「Test data」に関連した英語例文の一覧と使い方(49ページ目) - Weblio英語例文検索

To collect high-quality image data by accurately bringing a detector module closer to the body surface, the detector module moving in the body axis direction of a test body.例文帳に追加

被検体の体軸方向へ移動する検出器モジュールを体表面に精度よく接近させることにより良質な画像データを収集する。 - 特許庁

To attain a tester simulation system for modifying wide use format data by accompanying modification of a test program, and to attain a tester simulation method.例文帳に追加

テストプログラムの変更に伴って、汎用フォーマットデータの変更が行えるテスタシミュレーション装置及びテスタシミュレーション方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a railway vehicle testing apparatus capable of accurately simulating passage irregularities without measuring track irregularity data of a track of a test section.例文帳に追加

試験区間の軌道の軌道不整データを測定することなく通り不整を正確に模擬することのできる車両試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a medical appointment system enabling a patient to promptly receive medical care by effectively utilizing test data at a pre-practice stage.例文帳に追加

診療前の段階で検査情報を有効に活用し、利用者に速やかに診療を受けさせることができる診療予約システムを提供する。 - 特許庁

To provide an image forming system and fault discrimination method in which a fault can easily be segmented by using particular test data.例文帳に追加

特別なテストデータを用いることで簡単に障害の切り分けを行えるようにした画像形成システムおよび障害判別方法を提供する。 - 特許庁

In the function test item development support system, a product name of a product to be referred to in quality function development operation is retrieved from quality function development data in product name retrieval processing S1.例文帳に追加

製品名検索処理Ｓ１では、品質機能展開作業時において参考にする製品の製品名を品質機能展開データから検索する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which tests the on/off state of a ODT circuit during a data read mode, and also to provide a test method of the state of the ODT circuit.例文帳に追加

データ読出モードでＯＤＴ回路のオン／オフ状態をテストできる半導体メモリ装置及びＯＤＴ回路の状態テスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method by which a defective product, in which there is possibility of unexpected rewriting of data, can be eliminated surely as to a nonvolatile semiconductor memory.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置について、不測のデータの書換を生じ得る不良品を確実に排除し得るテスト方法を提供する。 - 特許庁

To continuously control the intensity of the laser in pulse emission state during data recording with no test emission nor using a fast sample hold circuit.例文帳に追加

データ記録中にパルス発光状態にあるレーザを、テスト発光、または、高速サンプルホールド回路を用いることなく、常時連続的に強度を制御する。 - 特許庁

A recording signal (test data, including all patterns) is generated (S2), and mark lengths or space lengths before and after the signal to be recorded are detected (S3).例文帳に追加

記録信号（テストデータ、すべてのパターンが含まれている）を発生させ（Ｓ２）、記録する信号の前後のマーク長あるいはスペース長を検出する（Ｓ３）。 - 特許庁

A test device 900 tests a communication controller 10 functioning as a layer-2 switch device relaying communication data based on information of the layer 2.例文帳に追加

試験装置９００は、レイヤ２の情報に基づいて通信データを中継するレイヤ２スイッチ装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

In the semiconductor test device 1, a sequence control section 10 converts an input signal from a tester control CPU into address scramble data and an address clock signal.例文帳に追加

半導体試験装置１は、テスタ制御ＣＰＵからの入力信号をシーケンス制御部１０が、アドレススクランブルデータ、アドレスクロック信号に変換する。 - 特許庁

Thus, the test data of 72-bit input into the selector circuits S1 to S12 is output in order from the selector circuit ST every 12 bits in taking 6 cycles.例文帳に追加

よって、セレクタ回路Ｓ１〜Ｓ１２に入力された７２ビットのテスト用のデータは、１２ビット毎に６サイクルかけて順次セレクタ回路ＳＴから出力される。 - 特許庁

A graphical user interface is provided to make the data related to the standard test method or equipment and the evaluation method or equipment identifiable.例文帳に追加

グラフィカルユーザインターフェースは、基準方法または機器および評価方法または機器に関連付けられたデータを識別可能にするために提供される。 - 特許庁

By the method, times of the data rewriting actually performed in the test process before delivery are correctly managed concerning each IC chip.例文帳に追加

このような方法によれば、個々のＩＣチップについて、その出荷前の試験工程で実際に行われたデータの書き換え回数を正確に管理することができる。 - 特許庁

The present invention includes creating image data D1 of a wedge pattern through a high number of sampling, and thereater, reducing the number of sampling to output a test video signal S1.例文帳に追加

本発明は、くさびパターンの画像データＤ１を高いサンプリング数により作成した後、サンプリング数を低減してテスト用ビデオ信号Ｓ１を出力する。 - 特許庁

To shorten the time until an timing verified ATPG pattern is obtained by use of STA in a timing verification method of LSI test data.例文帳に追加

ＬＳＩテスト・データのタイミング検証方法において、ＳＴＡの利用によってタイミング検証済みのＡＴＰＧパターンを得るまでの時間を短縮すること。 - 特許庁

The digital still camera 12 registers a setting value corresponding to a test image being selected according to a user's taste newly as the image- processing control data of user setting.例文帳に追加

ディジタルスチルカメラ１２は、ユーザの好みに応じて選択されたテスト画像に対応した設定値を、新たにユーザ設定の画像処理制御データとして登録する。 - 特許庁

In a pin electronics 102a within the semiconductor device test apparatus 100, the reading of the data input/output signal DQ is performed by a comparator 171.例文帳に追加

半導体デバイス試験装置１００内のピンエレクトロニクス１０２ａにおいては、データ入出力信号ＤＱの読み取りをコンパレータ１７１で行う。 - 特許庁

To provide test result data with a high degree of freedom for a user of a semiconductor integrated circuit testing device and to reduce cost on the utilization.例文帳に追加

半導体集積回路試験装置のユーザがより高い自由度で試験結果データを利用することができると共に、当該利用に関するコストを低減する。 - 特許庁

A distribution analysis subsystem (54) performs statistical analysis on the test data to identify underlying distribution (66) and to compare individual attribute types (44) with the distribution (66).例文帳に追加

分布解析サブシステム（54）はテストデータに対して統計解析を行って基礎をなす分布（66）を割り出し、個々の属性タイプ（44）をこの分布（66）と比較させる。 - 特許庁

To provide a stirling refrigerating machine which appropriately controls a driving frequency of a piston according to conditions based on detailed data obtained by an operation test.例文帳に追加

動作試験により得られた詳細なデータに基づいて、ピストンの駆動周波数を状況に応じて適切に制御できるスターリング冷凍機を提供する。 - 特許庁

The test decode signals TMadd1-n are converted into serial data TMcodeSD by a serial-parallel converter circuit 25 in synchronization with a reference clock TMCLK.例文帳に追加

テストデコード信号ＴＭａｄｄ１〜ｎは、基準クロックＴＭＣＬＫに同期して、パラレル・シリアル変換回路２５によりシリアルデータＴＭｃｏｄｅＳＤに変換される。 - 特許庁

To put it concretely, an actual load of the rope is calculated based on operation control data of the elevator and lifetime is judged by using rope damage database determined by an element test.例文帳に追加

具体的には、エレベータの運転制御データからロープの実負荷を演算し、要素試験から求めたロープ損傷データベースを用いて、寿命を判定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device having a constitution for performing an actual operation test of a data storage device inexpensively at a high speed.例文帳に追加

データ記憶装置の実働試験を安価にかつ高速に行うことができる構成を持った半導体集積回路装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A clock control part 31 stops the writing of the address bus information and the data bus information to the dedicated test RAM when it receives the underflow state signal.例文帳に追加

クロック制御部３１は、アンダーフロー状態信号を受けると、テスト専用ＲＡＭへのアドレスバス情報及びデータバス情報の書き込みを停止させる。 - 特許庁

An analytical part 6 analyzes digital data from the ADC4 and conducts an inclined waveform test for evaluating an inclined condition of the waveform in the analogue signal ANS.例文帳に追加

解析部６は、ＡＤＣ４からのデジタルデータを解析し、アナログ信号ＡＮＳの波形の傾斜状態を評価する傾斜波形テストを行なう。 - 特許庁

・The definitions of the categories are based on irritation test results, but there are few data books that contain specific Draize scores to which GHS criteria can be applied.例文帳に追加

・分類区分は刺激性試験データに基づいて定義されているが、GHS評価基準を適用できる詳細なDraizeスコアを記載したデータ集は少ない。 - 経済産業省

・The definitions of the categories are based on eye irritation test results, but there are few data sources that contain specific Draize scores to which GHS criteria can be applied.例文帳に追加

・分類区分は眼刺激性試験データに基づいて定義されているが、GHS 分類基準を適用できる詳細なDraize スコアを記載したデータ集は少ない。 - 経済産業省

The response pulse width is gradually reduced until the result of the comparison is no longer in agreement, and the new test data stream is repeatedly received from the host 11.例文帳に追加

プリンタ１２は比較結果が不一致となるまで、応答パルス幅を逐次縮小していき、ホスト１１から新たなテストデータ列の受信を繰り返す。 - 特許庁

To reduce a measuring time for characteristic test or inspection when manufacturing a data driver used for a dot inversion driving type liquid crystal display device.例文帳に追加

ドット反転駆動方式の液晶表示装置に用いられるデータドライバにおいて、製造時の特性試験または特性検査での測定時間を短縮させる。 - 特許庁

A sampling interval for an ADC 11 is changed in response to the moving speed, by calculating the data sampling interval based on the moving speed of the test piece 3.例文帳に追加

試験片３の移動速度からデータサンプリング間隔を計算することにより、ＡＤＣ１１のサンプリング間隔を移動速度に応じて変更することができる。 - 特許庁

To shorten the printing time per page by printing the text image part of image data mixing a test and a natural picture at a high speed.例文帳に追加

テキストと自然画が混在する画像データに対して、テキスト画像部分については高速に印字を行うことにより、ページあたりの印字時間を短縮する。 - 特許庁

After the test printing, when regular printing is instructed to be done, only the developed data, which are stored in the storage device 13, are output to be printed on the format paper.例文帳に追加

試し印刷を行った後、本印刷が指示されると記憶装置１３に格納された展開データのみを出力してフォーマット用紙に印刷する。 - 特許庁

To provide a fare verification device capable of checking the operation of a fare calculation means even if test data limited to a necessity minimum is used.例文帳に追加

必要最小限に絞り込んだテストデータを用いても、運賃算出手段の動作を十分に確認できる運賃検証装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test navigator system capable of making a computerized electronic document into a data base and timely providing a work instruction and related information to a worker.例文帳に追加

電子化された電子文書をデータベース化し作業指示や関連情報をタイムリーに作業者に提供できる試験ナビゲータシステムを提供することである。 - 特許庁

In the present GHS classification project, if only in vitro mutagenicity test data is available, the substance shall be determined as “Classification not possible” in principle (refer to 2. Item 5)).例文帳に追加

なお、今回のＧＨＳ分類事業においては、in vitro 変異原性試験データしかない場合には、原則「分類できない」とする（２．5）項参照）とした。 - 経済産業省

A SDRAM comprises a data inverting decoder 44 which generates data selection signals DQS0 to DQS3 respectively corresponding to data signals DQ0 to DQ3 conforming to external control signals /OE, /LB, /UB in a test; and a data inverting circuit 30 which inverts each data signal DQ according to the data selection signals DQS0 to DQS3 and outputs them or outputs them without inverting them.例文帳に追加

ＳＤＲＡＭにおいて、テスト時に外部制御信号／ＯＥ，／ＬＢ，／ＵＢに従って、それぞれデータ信号ＤＱ０〜ＤＱ３に対応するデータ選択信号ＤＱＳ０〜ＤＱＳ３を生成するデータ反転デコーダ４４と、データ選択信号ＤＱＳ０〜ＤＱＳ３に従って各データ信号ＤＱを反転させ、または反転させずに出力するデータ反転回路３０とを設ける。 - 特許庁

A test burn-in device 100 is constituted by newly comprising a skew correction data storage circuit 21 and a skew correction data transferring circuit 31 to read skew correction data from the skew correction data storage circuit 21 and to write it in a skew correction data register 13 in the DRV/CMP board 1 of each slot to which the skew correction data register 13 is mounted.例文帳に追加

テストバーンイン装置１００は、スキュー補正データレジスタ１３が実装されている各スロットのＤＲＶ／ＣＭＰボード１において、スキュー補正データ記憶回路２１及び、スキュー補正データ記憶回路２１からスキュー補正データを読み出し、スキュー補正データレジスタ１３に書き込みを行うスキュー補正データ転送回路３１を新規に有することにより構成されている。 - 特許庁

The scanning electron microscope scans electron beams on a test piece two-dimensionally and produces two dimensional image data 40 based on secondary electrons emitted from the test piece and composes scales 41a, 41b for expressing a prescribed length (1 μm) on the image data along two vertical and horizontal directions mutually perpendicular.例文帳に追加

本発明の走査型電子顕微鏡は、電子ビームを試料上に２次元状に走査し、試料から発せられる２次電子に基づいて２次元的な画像データ４０を生成するとともに、画像データ４０に、互いに垂直な縦横の２方向に沿って、所定の長さ（１μｍ）を表すスケール４１ａ，４１ｂを合成する。 - 特許庁

A reflection member 10 is placed on the liquid crystal panel 4 with the built-in photosensor, display is performed in the liquid crystal panel 4 with the built-in photosensor based on prescribed test pattern data, and a displayed image is read by the photosensor of the liquid crystal panel 4 with the built-in photosensor and compared with the test pattern data to inspect defects.例文帳に追加

反射部材１０をフォトセンサ内蔵液晶パネル４の上に置いて、所定のテストパタンデータに基づいてフォトセンサ内蔵液晶パネル４に表示し、当該表示された画像をフォトセンサ内蔵液晶パネル４のフォトセンサにより読み取って前記テストパタンデータと比較して不良を検査するようにした。 - 特許庁

When demodulation data of the received wireless carrier are dissident with demodulation data of a call signal stored in advance from the wireless master unit, the wireless slave unit discriminates the received wireless carrier to be a noise B, requests the wireless master unit to transmit a test wireless signal, and receives the test wireless signal A_2 from the wireless master unit.例文帳に追加

無線子機は、受信した無線キャリアの復調データが、予め記憶した無線親機からの呼出信号の復調データと一致しなかった場合は、受信した無線キャリアがノイズＢであると判断して、無線親機に試験無線信号の送信を要求し、無線親機から試験無線信号Ａ_2を受信する。 - 特許庁

To make exactly performable recording/reproducing with a little data amount and late sampling time while temporally synchronizing a control unit and an automatic test device without deviation in the case of a long-time test and further to record/reproduce high frequency and low frequency signals with a little data amount.例文帳に追加

長時間テスト時の制御装置と自動テスト装置の間の時間の同期をずれなくとり、かつ少ないデータ量、遅いサンプリング時間で記録・再生を正確に行うことができ、さらに高周波信号、低周波信号を少ないデータ量で記録・再生することの可能な自動テスト装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an extraction method of a peak frequency in a hammering test capable of extracting accurately a frequency at which sound pressure strength shows a peak in a frequency band which is an extraction object from frequency analysis data of hammering data, in order to improve determination accuracy between a nondefective product and a defective product by the hammering test.例文帳に追加

打音検査による良品および不良品の判断精度を向上させるべく、打音データの周波数解析データから、抽出対象となる周波数帯域において、音圧強度がピークとなるときの周波数を精度良く抽出することができる、打音検査におけるピーク周波数の抽出方法を提供する。 - 特許庁

In the test circuit 12, data read out from the even number column and the test control signal TC are processed by exclusive OR by an EXOR circuit 13 of the first stage every one row, and data read out from the odd number column and an output from the EXOR circuit 13 are processed by exclusive OR by an EXOR circuit 14.例文帳に追加

テスト回路１２は、１行ごとに、第１段目のＥＸＯＲ回路１３で、偶数列から読出したデータとテスト制御信号ＴＣとが排他的論理和処理され、第２段目のＥＸＯＲ回路１４で、奇数列から読出したデータとＥＸＯＲ回路１３からの出力とが排他的論理和処理される。 - 特許庁