) circuitry instead of using the actual user-data storage cells.例文帳に追加
実際のユーザデータストレージセルを使用する代わりに、劣化の早期検出(EDD)回路を備える特別なテストセルを使用する、本発明の実施形態を用いたフラッシュメモリシステムとデータ管理方法が開示される。 - 特許庁
An input data vector comprises, as elements, brain radioactive data within prescribed period as to a plurality of positions in brains about a plurality of subjects collected in a load test using a brain blood flow SPECT.例文帳に追加
入力データベクトルは脳血流SPECTを用いた負荷試験において収集された複数の被験者に関する脳内の複数の位置についての所定期間内における脳放射能データを要素とする。 - 特許庁
To provide a channel data transmission method by which quick data transmission is possible, to provide a controller using the method, to provide a control object device, to provide a control system with the same, and to provide a charge/discharge test system.例文帳に追加
迅速なデータ伝送が可能なチャンネルデータ伝送方法とその方法を用いた制御装置、及び制御対象装置とそれらを備える制御システム、及び充放電試験システムを提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide an environment creation supporting device for detecting the lack of necessary data and preparing input data for a model test based on the results of the detection.例文帳に追加
必要なデータの不足を検出して、検出結果に基づいてモデル検査を実施するための入力データを作成する環境生成支援装置、環境生成支援方法、環境生成支援プログラムを提供する。 - 特許庁
To suppress deterioration of an access speed to a memory cell in a normal access mode in adding a forced access mode for a redundant cell test to a data line shift circuit in a semiconductor memory having a data line shift redundant circuit system.例文帳に追加
データ線シフト冗長回路方式を有する半導体メモリにおいて、データ線シフト回路に冗長セルテスト用の強制アクセスモードを付加する際、通常アクセスモード時のメモリセルへのアクセス速度の劣化を抑制する。 - 特許庁
A test chart print data storage part 27 stores print data of a plurality of patches corresponding to a combination of density variations of YMC each color to be gray when the maximum output density of YMC each color is changed.例文帳に追加
テストチャート印刷データ格納部27は、YMC各色の最大出力濃度が変動した場合にグレーとなるYMC各色の濃度変動の組み合わせに対応した複数のパッチの印刷データを格納する。 - 特許庁
Data inputted by a test data input terminal 2 is latched by the D flip flop 4 of a prestage by a clock signal inputted from a clock terminal 3 and is delayed with a delay component 6 by delay time td.例文帳に追加
テストデータ入力端子2より入力されたデータは、クロック端子3より入力されるクロック信号により、前段のDフリップフロップ4でラッチされ、その後、遅延成分6で遅延時間t_dだけ遅延する。 - 特許庁
Next, simulation is performed from the created test scenario (step S140); the obtained simulation log is converted to text data in which information to determine the equivalence is described as a table (step S150); and text data are compared (step S160).例文帳に追加
次いで、作成したテストシナリオからシミュレーションを行い(ステップS140)、得られたシミュレーションログから等価性を判断するための情報を表として記載したテキストデータに変換し(ステップS150)、比較する(ステップS160)。 - 特許庁
To provide an information recording and reproducing apparatus which can exactly carry out multi-value data detection even when there are defects, such as flaws and stains, in a portion with test data recorded thereon on an information recording medium and the information recording medium.例文帳に追加
情報記録媒体上のテストデータを記録した部分に、傷や汚れ等の欠陥がある場合でも、多値データ検出が正確に実施できる情報記録再生装置及び情報記録媒体を提供する。 - 特許庁
A test data generation part 3 generates pieces of parallel data TP1, TP2, TP3 for operating the flip-flops 11-13 and the flip-flops 21-23 as shift registers to be output to the serializers 101, 102, 103.例文帳に追加
テストデータ生成部3は、フリップフロップ11〜13およびフリップフロップ21〜23をシフトレジスタとして動作させるためのパラレルデータTP1、TP2、TP3を生成してシリアライザ101、102、103へ出力する。 - 特許庁
The repetitive screen generation device 100 replaces the extracted display tag information in the display code 107 with the source tag information so as to set the source tag information as a source code 101 and the divided input data as test data 102.例文帳に追加
反復型画面生成装置100は、表示コード107のうち抽出した表示タグ情報を、ソースタグ情報に置き換えてソースコード101とし、分離した入力データをテストデータ102とする。 - 特許庁
When correcting the quantity of light based on the correction data of the EEPROM, a test pattern is printed (step 108), its density is measured (step 110), and correction data for making density distribution substantially flat is determined (step 112).例文帳に追加
EEPROMの補正データに基づいて光量補正を行いながら、テストパターンを印字させ(ステップ108)、この濃度を測定して(ステップ110)、濃度分布を略フラットにするような補正データを求める(ステップ112)。 - 特許庁
In the defect detecting test of this form, the magnetic disk is divided into two, and a different adjacent data track is selected as the adjacent data track performing write-in in a region of the inner peripheral side and a region of the outer peripheral side.例文帳に追加
本形態の欠陥検出テストは、磁気ディスクの記録面を二分し、内周側の領域と外周側の領域において、書き込みを行う隣接データ・トラックとして異なる隣接データ・トラックを選択する。 - 特許庁
The equipment creates a text data from format of the network packets and specifications of a design verification target 11, makes the packets as an model of an object of object-oriented language based on the text data, and creates automatically a test bench that can use the model.例文帳に追加
ネットワークパケットのフォーマットおよび設計検証対象11の仕様からテキストデータを作成し、これを元にパケットをオブジェクト指向言語のオブジェクトとしてモデル化し、これを利用可能なテストベンチを自動生成する。 - 特許庁
A pattern inside the forbidden region 404m is removed from a pattern 204m of the main chip of a memory cell for the formation of a main chip modified pattern 7, data D4 and data D7 are composited into a pattern D8 for a test chip.例文帳に追加
メモリセルの本チップのパターン204mから、禁止領域404m内にあるパターンを除き、本チップ修正パターン(D7)とし、データD3とデータD7とを合成して、テストチップのためのパターンデータD8とする。 - 特許庁
Since two data input/output terminals T0, T8 may only be connected to the tester, a test time per one device is shortened, compared with conventional one in which four data input/output terminals are required to connect to the tester.例文帳に追加
2つのデータ入出力端子T0,T8をテスタに接続すればよいので、4つのデータ入出力端子をテスタに接続する必要があった従来に比べ、1デバイス当りのテスト時間が短くなる。 - 特許庁
The communication application 10 and the cipher communications software 11 or the encryption protocol processor 12 make encrypted communications with the testing host 2 through an outside communications section 13 using the cryptograph data, based on the test data.例文帳に追加
通信アプリケーション10と暗号通信ソフト11または暗号化プロトコル処理部12は、試験データに基づいた暗号文データを用いて、外部通信部13を介して試験用ホスト2と暗号化通信を行う。 - 特許庁
To provide a 1394 bus data analyzer with improved system operations in comparison with design of a prior art and having a stealth function for enabling collection of data and monitoring of a bus event without influencing a test bus.例文帳に追加
先行技術の設計に比べシステム動作が改善された、テストバスに影響を及ぼすことなく、データの収集およびバスイベントの監視を可能にするステルス機能を有する1394バスデータアナライザを提供すること。 - 特許庁
In a test mode, the timing adjustment part 40 adjusts the timing so that the read data read from the memory cell array 15 by the read command can be compared with expectation data input from the external terminal 10.例文帳に追加
タイミング調整部40は、テストモードにおいて、リードコマンドによってメモリセルアレイ15から読み出したリードデータと外部端子10から入力される期待値データとを比較可能とするようにタイミング調整を行う。 - 特許庁
When installation of the printer driver to a computer 10 is completed, the computer 10 converts a code format of a test print data into a code format adapting to second font data provided in the printer driver, and outputs to the printer 20.例文帳に追加
コンピュータ10へのプリンタドライバがインストールが終了したとき、コンピュータ10は、テスト印刷データのコード形式を、プリンタドライバが備える第2のフォントデータに適合するコード形式に変換し、プリンタ20へ出力する。 - 特許庁
To provide an estimated distribution goodness-of-fit test device that can accurately determine whether or not a plurality of types of measured data have a significant difference, even for measured data insufficient for distribution estimation.例文帳に追加
データ数が少なく分布が推定できない測定データであっても、複数種類の測定データに有意な差があるか否かを精度よく判定することができる推定分布適合度検定装置を提供する。 - 特許庁
To provide a voice synthesizing device, a voice synthesizing system, a voice synthesizing method and a storage medium for allowing a user to hear text data with a large voice according to the significance even when a plurality of test data are simultaneously vocalized.例文帳に追加
複数のテキストデータが同時に発声された場合でも、重要度に応じて大きな音声で聞くことができるようにした音声合成装置、音声合成システム、音声合成方法及び記憶媒体を提供する。 - 特許庁
To shorten simulation time and enhance debugging efficiency by efficiently generating the simulation data of a tester without transferring excess data regarding an optimized data generation system to generate data to be used for a test of a system LSI verified in logic simulation at a designing state.例文帳に追加
本発明は設計段階の論理シミュレーションで検証が行われたシステムLSIのテストに使用するデータを生成するためのデータ最適化生成方式に関し,余分なデータを転送せずにテスタのシミュレーションデータを効率よく生成してシミュレーション時間の短縮化とデバッグ効率を向上することができることを目的とする。 - 特許庁
The memory test method includes the steps of: reading data from the ROM; writing the data read from the ROM into the RAM; reading the data written in the RAM; and confirming the operations of the ROM and the RAM on the basis of the data read from the RAM.例文帳に追加
前記ROMからデータを読み出すステップと、前記ROMから読み出したデータを前記RAMに書き込むステップと、前記RAMに書き込まれたデータを読み出すステップと、前記RAMから読み出されたデータに基づいて前記ROM及びRAMの動作確認を行うステップとを含むことを特徴とする。 - 特許庁
For a line number and a data format type selected during operation of the line interface apparatus, test data is communicated through a path for processing signals of the selected data format type and a non-selected line number and normality of the apparatus is tested for the selected line number and data format type during operation.例文帳に追加
回線インタフェース装置の運用中の選択された回線番号とデータフォーマット種類に対し、選択された運用中の回線番号とデータフォーマット種類に対し、選択データフォーマット種類と非選択回線番号の信号を処理する経路に試験データを疎通させ装置の正常性試験を行う。 - 特許庁
Between a plurality of storage devices connected mutually via a communication line, high-load data transmission with a maximally increased data quantity is carried out so that a fault detection test is carried out closely to an actual operation for detecting a fault of a data path, and according to a result of the data transmission, the fault is detected.例文帳に追加
通信回線を通じて接続される複数の記憶装置間において、データパスの障害を検出するために、実稼動に近い障害検出の試験を行うべく、転送するデーター量をできるだけ大きくした高負荷のデータ転送の処理を実行し、該データ転送の処理の結果に応じて障害を検出する。 - 特許庁
A set value deciding means 105 decides a set value being a value to be used for the practice of test for each data defined by design data based on design data inputted from a design data inputting means 101 and a set value deciding instruction inputted from a set value deciding instruction inputting means 103.例文帳に追加
設計データ入力手段101 より入力された設計データと設定値決定指示入力手段103 より入力された設定値決定指示とに基づいて、設定値決定手段105 が、設計データで定義されている各データそれぞれに対して、テスト実施に利用する値である設定値を決定する。 - 特許庁
Whenever read-out indication is issued from a read-out circuit 14, a verification data generating circuit 15 generates verification data increasing one by one, a comparator circuit obtains test data stored in the FIFO memory 13 and the generated verification data and compares them, when the both do not coincide, the circuit outputs a malfunction detecting signal.例文帳に追加
読出回路14から読出指示が出される毎に、照合データ生成回路15は1づつ増加する照合データを生成し、比較回路はFIFOメモリ13に記憶された検査データと前記生成された照合データとを取得して比較し、両者が一致しない場合、誤動作検出信号を出力する。 - 特許庁
The data controller (16) receives text and EPG information from one or many permission data sources 20 through a communication connection, processes the received data with the internal database managing device of the controller (16), performs data compression and subsequently transmits the test information to the viewers under the control of a head end controller (34).例文帳に追加
データコントローラー(16)は、1つまたは多数の許可データソース20からのテキストおよびEPG情報を通信連結を通して受け取り、この受け取ったデータをそれの内部データベース管理装置で処理してデータ圧縮などを実施した後、ヘッドエンドコントローラー(34)のコントロール下で上記テキスト情報をその視聴者に伝える。 - 特許庁
To integrate bioinformation such as medical data, data on a medical examination result, data on an execution result of a prevention-improvement program, or data related to daily life, to improve reliability of information provided from a test subject including a patient, and to complement minute individual instruction by a medical worker.例文帳に追加
医療データ、健康診断結果のデータ、予防・改善プログラムの実施結果のデータ、日常生活に関連するデータ等の生体情報の統合を実現し、かつ患者を含む被検体から提供される情報の信頼性を向上し、医療従事者によるきめ細かな個別指導の補完を行うことを可能とすること。 - 特許庁
The semiconductor device has a comparator 4 comparing the output of the data input latch and the output of the data output latch with each other, a read/write control counter 5 generating read write mode switching signals by dividing a clock frequency, a means 14 reversing the data of the data input latch, and a means 8 making a refresh address counter serve also as the address generating counter of the test circuit.例文帳に追加
データ入力ラッチの出力とデータ出力ラッチの出力を比較するコンパレータ4と、クロックを分周してリードライトモード切替信号を発生させるリード/ライトコントロールカウンタ5と、データ入力ラッチのデータを反転する手段14と、リフレッシュアドレスカウンタをテスト回路のアドレス発生と兼用する手段8とを持つ。 - 特許庁
After processing to form a plurality of semiconductor chips on each semiconductor wafer and test each semiconductor chip by a lot constituted of a plurality of semiconductor wafers, common data through each semiconductor wafer within the same lot is stored in one characteristic data file f1, and characteristic data of each semiconductor chip obtained by a test is stored in a semiconductor chip characteristic data file f2 classified by measurement terms of characteristics.例文帳に追加
複数の半導体ウェーハで構成されるロット単位で、各半導体ウェーハそれぞれに複数の半導体チップを形成する処理、及び各半導体チップそれぞれの検査を行い、同じロット内の各半導体ウェーハに共通するデータを1つのロット特性データファイルf1に格納し、検査によって得られる各半導体チップの特性データを、特性の測定項目ごとに分けて1つの半導体チップ特性データファイルf2に格納する。 - 特許庁
The method for substituting cell-based morphological information contained in the cytological and/or histological data of a test sample with molecule information obtained from the solution above, includes the steps of dissolving a raw test material and precisely and repeatably conducting medically associated evaluation from the test sample solved.例文帳に追加
本発明は、試験試料の細胞学的および/または組織学的データに含まれる細胞ベースの形態学的な情報を上記溶液から得られる分子情報によって置換する方法であって、原試験試料を溶解し、溶解された試験試料から医学的に関連した評価を正確かつ再現可能に行うことを可能とする方法を提供する。 - 特許庁
Test writing of the same multilevel data is performed continuously at the prescribed test region so that length of a track in the tangential direction is longer than a spot diameter of a light spot formed in a track at the time of reproduction (step 407), and appropriate recording power and recording strategy are obtained based on a level of a reproduction signal from its test region (step 409-423).例文帳に追加
同一多値レベルデータを、再生時にトラックに形成される光スポットのスポット径よりもトラックの接線方向の長さが長くなるように連続して所定のテスト領域に試し書きし(ステップ407)、そのテスト領域からの再生信号のレベルに基づいて、適切な記録パワー及び記録ストラテジを取得する(ステップ409〜423)。 - 特許庁
The display driver further includes a test circuit 16 that is provided between the gradation data register circuit 14 and the gradation voltage selector circuit 18, the test circuit 16 connecting at least a part of a plurality of bit lines among bit lines provided between both of the circuits through a common node in a test mode, so as to perform failure detection based on a value of current that flows in the common node.例文帳に追加
さらに、階調データレジスタ回路14と階調電圧セレクタ回路18との間に設けられ、テストモード時において、両回路間に設けられたビット線に含まれる少なくとも一部の複数ビット線を共通ノードを介して互いに接続し、この共通ノードを流れる電流値に基づいて故障検出を行うテスト回路16を備える。 - 特許庁
The method includes the steps of: detecting via a host computer the connection of each instrument to the data communication network; uploading data received from each instrument to the host computer; processing the uploaded data on the host computer for operator review; and downloading configuration data from the host computer to each test instrument, the downloaded data including instrument-specific setup and control data.例文帳に追加
本方法は、各器具のデータ通信ネットワークへの接続を、ホストコンピュータを介して検出するステップと、各器具から受信されたデータをホストコンピュータへアップロードするステップと、アップロードされたデータを、オペレータのレビューのためにホストコンピュータ上で処理するステップと、構成データをホストコンピュータから各検査器具へダウンロードするステップとを備え、ダウンロードされたデータは、器具固有のセットアップおよびコントロールデータを有する。 - 特許庁
Read image data of a test pattern in which pattern elements (for example, lines) are sparsely recorded on a recording medium by a recording head having a plurality of recording elements are acquired.例文帳に追加
複数の記録素子を有する記録ヘッドによって記録媒体上にパターン要素(例えば、ライン)がまばらに記録されたテストパターンの読取画像データを取得する。 - 特許庁
Test data of 8 bits given from an input pin 20 are extended into 32 bits in an extension part 21, and passed to an input terminal CI of a core part 10 via a selector 22.例文帳に追加
入力ピン20から与えられた8ビットの試験データは、拡張部21で32ビットに拡張され、セレクタ22を介してコア部10の入力端子CIに与えられる。 - 特許庁
Then, the CPU 21 uses each pieces of the test data to execute the development target program on the DSP 11, acquires an output processing result, and stores it in the storage device 4.例文帳に追加
そして、CPU21は、各試験データを用いてDSP11上で開発対象プログラムを実行させ、出力される処理結果を取得して記憶装置4に格納する。 - 特許庁
(3) The server of the specified test institution has a function of registering the application form uploaded in data format as the database and a function of automatically giving an examinee's number.例文帳に追加
(3)指定試験機関のサ−バは、デ−タ形式でアップロ−ドされた申請用紙を、デ−タベ−スとして登録及び、受験番号の自動採番機能を有する。 - 特許庁
While test data for turning this heating body ON by one pixel are inputted to the thermal head 4, the voltage measuring circuit 15 measures opposite-end voltages V1n of the resistor R for each heating body.例文帳に追加
発熱体21を1画素ずつオンさせるテストデータをヘッド4に入力ながら、電圧測定回路15が各発熱体21毎に抵抗Rの両端電圧V1_n を測定する。 - 特許庁
To provide a data carrier semiconductor device capable of expecting highly reliable operation even when the device is loaded with a test command for optionally rewriting contents.例文帳に追加
任意に内容を書き換えるテストコマンドを搭載した場合であっても、信頼性の高い動作を期待できるデータキャリア半導体装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide an apparatus and program for simulating propagation environment capable of using data unique to an area wherein a terminal field test is actually conducted for a propagation parameter.例文帳に追加
実際に端末フィールド試験を行うエリア固有のデータを伝搬パラメータとして用いることのできる伝搬環境模擬装置およびプログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁
The simulation results are compared with a limitation and the data from the comparison are provided for showing whether or not any limitation is violated during simulation by a test rod pattern design.例文帳に追加
シミュレーション結果は限界と比較され、比較からのデータは、シミュレーション中にいずれかの限界が試験ロッドパターンデザインにより違反されたか否かを示すために提供される。 - 特許庁
A secondary electron emitted from a wafer is detected by a detector 41-9, and converted into image data by an image processing part 42-9, and a prescribed pattern test is carried out.例文帳に追加
ウエハから放出された二次電子は、検出器41−9で検出され、画像処理部42−9で画像データに変換され、所定のパターン検査が実施される。 - 特許庁
Attribute information 64 on a print job is printed and simultaneously a test pattern image 61 is formed on the first printing paper P, when print job data is received.例文帳に追加
印刷ジョブデータを受信すると、まず、1枚目の印刷用紙Pに、印刷ジョブに関する属性情報64を印字すると共に、テストパターン画像61を形成する。 - 特許庁
An X-ray tube samples the data during it moves along helical track against a test specimen together with a detector equipped with plural rows of detectors corresponding to multi-slice.例文帳に追加
X線管が検出器列を複数備えたマルチスライス対応の検出器とともに被検体に対して螺旋状軌道を移動する間にデータをサンプリングする。 - 特許庁
The optimum pressure on the high pressure side for each heat sink inlet temperature is based on data obtained by a prior test and is set in a controller 42 in advance.例文帳に追加
各々のヒートシンク入口温度に対する最適な高圧側圧力は、事前の試験で得られたデータに基づいており、かつ制御装置(42)に予設定されている。 - 特許庁
As data read out from the real cell array and the parity cell array are compared simultaneously with the expected value, a test time can be shortened and a manufacturing cost of a semiconductor memory can be reduced.例文帳に追加
リアルセルアレイおよびパリティセルアレイから読み出されるデータが同時に期待値と比較されるため、試験時間を短縮でき、半導体メモリの製造コストを削減できる。 - 特許庁
(ii) When employing market risk measurement technique, does the institution make the selection after weighing its calculation results against the outcomes obtained through the use of other techniques by using test data? 例文帳に追加
(ⅱ)市場リスク計測手法を採用するに当たっては、テスト・データにより他の計測手法で算出した結果と比較・検討した上で、採用を決定しているか。 - 金融庁
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