「Test data」に関連した英語例文の一覧と使い方(53ページ目) - Weblio英語例文検索

Thus, it is possible to execute the preparation of reception by using a period since the test command is received until the image data are transmitted by uni-directional communication.例文帳に追加

こうすることにより、テストコマンドを受信してから単方向通信により画像データが送信されてくるまでの期間を利用して受信の準備を実行することができる。 - 特許庁

A correction data generating device 60 is coupled to a print sample reading device 70 for reading a test pattern on a print sample PS formed by using an LPH (light emitting diode print head) 14.例文帳に追加

補正データ生成装置６０は、ＬＰＨ１４を用いて作成されたプリントサンプルＰＳ上のテストパターンを読み取るプリントサンプル読取装置７０に接続されている。 - 特許庁

To obtain an IC tester which analyzes and edits sorting data as an IC test result and which displays the tendency and cause of generating failures.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣテスタにおいて、ＩＣテスト結果である分類データを解析及び編集し、ＦＡＩＬが発生する傾向や要因をグラフ等により表示することである。 - 特許庁

In a master data preparation process S1, a non-defective board is operated on the basis of a predetermined test program, a signal of all nets or a selected net is measured, and the result is stored.例文帳に追加

マスタデータ作成工程Ｓ１では良品基板を予め作成したテストプログラムで動作させ、全ネットまたは選択ネットの信号を測定し、その結果を格納する。 - 特許庁

By this arrangement, test ticket data can be reduced significantly, and the judgement on the fare calculated by the fare calculation means can be implemented in a sure manner with a little boarding and exiting information.例文帳に追加

これにより、テスト券データを大幅に削減でき、運賃算出手段が算出する運賃の判定を、少ない乗降車情報で確実に行うことができる。 - 特許庁

A fault notification unit 134 notifies an operator of occurrence of a fault if the decoding determination unit 12 determines the fault has occurred in decoding processing of the test data.例文帳に追加

故障通知部１３４は、テストデータに対する復号処理において障害が発生したと復号判定部１２が判定した場合、故障の発生を通知する。 - 特許庁

To hold actual data at a secondary site even if a test using a primary site is under execution, and to rapidly synchronize the secondary site with the primary site after resuming operation.例文帳に追加

プライマリサイトを用いたテストを実行中であっても、セカンダリサイトで実データを保持できるとともに、運用再開後にセカンダリサイトをプライマリサイトと迅速に同期させる。 - 特許庁

During a test of the circuit 11, the circuit 14 is bypassed using a bypass wiring 16 and the data to be not demodulated are directly transferred to the DRAM 20.例文帳に追加

リードチャネル回路１１のテスト時には、バイパス配線１６を用いて８−１６復調回路１４をバイパスし、復調されないデータを直接ＤＲＡＭ２０に転送する。 - 特許庁

Test data input(TDI signal), supplied from an external inspection apparatus (not shown), is respectively inputted to the TDI terminals of integrated circuit devices 1, 2, 3 in parallel.例文帳に追加

外部の検査装置（図示せず）から供給される入力テストデータ（ＴＤＩ信号）を、集積回路デバイス１，２，３の各ＴＤＩ端子に並列にそれぞれ入力する。 - 特許庁

When the output of an AND circuit 6 becomes a high level by a bus cycle end signal BE, a flip flop 8 outputs a high-level test signal Te from a data terminal.例文帳に追加

バスサイクルエンド信号ＢＥにより、論理積回路６の出力がハイレベルとなるとフリップフロップ８はデータ端子からハイレベルのテスト信号Ｔｅを出力する。 - 特許庁

The circuit 490 collects the transfer source node number of fault data and notifies a test execution circuit 480 of fault occurrence and the transfer source node number.例文帳に追加

障害情報収集回路４９０は障害データの転送元ノード番号を収集し、テスト実行回路４８０へ障害発生および転送元ノード番号を通知する。 - 特許庁

A read-out driver circuit 1092 gives a compared result of data successively read out to the latch circuit 1073b in accordance with a read-clock signal RCLK, in a test operation mode.例文帳に追加

読出ドライバ回路１０９２では、テスト動作モードにおいては、順次読出されるデータの比較結果をリードクロック信号ＲＣＬＫに応じて、ラッチ回路１０７３ｂに与える。 - 特許庁

To provide an automatic testing system, capable of transmitting test result data by an automatic testing device from a transmitter and receiving the transmission at a receiver arranged at a required location.例文帳に追加

自動試験装置による試験結果データを送信機で送信させ、その送信を必要な場所に配置した受信機で受信できる自動試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a built-in self-test(BIST) system that tests normality of data transmission at a payload level in a satellite communication system and of a communication satellite in the system.例文帳に追加

衛星通信システムおよびシステム内の通信衛星のペイロード・レベルにおいて、データ伝送の正常性を検査する内部自己検査（ＢＩＳＴ）システムを提供する。 - 特許庁

In bothe modes of the normal operation mode and the test mode, the output buffer 10 is operated and data from the output control circuit 1 is outputted from the output terminal 6.例文帳に追加

通常動作モードとテストモードの両方において、出力バッファ１０を動作させて出力制御回路１からのデータを出力端子６から出力させる。 - 特許庁

A calculation part 45 of the regulator 4 checks the signal from the dew condensation detector 8 against corrosion state evaluation data and determines the dew condensation state of the test object W.例文帳に追加

また、調節器４の演算部４５は、結露検出器８からの信号と腐食状態評価データとを照合し被試験物Ｗの結露状態を判断する。 - 特許庁

The calibration light source is then installed in a client test apparatus and operated at the fixed power level in order to collect the full spectrum power distribution and generate a second data set.例文帳に追加

次に、校正光源は顧客の試験装置に設置され、全スペクトルパワー分布を収集するために一定のパワーレベルで運転され、第２のデータセットを生成する。 - 特許庁

To provide a fatigue tester capable of acquiring fatigue strength characteristic data at low cost under an environment actually and suitably used for a test sample.例文帳に追加

低コストで、且つ、好適に試験試料の実際に利用される環境下での疲労強度特性データを取得することができる疲労試験機を提供することにある。 - 特許庁

To provide a device for automatically creating multiple-choice questions, the device automatically creating, in cooperation with electronic dictionary data, multiple-choice questions to test the level of comprehension of a word.例文帳に追加

電子辞書データと連携して単語の理解度をテストするための選択問題を自動生成することのできる選択問題自動生成装置を提供する。 - 特許庁

When a compressed data pattern 107 in the test response analyzer is represented by using the logical variables (d), a conditional expression that should be satisfied by the logical variables (d) can be obtained.例文帳に追加

テスト応答解析器における圧縮データパターン１０７をこれらの論理変数ｄを用いて表すと、論理変数ｄが満足すべき条件式が得られる。 - 特許庁

Reliability of the distance data computed is determined by evaluating the characteristics of the histogram produced, based on the distance between the stereo camera and the test chart.例文帳に追加

この生成されたヒストグラムの特性を、ステレオカメラとテストチャートとの間の距離に基づいて評価することにより、算出された距離データの信頼性を判定する - 特許庁

To simultaneously test plural pieces of high speed memories of a time when a waveform of read out data is defined is extremely short.例文帳に追加

読み出されるデータの波形が確定している時間が非常に短い高速メモリを同時に複数個試験することができる半導体メモリ試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

Write or read to/from a storage element is performed by a verification test program, and the data of the scoreboard are updated so that access to the storage element can be realized at random.例文帳に追加

検証のテストプログラムで、記憶素子に対して、ライトもしくはリードを行うと同時に、スコアボードのデータを更新することによって、ランダムにアクセスすることを可能としている。 - 特許庁

At the time of verifying a high speed operation logic circuit, a high speed test pattern is inputted as the input data 6 for setting register directly from a bypass signal 5 to the selector section 2.例文帳に追加

一方、高速動作論理回路検証時には、レジスタ設定用入力データ（６）としての高速テストパターンをバイパス信号（５）からセレクタ部（２）へ直接に入力する。 - 特許庁

When a correct ignition key 100 is used, the module 140 obtains the password code of the key from an immobilizer ECU 12 and uses the code to cipher the test data.例文帳に追加

正しいイグニッションキー１００が使われている場合、モジュール１４０は、そのキーの暗証コードをイモビライザＥＣＵ１２から取得し、これを用いてテストデータを暗号化する。 - 特許庁

To provide a coordinate transformation system for transforming the physical address of FBM data, provided in the test process of a semiconductor device, into the physical coordinates of a quadrature/real coordinate system.例文帳に追加

半導体装置の テスト工程で得られるＦＢＭデータの物理アドレスを直交・実座標系である物理座標に変換するための座標変換システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a system LSI having the function capable of rightly reading data of an external device when performing a high-speed test with a clock signal higher in speed than in general operation.例文帳に追加

通常動作時よりも高速なクロック信号で高速試験を行う時に、外部装置のデータを正しく読み込むことができる機能を備えたシステムＬＳＩを提供する。 - 特許庁

To test all items of a mobile data communication modem efficiently and automatically by processing both protocols on the DTE side and the pseudo PS side in combination.例文帳に追加

移動体データ通信モデムのテストにおいてＤＴＥ側と擬似ＰＳ側の双方のプロトコルを組み合わせて処理し、すべてのテスト項目を効率よく自動的に行う。 - 特許庁

A latch on a scan chain holding programming information for each eFuse is used in order to encode and preserve array redundant data from each test in the same eFuse bank.例文帳に追加

各テストからのアレイ冗長性データを同じ eFuse バンクにおいてエンコードおよび保存するために、各eFuse に対するプログラミング情報を保持するスキャン・チェーン上のラッチが使用される。 - 特許庁

A net list simulation means inputs the working rate calculation test pattern of the gate and a net list edited for operation rate calculation, and calculates the working rate data of the gate.例文帳に追加

ネットリストシミュレーション手段は、ゲートの動作率算出用テストパタンと動作率算出用に編集されたネットリストを入力し、ゲートの動作率データを算出する。 - 特許庁

To provide the operation system of study data which includes the preparation mode of test questions for attaining a remarkable learning effect while improving the efficiency of preparing the questions.例文帳に追加

問題作成の効率化を図る一方で、顕著な学習効果を得ることを可能とするテスト問題の作成態様を含む学習データの運用システムを提供する。 - 特許庁

The data mining server 5 decides an actual response rate calculated from the result of test transmission or an advertisement rate corresponding to the predicted response rate (number) in transmission.例文帳に追加

データマイニングサーバ５は、テスト送信の結果から算出した実際のレスポンス率、または、本送信における予測レスポンス率（数）に対応する広告料金を決定する。 - 特許庁

The basic test speed is 500 MHz, but this speed can be increased to up to 1 GHz in Double Data Rate Mode (DDR Mode), for at-speed testing of today's faster memory devices. 例文帳に追加

基本的な試験速度は500MHzであるが, 今日のより速い記憶デバイスの速度指向試験用には, DDR(倍速)モードでこの速度を1GHzまで増大させることができる. - コンピューター用語辞典

To provide a personality testing apparatus which enables a subject to easily answer to MMPI (Minnesota Multiphasic Personality Inventory), and makes it possible to accurately and speedily score and aggregate test data.例文帳に追加

ＭＭＰＩ( Minnesota Multipbasic Personality Inventory)を、被験者が容易に回答できると共に、検査データの採点・集計を正確かつ迅速に行うことが可能な人格検査装置を提供する。 - 特許庁

When a test generator comprising a computer is initialized (410), a diagram composed of higher-level semantic notations of a statechart notation and a data-flow notation is input (420).例文帳に追加

計算機からなる検査生成装置が初期化され（４１０）ると、ステートチャート表記及びデータ・フロー表記の上位セマンティック表記のからなる線図が入力される（４２０）。 - 特許庁

The workpiece is subjected to test machining of second holes using coordinate data passed through the reverse characteristic filter, and a second deviation between the position of each hole and an objective position is measured.例文帳に追加

逆特性フィルタを通した座標データを用いて２回目の孔をテスト加工し、それらの孔の位置と目標位置との間の第２のずれ量を測定する。 - 特許庁

If a bit error occurs in the same determination area when the test data is reproduced and a plurality of ECC errors occur, it is recognized as a defective sector.例文帳に追加

試験データを再生して複数回のＥＣＣエラーが発生したときに同一の判定領域にビット・エラーが発生している場合には、欠陥セクタであると認定する。 - 特許庁

The EEPROM 13 is an electrically data writable and erasable nonvolatile memory, and on the test stage of the one-chip microcomputer 1, the tested result is written.例文帳に追加

ＥＥＰＲＯＭ１３は、電気的にデータの書き込み及び消去が可能な不揮発性のメモリであり、１チップ・マイクロコンピュータ１のテスト段階において、そのテスト結果が書き込まれる。 - 特許庁

To correctly decide a compression parameter by which a target compression rate is attained by only a few test compression times by calculating the proper compression parameter to obtain the target compression rate and compressing image data through the use of the calculated compression parameter.例文帳に追加

本発明は、電子カメラまたは画像処理プログラムの画像圧縮動作において、所望の目標圧縮率を的確に達成することを目的とする。 - 特許庁

If the data of testing based on OECD TG431 (human skin model Epidermis), TG430 (skin electric conductivity test) is available; the substance is classified in accordance with the decision criteria with which it is validated at each of the tests.例文帳に追加

OECD ＴＧ431（ヒト皮膚モデル Epiderm）、ＴＧ430（皮膚電気伝導度試験）に基づき試験されたデータがあれば、その試験ごとにバリデートとされた判定基準に従って分類。 - 経済産業省

As for serious eye damage or irritation, there are clear decision criteria in GHS, and classification shall be made in accordance with the flow of decision logic 3.3.1 of GHS, while referring to the technical advice for the decision method according to the existing test data, as described below.例文帳に追加

眼の重篤な損傷性・刺激性については、ＧＨＳに明確な判定基準があり、GHS の判定理論3.3.1 のフローに従って分類すること。 - 経済産業省

The distance data regarding the test chart projected in the pickup image are treated as evaluation samples, and a histogram showing the relation between the distance value of the evaluation sample and its appearance frequency is produced.例文帳に追加

撮像画像に映し出されたテストチャートに関する距離データを評価サンプルとし、この評価サンプルの距離値と出現度数との関係を示したヒストグラムを生成する。 - 特許庁

To inexpensively provide supply of data for calibrating a test piece for every production lot, and updating of a firmware built in measuring instrument, in a measuring instrument for measuring the characteristic of a specimen based on a color reaction of the specimen such as blood spotted on the test piece.例文帳に追加

血液などの検体を、試験片に点着し、その呈色反応などから、検体の特性を測定する測定装置において、試験片を造ロットごとに較正するためのデータの供給や、測定装置に組み込まれたファームウェアの更新を安価に提供する。 - 特許庁

To provide a 300 mm silicon test wafer and the like, whereby high reproducibility is proper for the structure of an edge of the 300 mm test wafer for ensuring performance data evaluation in a semiconductor manufacturing apparatus, an evaluating apparatus, and the like, and wherein exfoliation of a film or scratches are not produced.例文帳に追加

半導体製造装置、評価装置などの性能データ評価を確実にするための３００ｍｍテストウエハのエッジ部の構造について再現性が良好であって、膜剥離や傷等の生じることのない３００ｍｍシリコンテストウエハ等を提供する。 - 特許庁

To enable the test of the other chips during the data holding test period of an SRM in a composite semiconductor device where a SRAM(static RAM) chip and the other IC chips are included and the corresponding output terminals of both chips are connected in common to a single external output terminal.例文帳に追加

ＳＲＡＭチップと他のＩＣチップとを含み、該両チップの対応する出力端子が、単一の外部出力端子に共通接続されて成る複合半導体装置に於いて、ＳＲＡＭのデータ保持テスト期間中に、他のチップのテストを可能とする。 - 特許庁