「Test data」に関連した英語例文の一覧と使い方(57ページ目) - Weblio英語例文検索

Such an embodiment is preferable that a non-image part is engraved with a prescribed test chart before the start of engraving of the image region or during engraving of the image region and shape data obtained by measuring the chart and target solid shape data of the chart are compared with each other.例文帳に追加

画像領域の彫刻開始前又は画像領域の彫刻とともに、非画像部に所定のテストチャートを彫刻し、チャートを測定して得た形状データとチャートの目標立体形状データとを比較する態様が好ましい。 - 特許庁

The mounting substrate has connecting wiring (50) connecting a data input-output terminal (10c) for the first semiconductor device (3) and the data input-output terminal (11d) for the second semiconductor device (4), and has branch wiring (51) to a test terminal (12t) from an intermediate section.例文帳に追加

実装基板に第１の半導体デバイス（３）のデータ入出力端子（１０ｃ）と第２の半導体デバイス（４）のデータ入出力端子（１１ｄ）と接続する接続配線（５０）を有し、途中からテスト端子（１２ｔ）に至る分岐配線（５１）を有する。 - 特許庁

To prevent the decrease of a data transfer speed depending upon a test data bus for single-DRAM-part evaluation and to suppress an increase in the number of pads for testing the single DRAM part as to the semiconductor storage device having an MPU and a secondary cache DRAM on one chip.例文帳に追加

ＭＰＵと２次キャッシュ用ＤＲＡＭとを１チップ化した半導体記憶装置において、ＤＲＡＭ部単体評価のためのテスト用データバスに基づくデータ転送速度の低下を防止し、ＤＲＡＭ部単体テスト用のパッド数の増加を抑制する。 - 特許庁

More pairs of bit lines are simultaneously connected to a data bus line at the time of a stress test mode than that at the time of a normal write-in mode, and voltage of a H level and a L level are applied to a pair of bit line simultaneously connected from a write-in amplifier connected to the data bus line.例文帳に追加

ストレス試験モードの時に、通常の書き込みモード時より多くのビット線対がデータバス線に同時に接続され、データバス線に接続された書き込みアンプから同時接続されたビット線対にＨレベルとＬレベル電圧を印加する。 - 特許庁

When data is recorded in the optical disk 10 having no identification information, test data is recorded with the average record strategy and the strategy changed from this, the strategy, in which a detection rate for a synchronizing signal is a predetermined value or more, is set as the optimal strategy.例文帳に追加

識別情報のない光ディスク１０にデータを記録する場合、平均的な記録ストラテジ及びこれを変化させたストラテジでテストデータを記録し、同期信号の検出率が所定値以上となるストラテジを最適ストラテジに設定する。 - 特許庁

The pattern data PTN of the output expected values corresponding to input signals IN1-INm are inputted in series from a test input terminal 9, converted into parallel data by a S/P converter 7, and fed to a first input side of a comparator 5.例文帳に追加

入力信号ＩＮ１〜ＩＮｍに対応した出力期待値のパターンデータＰＴＮが、試験入力端子９から直列に入力され、Ｓ／Ｐ変換器７で並列データに変換されて比較器５の第１の入力側に与えられる。 - 特許庁

To provide an apparatus for measuring setup/hold time, which produces data signals and an internal clock signal using an external clock signal in response to a test signal and measures the setup/hold time according to the states of buffered data without read/write operations.例文帳に追加

テスト信号に応じて外部クロック信号からデータ信号と内部クロック信号を生成し、読取り／書込み動作無しでバッファリングされたデータの状態によってセットアップ／ホールドタイムを測定できるようにしたセットアップ／ホールドタイム測定装置を提供する。 - 特許庁

Thus, correspondence data CD for specifying a correspondence relation between each test ink amount set and the graininess index GI can be obtained, and a neural network as the graininess profile 200 is built up by using the correspondence data CD for a teacher signal.例文帳に追加

これにより、各テストインク量セットと粒状性指数ＧＩとの対応関係を規定した対応データＣＤを得ることができ、同対応データＣＤを教師信号として、粒状性プロファイル２００としてのニューラルネットワークを構築する。 - 特許庁

The controlling part tests a recording power in a recording power test region other than a user data recording region and decides a controlling power before recording an user datum and the user datum is recorded on the user data recording region on the basis of the decided recording power.例文帳に追加

ユーザデータの記録を行なう前に、制御部は、ユーザデータ記録領域以外の記録パワーテスト領域にて、記録パワーのテストを行なって記録パワーを決定し、決定された記録パワーに基づいてユーザデータ記録領域にユーザデータの記録を行なう。 - 特許庁

The semiconductor memory test device, which is configured to transfer failure data to the buffer memory from a fail memory, is provided with a failure counter part for counting the total number of failures for every page at the same time when failure data is transferred to a buffer memory.例文帳に追加

フェイルメモリからバッファメモリへフェイルデータを転送するように構成された半導体メモリ試験装置において、バッファメモリへのフェイルデータの転送と同時にページ毎の総フェイル数をカウントするフェイルカウンタ部を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

After the test data have been stored, when the logic level of the select signal SL is varied, the selector 22 selects an internal clock CLK generated by an internal oscillating circuit 21, and a core logic part 23 generates output data through the action synchronized with the clock CLK.例文帳に追加

テスト用データが格納された後、セレクト信号ＳＬの論理レベルを変化させると、セレクタ２２は、内部発振回路２１の発生する内部クロックＣＬＫを選択し、コアロジック部２３が該クロックＣＬＫに同期した動作で出力データを生成する。 - 特許庁

In a shift mode of a scan pass test, the control signal dc is set to '1', the control signal dcn is set to '0', and the data receiving clocked inverter 23 is set to an off-state and separated from the node 25.例文帳に追加

スキャンパステストのシフトモード時には、制御信号ｄｃを“１”、制御信号ｄｃｎを“０”に設定し、データ取り込み用クロックドインバータ２３をオフ状態にしてノード２５から切り離す。 - 特許庁

A standard test piece is used to measure distance amplitude characteristics of respective flaw detection lines and the difference with a flaw detection line becoming a standard is stored in a distance amplitude characteristic correction data memory means 11.例文帳に追加

標準試験片を用いて、各探傷ラインの距離振幅特性を測定し、基準となる探傷ラインとの差異を距離振幅特性補正データ記憶手段１１に記憶する。 - 特許庁

To provide an analyzer capable of detecting focus blur quantity from the image data of the fiber structure of the surface of a photographed test piece to determine the measuring region corresponding to the focus blur quantity.例文帳に追加

撮影した試験片表面の繊維構造の画像情報からピントぼけ量を検出することにより、それに応じた測定領域の決定が可能な分析装置を提供する。 - 特許庁

To allow centralized control of the data for a plurality of properties of a die on a semiconductor wafer, which is an object of a parametric test, as well as real-time compilation and display on the same tool.例文帳に追加

パラメトリック・テストの対象となる半導体ウエハ上のダイの複数の属性のデータの一元管理、同一ツール上での実時間上での編集作業、表示を可能にする。 - 特許庁

Thus, when the data logger or the control computer gets out of use, it can quickly be replaced with the general purpose one, thereby smoothly quickly performing the test for determining the quality of the auto-pickup control device 8-i.例文帳に追加

このとき、いずれかが故障したときに、迅速に調達することができ、オートピックアップ制御装置８−ｉの良否を判定する試験をスムーズに速く実施することができる。 - 特許庁

In a test mode, comparators 11a, 11b compare values of data read from respective memory cells connected to an activated word line, with expected values to be read from respective memories every column.例文帳に追加

テストモード時に、比較器１１ａ，ｂは、活性化されたワード線に接続されている各メモリセルから読み出されたデータの値と、各メモリから読出されるべき期待値とを、カラムごとに比較する。 - 特許庁

To provide a printer in which scanning can be performed automatically by using a test print of minimum size at the time of creation of unevenness correction data of a printer, e.g. an ink jet printer.例文帳に追加

インクジェット式プリンタ等のプリンタのムラ補正データの作成において、最小限の大きさのテストプリントを用いて、自動的にスキャンすることのできる印刷装置を提供すること。 - 特許庁

To transmit data to a plurality of physical layer protocols PHY having a UTOPIA 1 interface from an ATM layer chip with a universe test and operation physical layer interface for ATM UTOPIA level 2 interface.例文帳に追加

ＵＴＯＰＩＡレベル２インタフェースを有する１つのＡＴＭレイヤｃｈｉｐより、ＵＴＯＰＩＡレベル１インタフェースを有する複数のＰＨＹに対しデータの送信を可能とする。 - 特許庁

To miniaturize a joint bending measuring device with a simple constitution, to enlarge an application range, and to easily provide data of a safety evaluation test of a mechanical element.例文帳に追加

関節部曲げ測定装置を簡単な構成により小型化が可能で適用範囲が広く容易に機械的要素に対する安全性評価試験のデータを得ることができるようにする。 - 特許庁

The data analyzer identifies each light intensity measurement value obtained from at least one test region, and calculates at least one parameter from each identified light intensity measurement value.例文帳に追加

データ分析器は、少なくとも１つのテスト領域から得られた各光強度測定値を識別し、識別された各光強度測定値から少なくとも１つのパラメータを算出する。 - 特許庁

The data binding section 307 relates received blood collected tube ID information D3 with patient ID information D1 and test information D2 being previously stored in the DB 308.例文帳に追加

紐付け部３０７では、予めＤＢ３０８に格納された患者ＩＤ情報Ｄ１および検査情報Ｄ２と、受信された採血管ＩＤ情報Ｄ３との関連づけを行う。 - 特許庁

ANALYSIS RESULT DISPLAYING DATA GENERATOR, METHOD AND PROGRAM, PROGRAM GENERATOR WITH TEST FUNCTION, METHOD AND PROGRAM, CONTROL OPERATION DETERMINING APPARATUS, METHOD AND PROGRAM, AND CONTROL OPERATION DETERMINING SYSTEM例文帳に追加

分析結果表示用データ生成装置、方法及びプログラム、テスト機能付きプログラム生成装置、方法及びプログラム、制御動作判定装置、方法及びプログラム、並びに、制御動作判定システム - 特許庁

Thereby, it is possible to prevent unwanted data from being input to the combined circuits 8, 9, and it is possible to reduce a simultaneous switching place during the scan test so as to reduce power consumption.例文帳に追加

これにより、組み合わせ回路８、９への不必要なデータの入力を阻止することで、スキャンテスト中の同時スイッチング箇所を減らして消費電力を低減することが可能である。 - 特許庁

A BIOS executes an operation test, regarding data transfer between a first device controller 20 and a device 21 while varying the combination of the value of interface voltage and the value of operating voltage.例文帳に追加

ＢＩＯＳは、第１のデバイスコントローラ２０とデバイス２１との間のデータ転送に関する動作テストを、インターフェース電圧の値と動作電圧の値の組み合わせを変化させながら実行する。 - 特許庁

An emulation model is generated by a data generating means 371 for emulation equipped with an emulation circuit model library 380 for converting setting in a simulation test bench into setting for emulation.例文帳に追加

シミュレーションテストベンチでの設定をエミュレーション用に変換するエミュレーション回路モデルライブラリ３８０を具備したエミュレーション用データ生成手段３７１により、エミュレーションモデルを生成する。 - 特許庁

A measuring device 102 instructs a test control part 112 to select the data from an input register 121 when the SETUP/HOLD time of the input register 121 is measured.例文帳に追加

測定装置１０２は、入力レジスタ１２１のＳＥＴＵＰ／ＨＯＬＤ時間を測定するとき、テスト制御部１１２に対し、入力レジスタ１２１からのデータを選択する旨を指令する。 - 特許庁

A light output from a light source 102 of an optical sender 101 is modulated by using repetition signals of "0011" from a test pattern generator 105 and a data modulator 103.例文帳に追加

光送信部１０１の光源１０２から出力された光を、試験パターン発生器１０５からの“００１１”の繰り返し信号と、データ変調器１０３を用いて変調する。 - 特許庁

The memory module 110 stores at least one data file for printing at least one standard marking agent test page and is coupled (linked) with the control panel 104.例文帳に追加

メモリモジュール１１０は、少なくとも１つの標準マーキング剤テストページ１０９を印刷するための少なくとも１つのデータファイルを格納すると共に、コントロールパネル１０４に結合（リンク）される。 - 特許庁

To provide a data driver whose operating test can be performed easily and surely at a manufacturing stage and also whose testing time can be shortened and a display device in which the driver is used.例文帳に追加

本発明は、製造段階において容易で確実な動作試験が行えると共に、試験時間を短縮することができるデータドライバ及びそれを用いた表示装置を提供する。 - 特許庁

A contents conversion server 2 transmits the data of a test pattern 5 at least a part of which can be displayed to detect a screen format to an onboard terminal 3 provided with a touch panel 3a.例文帳に追加

コンテンツ変換サーバ２がタッチパネル３ａを備えた車載端末３に、画面形式の検知するための、少なくとも一部分を表示可能なテストパターン５のデータを送信する。 - 特許庁

A calibration curve data is generated by intensity of light, which is obtained by light measurement using the obtained optimum distance and the quantitative value of blood component, which is obtained by a specimen test.例文帳に追加

また、取得された最適距離を用いた光計測によって得られる光強度と検体検査によって得られる血液成分の定量値とによって、検量線データを生成する。 - 特許庁

Also, the medical institution 9 outputs a barcode 39 on the basis of data inputted to the electronic form 26 and sticks it to the container or the like of a specimen 40 to be submitted to the clinical test company 5.例文帳に追加

また、医療機関９は電子フォーム２６に入力したデータに基づいてバーコード３９を出力し、臨床検査会社５に提出する検体４０の容器等に貼付する。 - 特許庁

A main viewer making section 80 makes a main viewer window including a table of a test result of each DUT based on this reduction logical data, and displays it on a display device 94.例文帳に追加

メインビューア作成部８０は、この縮小ロジカルデータに基づいて、ＤＵＴ毎の試験結果の一覧表示を含むメインビューア・ウインドウを作成して、表示装置９４に表示する。 - 特許庁

Conventionally, the communication speed in facsimile communication using such a modem has been determined by transmitting, by a transmitting side, predetermined test data at the highest communication speed of the modem. 例文帳に追加

従来、この様なモデムを使用したファクシミリ通信に於いて通信速度を決定する際、送信側は予め定められたテストデータをモデムの最も高い通信速度で送信する。 - 特許庁

Then, on the basis of the drive quantity and the measurement result of the element at the time of the test drive, the correction data are determined which correct the variance of the present electron emission characteristics of the subject element.例文帳に追加

次に、そのテスト駆動時の素子の駆動量と測定結果とに基づいて、当該素子の現在の電子放出特性のばらつきを補正する補正データを算出する。 - 特許庁

To perform a memory test which can cope simply with a circuit in which memories having different data bus width are mixed by decreasing the number of external terminals and suppressing complexing a control circuit.例文帳に追加

外部端子数を減少させると共に制御回路の複雑化を抑制し、データバス幅が異なるメモリが混在している回路に対しても単一のテストパターン生成回路でメモリテストを行う。 - 特許庁

Consequently, lead terminals of all devices 1 being mounted on the test tray 5 and having the need to be tested and the need for writing the programs and the data therein, are connected to the writer or the tester collectively.例文帳に追加

従い５のテストトレーに搭載されているテストやプログラムやデータの書き込みなどが必要な１の全デバイスのリード端子が一括でライタもまたはテスタに接続される事になる。 - 特許庁

In a normal operating mode, the I/O circuit 54 externally outputs the read data at first timing, while in a test mode, the I/O circuit outputs the decision signal with delay at second timing.例文帳に追加

Ｉ／Ｏ回路５４は、通常動作モード時においてはリードデータを第１のタイミングで外部に出力し、テストモード時においては、判定信号をより遅い第２のタイミングで外部に出力する。 - 特許庁

Therefore, when the test data are reproduced for inspecting a scratch, as the reproducing head is never positioned outside the outermost peripheral cylinder [Max], runaway is not caused in a head supporting mechanism.例文帳に追加

したがって、傷の検査のために試験データを再生するときに再生ヘッドが最外周シリンダ［Max］より外側に位置づけられることはないのでヘッド支持機構が暴走することはない。 - 特許庁

Namely, the positioning of the test subject M to the center position of the multilayer detector ring 11 can be easily performed by using the collected TOF data without depending on subjective views of an operator.例文帳に追加

すなわち、収集されたＴＯＦデータを用いて、多層検出器リング１１の中心位置への被検体Ｍのポジショニングを操作者の主観に頼らずに容易に行うことができる。 - 特許庁

Therefore, so to speak the disturb-test which is performed by using a magnetic field generated by the first and the second data write current can be executed in parallel to a memory cell column.例文帳に追加

したがって、第１および第２のデータ書込電流により生じる磁界を用いて行なういわゆるディスターブ試験をメモリセル列に対して並列に実行することができる。 - 特許庁

Then, retrieval test data being different mutually are stored in a word memory of the plurality of associative memory word circuits 6A by boosting the operation voltage VDD1, and the VDD2 at different times.例文帳に追加

そして、動作電圧ＶＤＤ１，ＶＤＤ２の立ち上げに時間差を設けることにより、前記複数の連想メモリワード回路６Ａのワードメモリに、互いに異なる検索テストデータを記憶する。 - 特許庁

Further, the position and/or range of the initializing part, the interrupt table, the address space table, and an address data region beginning position in the test program can be specified.例文帳に追加

さらに、操作手段６により、テストプログラムにおける初期処理部、割り込みテーブル、アドレス空間テーブル、アクセス・データ域先頭位置等の位置および／または範囲を指定することができる。 - 特許庁

In the scan moving phase 320, a scan moving operation including data scan into and out of a plurality of scan chains arranged between the functional logic sections of the device during the test is performed.例文帳に追加

走査移動フェーズ３２０では、テスト中のデバイスの機能ロジックの部分間に配設された複数の走査チェーン中へ及び外へデータを走査することを含む、走査移動動作が行われる。 - 特許庁