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alignment positionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1249件
A machine vision system positions a certain optical subassembly relative to a certain electrical subassembly, captures an image of the optical subassembly, processes the image, identifies an alignment member formed on the optical subassembly, and determines a first position of an optical axis of the optical subassembly based on a second position of the alignment member.例文帳に追加
マシンビジョンシステムが、ある光学的サブアセンブリを、ある電気的サブアセンブリに対して位置付け、該マシンビジョンシステムが、該光学的サブアセンブリの画像をキャプチャし、該マシンビジョンシステムが、該画像を処理して、該光学的サブアセンブリ上に形成されたアライメントメンバを識別し、及び、該アライメントメンバの第2の位置に基づいて、該マシンビジョンシステムが、該光学的サブアセンブリの光軸の第1の位置を決定する。 - 特許庁
A die bonding device 200 comprises a semiconductor chip pickup stage 220 for inspecting the condition and position of a semiconductor chip, a chip alignment stage 240 where the semiconductor chip is fixed on a mount head for alignment, a guide rail 253 for transferring the semiconductor chip, CCD cameras 226, 257, and 264 for inspecting the conditions and position of a land pattern, an a bonding unit 260 for bonding the semiconductor chip.例文帳に追加
ダイボンディング設備200は、半導体チップの状態及び位置を検査する半導体チップピックアップステージ220、半導体チップがマウントヘッドに固定されアラインされるチップアラインメントステージ240、半導体チップを移送するガイドレール253、ランドパターンの状態及び位置を検査するCCDカメラ226、257、264、ならびに半導体チップをボンディングするボンディングユニット260を備える。 - 特許庁
The position determining unit processes information from the first wavelength channel or information from the second wavelength channel or combined information from the first and second wavelength channels to determine a position of the alignment mark of a first object with respect to a reference position on a second object based on the combined information.例文帳に追加
位置決定ユニットは、第1の波長チャネルからの情報または第2の波長チャネルからの情報または組み合わせた第1および第2の波長チャネルからの情報を処理して、組み合わされた情報に基づいて、第2の物体上の基準位置に対して第1の物体のアライメント・マークの位置を決定する。 - 特許庁
Since the two detection optical systems are symmetrically arranged even when a position deviation Δx of the alignment mark from a reference position occurs, it is erased by finding the sum of the detection positions because positiveness and negativeness of the position deviation Δx are different in the two detection optical systems, but have equal relation of absolute values.例文帳に追加
2つの検出光学系は対象に配置されていることから、基準位置からのアライメントマークの位置ずれΔxがあったとしても、位置ずれΔxは2つの検出光学系では正負は異なるが絶対値の等しい関係にあるため、検出位置の和を求めることで消去される。 - 特許庁
In hanging a ceiling slab 10 and a system ceiling 12, a hanging piece 60 provided with a position adjusting mechanism capable of adjusting the fitting position is used to correct the positional deviation in alignment with the fitting position of the system ceiling 12 to be hanged.例文帳に追加
天井スラブ10とシステム天井12を吊着する場合において、天井スラブ10に設置されたアンカー18用吊りボルトの吊設位置と、吊着するシステム天井12の取り付け位置との取り合いの位置ズレを修正するために、取り付け位置が調節可能な位置調整機構が設けられている吊り金具60を用いた。 - 特許庁
A main control device detects a portion of a plate 50 using an alignment system ALG measuring the position of the stage WST on which the plate 50 having a predetermined shape is mounted detachably using a position measuring system (18 and the like) and acquires the position information of the outer periphery edge of the plate 50 based on the detection result and a measurement result of the corresponding position measuring system.例文帳に追加
主制御装置は、所定形状のプレート50が着脱可能に搭載されたステージWSTの位置を位置計測系(18等)を用いて計測しつつ、アライメント系ALGを用いてプレート50の一部を検出するとともに、その検出結果と対応する位置計測系の計測結果とに基づいてプレート50の外周エッジの位置情報を取得する。 - 特許庁
Each sleeve element 33, 34 is arranged so as to be displaceable between a fixing position fixing the straight-line alignment state of the outside member 31 and the inside member 32 and a releasing position allowing the bending movement of the outside member 31 and the inside member 32.例文帳に追加
各スリーブ要素33,34は、外側部材31および内側部材32の直線状整列状態を固定する固定位置と、外側部材31および内側部材32の屈曲動作を許容する解放位置との間を変位可能に設けられている。 - 特許庁
This alignment adjusting mechanism 33 includes: a horizontal direction adjusting part 50 for displacing each connection position of the three wires 32 in a horizontal direction; and a vertical direction adjusting part 60 for displacing each connection position of the three wires 32 in a vertical direction with respect to the projection optical system body tube 30.例文帳に追加
このアライメント調整機構33は、3本のワイヤ32の各々の連結位置を、投影光学系鏡筒30に対して、水平方向に変位させる水平方向調整部50と、鉛直方向に変位させる鉛直方向調整部60と、を備える。 - 特許庁
The clutch assembly can be operable to maintain a generally same pre-defined alignment of the mount plate and supported device during movement of the mount plate from a raised position of the mount plate above the platform to a lowered position of the mount plate below the platform.例文帳に追加
クラッチ・アセンブリは、プラットフォームの上方の取付板の上昇位置からプラットフォームの下方の取付板の下降位置への取付板の移動時に取付板と被支持機器との全体的に同じ予め画定された整列関係を保つように動作可能であり得る。 - 特許庁
To provide a system for observing a cornea for transplantation allowing easy confirmation of the position of the cornea for transplantation simultaneously with observation of a magnified image and facilitating alignment to obtain the magnified image and specification of the position of the obtained magnified image.例文帳に追加
移植用角膜の位置を容易にかつ拡大像の観察と同時に確認することができ、拡大像を得るための位置合わせ、及び得られる拡大像の位置の特定を容易に行うことができる移植用角膜観察システムの提供を目的とするものである。 - 特許庁
When the terminal device 2 is placed along the outline video image displayed on the LCD panel 122 in alignment, an optical element position of the optical communication apparatus 1 and an optical element position of the terminal device 2 can be aligned in a self-matching manner and automatically.例文帳に追加
光素子位置合わせ時、LCDパネル122に表示された外形映像に沿って端末装置2を載置すると、光通信装置1の光素子配設位置と、端末装置2の光素子配設位置とを自己整合的かつ自動的に位置合わせできるようになる。 - 特許庁
From the stage position of a defect detected by a review device, a defect candidate close to that stage position is listed along with the defect information (defect type, defect image, defect size) provided by an inspection device, so that a defect for use in the fine alignment correction can be selected.例文帳に追加
レビュー装置が検出した欠陥のステージ位置から、そのステージ位置に近い欠陥候補を検査装置が提供する欠陥情報(欠陥種別,欠陥画像,欠陥サイズ)とともに一覧表示し、ファインアライメント補正に使用する欠陥を選択できるようにする。 - 特許庁
To provide a technique for displaying a point image on a projected image that eliminates complicated alignment, dispenses with laser light, which should not be viewed directly, and enables the position control of a point image with an image pointer directed to an arbitrary position.例文帳に追加
投影画像にポイント画像を表示する技術において、複雑な位置合わせが不要であり、さらに直視が望ましくないレーザを用いることなく、また任意の場所に向けた画像指示装置によるポイント画像の位置制御が行える技術を提供する。 - 特許庁
The alignment mark is formed on a surface, the peripheral part has a singular point, the wafer W applied with photoresist is mounted on a rotary stage 6, and the edge position of the wafer W and the singular point, e.g. a notch or the like, is detected by a singular point and edge position detection means 4.例文帳に追加
表面にアライメントマークが形成され、外周部に特異点を有し、フォトレジストが塗布されたウエハWを回転ステージ6に載置し、特異点及びエッジ位置検知手段4によりウエハWのエッジ位置およびノッチ等の特異点を検出する。 - 特許庁
To provide an image forming apparatus wherein the alignment of the position of the leading end of a sheet is performed with simple constitution, without affecting the rotational phase of a photoreceptor drum, and deviation of a transfer timing due to decentering of the photoreceptor drum is prevented, and an image transfer position accuracy is improved.例文帳に追加
簡単な構成で感光体ドラムの回転位相に影響することなく用紙先端の位置を合わせ、感光体ドラムの偏心による転写タイミングのズレを防止して画像の転写位置精度の向上を図った画像形成装置を提供する。 - 特許庁
Then, the pattern matching of an image to be compared obtained by imaging an object to be compared arranged in a posture including the position deviation in the direction of rotation and the reference image is operated by using the 1st alignment point A1 as a reference so that any position error to be detected can be minimized.例文帳に追加
この1stアライメント点A1を基準として、回転方向の位置ずれを含んだ姿勢で配置されている比較対象を撮像した比較対象画像と、基準画像とのパターンマッチングを行うことで、検出される位置誤差が最小になる。 - 特許庁
To provide an image forming apparatus wherein the alignment of the position of the leading end of a sheet is performed using a simple constitution, without affecting the rotational phase of a photoreceptor drum, and the deviation of transfer timing due to decentering of the photoreceptor drum is prevented, and the image transfer position accuracy is improved.例文帳に追加
簡単な構成で感光体ドラムの回転位相に影響することなく用紙先端の位置を合わせ、感光体ドラムの偏心による転写タイミングのズレを防止して画像の転写位置精度の向上を図った画像形成装置を提供する。 - 特許庁
By the alignment method for positioning an original plate and a substrate by measuring the position of a measurement mark at a plurality of shot positions on the substrate and statistically processing measured values, measurement marks which used for the alignment is selected individually when a plurality of measurement marks are present in the shot.例文帳に追加
基板上の複数のショット位置における計測マークの位置を計測し計測値の統計処理を行って、原板と前記基板の位置合わせを行う位置合わせ方法において、位置合わせに使用する計測マークの選択を、計測マークが前記ショット内に複数個存在する場合、その複数個各々に対して独立に行う。 - 特許庁
The display device 100 includes a driver IC 300 and a display unit 200 mounting the driver IC 300, wherein the driver IC 300 has a second alignment mark AM2 formed on a back face opposite to the joining face with the display unit 200, the second alignment mark functioning as a reference for an arrangement position of each electrode E formed on the joining face.例文帳に追加
ディスプレイ装置100は、ドライバIC300と当該ドライバIC300を実装するディスプレイユニット200と、を有し、ドライバIC300には、ディスプレイユニット200との接合面と反対の裏面に接合面に形成された各電極Eの配置位置の基準となる第2アライメントマークAM2が形成されている。 - 特許庁
In a state where the plate table 3 on which the plate 5 is placed and a table 4 to be printed on which a printing target 6 is placed are arranged in the alignment area 9, deviation is obtained relating to the three axes of XYθ from the correct position of the plate 5 and the printing target 6 based on the alignment mark 11 photographed by the camera 10.例文帳に追加
版5を載置した版テーブル3や印刷対象6を載置した印刷対象テーブル4をアライメントエリア9に配置させた状態で、カメラ10により撮影されたアライメントマーク11を基に、版5や印刷対象6の正しい位置からのXYθの3軸に関するずれを求める。 - 特許庁
To provide an electric optical device, a manufacturing method for the same, an electronic device equipped with the same and an electric optical panel of the electric optical apparatus in which a position deviation between components such as a display panel and a case is suppressed and in which alignment operation is easy and cost reduction is attained by reducing manpower required for the alignment operation.例文帳に追加
表示パネルと筐体等の部品の位置ズレを抑制でき、アライメント作業が容易で、同作業時の工数を削減してコストの低減を図った電気光学装置、電気光学装置の製造方法、電気光学装置を備えた電子機器および電気光学装置の電気光学パネルを提供する。 - 特許庁
The equipment includes a light source and at least one detector, wherein the light source is integrally formed on the first support structure, and is constituted so that it may provide a light beam which illuminates the alignment marker, and the detector is constituted so that it may detect a position of the alignment marker, by analyzing the light beam transmitting the element.例文帳に追加
装置は、第一支持構造上に一体形成され、位置合わせマーカを照明する光ビームを提供するように構成された光源と、要素を透過した光ビームを分析することによって、位置合わせマーカの位置を検出するように構成された少なくとも1つの検出器とも含む。 - 特許庁
In a constant temperature chamber 10, a lighting system 11 is provided as well, and a reticle stage 13 which holds a reticle 12 that is a photo mask for alignment, a projection optical system 14, an alignment system 15 and a shutter 16 that is interlocked with it, a wafer stage 17 for holding a semiconductor substrate Waf, and a stage position measuring system 18 are provided.例文帳に追加
恒温チャンバー10内において、照明系11が併設され、フォトマスクであるレチクル12を保持して位置決めするレチクルステージ13、投影光学系14、アライメント系15及びこれに連動するシャッター16、半導体基板Wafを保持するウェハステージ17、ステージ位置計測系18が配備されている。 - 特許庁
When the original having an exposure pattern that is carried in the aligner is aligned by observing an alignment mark on the original by an observation means, the alignment mark on the original is observed by the observation means for measuring the position in advance (step 51), and the measured result is stored as data accompanying the original (step 52).例文帳に追加
露光装置に搬入された露光パターンを有する原板を、該原板上のアライメントマークを観察手段により観察してアライメントする場合に、あらかじめ、観察手段により原板のアライメントマークを観察してその位置を計測し(ステップ51)、この計測結果を原板に付随するデータとして記憶しておく(ステップ52)。 - 特許庁
The position of the alignment mark WMY formed on the wafer 9 in the Y-direction is detected by projecting alignment light rays LA and LB upon the mark WMY through chromatic aberration correcting systems 15a-15d and 16 and the projection optical system and detecting the ±1st order diffracted light rays LA(1) and LB(-1) generated from the mark WMY.例文帳に追加
アライメント光LA,LBを色収差補正系15a〜15d,16及び投影光学系を介してウエハ9上のアライメントマークWMYに照射し、アライメントマークWMYから発生する±1次回折光LA(1),LB(−1)を検出し、アライメントマークWMYのY方向の位置を検出する。 - 特許庁
By setting the formation position of the injection port 11 about all liquid crystal devices in a mother board, liquid crystal can be injected under an optimum condition in all liquid crystal devices in the mother board, so that uneven alignment due to the formation direction of the deposited alignment layer composed of the columnar structure can be solved.例文帳に追加
マザー基板内のすべての液晶素子において注入口11の形成位置を上記のように設定することにより、マザー基板内のすべての液晶素子において最適な条件で注入をおこなうことができ、柱状構造物からなる蒸着配向膜の形成方向に起因する配向ムラを解消できる。 - 特許庁
In inspecting displacement of the position of a mounted component stuck to a processing work part on a side of a display board transported by a transport means for transporting the display board by imaging an alignment mark provided to the mounted component, at least the alignment mark is imaged while the display board is transported, and the displacement is inspected.例文帳に追加
表示基板を搬送する搬送手段によって搬送される前記表示基板の辺の処理作業箇所に貼付けた搭載部品位置のズレを、搭載部品が有するアライメントマークを撮像して検査する際に、前記表示基板を搬送中に少なくとも前記撮像をし、検査することを特徴とする。 - 特許庁
The substrate processing device comprises a heater 4 for heating a substrate inside a processing chamber 20; the heater is supported via a horizontal alignment unit 39 provided outside the processing chamber via a support member 5; and the position of the heater is adjusted relative to the process chamber by the horizontal alignment unit.例文帳に追加
処理室20の内部に基板加熱用のヒータ4を有する基板処理装置に於いて、前記ヒータが支持部材5を介して前記処理室外部に設けられた水平位置調整ユニット39を介して支持され、該水平位置調整ユニットにより前記処理室に対するヒータの位置調整を可能とした。 - 特許庁
The device includes a driver unit 21, a screw feeder 25 for containing a screw 26, placed separately from the driver unit 21, a screw force feed mechanism for feeding the screw from the screw feeder 25 to a screw alignment mechanism 24, and the screw alignment mechanism 24 for setting the screw in a predetermined position.例文帳に追加
ドライバユニット21と、ねじ26を収容可能でかつドライバユニット21に別体に設けられるねじ供給機25と、ねじ供給機25からねじ整列機構24にねじを搬送するねじ圧送機構と、ドライバユニット21に一体に設けられ、ねじを予め定める姿勢に規整するねじ整列機構24とを備える。 - 特許庁
In exposing the alignment mark 9 covered with a build-up insulation layer 6, a laser beam is prevented from proceeding at least in a formation position of the barrier layer 50, so that there is no possibility of over-boring.例文帳に追加
ビルドアップ絶縁層6に覆われたアライメントマーク9を露出させる際には、少なくとも、バリア層50の形成位置においてレーザビームの進行が阻止されるので、掘削しすぎる恐れはない。 - 特許庁
Thereby, the change of the configuration related to the position attitude measurement such as a change of the kind of a sensor or an alignment method is made without changing or recompiling the application 70.例文帳に追加
これにより、アプリケーション70を変更したり再コンパイルすることなく、センサの種類や位置合わせ方法の変更といった、位置姿勢計測に関連する構成の変更に対応することができる。 - 特許庁
To provide a surface-mount air-core coil that is mounted by an automatic mounter with high position precision and superior absorbent by self-alignment effects, which is high in mechanical strength in a mounting state.例文帳に追加
セルフアライメント効果により位置精度良く実装できて自動マウンタによる吸着性も良好であり、かつ実装状態での機械的強度が高い面実装型空芯コイルを提供する。 - 特許庁
To perform an alignment adjustment of the optical axis of an LD and an optical fiber at low cost, efficiently in working and safely by measuring the absolute position of the end face of the optical fiber.例文帳に追加
LDと光ファイバとの光軸のアライメント調整を、光ファイバ端面位置を絶対測定することにより、LDと光ファイバを安価で作業効率良く、安全に行うことを実現する。 - 特許庁
To provide a disposition method and apparatus for an article wherein there is provided as a self-alignment process the whole process in which electronic parts placed on a substrate are guided to a recess provided at a desired position in of substrate and are fallen therein.例文帳に追加
基板上に載置された電子部品を基板上の所望の位置に設けられた凹部に導き、落とし込む工程すべてを自己整列プロセスとする物品の配置方法とその装置を提供する。 - 特許庁
Thus, the conveyance alignment device 30 is allowed to detect and indicate a position where a board 201 to which an electronic part is mounted by the device 100 constituting a mounting line is carried in/out.例文帳に追加
これにより、実装ラインを構成する実装ライン用装置100により電子部品の実装が行なわれる基板201が搬入、搬出される位置を搬送位置合わせ装置30に検知、表示させる。 - 特許庁
The aligner measures the surface position of a street line SL with respect to the alignment marks AM formed on the line SL by irradiating the surface of the line SL which is different from the marks AM with light ILX.例文帳に追加
ストリートラインSL上に形成されたアライメントマークAMに対し、アライメントマークAMとは異なるストリートラインSL上に照明光IL__Xを照射してストリートラインSLの表面位置を計測する。 - 特許庁
Above each of the at least one processed region, a second groove 7 extending in the second direction y is formed with the alignment mark MK as a reference position with respect to the second layer 4.例文帳に追加
少なくとも1つの被加工領域の各々の上において第2層4に対してアライメントマークMKを基準位置として、第2方向yに沿って延在する第2溝7が形成される。 - 特許庁
A communication interface section 10 acquires a plurality of radar image data in the same observing range, which are acquired at different time, and a position alignment processing section 14 aligns the plurality of radar image data with each others.例文帳に追加
通信インターフェース部10が、異なる時刻に取得された同一観測範囲の複数のレーダ画像データを取得し、位置合わせ処理部14が、上記複数のレーダ画像データを相互に位置合わせする。 - 特許庁
In the case of the alignment with the eye to be examined, the first mark 51 for a position aligning with the image of the site having a relatively small personal difference of the eye to be examined is displayed in the ophthalmic anterior segment observing image of the monitor M.例文帳に追加
被検眼とのアライメントの際、被検眼の比較的個人差の少ない部位の画像と位置合わせするための第1のマーク51をモニタMの前眼部観察画像中に表示する。 - 特許庁
Since the intensity of light received by a light receiving element varies abruptly on the boundary of the end of the sheet P when it is scanned by the alignment sensor 6, that position is recognized as the sheet end.例文帳に追加
このとき、用紙Pの端部の境界をアライメントセンサ6が走査すると、受光素子が受光する光の強度は、その境界上で急激に変化するため、その位置は、用紙端と認識される。 - 特許庁
To solve the problem that test patterns are not printed on a proper position on sheets and highly accurate alignment adjustment cannot be carried out when positional displacement or skew travel is generated in the sheets when printing the test patterns.例文帳に追加
テストパターンを印刷する際に用紙に位置ずれや斜行が発生していた場合、テストパターンが用紙上の正しい位置に印刷されなくなり、精度の高いアライメント調整ができなくなる。 - 特許庁
To provide a liquid crystal display device provided with a vertical alignment liquid crystal panel, which can simplify a support structure for an optical compensation film and position adjustment operation thereof.例文帳に追加
垂直配向型液晶パネルを備えた液晶表示装置において、光学的補償フィルムの支持構造及び位置調整作業を簡略化することのできる液晶表示装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a more concrete technique of manufacturing a panel molded article wherein two panel components are joined to each other after they are aligned in position with each other by using alignment marks.例文帳に追加
アライメントマークを用いて両パネル構成材を位置合わせした後、両パネル構成材を互いに接合することでパネル成形品を製造する、より具体的なパネル成形品製造技術を提供する。 - 特許庁
An alignment mark, a black matrix formed on a color filter substrate, or a gate electrode pattern formed on an array substrate are distinguished from one another, and a position coordinate of a distinguished object is acquired (S304).例文帳に追加
アラインメントマーク、カラーフィルター基板に形成されたブラックマトリクスあるいはアレイ基板に形成されたゲート電極パターンなどを識別して、識別した対象の位置座標を取得する(S304)。 - 特許庁
In accordance with the alignment error, the position of the hand attaching part 9 is corrected to release the work 1.例文帳に追加
把持装置14でワーク1を把持し、搬送しながら距離センサ16でワーク側面までの相対位置を測定してアライメント誤差Δを求め、アライメント誤差に基づきハンド取付部9の位置を補正してワーク1を開放する。 - 特許庁
To provide a printing device in which the position of a transfer film is not largely varied even if a heat roller moves after the alignment of the transfer film and a card, thereby achieving accurate transfer without causing a transfer shift.例文帳に追加
転写フィルムとカードとの位置合わせ後にヒートローラが移動してきても転写フィルムの位置が大きく変動せず、転写ずれを引き起こすことなく精度良く転写できる印刷装置を提供する。 - 特許庁
By moving the wafers to align their positions to overlay, highly accurate position alignment is possible.例文帳に追加
この結果、基準マークを仲介させてウェハ上のアライメントマークと基準顕微鏡との位置関係が把握でき、互いの位置を合わせるようにウェハを移動して重ね合わせると、高精度な位置合わせが可能になる。 - 特許庁
To make precise position alignment of 3 axes directions of a 1st grid and a cathode highly, for example, regarding a manufacturing method of an electron gun with which a neck part of a cathode-ray tube is equipped.例文帳に追加
本発明は、例えば、陰極線管のネック部に装備される電子銃の製造方法に関し、第1グリッドとカソードとの3軸方向の位置合わせを高精度化させることが課題である。 - 特許庁
To provide a substrate cover having an antistatic function and achieving position detection of a substrate edge and alignment of the substrate in a mounted state on the substrate, and to provide a charged particle beam drawing method using the same.例文帳に追加
帯電防止機能を有し、基板に載置されたままで基板エッジの位置検出と基板のアライメントを可能にする基板カバーと、それを用いた荷電粒子ビーム描画方法を提供する。 - 特許庁
Then, the objects to be bonded 91 and 92 are moved relatively in a horizontal direction, the alignment of the objects to be bonded 91 and 92 are carried out again, and the position gap ΔD is corrected (step S17).例文帳に追加
その後、両被接合物91,92が水平方向に相対的に移動され両被接合物91,92の位置合わせが再度実行され、当該位置ずれΔDが補正される(ステップS17)。 - 特許庁
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